JPH08149005A - ビデオ用ａｄコンバータの試験装置及びその試験方法 - Google Patents
ビデオ用ａｄコンバータの試験装置及びその試験方法Info
- Publication number
- JPH08149005A JPH08149005A JP31418994A JP31418994A JPH08149005A JP H08149005 A JPH08149005 A JP H08149005A JP 31418994 A JP31418994 A JP 31418994A JP 31418994 A JP31418994 A JP 31418994A JP H08149005 A JPH08149005 A JP H08149005A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sine wave
- video signal
- test
- histogram
- modulation signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、実際のビデオ信号波形を印加して
ダイナミック特性の試験を可能にする試験装置、試験方
法を実現することを目的とする。 【構成】 映像信号に重畳した正弦波変調信号３２波形
をビデオ信号発生器４０からＤＵＴ１００に供給し、バ
ッファメモリ６０に格納されたコードデータＤｘの中で
正弦波変調信号３２部分のランプ波形を抽出し、これか
ら正弦波変調信号３２のヒストグラムを算出し、正弦波
変調信号３２の理想ヒストグラムを算出し、両者の比率
から微分直線性及び積分直線性を算出するダイナミック
特性演算部１５を設ける構成手段にする。
ダイナミック特性の試験を可能にする試験装置、試験方
法を実現することを目的とする。 【構成】 映像信号に重畳した正弦波変調信号３２波形
をビデオ信号発生器４０からＤＵＴ１００に供給し、バ
ッファメモリ６０に格納されたコードデータＤｘの中で
正弦波変調信号３２部分のランプ波形を抽出し、これか
ら正弦波変調信号３２のヒストグラムを算出し、正弦波
変調信号３２の理想ヒストグラムを算出し、両者の比率
から微分直線性及び積分直線性を算出するダイナミック
特性演算部１５を設ける構成手段にする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、テレビ映像信号をデ
ジタル信号に変換するビデオ用ＡＤコンバータＩＣのダ
イナミック特性についての試験装置、試験方法に関す
る。
ジタル信号に変換するビデオ用ＡＤコンバータＩＣのダ
イナミック特性についての試験装置、試験方法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】ビデオ用ＡＤコンバータＩＣでは、一般
のＡＤコンバータＩＣとは少し異った面での特性が要求
されている。この試験項目の一つとしては、映像信号を
どの程度忠実に量子化変換できるかを試験するのがダイ
ナミック特性試験である。映像信号の中にある色信号
は、ＡＤコンバータＩＣのダイナミック特性によって
は、色彩感覚の変化として特に顕著に表れてくる。この
為、この種のデバイスとしては、特に重要な評価項目で
ある。ダイナミック特性の試験とは、映像信号に対して
どの程度忠実に量子化しているかの試験であり、微分直
線性や積分直線性を評価する試験項目である。例えば、
ＤＵＴがＡＤ変換したコードデータの偏差の中で、変換
ゲインが１．００からずれている偏差とか、直流的なオ
フセットコードを有する偏差があるが、このような絶対
精度の値に対する多少の相対的なずれは、デバイス性能
の重要な問題要素とはならない場合がある。むしろ、量
子化コードに変換したときの直線性に関する偏差即ち、
微分直線性や積分直線性の偏差による影響が重要な場合
が多い。これら直線性の偏差は、色信号の変換忠実度に
影響を与えたり、規則的な縞模様画面として現れたりす
る不具合を生じる原因となる場合があるからである。
のＡＤコンバータＩＣとは少し異った面での特性が要求
されている。この試験項目の一つとしては、映像信号を
どの程度忠実に量子化変換できるかを試験するのがダイ
ナミック特性試験である。映像信号の中にある色信号
は、ＡＤコンバータＩＣのダイナミック特性によって
は、色彩感覚の変化として特に顕著に表れてくる。この
為、この種のデバイスとしては、特に重要な評価項目で
ある。ダイナミック特性の試験とは、映像信号に対して
どの程度忠実に量子化しているかの試験であり、微分直
線性や積分直線性を評価する試験項目である。例えば、
ＤＵＴがＡＤ変換したコードデータの偏差の中で、変換
ゲインが１．００からずれている偏差とか、直流的なオ
フセットコードを有する偏差があるが、このような絶対
精度の値に対する多少の相対的なずれは、デバイス性能
の重要な問題要素とはならない場合がある。むしろ、量
子化コードに変換したときの直線性に関する偏差即ち、
微分直線性や積分直線性の偏差による影響が重要な場合
が多い。これら直線性の偏差は、色信号の変換忠実度に
影響を与えたり、規則的な縞模様画面として現れたりす
る不具合を生じる原因となる場合があるからである。
【０００３】従来技術の被試験用デバイス（ＤＵＴ）で
あるビデオ信号専用ＡＤコンバータＩＣのダイナミック
特性の試験方法として、正弦波ヒストグラム法による試
験形態の例がある。これについて、図４と図５を参照し
て説明する。本装置の構成は、図４に示すように、ビデ
オ信号発生器４０と、正弦波発生器５０と、信号切替器
４５と、サンプリングクロック発生部２０と、被試験用
デバイス（ＤＵＴ）１００と、バッファメモリ６０と、
データ処理部７０とで構成している。
あるビデオ信号専用ＡＤコンバータＩＣのダイナミック
特性の試験方法として、正弦波ヒストグラム法による試
験形態の例がある。これについて、図４と図５を参照し
て説明する。本装置の構成は、図４に示すように、ビデ
オ信号発生器４０と、正弦波発生器５０と、信号切替器
４５と、サンプリングクロック発生部２０と、被試験用
デバイス（ＤＵＴ）１００と、バッファメモリ６０と、
データ処理部７０とで構成している。
【０００４】正弦波発生器５０は、純度の高い理想正弦
波信号を発生する信号源であり、例えば試験周波数ｆts
t＝３．５８ＭＨｚで、ＤＵＴ１００の入力端子にフル
スケールの単一の電圧振幅を供給する。サンプリングク
ロック発生部２０は、基準クロック９０からのクロック
源を受けて、例えばクロックレートｆclk＝１４ＭＨｚ
の矩形波を出力するものであり、ＤＵＴ１００がデジタ
ルデータにサンプリングする為のサンプリングクロック
ｆclkの発生器であり、ＤＵＴ１００のサンプリングク
ロック端子と、バッファメモリ６０に供給する。このク
ロックレートは、正弦波発生器５０の試験周波数ｆtst
との関係を非整数倍にし、かつ正弦波の各位相点でのデ
ータが一様に平均化されて取得できる所望の周波数関係
を与える。
波信号を発生する信号源であり、例えば試験周波数ｆts
t＝３．５８ＭＨｚで、ＤＵＴ１００の入力端子にフル
スケールの単一の電圧振幅を供給する。サンプリングク
ロック発生部２０は、基準クロック９０からのクロック
源を受けて、例えばクロックレートｆclk＝１４ＭＨｚ
の矩形波を出力するものであり、ＤＵＴ１００がデジタ
ルデータにサンプリングする為のサンプリングクロック
ｆclkの発生器であり、ＤＵＴ１００のサンプリングク
ロック端子と、バッファメモリ６０に供給する。このク
ロックレートは、正弦波発生器５０の試験周波数ｆtst
との関係を非整数倍にし、かつ正弦波の各位相点でのデ
ータが一様に平均化されて取得できる所望の周波数関係
を与える。
【０００５】ＤＵＴ１００は、例えば８ビット分解能の
ＡＤ変換器であり、アナログ映像信号をデジタル信号に
変換することを主な目的としたビデオ専用の高速ＡＤ変
換器であり、例えばビデオ帯域４．２ＭＨｚのＮＴＳＣ
のカラー映像信号を受け、所望のクロック周波数、例え
ば１４ＭＨｚのサンプリングクロックｆclkを受けて、
振幅値に対応したデジタルコードデータＤｘに量子化変
換し、これをバッファメモリ６０に供給する。ここの試
験においては、フルスケールの単一の電圧振幅を受け
て、ＡＤ変換する。
ＡＤ変換器であり、アナログ映像信号をデジタル信号に
変換することを主な目的としたビデオ専用の高速ＡＤ変
換器であり、例えばビデオ帯域４．２ＭＨｚのＮＴＳＣ
のカラー映像信号を受け、所望のクロック周波数、例え
ば１４ＭＨｚのサンプリングクロックｆclkを受けて、
振幅値に対応したデジタルコードデータＤｘに量子化変
換し、これをバッファメモリ６０に供給する。ここの試
験においては、フルスケールの単一の電圧振幅を受け
て、ＡＤ変換する。
【０００６】バッファメモリ６０は、ＤＵＴ１００から
のコードデータＤｘを受けて、一回の測定で所望ワード
数を連続的にメモリに書き込み保存する記録部であり、
正弦波信号を多数回測定して保存する高速メモリ６２
と、このメモリにアドレスを供給するアドレスカウンタ
６４を有している。メモリ容量は、測定の精度分解能に
対応した容量を有していて、例えば数十Ｋワードのメモ
リを有している。
のコードデータＤｘを受けて、一回の測定で所望ワード
数を連続的にメモリに書き込み保存する記録部であり、
正弦波信号を多数回測定して保存する高速メモリ６２
と、このメモリにアドレスを供給するアドレスカウンタ
６４を有している。メモリ容量は、測定の精度分解能に
対応した容量を有していて、例えば数十Ｋワードのメモ
リを有している。
【０００７】データ処理部７０は、試験周波数ｆtstと
サンプリングクロックｆclkとの関係から、期待値とし
てのリファレンス用ヒストグラム値を予め算出してお
き、この理想ヒストグラム値Ｉhに対して、実際に測定
されたコードデータＤｘ毎の出現回数の分布を求めてヒ
ストグラムを作成し、これから微分直線性と、積分直線
性を求め、結果を出力する。図５に示すように、ＤＵＴ
のアナログ入力端子にフルスケールの正弦波２００波形
を印加して、これにより量子化されたコードデータＤｘ
の各コードデータ毎の出現回数を棒グラフで表現したの
が正弦波ヒストグラム２２０のグラフである。このヒス
トグラムから、理想ヒストグラム２１０の値Ｉhとの差
を求め、比率を算出すれば微分直線性が得られる。ま
た、この微分直線性データを積分したものが積分直線性
として求まる。
サンプリングクロックｆclkとの関係から、期待値とし
てのリファレンス用ヒストグラム値を予め算出してお
き、この理想ヒストグラム値Ｉhに対して、実際に測定
されたコードデータＤｘ毎の出現回数の分布を求めてヒ
ストグラムを作成し、これから微分直線性と、積分直線
性を求め、結果を出力する。図５に示すように、ＤＵＴ
のアナログ入力端子にフルスケールの正弦波２００波形
を印加して、これにより量子化されたコードデータＤｘ
の各コードデータ毎の出現回数を棒グラフで表現したの
が正弦波ヒストグラム２２０のグラフである。このヒス
トグラムから、理想ヒストグラム２１０の値Ｉhとの差
を求め、比率を算出すれば微分直線性が得られる。ま
た、この微分直線性データを積分したものが積分直線性
として求まる。
【０００８】ビデオ信号発生器４０は、基準クロック９
０からのクロック源を受けて、ＤＧ（differential gai
n）／ＤＰ（differential phase）の試験項目の為に使
用するビデオ信号発生器であり、外部からの所望の設定
条件を与えて任意の映像信号用ランプ波形を発生制御で
きる。即ち、アナログの映像信号と等価のランプ信号を
印加して試験に供するものである。信号切替器４５は、
ＤＵＴ１００に入力するアナログ信号を、正弦波発生器
５０側か、あるいはビデオ信号発生器４０側かに切り替
える為のスイッチである。
０からのクロック源を受けて、ＤＧ（differential gai
n）／ＤＰ（differential phase）の試験項目の為に使
用するビデオ信号発生器であり、外部からの所望の設定
条件を与えて任意の映像信号用ランプ波形を発生制御で
きる。即ち、アナログの映像信号と等価のランプ信号を
印加して試験に供するものである。信号切替器４５は、
ＤＵＴ１００に入力するアナログ信号を、正弦波発生器
５０側か、あるいはビデオ信号発生器４０側かに切り替
える為のスイッチである。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】上記説明のように、従
来のダイナミック特性の試験では、単一のフルスケール
の正弦波２００波形を印加して代用としている。この波
形は実際のビデオ信号波形とは懸け離れた波形である為
に、必ずしも最良の試験波形とはいえず、被試験用デバ
イスの種類によっては、評価結果が妥当な評価結果とは
ならないデバイスが出現するかも知れず、試験評価の信
頼性や確度において難点となる可能性を含んでいる。そ
こで、本発明が解決しようとする課題は、実際のビデオ
信号波形を印加してダイナミック特性の試験を可能にす
る試験装置、試験方法を実現することを目的とする。
来のダイナミック特性の試験では、単一のフルスケール
の正弦波２００波形を印加して代用としている。この波
形は実際のビデオ信号波形とは懸け離れた波形である為
に、必ずしも最良の試験波形とはいえず、被試験用デバ
イスの種類によっては、評価結果が妥当な評価結果とは
ならないデバイスが出現するかも知れず、試験評価の信
頼性や確度において難点となる可能性を含んでいる。そ
こで、本発明が解決しようとする課題は、実際のビデオ
信号波形を印加してダイナミック特性の試験を可能にす
る試験装置、試験方法を実現することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決する為の手段】上記課題を解決するため
に、本発明の構成では、映像信号に重畳した正弦波変調
信号３２波形をビデオ信号発生器４０からＤＵＴ１００
に供給し、バッファメモリ６０に格納されたコードデー
タＤｘの中で正弦波変調信号３２部分のランプ波形デー
タを抽出し、これから正弦波変調信号３２のヒストグラ
ムを算出し、これに対応する正弦波変調信号３２の理想
ヒストグラムを算出し、両者の比率から微分直線性を算
出するダイナミック特性演算部１５を設ける構成手段に
する。これにより、被試験用デバイス１００に試験用映
像信号を供給するビデオ信号発生器４０と、これに同期
してＡＤ変換する為のサンプリングクロックをＤＵＴ１
００に供給するサンプリングクロック発生部１０と、Ｄ
ＵＴ１００からの量子化コードデータＤｘを格納するバ
ッファメモリ６０を有して、実際の色信号に一層近似し
た評価波形を使用して試験実施することができる為、実
情に即したビデオ専用の高速ＡＤ変換器のダイナミック
特性試験を実現できる。
に、本発明の構成では、映像信号に重畳した正弦波変調
信号３２波形をビデオ信号発生器４０からＤＵＴ１００
に供給し、バッファメモリ６０に格納されたコードデー
タＤｘの中で正弦波変調信号３２部分のランプ波形デー
タを抽出し、これから正弦波変調信号３２のヒストグラ
ムを算出し、これに対応する正弦波変調信号３２の理想
ヒストグラムを算出し、両者の比率から微分直線性を算
出するダイナミック特性演算部１５を設ける構成手段に
する。これにより、被試験用デバイス１００に試験用映
像信号を供給するビデオ信号発生器４０と、これに同期
してＡＤ変換する為のサンプリングクロックをＤＵＴ１
００に供給するサンプリングクロック発生部１０と、Ｄ
ＵＴ１００からの量子化コードデータＤｘを格納するバ
ッファメモリ６０を有して、実際の色信号に一層近似し
た評価波形を使用して試験実施することができる為、実
情に即したビデオ専用の高速ＡＤ変換器のダイナミック
特性試験を実現できる。
【００１１】本発明による試験方法としては、映像信号
に重畳した正弦波変調信号３２波形をビデオ信号発生器
４０からＤＵＴ１００に供給し、正弦波変調信号３２の
サンプリングとして、分割サンプリング回数Ｑ回に分け
てバッファメモリ６０に格納し、バッファメモリ６０に
格納されたコードデータＤｘの中で分割サンプリングさ
れた正弦波変調信号３２部分のコードデータＤｘを抽出
し、これから正弦波変調信号３２のヒストグラムを算出
し、この正弦波変調信号３２のヒストグラムに対応する
理想ヒストグラムを算出し、両者の比率から微分直線性
を算出する方法で実現する。
に重畳した正弦波変調信号３２波形をビデオ信号発生器
４０からＤＵＴ１００に供給し、正弦波変調信号３２の
サンプリングとして、分割サンプリング回数Ｑ回に分け
てバッファメモリ６０に格納し、バッファメモリ６０に
格納されたコードデータＤｘの中で分割サンプリングさ
れた正弦波変調信号３２部分のコードデータＤｘを抽出
し、これから正弦波変調信号３２のヒストグラムを算出
し、この正弦波変調信号３２のヒストグラムに対応する
理想ヒストグラムを算出し、両者の比率から微分直線性
を算出する方法で実現する。
【００１２】
【作用】ビデオ信号発生器４０からの映像信号に重畳し
た正弦波変調信号３２波形を使用してダイナミック特性
試験をすることにより、実際のビデオ信号波形に近い波
形により評価試験できるので、ビデオ専用の高速ＡＤ変
換器の評価がより妥当性のある試験機能を実現できる。
また、このビデオ信号発生器４０は、ＤＧ／ＤＰ試験で
も共通に使用できる。ダイナミック特性演算部１５は、
バッファメモリ６０に格納されたデータの中で正弦波変
調信号３２部分のランプ波部３６のデータを抽出し、こ
のデータから正弦波変調信号３２のヒストグラムＭhが
算出できる作用がある。また、理想ヒストグラム値Ｉmh
も容易に計算でき、両者の比率を算出することにより微
分直線性、及び積分直線性が算出できる。
た正弦波変調信号３２波形を使用してダイナミック特性
試験をすることにより、実際のビデオ信号波形に近い波
形により評価試験できるので、ビデオ専用の高速ＡＤ変
換器の評価がより妥当性のある試験機能を実現できる。
また、このビデオ信号発生器４０は、ＤＧ／ＤＰ試験で
も共通に使用できる。ダイナミック特性演算部１５は、
バッファメモリ６０に格納されたデータの中で正弦波変
調信号３２部分のランプ波部３６のデータを抽出し、こ
のデータから正弦波変調信号３２のヒストグラムＭhが
算出できる作用がある。また、理想ヒストグラム値Ｉmh
も容易に計算でき、両者の比率を算出することにより微
分直線性、及び積分直線性が算出できる。
【００１３】
【実施例】本発明では、ＤＧ／ＤＰ試験においてビデオ
信号発生器４０から発生したアナログの映像信号をＡＤ
変換した測定データを流用して、この測定データを演算
処理することでダイナミック特性の評価とする手段であ
る。これについて、図１と図２を参照して説明する。構
成は、図１に示すように、ビデオ信号発生器４０と、サ
ンプリングクロック発生部１０と、ＤＵＴ１００と、バ
ッファメモリ６０と、データ処理部７０と、ダイナミッ
ク特性演算部１５とで構成している。この構成で、ビデ
オ信号発生器４０と、バッファメモリ６０と、データ処
理部７０は従来と同様である。
信号発生器４０から発生したアナログの映像信号をＡＤ
変換した測定データを流用して、この測定データを演算
処理することでダイナミック特性の評価とする手段であ
る。これについて、図１と図２を参照して説明する。構
成は、図１に示すように、ビデオ信号発生器４０と、サ
ンプリングクロック発生部１０と、ＤＵＴ１００と、バ
ッファメモリ６０と、データ処理部７０と、ダイナミッ
ク特性演算部１５とで構成している。この構成で、ビデ
オ信号発生器４０と、バッファメモリ６０と、データ処
理部７０は従来と同様である。
【００１４】映像信号である試験用のランプ波形は、図
２（ａ）に示すように、ランプ波信号３４に、色信号周
波数ｆc＝３．５８ＭＨｚの正弦波変調信号３２で重畳
した波形となっている。これは、ＤＧ／ＤＰ試験と同じ
波形である。
２（ａ）に示すように、ランプ波信号３４に、色信号周
波数ｆc＝３．５８ＭＨｚの正弦波変調信号３２で重畳
した波形となっている。これは、ＤＧ／ＤＰ試験と同じ
波形である。
【００１５】サンプリングクロック発生部１０は、ビデ
オ信号発生器４０からの映像信号の水平同期信号等のラ
ンプ同期信号４０ｂを受けて、以後に説明するタイミン
グでサンプリングクロック１４．３２ＭＨｚ（ｆc＝
３．５８ＭＨｚ×４倍）を発生し、正弦波変調信号３２
の正弦波を１６等分に分割する位相点でサンプリングで
きるサンプリングクロック１０ａをＤＵＴ１００と、バ
ッファメモリ６０に供給する。即ち、一つの正弦波区間
では４箇所のＡＤ変換器データしか得られない為に、取
り込み動作は、全体でｍ個のランプ波形の取り込みと仮
定すると、ｍ＝４回×ｎ個の分割サンプリング回数Ｑ＝
４回に分けて、各回毎にΔｔ時間ずらして取り込み動作
を４回測定することで行う。即ち、４回の取り込みのス
タート位置を映像信号のランプ同期信号４０ｂからの発
生開始位相ｆsに対してΔｔ時間の遅延を変えて測定ス
タートさせる。図２（ｂ）に示すように、スタート位置
の１回目はｆs＝ｆc×４とし、２回目はｆs＝ｆc×４＋
Δｔとし、３回目はｆs＝ｆc×４＋２Δｔとし、４回目
はｆs＝ｆc×４＋３Δｔとすることにより、１つの正弦
波区間で見ると４×４＝１６点の等間隔でサンプリング
するようにして各点での振幅値を測定する。
オ信号発生器４０からの映像信号の水平同期信号等のラ
ンプ同期信号４０ｂを受けて、以後に説明するタイミン
グでサンプリングクロック１４．３２ＭＨｚ（ｆc＝
３．５８ＭＨｚ×４倍）を発生し、正弦波変調信号３２
の正弦波を１６等分に分割する位相点でサンプリングで
きるサンプリングクロック１０ａをＤＵＴ１００と、バ
ッファメモリ６０に供給する。即ち、一つの正弦波区間
では４箇所のＡＤ変換器データしか得られない為に、取
り込み動作は、全体でｍ個のランプ波形の取り込みと仮
定すると、ｍ＝４回×ｎ個の分割サンプリング回数Ｑ＝
４回に分けて、各回毎にΔｔ時間ずらして取り込み動作
を４回測定することで行う。即ち、４回の取り込みのス
タート位置を映像信号のランプ同期信号４０ｂからの発
生開始位相ｆsに対してΔｔ時間の遅延を変えて測定ス
タートさせる。図２（ｂ）に示すように、スタート位置
の１回目はｆs＝ｆc×４とし、２回目はｆs＝ｆc×４＋
Δｔとし、３回目はｆs＝ｆc×４＋２Δｔとし、４回目
はｆs＝ｆc×４＋３Δｔとすることにより、１つの正弦
波区間で見ると４×４＝１６点の等間隔でサンプリング
するようにして各点での振幅値を測定する。
【００１６】ダイナミック特性演算部１５は、バッファ
メモリ６０に格納された上記説明の４×ｎ個の取り込み
データの中で正弦波変調信号３２の黒レベルから白レベ
ルにいたるランプ波部３６データのみを抽出する。この
抽出したランプ波部３６から、８ｂｉｔ時では２５６種
の各コードデータＤｘ毎に出現回数を計数して、正弦波
変調信号３２のヒストグラムＭhが求まる。一方では、
理想ヒストグラム値Ｉmhを計算により求める。この両者
のヒストグラム値の差を求め、理想ヒストグラム値Ｉmh
との比率を算出すれば微分直線性が得られる。また、こ
の微分直線性データを積分すれば積分直線性が求まる。
これにより、実際の色信号に一層近似した評価波形を使
用して試験実施することができるので、実情に即したビ
デオ専用の高速ＡＤ変換器のダイナミック特性の評価と
して、妥当性のある有効な試験方法を実現できる。
メモリ６０に格納された上記説明の４×ｎ個の取り込み
データの中で正弦波変調信号３２の黒レベルから白レベ
ルにいたるランプ波部３６データのみを抽出する。この
抽出したランプ波部３６から、８ｂｉｔ時では２５６種
の各コードデータＤｘ毎に出現回数を計数して、正弦波
変調信号３２のヒストグラムＭhが求まる。一方では、
理想ヒストグラム値Ｉmhを計算により求める。この両者
のヒストグラム値の差を求め、理想ヒストグラム値Ｉmh
との比率を算出すれば微分直線性が得られる。また、こ
の微分直線性データを積分すれば積分直線性が求まる。
これにより、実際の色信号に一層近似した評価波形を使
用して試験実施することができるので、実情に即したビ
デオ専用の高速ＡＤ変換器のダイナミック特性の評価と
して、妥当性のある有効な試験方法を実現できる。
【００１７】上記実施例の説明では、ＤＵＴ１００への
試験用波形として、図２（ａ）に示す変調信号３２の場
合で説明したが、図３に示すようにフルスケール試験が
可能な振幅波形を供給できるようにした変調信号３８波
形としても良く同様にして実施できる。
試験用波形として、図２（ａ）に示す変調信号３２の場
合で説明したが、図３に示すようにフルスケール試験が
可能な振幅波形を供給できるようにした変調信号３８波
形としても良く同様にして実施できる。
【００１８】また、上記実施例の説明では、正弦波変調
信号３２のサンプリングクロックとして、分割サンプリ
ング回数Ｑ＝４回に分けて４×ｎ個の取り込みをする場
合で説明していたが、これ以外にも、ランプ波部３６を
抽出可能で、平均した位相点分布可能なサンプリングク
ロックを使用し、かつこれによる理想ヒストグラム値Ｉ
mhが計算可能とする条件にすれば、他の整数Ｑ回数ある
いは整数Ｑ1回、Ｑ2回の交互条件等のサンプリングクロ
ックで測定しても良く同様にして実施できる。
信号３２のサンプリングクロックとして、分割サンプリ
ング回数Ｑ＝４回に分けて４×ｎ個の取り込みをする場
合で説明していたが、これ以外にも、ランプ波部３６を
抽出可能で、平均した位相点分布可能なサンプリングク
ロックを使用し、かつこれによる理想ヒストグラム値Ｉ
mhが計算可能とする条件にすれば、他の整数Ｑ回数ある
いは整数Ｑ1回、Ｑ2回の交互条件等のサンプリングクロ
ックで測定しても良く同様にして実施できる。
【００１９】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。ビ
デオ信号発生器４０からの映像信号に重畳した正弦波変
調信号３２波形を使用してダイナミック特性試験をする
ことにより、実際のビデオ信号波形に近い波形により評
価試験できるので、ビデオ専用の高速ＡＤ変換器の評価
がより妥当性のある試験方法を実現できる効果が得られ
る。また、このビデオ信号発生器４０は、ＤＧ／ＤＰ試
験でも使用するので、正弦波発生器５０や信号切替器４
５を設ける必要がなくなる利点もある。ダイナミック特
性演算部１５は、バッファメモリ６０に格納されたデー
タの中で正弦波変調信号３２部分のランプ波部３６のみ
を抽出し、これから正弦波変調信号３２のヒストグラム
Ｍhを求め、これと理想ヒストグラム値Ｉmhとの比率の
算出により微分直線性、及び積分直線性が得られる効果
がある。
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。ビ
デオ信号発生器４０からの映像信号に重畳した正弦波変
調信号３２波形を使用してダイナミック特性試験をする
ことにより、実際のビデオ信号波形に近い波形により評
価試験できるので、ビデオ専用の高速ＡＤ変換器の評価
がより妥当性のある試験方法を実現できる効果が得られ
る。また、このビデオ信号発生器４０は、ＤＧ／ＤＰ試
験でも使用するので、正弦波発生器５０や信号切替器４
５を設ける必要がなくなる利点もある。ダイナミック特
性演算部１５は、バッファメモリ６０に格納されたデー
タの中で正弦波変調信号３２部分のランプ波部３６のみ
を抽出し、これから正弦波変調信号３２のヒストグラム
Ｍhを求め、これと理想ヒストグラム値Ｉmhとの比率の
算出により微分直線性、及び積分直線性が得られる効果
がある。
【００２０】
【図１】本発明の、ビデオ信号発生器４０からの映像信
号を使用してダイナミック特性を測定する構成図であ
る。
号を使用してダイナミック特性を測定する構成図であ
る。
【図２】（ａ）本発明の、ダイナミック特性試験用の映
像信号である試験用の正弦波変調信号３２で重畳したラ
ンプ波形図である。 （ｂ）本発明の、正弦波変調信号３２の１つの正弦波区
間をΔｔ時間の遅延を変えて４回の取り込みの測定スタ
ートを説明する図である。
像信号である試験用の正弦波変調信号３２で重畳したラ
ンプ波形図である。 （ｂ）本発明の、正弦波変調信号３２の１つの正弦波区
間をΔｔ時間の遅延を変えて４回の取り込みの測定スタ
ートを説明する図である。
【図３】本発明の、ダイナミック特性試験用の正弦波変
調信号３２を使用した、第２のランプ波形図の例であ
る。
調信号３２を使用した、第２のランプ波形図の例であ
る。
【図４】従来の、ダイナミック特性を測定する構成図で
ある。
ある。
【図５】従来の、ＤＵＴにフルスケールの正弦波２００
波形を印加して、正弦波ヒストグラムの算出を説明する
図である。
波形を印加して、正弦波ヒストグラムの算出を説明する
図である。
１０、２０ サンプリングクロック発生部 １０ａ サンプリングクロック １５ ダイナミック特性演算部 ３２、３８ 変調信号 ３４ ランプ波信号 ３６ ランプ波部 ４０ ビデオ信号発生器 ４０ｂ ランプ同期信号 ４５ 信号切替器 ５０ 正弦波発生器 ６０ バッファメモリ ６２ 高速メモリ ６４ アドレスカウンタ ７０ データ処理部 ９０ 基準クロック １００ 被試験用デバイス（ＤＵＴ） ２００ 正弦波 ２１０ 理想ヒストグラム ２２０ 正弦波ヒストグラム
Claims (2)
- 【請求項１】 被試験用デバイス（１００）に試験用映
像信号を供給するビデオ信号発生器（４０）と、これに
同期してＡＤ変換する為のサンプリングクロックをＤＵ
Ｔ（１００）に供給するサンプリングクロック発生部
（１０）と、ＤＵＴ（１００）からの量子化コードデー
タ（Ｄｘ）を格納するバッファメモリ（６０）を有し
て、被試験用デバイス（１００）のダイナミック特性の
試験において、 映像信号に重畳した正弦波変調信号（３２）波形をビデ
オ信号発生器（４０）からＤＵＴ（１００）に供給し
て、バッファメモリ（６０）に格納されたコードデータ
（Ｄｘ）の中で正弦波変調信号（３２）部分のランプ波
形データを抽出し、これから正弦波変調信号（３２）の
ヒストグラムを算出し、これに対応する正弦波変調信号
（３２）の理想ヒストグラムを算出し、両者の比率から
微分直線性を算出するダイナミック特性演算部（１５）
を設け、 以上を具備していることを特徴としたビデオ用ＡＤコン
バータの試験装置。 - 【請求項２】 被試験用デバイス（１００）に試験用映
像信号を供給するビデオ信号発生器（４０）と、これに
同期してＡＤ変換する為のサンプリングクロックをＤＵ
Ｔ（１００）に供給するサンプリングクロック発生部
（１０）と、ＤＵＴ（１００）からの量子化コードデー
タ（Ｄｘ）を格納するバッファメモリ（６０）を有し
て、被試験用デバイス（１００）のダイナミック特性の
試験において、 映像信号に重畳した正弦波変調信号（３２）波形をビデ
オ信号発生器（４０）からＤＵＴ（１００）に供給し、 正弦波変調信号（３２）のサンプリングとして、分割サ
ンプリング回数（Ｑ）回に分けてバッファメモリ（６
０）に格納し、 バッファメモリ（６０）に格納されたコードデータ（Ｄ
ｘ）の中で分割サンプリングされた正弦波変調信号（３
２）部分のコードデータ（Ｄｘ）を抽出し、 これから正弦波変調信号（３２）のヒストグラムを算出
し、 この正弦波変調信号（３２）のヒストグラムに対応する
理想ヒストグラムを算出し、 両者の比率から微分直線性を算出し、 以上を具備していることを特徴としたビデオ用ＡＤコン
バータの試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31418994A JP3316098B2 (ja) | 1994-11-24 | 1994-11-24 | ビデオ用ａｄコンバータの試験装置及びその試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31418994A JP3316098B2 (ja) | 1994-11-24 | 1994-11-24 | ビデオ用ａｄコンバータの試験装置及びその試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08149005A true JPH08149005A (ja) | 1996-06-07 |
| JP3316098B2 JP3316098B2 (ja) | 2002-08-19 |
Family
ID=18050336
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31418994A Expired - Fee Related JP3316098B2 (ja) | 1994-11-24 | 1994-11-24 | ビデオ用ａｄコンバータの試験装置及びその試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3316098B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0854366A1 (en) * | 1997-01-21 | 1998-07-22 | Tektronix, Inc. | Histogram based testing of analog signals |
| DE102010017562A1 (de) | 2009-07-22 | 2011-02-03 | Advantest Corp. | Messvorrichtung, Programm, Aufnahmemedium und Messverfahren |
-
1994
- 1994-11-24 JP JP31418994A patent/JP3316098B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0854366A1 (en) * | 1997-01-21 | 1998-07-22 | Tektronix, Inc. | Histogram based testing of analog signals |
| DE102010017562A1 (de) | 2009-07-22 | 2011-02-03 | Advantest Corp. | Messvorrichtung, Programm, Aufnahmemedium und Messverfahren |
| US8706445B2 (en) | 2009-07-22 | 2014-04-22 | Advantest Corporation | Measurement apparatus, program, recording medium, and measurement method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3316098B2 (ja) | 2002-08-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0630444B2 (ja) | Ａ／ｄ変換器試験方式 | |
| US4667296A (en) | Testing the transfer function linearity of analogue input circuits | |
| US4191921A (en) | Corona discharge detection apparatus which eliminates periodic noise | |
| JP3316098B2 (ja) | ビデオ用ａｄコンバータの試験装置及びその試験方法 | |
| US20060156147A1 (en) | Method and apparatus for measuring group delay of a device under test | |
| JPH04105073A (ja) | 実効値測定装置 | |
| JP2561816B2 (ja) | タイミング較正方法 | |
| JP2627758B2 (ja) | 信号発生装置 | |
| JPH0691464B2 (ja) | Ａ／ｄ変換器の試験装置 | |
| JP2004286511A (ja) | 光サンプリング装置および光波形観測システム | |
| JP3496936B1 (ja) | アナログデジタル（ａｄ）コンバータを備えた半導体装置の検査装置 | |
| JP2004320613A (ja) | アナログ／デジタル変換器の性能測定システム及び性能測定方法、並びに、デジタル／アナログ変換器の性能測定システム及び性能測定方法 | |
| JPH09312569A (ja) | Ｄａコンバータ試験装置及びこの装置を用いた半導体試験装置 | |
| JPS6158323A (ja) | デ−タ変換器の試験方法 | |
| JPH03226120A (ja) | Ｄ／ａ変換器の試験方法及び試験装置 | |
| JPS63119325A (ja) | デイジタル・アナログ・コンバ−タの動的直線性評価方法 | |
| JPH0630445B2 (ja) | Ｄ／ａ変換器の試験方法 | |
| JPH0782055B2 (ja) | ノイズ検出装置 | |
| JPH0894690A (ja) | サーボアナライザ | |
| SU1734239A1 (ru) | Способ измерени вли ни сигнала цветности на сигнал ркости телевизионного тракта | |
| JPH04198766A (ja) | デジタルパルス検査装置 | |
| JPH08327709A (ja) | Ｄｕｔ試験用の任意波形発生装置 | |
| JP3164959B2 (ja) | 半導体集積回路装置の試験方法 | |
| JPS63276394A (ja) | 色信号ベクトルの自動計測装置 | |
| JPH06249921A (ja) | ミックスドシグナルｉｃテスタ |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20020528 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |