JP5052102B2 - フレキシブル時間基準装置、線形位相検出回路及びフレキシブル時間基準信号生成方法 - Google Patents
フレキシブル時間基準装置、線形位相検出回路及びフレキシブル時間基準信号生成方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5052102B2 JP5052102B2 JP2006308258A JP2006308258A JP5052102B2 JP 5052102 B2 JP5052102 B2 JP 5052102B2 JP 2006308258 A JP2006308258 A JP 2006308258A JP 2006308258 A JP2006308258 A JP 2006308258A JP 5052102 B2 JP5052102 B2 JP 5052102B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- reference signal
- time reference
- flexible time
- phase
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 15
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 title claims 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 13
- 238000011084 recovery Methods 0.000 claims description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 9
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 6
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 3
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 230000003278 mimic effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/20—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector
- H04L1/205—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector jitter monitoring
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/02—Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
- G01R13/0218—Circuits therefor
- G01R13/0254—Circuits therefor for triggering, synchronisation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31708—Analysis of signal quality
- G01R31/31711—Evaluation methods, e.g. shmoo plots
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31725—Timing aspects, e.g. clock distribution, skew, propagation delay
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31727—Clock circuits aspects, e.g. test clock circuit details, timing aspects for signal generation, circuits for testing clocks
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
Description
2)少数ではあるが、自走(free running)の時間基準装置を用いて、入力されるシリアル・データの時間基準信号と手動でチューニングする方法がある。
3)その他の方法としては、位相ロック・ループ(PLL)を用いた時間基準装置がある。
14 等価時間データ・サンプラ
16 カウント・ダウン・レジスタ
18 フィルタ
20 正弦波サンプラ
22 自走時間基準水晶発振器
24 アイ・パターン発生回路
30 デジタル位相ロック・ループ
32 位相検出回路
34 ループ・フィルタ
36 数値制御発振部(NCO)
42 離散ヒルベルト変換部
44 アークタンジェント・ルックアップ・テーブル
46 オーバーフロー・カウンタ
48 位相検出部
Claims (8)
- 入力デジタル・データ信号からクロック信号を再生するクロック再生手段と、
上記クロック信号を分周し、フィルタ処理することによって、正弦波である所望周波数の基準信号を生成するクロック処理手段と、
上記入力デジタル・データ信号及び上記基準信号を自走発振器を用いて非同期でサンプリングするサンプリング手段と、
非同期でサンプリングされた上記基準信号からフレキシブル時間基準信号を取得する取得手段と、
上記フレキシブル時間基準信号に応じて、サンプリングされた上記入力デジタル・データ信号を累積することでアイ・パターンを生成する累積手段と
を具えるアイ・パターン用のフレキシブル時間基準装置。 - 上記取得手段が、
サンンプリングされた上記基準信号を第1入力端子で受けて誤差信号を出力端子から供給する位相検出手段と、
上記誤差信号から数値制御発振手段の制御信号を生成するループ・フィルタとを有し、
上記数値制御発振手段の出力信号が上記位相検出手段の第2入力端子に供給されることを特徴とする請求項1記載のフレキシブル時間基準装置。 - 上記位相検出手段が、
上記基準信号サンプルを複素信号に変換する手段と、
上記複素信号を位相値の線形ランプ信号に変換する手段と、
上記線形ランプ信号から上記数値制御発振手段の出力信号を引き算し、上記誤差信号を生成する引き算手段と
を具えることを特徴とする請求項2記載のフレキシブル時間基準装置。 - 上記位相検出手段が、
上記線形ランプ信号の周期毎に1ずつカウント値を増加させるカウンタ手段を更に具え、
上記カウンタ手段の1カウント値は、上記線形ランプ信号の最上位ビットに対応し、上記線形ランプ信号と上記カウント値を連結することで、上記線形ランプ信号のダイナミックレンジを拡大することを特徴とする請求項2又は3記載のフレキシブル時間基準装置。 - デジタル位相ロック・ループと共に用いる線形位相検出回路であって、
正弦波サンプルを前処理して複素信号を生成する手段と、
上記複素信号を位相値の線形ランプ信号に変換する手段と、
上記デジタル位相ロック・ループの帰還信号を上記線形ランプ信号から引き算し、上記デジタル位相ロック・ループのループ・フィルタの入力信号を生成する引き算手段と、
上記線形ランプ信号の周期毎に1ずつカウント値を増加させるカウンタ手段とを具え、
上記カウンタ手段の1カウント値は、上記線形ランプ信号の最上位ビットに対応し、上記線形ランプ信号と上記カウント値を連結することで、上記線形ランプ信号のダイナミックレンジを拡大することを特徴とする線形位相検出回路。 - アイ・パターン用のフレキシブル時間基準信号生成方法であって、
入力デジタル・データ信号からクロック信号を再生するクロック再生ステップと、
上記クロック信号を分周し、フィルタ処理することによって、正弦波である所望周波数の基準信号を生成するクロック処理ステップと、
上記入力デジタル・データ信号及び上記基準信号を自走発振器を用いて非同期でサンプリングするサンプリング・ステップと、
非同期でサンプリングされた上記基準信号から上記フレキシブル時間基準信号を取得する取得ステップと、
上記フレキシブル時間基準信号に応じて、サンプリングされた上記入力デジタル・データ信号を累積することでアイ・パターンを生成する累積ステップと
を具えるフレキシブル時間基準信号生成方法。 - 上記取得ステップが、
デジタル位相ロック・ループの位相検出手段の第1入力端子でサンンプリングされた上記基準信号を受けるステップと、
上記位相検出手段の出力端子から誤差信号を供給するステップと、
上記フレキシブル時間基準信号を供給する数値制御発振手段の制御信号を上記誤差信号から生成するステップと、
上記数値制御発振手段の出力信号を上記位相検出部の第2入力端子に供給するステップと
を有することを特徴とする請求項6記載のフレキシブル時間基準信号生成方法。 - 上記取得ステップが、
上記基準信号サンプルを複素信号に変換するステップと、
上記複素信号を位相値の線形ランプ信号に変換するステップと、
上記位相検出手段の出力端子から上記誤差信号を生成するために、上記線形ランプ信号から上記数値制御発振手段の出力信号を引き算するステップと
を更に有することを特徴とする請求項7記載のフレキシブル時間基準信号生成方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/274,687 | 2005-11-14 | ||
US11/274,687 US8184747B2 (en) | 2005-11-14 | 2005-11-14 | Flexible timebase for EYE diagram |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007143152A JP2007143152A (ja) | 2007-06-07 |
JP5052102B2 true JP5052102B2 (ja) | 2012-10-17 |
Family
ID=38087459
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006308258A Active JP5052102B2 (ja) | 2005-11-14 | 2006-11-14 | フレキシブル時間基準装置、線形位相検出回路及びフレキシブル時間基準信号生成方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US8184747B2 (ja) |
JP (1) | JP5052102B2 (ja) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070153837A1 (en) * | 2005-12-30 | 2007-07-05 | Alon Meir | Device, system and method of frequency tracking for clock and data recovery |
FR2899404A1 (fr) * | 2006-03-28 | 2007-10-05 | St Microelectronics Sa | Estimation de gigue d'un signal d'horloge |
US8396112B2 (en) * | 2006-11-28 | 2013-03-12 | Seiko Epson Corporation | Circuitry and method for transferring data, and circuitry and method utilizing clock pulses |
GB2463260B (en) * | 2008-09-05 | 2012-09-12 | Phabrix Ltd | Jitter Evaluation |
TWI376633B (en) * | 2008-12-19 | 2012-11-11 | Ind Tech Res Inst | Method of cordic computing vector angle and electronic apparatus using the same |
WO2011088610A1 (en) * | 2010-01-19 | 2011-07-28 | Integrated Device Technologies, Inc | Method and circuit for displayport video clock recovery |
US9160580B2 (en) | 2012-02-24 | 2015-10-13 | Conexant Systems, Inc. | Adaptive equalizer utilizing eye diagram |
GB2504989B (en) * | 2012-08-17 | 2019-11-06 | Image Proc Techniques Ltd | Eye pattern generating apparatus |
RU2015149619A (ru) * | 2013-04-19 | 2017-05-24 | Филипс Лайтинг Холдинг Б.В. | Восстановление синхронизации из самосинхронизирующегося кодированного светового сигнала |
CN103605291B (zh) * | 2013-11-05 | 2016-09-07 | 中国铁路总公司 | 一种交流牵引电传动系统的半实物仿真方法及系统结构 |
US9661248B2 (en) * | 2013-12-13 | 2017-05-23 | Cista System Corp. | Integrated circuit having flexible reference |
CN103916199B (zh) * | 2014-03-18 | 2016-08-24 | 中国科学院国家天文台 | 一种天线信号的时延和相位调整装置与方法 |
KR102373270B1 (ko) * | 2015-05-22 | 2022-03-14 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시장치 및 그 구동 방법 |
JP6431942B2 (ja) * | 2017-02-23 | 2018-11-28 | アンリツ株式会社 | トリガ回路及びトリガ発生方法とサンプリングオシロスコープ及びサンプリング方法 |
CN111415701A (zh) * | 2019-01-07 | 2020-07-14 | 长鑫存储技术有限公司 | 眼图生成装置及方法、存储芯片测试系统 |
JP2020155848A (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | キオクシア株式会社 | 受信装置及び受信方法 |
CN110672899B (zh) * | 2019-12-05 | 2020-03-24 | 深圳市鼎阳科技股份有限公司 | 一种用于数字示波器的眼图重构方法及存储介质 |
CN113433367B (zh) * | 2021-08-25 | 2021-11-02 | 深圳市鼎阳科技股份有限公司 | 一种用于数字示波器的显示控制装置、方法和数字示波器 |
CN116318155B (zh) * | 2023-05-19 | 2023-08-11 | 武汉普赛斯电子股份有限公司 | 一种精密时基等效采样装置及方法 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4894842A (en) * | 1987-10-15 | 1990-01-16 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Precorrelation digital spread spectrum receiver |
JP2578375B2 (ja) * | 1989-11-29 | 1997-02-05 | 横河電機株式会社 | デジタルオシロスコープ |
US5245630A (en) | 1991-04-09 | 1993-09-14 | Tektronix, Inc. | Equalized eye pattern instrument |
US5260670A (en) | 1992-01-16 | 1993-11-09 | Tektronix, Inc. | Equivalent time sampler using an oscillator |
US6263034B1 (en) * | 1998-03-25 | 2001-07-17 | Vitesse Semiconductor Corporation | Circuit and technique for digital reduction of jitter transfer |
US6532271B1 (en) * | 1999-10-29 | 2003-03-11 | Cadence Design Systems, Inc. | Carrier recovery and doppler frequency estimation |
JP4659190B2 (ja) * | 2000-08-31 | 2011-03-30 | アンリツ株式会社 | 波形測定装置 |
US6678445B2 (en) * | 2000-12-04 | 2004-01-13 | Jds Uniphase Corporation | Dynamic gain flattening filter |
DE10205044A1 (de) * | 2002-02-07 | 2003-08-21 | Philips Intellectual Property | Digitaler Phase Locked Loop |
JP2004020274A (ja) * | 2002-06-13 | 2004-01-22 | Iwatsu Electric Co Ltd | 波形表示トリガシステム |
US20040057503A1 (en) * | 2002-09-24 | 2004-03-25 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for processing a composite signal including a desired spread spectrum signal and an undesired narrower-band interfering signal |
US6990418B2 (en) | 2002-12-19 | 2006-01-24 | International Business Machines Corporation | Method and systems for optimizing high-speed signal transmission |
JP4607765B2 (ja) * | 2003-07-14 | 2011-01-05 | アンリツ株式会社 | フレーム信号の任意のビット位置で正確にトリガが掛けられるトリガ信号発生システム並びにそれを用いるフレーム信号波形観測システム |
US7440499B2 (en) * | 2004-01-29 | 2008-10-21 | Infineon Technologies Ag | Fractional spaced equalizer |
JP4541403B2 (ja) * | 2004-03-22 | 2010-09-08 | トムソン ライセンシング | 通信システムにおける搬送波再生で使われる方法および装置 |
US7107159B2 (en) * | 2004-03-29 | 2006-09-12 | Peter Thomas German | Systems and methods to determine elastic properties of materials |
US7532697B1 (en) | 2005-01-27 | 2009-05-12 | Net Logic Microsystems, Inc. | Methods and apparatus for clock and data recovery using a single source |
US7970087B2 (en) | 2005-04-06 | 2011-06-28 | Freescale Semiconductor, Inc. | Eye center determination system and method |
-
2005
- 2005-11-14 US US11/274,687 patent/US8184747B2/en active Active
-
2006
- 2006-11-14 JP JP2006308258A patent/JP5052102B2/ja active Active
-
2011
- 2011-07-08 US US13/178,803 patent/US8355469B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8184747B2 (en) | 2012-05-22 |
JP2007143152A (ja) | 2007-06-07 |
US20110274153A1 (en) | 2011-11-10 |
US20070121714A1 (en) | 2007-05-31 |
US8355469B2 (en) | 2013-01-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5052102B2 (ja) | フレキシブル時間基準装置、線形位相検出回路及びフレキシブル時間基準信号生成方法 | |
US6636122B2 (en) | Analog frequency locked loop with digital oversampling feedback control and filter | |
US7646225B2 (en) | Mains phase detection apparatus | |
US20060177018A1 (en) | Coherent interleaved sampling | |
JPH05196649A (ja) | サンプリング式信号アナライザ | |
JP2012042462A (ja) | 試験測定機器及びトリガ方法 | |
US20030128021A1 (en) | Signal acquisition method and apparatus using integrated phase locked loop | |
JP4650790B2 (ja) | 標本化装置 | |
US7035325B2 (en) | Jitter measurement using mixed down topology | |
US7715512B2 (en) | Jitter measurement apparatus, jitter measurement method, and recording medium | |
US6794857B2 (en) | Apparatus and method for measuring a phase delay characteristic | |
US10164670B2 (en) | Time sequenced spectral stitching | |
US6856924B2 (en) | Mixer-based timebase for sampling multiple input signal references asynchronous to each other | |
US6700516B1 (en) | Mixer-based timebase for signal sampling | |
US7864908B2 (en) | Apparatus and methods for clock signal recovery and for jitter measurement relative to the recovered clock signal | |
JP4752424B2 (ja) | 標本化装置 | |
JP2000056752A (ja) | ディジタル形式信号の標本化中のクロック再生方法 | |
JP3974880B2 (ja) | ジッタ伝達特性測定装置 | |
US6469488B1 (en) | Method of processing a high frequency signal containing multiple fundamental frequencies | |
CN114422039B (zh) | 一种能够去除信号中噪声的方法 | |
JP2004286511A (ja) | 光サンプリング装置および光波形観測システム | |
JP3316098B2 (ja) | ビデオ用adコンバータの試験装置及びその試験方法 | |
JP2002152296A (ja) | 位相検出装置とそれを用いた位相同期回路 | |
JPH03291570A (ja) | デジタルオシロスコープ | |
Adamo et al. | Frequency domain analysis for integral nonlinearity measurement in A/D converters with dither |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A625 | Written request for application examination (by other person) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A625 Effective date: 20080902 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110805 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110816 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111116 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20111116 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120710 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120724 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5052102 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150803 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |