JPH06297371A - 吸着機構 - Google Patents
吸着機構Info
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- JPH06297371A JPH06297371A JP8975093A JP8975093A JPH06297371A JP H06297371 A JPH06297371 A JP H06297371A JP 8975093 A JP8975093 A JP 8975093A JP 8975093 A JP8975093 A JP 8975093A JP H06297371 A JPH06297371 A JP H06297371A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 半導体装置1が傾斜していても確実に吸着し
て水平に補正できる吸着機構を提供する。 【構成】 中空のロッド9を半導体装置1上に移動さ
せ、真空吸引することによって吸着させる吸着機構にお
いて、その先端部に回転自在で真空穴13を有するピロ
ボール12を設け、ピロボール12の回転により開口面
14の傾きを半導体装置1表面の傾きに合わせて吸着
し、その後上方へ引き上げてロッド9に押し当て、再び
ピロボール12の回転により開口面14を復帰させて半
導体装置1を水平に保持する。
て水平に補正できる吸着機構を提供する。 【構成】 中空のロッド9を半導体装置1上に移動さ
せ、真空吸引することによって吸着させる吸着機構にお
いて、その先端部に回転自在で真空穴13を有するピロ
ボール12を設け、ピロボール12の回転により開口面
14の傾きを半導体装置1表面の傾きに合わせて吸着
し、その後上方へ引き上げてロッド9に押し当て、再び
ピロボール12の回転により開口面14を復帰させて半
導体装置1を水平に保持する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は半導体装置等を真空吸
着し、位置決めする吸着機構に関するものである。
着し、位置決めする吸着機構に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図7は従来の吸着機構を示す断面図であ
る。図において、1は被吸着物としての半導体装置、2
は半導体装置1を載置するトレー、3は中空のロッド、
4はロッド3に吸着した半導体装置1の位置を決定する
位置決め爪、5は位置決め爪4の支点、6は位置決め爪
4の作用点となるコロ、7は位置決め爪4に働く戻しス
プリングである。
る。図において、1は被吸着物としての半導体装置、2
は半導体装置1を載置するトレー、3は中空のロッド、
4はロッド3に吸着した半導体装置1の位置を決定する
位置決め爪、5は位置決め爪4の支点、6は位置決め爪
4の作用点となるコロ、7は位置決め爪4に働く戻しス
プリングである。
【0003】次に動作について説明する。まずロッド3
を、半導体装置1を吸着するために、真空吸引しながら
鉛直方向に下降させる。ロッド3が半導体装置1表面に
当接すると半導体装置1によって中空のロッド3の内部
は密閉され、半導体装置1はロッド3に真空圧で吸着さ
れる。次に半導体装置1を吸着した状態でロッド3を鉛
直方向に上昇させ、所定の位置まで来ると、位置決め爪
4が少なくとも4方向から支えて位置決めする。
を、半導体装置1を吸着するために、真空吸引しながら
鉛直方向に下降させる。ロッド3が半導体装置1表面に
当接すると半導体装置1によって中空のロッド3の内部
は密閉され、半導体装置1はロッド3に真空圧で吸着さ
れる。次に半導体装置1を吸着した状態でロッド3を鉛
直方向に上昇させ、所定の位置まで来ると、位置決め爪
4が少なくとも4方向から支えて位置決めする。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の吸着機構は以上
のように構成されているので、トレー2に載置された半
導体装置1が傾斜していると、ロッド3が半導体装置1
に当接した時に、ロッド3と半導体装置1表面との間に
図7に示す様に隙間8が出来てしまう。このためロッド
3内部の真空度が上昇せず吸着ミスになってしまうなど
の問題点があった。
のように構成されているので、トレー2に載置された半
導体装置1が傾斜していると、ロッド3が半導体装置1
に当接した時に、ロッド3と半導体装置1表面との間に
図7に示す様に隙間8が出来てしまう。このためロッド
3内部の真空度が上昇せず吸着ミスになってしまうなど
の問題点があった。
【0005】この発明は、上記のような問題点を解消す
るためになされたもので、半導体装置が傾斜した状態で
あっても確実に吸着し、傾きを補正して吸着保持でき
る、半導体装置の吸着機構を得ることを目的とする。
るためになされたもので、半導体装置が傾斜した状態で
あっても確実に吸着し、傾きを補正して吸着保持でき
る、半導体装置の吸着機構を得ることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明に係る吸着機構
は、ロッドの吸着側端部に、上記ロッドの中空部と連通
した真空穴を有する吸着ヘッドを備え、吸着操作時、上
記吸着ヘッドの真空穴の開口部全周が被吸着物と当接す
るように、上記ロッドの軸方向と垂直な面に対して上記
真空穴の開口面が傾動可能であり、吸着後、上記傾動分
を解消する復帰手段を有するものである。
は、ロッドの吸着側端部に、上記ロッドの中空部と連通
した真空穴を有する吸着ヘッドを備え、吸着操作時、上
記吸着ヘッドの真空穴の開口部全周が被吸着物と当接す
るように、上記ロッドの軸方向と垂直な面に対して上記
真空穴の開口面が傾動可能であり、吸着後、上記傾動分
を解消する復帰手段を有するものである。
【0007】
【作用】ロッドの吸着側端部に備えられた吸着ヘッドの
真空穴は、ロッドの中空部に連通しているため、真空吸
引によって上記真空穴の開口部に被吸着物を吸着でき
る。また被吸着物が傾斜した状態であっても、上記真空
穴の開口面が傾動して、開口部全周が被吸着物と当接す
るようにできるため、真空穴の開口面と被吸着物との間
での隙間が消滅し、確実に吸着できる。また、吸着後傾
動分を解消して復帰することにより、被吸着物は、ロッ
ドの軸方向に垂直になるよう傾きを補正される。
真空穴は、ロッドの中空部に連通しているため、真空吸
引によって上記真空穴の開口部に被吸着物を吸着でき
る。また被吸着物が傾斜した状態であっても、上記真空
穴の開口面が傾動して、開口部全周が被吸着物と当接す
るようにできるため、真空穴の開口面と被吸着物との間
での隙間が消滅し、確実に吸着できる。また、吸着後傾
動分を解消して復帰することにより、被吸着物は、ロッ
ドの軸方向に垂直になるよう傾きを補正される。
【0008】
実施例1.以下、この発明の一実施例を図について説明
する。なお、従来の技術と重複する個所は適宜省略す
る。図1はこの発明の実施例1による吸着機構を示す断
面図である。図において、1,2,4〜7は従来のもの
と同じもの、9は中空のロッドで中空部が連通した上下
2つのロッドユニット9a,9bで構成される。10は
ロッドユニット9bの内部で上下動するスライダー、1
1はスライダー10を下方に押し付けている圧縮バネ、
12はスライダー10の下部に回転自在に取り付けられ
た吸着ヘッドとしての球状のピロボール、13はピロボ
ール12に設けられた真空穴、14は真空穴13の先端
である開口面である。
する。なお、従来の技術と重複する個所は適宜省略す
る。図1はこの発明の実施例1による吸着機構を示す断
面図である。図において、1,2,4〜7は従来のもの
と同じもの、9は中空のロッドで中空部が連通した上下
2つのロッドユニット9a,9bで構成される。10は
ロッドユニット9bの内部で上下動するスライダー、1
1はスライダー10を下方に押し付けている圧縮バネ、
12はスライダー10の下部に回転自在に取り付けられ
た吸着ヘッドとしての球状のピロボール、13はピロボ
ール12に設けられた真空穴、14は真空穴13の先端
である開口面である。
【0009】このように構成された吸着機構では、ロッ
ド9の中空部からスライダー10内部およびピロボール
12の真空穴13へ縦に連通した開孔に対しロッド9上
部より真空吸引することにより、ピロボール12の先端
に半導体装置1を吸着する。以下、動作について図2に
基づいて詳細に説明する。まずスライダー10およびス
ライダー10に取り付けられたピロボール12は圧縮バ
ネ11によりロッドユニット9bの下方に押し付けられ
ている(図2(a))。ここで、ロッド9を、半導体装
置1を吸着するために真空吸引しながら鉛直方向に下降
させる。ピロボール12の下面が半導体装置1の上面に
当たると、開口面14が半導体装置1表面に向くように
ピロボール12が回転して半導体装置1を吸着する。こ
のとき、ピロボール12の真空穴13は半導体装置1に
よって塞がれロッドユニット9b内部は真空になる。す
ると、次に吸引される対象は、スライダー10の表面1
5となる(図2(b))。スライダー10表面15を上
向きに吸引する圧力は、圧力バネ11の下向きの圧力に
比して強くなり、スライダー10は圧縮バネ11を押し
縮めて上方へスライドする。半導体装置1の上面がロッ
ドユニット9bの下面に当接するとスライダー10は止
まり、ピロボール12が回転して半導体装置1を水平に
補正する。その後半導体装置1を吸着した状態でロッド
9を一定位置まで鉛直方向に上昇させ、位置決め爪4に
よって支えて位置決めする(図1参照)。
ド9の中空部からスライダー10内部およびピロボール
12の真空穴13へ縦に連通した開孔に対しロッド9上
部より真空吸引することにより、ピロボール12の先端
に半導体装置1を吸着する。以下、動作について図2に
基づいて詳細に説明する。まずスライダー10およびス
ライダー10に取り付けられたピロボール12は圧縮バ
ネ11によりロッドユニット9bの下方に押し付けられ
ている(図2(a))。ここで、ロッド9を、半導体装
置1を吸着するために真空吸引しながら鉛直方向に下降
させる。ピロボール12の下面が半導体装置1の上面に
当たると、開口面14が半導体装置1表面に向くように
ピロボール12が回転して半導体装置1を吸着する。こ
のとき、ピロボール12の真空穴13は半導体装置1に
よって塞がれロッドユニット9b内部は真空になる。す
ると、次に吸引される対象は、スライダー10の表面1
5となる(図2(b))。スライダー10表面15を上
向きに吸引する圧力は、圧力バネ11の下向きの圧力に
比して強くなり、スライダー10は圧縮バネ11を押し
縮めて上方へスライドする。半導体装置1の上面がロッ
ドユニット9bの下面に当接するとスライダー10は止
まり、ピロボール12が回転して半導体装置1を水平に
補正する。その後半導体装置1を吸着した状態でロッド
9を一定位置まで鉛直方向に上昇させ、位置決め爪4に
よって支えて位置決めする(図1参照)。
【0010】この発明による吸着機構は上記のように構
成されているため、半導体装置1を吸着時、真空孔13
が設けられたピロボール12が回転することにより開口
面14を半導体装置1表面に合うように傾動させること
ができる。このため半導体装置1が傾斜して載置されて
いても容易に装置できる。また開口面14はピロボール
12の真空穴13の先端であるため面積が小さいものと
なる。このため開口面14が半導体装置1に当接時に開
口面14と半導体装置1との間で生じる隙間は従来に比
べて極めて小さいものとなるため、より確実に装着でき
る。さらに吸着後半導体装置1が上昇してロッドユニッ
ト9bに当接すると、再びピロボール12が回転するこ
とにより開口面14の傾きは復帰する。このため半導体
装置1は水平に補正される。
成されているため、半導体装置1を吸着時、真空孔13
が設けられたピロボール12が回転することにより開口
面14を半導体装置1表面に合うように傾動させること
ができる。このため半導体装置1が傾斜して載置されて
いても容易に装置できる。また開口面14はピロボール
12の真空穴13の先端であるため面積が小さいものと
なる。このため開口面14が半導体装置1に当接時に開
口面14と半導体装置1との間で生じる隙間は従来に比
べて極めて小さいものとなるため、より確実に装着でき
る。さらに吸着後半導体装置1が上昇してロッドユニッ
ト9bに当接すると、再びピロボール12が回転するこ
とにより開口面14の傾きは復帰する。このため半導体
装置1は水平に補正される。
【0011】実施例2.なお、上記実施例1では吸着ヘ
ッドとしてピロボール12を設けたが、図3に示す様に
吸着ヘッドとしてゴムパッド16を設けても良い。図3
(a)は半導体装置1を吸着前、図3(b)は吸着後水
平に補正された状態を示すものである。この実施例2で
は、ロッド9を下降させゴムパッド16が半導体装置1
に当接し、開口面14の周囲が全て半導体装置1表面に
当接するまで、先に半導体装置1表面に当接したゴムパ
ッド16の部分が圧縮される。このため半導体装置1が
傾斜していても、ゴムパッド16の開口面14は半導体
装置1表面と同じ傾きになって半導体装置1を吸着す
る。その後圧縮されたゴムパッド16は復元し開口面1
4の傾きも復帰する。
ッドとしてピロボール12を設けたが、図3に示す様に
吸着ヘッドとしてゴムパッド16を設けても良い。図3
(a)は半導体装置1を吸着前、図3(b)は吸着後水
平に補正された状態を示すものである。この実施例2で
は、ロッド9を下降させゴムパッド16が半導体装置1
に当接し、開口面14の周囲が全て半導体装置1表面に
当接するまで、先に半導体装置1表面に当接したゴムパ
ッド16の部分が圧縮される。このため半導体装置1が
傾斜していても、ゴムパッド16の開口面14は半導体
装置1表面と同じ傾きになって半導体装置1を吸着す
る。その後圧縮されたゴムパッド16は復元し開口面1
4の傾きも復帰する。
【0012】実施例3.また、図4に示すように、吸着
ヘッドとして伸縮性のあるジャバラパッド17を設け、
スライダー10の代わりに真空圧によるジャバラパッド
17の収縮で半導体装置1を上方へ引き上げてロッド9
に押し当てて位置補正しても良い。図4(a)は半導体
装置1を吸着前、図4(b)は吸着後水平に補正された
状態を示す。この場合も実施例2と同様に、先に半導体
装置1表面に当接したジャバラパッド17の部分が圧縮
することによって開口面14の傾きを半導体装置1表面
に合わせることができる。
ヘッドとして伸縮性のあるジャバラパッド17を設け、
スライダー10の代わりに真空圧によるジャバラパッド
17の収縮で半導体装置1を上方へ引き上げてロッド9
に押し当てて位置補正しても良い。図4(a)は半導体
装置1を吸着前、図4(b)は吸着後水平に補正された
状態を示す。この場合も実施例2と同様に、先に半導体
装置1表面に当接したジャバラパッド17の部分が圧縮
することによって開口面14の傾きを半導体装置1表面
に合わせることができる。
【0013】実施例4.また、図5に示すように、ロッ
ド9の内側に吸着ヘッドとしてジャバラパッド17を設
けても同様の効果を得る。図5(a)は半導体装置1を
吸着前、図5(b)は吸着後水平に補正された状態を示
す。
ド9の内側に吸着ヘッドとしてジャバラパッド17を設
けても同様の効果を得る。図5(a)は半導体装置1を
吸着前、図5(b)は吸着後水平に補正された状態を示
す。
【0014】実施例5.また図6に示す様にロッド9の
先端にピロボール18によって自在に回転する吸着ヘッ
ドとしてのヘッドユニット19を設け、圧縮バネ20に
より常時下方向に押し付けているものでも良い。ヘッド
ユニット19は、圧縮バネ20により下方向に押し付け
られ平行を保っているが、傾斜した半導体装置1を吸着
する時は、図6(a)に示す様に圧縮バネ20がたわん
でヘッドユニット19が傾いて開口面14の傾きを半導
体装置1表面の傾きに合わせて吸着する。吸着後は図6
(b)に示す様に圧縮バネ20の復元力により平行に補
正する。
先端にピロボール18によって自在に回転する吸着ヘッ
ドとしてのヘッドユニット19を設け、圧縮バネ20に
より常時下方向に押し付けているものでも良い。ヘッド
ユニット19は、圧縮バネ20により下方向に押し付け
られ平行を保っているが、傾斜した半導体装置1を吸着
する時は、図6(a)に示す様に圧縮バネ20がたわん
でヘッドユニット19が傾いて開口面14の傾きを半導
体装置1表面の傾きに合わせて吸着する。吸着後は図6
(b)に示す様に圧縮バネ20の復元力により平行に補
正する。
【0015】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、吸着
機構の、中空のロッドの吸着側端部に、真空穴を有する
吸着ヘッドを備え、その真空穴の開口面を吸着時に傾動
可能にし、吸着後復帰させるようにしたため、被吸着物
が傾斜した状態であっても、開口面の傾きを被吸着物表
面の傾きに合わせることができるため確実に吸着でき
る。また吸着後に開口面の傾きが復帰するに伴って被吸
着物は傾きが補正される。
機構の、中空のロッドの吸着側端部に、真空穴を有する
吸着ヘッドを備え、その真空穴の開口面を吸着時に傾動
可能にし、吸着後復帰させるようにしたため、被吸着物
が傾斜した状態であっても、開口面の傾きを被吸着物表
面の傾きに合わせることができるため確実に吸着でき
る。また吸着後に開口面の傾きが復帰するに伴って被吸
着物は傾きが補正される。
【図1】この発明の実施例1による吸着機構を示す断面
図である。
図である。
【図2】図1に示す吸着機構の動作を示す断面図であ
る。
る。
【図3】この発明の実施例2による吸着機構を示す断面
図である。
図である。
【図4】この発明の実施例3による吸着機構を示す断面
図である。
図である。
【図5】この発明の実施例4による吸着機構を示す断面
図である。
図である。
【図6】この発明の実施例5による吸着機構を示す断面
図である。
図である。
【図7】従来の吸着機構を示す断面図である。
1 被処理体としての半導体装置 9 ロッド 12 吸着ヘッドしてのピロボール 13 真空穴 14 開口面
Claims (1)
- 【請求項1】 中空のロッドをその軸方向に移動させ、
真空吸引することによって被吸着物を吸着させる吸着機
構において、上記ロッドの吸着側端部に、上記ロッドの
中空部と連通した真空穴を有する吸着ヘッドを備え、吸
着操作時、上記吸着ヘッドの真空穴の開口面全周が、上
記被吸着物と当接するよう、上記ロッドの軸方向と垂直
な面に対して上記真空穴の開口面が傾動可能であり、吸
着後、上記傾動分を解消する復帰手段を有することを特
徴とする吸着機構。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8975093A JPH06297371A (ja) | 1993-04-16 | 1993-04-16 | 吸着機構 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8975093A JPH06297371A (ja) | 1993-04-16 | 1993-04-16 | 吸着機構 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06297371A true JPH06297371A (ja) | 1994-10-25 |
Family
ID=13979432
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8975093A Pending JPH06297371A (ja) | 1993-04-16 | 1993-04-16 | 吸着機構 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06297371A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100854641B1 (ko) * | 2002-05-31 | 2008-08-27 | 후지쯔 가부시끼가이샤 | 핸들링 장치 및 이것을 사용한 시험 장치 |
JP2010534844A (ja) * | 2007-10-05 | 2010-11-11 | ムルティテスト・エレクトロニッシェ・ジステーメ・ゲーエムベーハー | 電子部品、特にicを保持しかつ移動する熱伝導体を有するプランジャ |
JP4891251B2 (ja) * | 2005-10-18 | 2012-03-07 | 平田機工株式会社 | 吸着ヘッド装置 |
US8232815B2 (en) | 2007-10-05 | 2012-07-31 | Multitest Elektronische Systeme Gmbh | Plunger for holding and moving electronic components in particular ICS |
TWI503210B (zh) * | 2012-09-03 | 2015-10-11 | Hirata Spinning | Adsorption nozzle and adsorption device |
WO2019163527A1 (ja) * | 2018-02-26 | 2019-08-29 | 日新製鋼株式会社 | 形鋼吸着装置 |
CN111186703A (zh) * | 2020-03-18 | 2020-05-22 | 佛山市赛鸽机器人智能科技有限公司 | 一种吸料装置 |
JP2020192648A (ja) * | 2019-05-29 | 2020-12-03 | 株式会社日立製作所 | エンドエフェクタ及びピッキングシステム |
-
1993
- 1993-04-16 JP JP8975093A patent/JPH06297371A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100854641B1 (ko) * | 2002-05-31 | 2008-08-27 | 후지쯔 가부시끼가이샤 | 핸들링 장치 및 이것을 사용한 시험 장치 |
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US8232815B2 (en) | 2007-10-05 | 2012-07-31 | Multitest Elektronische Systeme Gmbh | Plunger for holding and moving electronic components in particular ICS |
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TWI503210B (zh) * | 2012-09-03 | 2015-10-11 | Hirata Spinning | Adsorption nozzle and adsorption device |
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CN111186703A (zh) * | 2020-03-18 | 2020-05-22 | 佛山市赛鸽机器人智能科技有限公司 | 一种吸料装置 |
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