JPH06290235A - Ｌｓｉレイアウト検証テストデータ生成装置 - Google Patents
Ｌｓｉレイアウト検証テストデータ生成装置Info
- Publication number
- JPH06290235A JPH06290235A JP5075679A JP7567993A JPH06290235A JP H06290235 A JPH06290235 A JP H06290235A JP 5075679 A JP5075679 A JP 5075679A JP 7567993 A JP7567993 A JP 7567993A JP H06290235 A JPH06290235 A JP H06290235A
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- layout verification
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＬＳＩレイアウト検証ルールのミスを容易に
チェックできるテストデータを生成する。 【構成】 ルール読み込み手段２にて読み込まれた検証
ルール１とワーキンググリッド読み込み手段５にて読み
込まれたワーキンググリッド６とに基づいて、テストデ
ータ生成手段３にて、検証ルール１に含まれる各設計基
準毎にテストデータを生成する。また、設計基準採番手
段21とマトリックス状配置座標計算手段22とを用いて、
この各設計基準毎のテストデータを設計基準に対応付け
てマトリックス状に生成する。
チェックできるテストデータを生成する。 【構成】 ルール読み込み手段２にて読み込まれた検証
ルール１とワーキンググリッド読み込み手段５にて読み
込まれたワーキンググリッド６とに基づいて、テストデ
ータ生成手段３にて、検証ルール１に含まれる各設計基
準毎にテストデータを生成する。また、設計基準採番手
段21とマトリックス状配置座標計算手段22とを用いて、
この各設計基準毎のテストデータを設計基準に対応付け
てマトリックス状に生成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＬＳＩレイアウトの検
証に用いるテストデータを自動的に生成する装置に関す
る。
証に用いるテストデータを自動的に生成する装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来のＬＳＩレイアウトのＡｌ配線の検
証に用いるテストデータの一例を図７に示す。図７に示
す例では、幅2.0 μｍのテストデータ31と幅1.0 μｍの
テストデータ32とが1.0 μｍの間隔で生成されている。
ここで、設計基準としてＡｌ最小幅を1.5 μｍ、Ａｌ最
小間隔を1.5 μｍとした場合、テストデータ31及びテス
トデータ32についてレイアウト検証を実行すると、Ａｌ
幅についてはテストデータ31が合格、テストデータ32が
違反となり、またＡｌ間隔については両データ31, 32の
間隔は違反となる。
証に用いるテストデータの一例を図７に示す。図７に示
す例では、幅2.0 μｍのテストデータ31と幅1.0 μｍの
テストデータ32とが1.0 μｍの間隔で生成されている。
ここで、設計基準としてＡｌ最小幅を1.5 μｍ、Ａｌ最
小間隔を1.5 μｍとした場合、テストデータ31及びテス
トデータ32についてレイアウト検証を実行すると、Ａｌ
幅についてはテストデータ31が合格、テストデータ32が
違反となり、またＡｌ間隔については両データ31, 32の
間隔は違反となる。
【０００３】ところで、上述したようなテストデータ
は、レイアウト設計用のＣＡＤ装置を用いてマニュアル
作成されており、また、１つの検証ルール内には100 〜
300 程度の設計基準が含まれていて、そのテストデータ
も複雑である。
は、レイアウト設計用のＣＡＤ装置を用いてマニュアル
作成されており、また、１つの検証ルール内には100 〜
300 程度の設計基準が含まれていて、そのテストデータ
も複雑である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来では以上のように
して、ＬＳＩレイアウト検証のテストデータを生成して
いるので、検証ルールのチェックが不十分であり（例え
ば図７の例では設計基準の限界値は合格であるか否かの
チェックができていない）、また複雑なテストデータの
生成に多大の労力を要するという問題点がある。
して、ＬＳＩレイアウト検証のテストデータを生成して
いるので、検証ルールのチェックが不十分であり（例え
ば図７の例では設計基準の限界値は合格であるか否かの
チェックができていない）、また複雑なテストデータの
生成に多大の労力を要するという問題点がある。
【０００５】本発明は斯かる事情に鑑みてなされたもの
であり、検証ルールのミスを容易にチェックできるテス
トデータを自動生成するＬＳＩレイアウト検証テストデ
ータ生成装置を提供することを目的とする。
であり、検証ルールのミスを容易にチェックできるテス
トデータを自動生成するＬＳＩレイアウト検証テストデ
ータ生成装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本願の第１発明のＬＳＩ
レイアウト検証テストデータ生成装置は、レイアウト検
証ルールを読み込む手段と、読み込まれた検証ルールに
従って各設計基準毎のテストーデータを生成する手段と
を備えたことを特徴とする。
レイアウト検証テストデータ生成装置は、レイアウト検
証ルールを読み込む手段と、読み込まれた検証ルールに
従って各設計基準毎のテストーデータを生成する手段と
を備えたことを特徴とする。
【０００７】本願の第２発明のＬＳＩレイアウト検証テ
ストデータ生成装置は、第１発明において、各設計基準
に番号付けを行う手段と、各設計基準毎のテストデータ
のマトリックス状の配置位置を計算する手段とを更に備
え、各設計基準に対応させてテストデータをマトリック
ス状に配置して生成するように構成したことを特徴とす
る。
ストデータ生成装置は、第１発明において、各設計基準
に番号付けを行う手段と、各設計基準毎のテストデータ
のマトリックス状の配置位置を計算する手段とを更に備
え、各設計基準に対応させてテストデータをマトリック
ス状に配置して生成するように構成したことを特徴とす
る。
【０００８】
【作用】第１発明では、読み込んだレイアウト検証ルー
ルに基づいて、各設計基準毎にテストデータを自動的に
生成する。そうすると、レイアウト検証ルールのミスが
容易にチェックされる。
ルに基づいて、各設計基準毎にテストデータを自動的に
生成する。そうすると、レイアウト検証ルールのミスが
容易にチェックされる。
【０００９】第２発明では、第１発明において、各設計
基準毎のテストデータがマトリックス状に生成される。
よって、設計基準とそのテストデータとの対応が容易と
なる。
基準毎のテストデータがマトリックス状に生成される。
よって、設計基準とそのテストデータとの対応が容易と
なる。
【００１０】
【実施例】以下、本発明をその実施例を示す図面に基づ
いて具体的に説明する。
いて具体的に説明する。
【００１１】実施例１．まず、本発明の実施例１（第１
発明）について説明する。図１は、実施例１の構成を示
すブロック図である。図１において、２は検証ルール１
を読み込むためのルール読み込み手段であり、ルール読
み込み手段２は読み込んだ検証ルール１をテストデータ
生成手段３へ出力する。また、５はワーキンググリッド
６を読み込むためのワーキンググリッド読み込み手段で
あり、ワーキンググリッド読み込み手段５は読み込んだ
ワーキンググリッド６をテストデータ生成手段３へ出力
する。テストデータ生成手段３は、入力された検証ルー
ル１及びワーキンググリッド６に基づいてレイアウト検
証用のテストデータ４を生成する。
発明）について説明する。図１は、実施例１の構成を示
すブロック図である。図１において、２は検証ルール１
を読み込むためのルール読み込み手段であり、ルール読
み込み手段２は読み込んだ検証ルール１をテストデータ
生成手段３へ出力する。また、５はワーキンググリッド
６を読み込むためのワーキンググリッド読み込み手段で
あり、ワーキンググリッド読み込み手段５は読み込んだ
ワーキンググリッド６をテストデータ生成手段３へ出力
する。テストデータ生成手段３は、入力された検証ルー
ル１及びワーキンググリッド６に基づいてレイアウト検
証用のテストデータ４を生成する。
【００１２】次に、動作について説明する。図２は実施
例１の動作手順を示すフロチャート、図３は実施例１で
得られるテストデータの一例を示す図である。まず、ル
ール読み込み手段２にて検証ルール１が読み込まれ、読
み込まれた検証ルール１の先頭の設計基準が抽出されて
テストデータ生成手段３に入力される（ステップＳ
１）。一方、ワーキンググリッド読み込み手段５にてワ
ーキンググリッド６が読み込まれ、読み込まれたワーキ
ンググリッド６がテストデータ生成手段３に入力される
（ステップＳ２）。テストデータ生成手段３にて、抽出
された設計基準と入力されたワーキンググリッド６とに
基づいて、設計基準違反テストデータ, 設計基準合格
（限界値）テストデータ, 設計基準合格テストデータが
生成される（ステップＳ３，Ｓ４，Ｓ５）。
例１の動作手順を示すフロチャート、図３は実施例１で
得られるテストデータの一例を示す図である。まず、ル
ール読み込み手段２にて検証ルール１が読み込まれ、読
み込まれた検証ルール１の先頭の設計基準が抽出されて
テストデータ生成手段３に入力される（ステップＳ
１）。一方、ワーキンググリッド読み込み手段５にてワ
ーキンググリッド６が読み込まれ、読み込まれたワーキ
ンググリッド６がテストデータ生成手段３に入力される
（ステップＳ２）。テストデータ生成手段３にて、抽出
された設計基準と入力されたワーキンググリッド６とに
基づいて、設計基準違反テストデータ, 設計基準合格
（限界値）テストデータ, 設計基準合格テストデータが
生成される（ステップＳ３，Ｓ４，Ｓ５）。
【００１３】例えば、上記ステップＳ１において「Ａｌ
の最小幅が1.5 μｍである」という設計基準が抽出さ
れ、上記ステップＳ２において「Ａｌの設計ワーキング
グリッドが0.1 μｍである」というワーキンググリッド
６が入力されたとすると、テストデータ生成手段３は、
具体的には、上記ステップＳ３，Ｓ４，Ｓ５において、
幅1.4 μｍの設計基準違反データ11と、幅1.5 μｍの設
計基準合格（限界値）データ12と、幅1.6 μｍの設計基
準合格データ13とを生成する（図３参照）。つまり、幅
1.5 μｍ丁度のテストデータと、これにワーキンググリ
ッド分の0.1 μｍを加算，減算した幅1.6 μｍ, 1.4 μ
ｍの各テストデータとを一組としたテストデータを生成
する。
の最小幅が1.5 μｍである」という設計基準が抽出さ
れ、上記ステップＳ２において「Ａｌの設計ワーキング
グリッドが0.1 μｍである」というワーキンググリッド
６が入力されたとすると、テストデータ生成手段３は、
具体的には、上記ステップＳ３，Ｓ４，Ｓ５において、
幅1.4 μｍの設計基準違反データ11と、幅1.5 μｍの設
計基準合格（限界値）データ12と、幅1.6 μｍの設計基
準合格データ13とを生成する（図３参照）。つまり、幅
1.5 μｍ丁度のテストデータと、これにワーキンググリ
ッド分の0.1 μｍを加算，減算した幅1.6 μｍ, 1.4 μ
ｍの各テストデータとを一組としたテストデータを生成
する。
【００１４】以上の処理が終了すると、読み込んだ検証
ルール１から次の設計基準が抽出され、この抽出された
設計基準に従って、上述と同様の処理が行われて、テス
トデータが生成される。そして、検証ルール１が終りに
なるまでこの処理が繰り返される（ステップＳ６）。
ルール１から次の設計基準が抽出され、この抽出された
設計基準に従って、上述と同様の処理が行われて、テス
トデータが生成される。そして、検証ルール１が終りに
なるまでこの処理が繰り返される（ステップＳ６）。
【００１５】実施例２．次いで、本発明の実施例２（第
２発明）について説明する。図４は、実施例２の構成を
示すブロック図である。図４において、図１と同番号を
付した部分は同一または相当部分を示すのでそれらの説
明は省略する。図４において、21は抽出された設計基準
に番号付けを行う設計基準採番手段、22はマトリックス
状配置における各設計基準の位置座標を計算するマトリ
ックス状配置座標計算手段である。
２発明）について説明する。図４は、実施例２の構成を
示すブロック図である。図４において、図１と同番号を
付した部分は同一または相当部分を示すのでそれらの説
明は省略する。図４において、21は抽出された設計基準
に番号付けを行う設計基準採番手段、22はマトリックス
状配置における各設計基準の位置座標を計算するマトリ
ックス状配置座標計算手段である。
【００１６】次に、動作について説明する。図５は実施
例２の動作手順を示すフロチャート、図６は実施例２で
得られるテストデータの配置例を示す図である。なお、
図５において、図２と同番号を付した部分は同一または
相当処理を示している。まず、ルール読み込み手段２に
て検証ルール１が読み込まれ、読み込まれた検証ルール
１の先頭の設計基準が抽出されて設計基準採番手段21に
入力される（ステップＳ１）。そして、設計基準採番手
段21にて、抽出された設計基準に番号（この場合は先頭
の設計基準なので番号１、以下続き番号となる）が付け
られる（ステップＳ11）。一方、ワーキンググリッド読
み込み手段５にてワーキンググリッド６が読み込まれ、
読み込まれたワーキンググリッド６がマトリックス状配
置座標計算手段22に入力される（ステップＳ２）。そし
て、マトリックス状配置座標計算手段22にて、設計基準
に対応したマトリックス状配置における座標が計算され
る（ステップＳ12）。
例２の動作手順を示すフロチャート、図６は実施例２で
得られるテストデータの配置例を示す図である。なお、
図５において、図２と同番号を付した部分は同一または
相当処理を示している。まず、ルール読み込み手段２に
て検証ルール１が読み込まれ、読み込まれた検証ルール
１の先頭の設計基準が抽出されて設計基準採番手段21に
入力される（ステップＳ１）。そして、設計基準採番手
段21にて、抽出された設計基準に番号（この場合は先頭
の設計基準なので番号１、以下続き番号となる）が付け
られる（ステップＳ11）。一方、ワーキンググリッド読
み込み手段５にてワーキンググリッド６が読み込まれ、
読み込まれたワーキンググリッド６がマトリックス状配
置座標計算手段22に入力される（ステップＳ２）。そし
て、マトリックス状配置座標計算手段22にて、設計基準
に対応したマトリックス状配置における座標が計算され
る（ステップＳ12）。
【００１７】実施例１と同様に、テストデータ生成手段
３にて、抽出された設計基準（番号No.1）と入力された
ワーキンググリッド６とに基づいて、３種を一組とした
テストデータ（設計基準違反データ11, 設計基準合格
（限界値）データ12, 設計基準合格テストデータ13）が
生成される（ステップＳ３，Ｓ４，Ｓ５）（図６参
照）。
３にて、抽出された設計基準（番号No.1）と入力された
ワーキンググリッド６とに基づいて、３種を一組とした
テストデータ（設計基準違反データ11, 設計基準合格
（限界値）データ12, 設計基準合格テストデータ13）が
生成される（ステップＳ３，Ｓ４，Ｓ５）（図６参
照）。
【００１８】そして、以上の処理が終了すると、読み込
んだ検証ルール１から次の設計基準が抽出され、この抽
出された設計基準に従って、上述と同様の処理が行われ
て、テストデータが生成される。そして、検証ルール１
が終りになるまでこの処理が繰り返される（ステップＳ
６）。
んだ検証ルール１から次の設計基準が抽出され、この抽
出された設計基準に従って、上述と同様の処理が行われ
て、テストデータが生成される。そして、検証ルール１
が終りになるまでこの処理が繰り返される（ステップＳ
６）。
【００１９】実施例２では、実施例１と同様に、各設計
基準毎に３種ずつのテストデータを生成するが、図６に
示すように、これらのテストデータを設計基準の番号に
対応させてマトリックス状に配置し、設計基準との対応
が容易に取れるようにする。
基準毎に３種ずつのテストデータを生成するが、図６に
示すように、これらのテストデータを設計基準の番号に
対応させてマトリックス状に配置し、設計基準との対応
が容易に取れるようにする。
【００２０】
【発明の効果】以上のように、第１発明のＬＳＩレイア
ウト検証テストデータ生成装置では、各設計基準毎にテ
ストデータを自動的に生成するので、検証ルールのミス
を容易にチェックすることができ、ＬＳＩレイアウト設
計の品質向上、テストデータ生成に要する作業時間の低
減を図ることができる。
ウト検証テストデータ生成装置では、各設計基準毎にテ
ストデータを自動的に生成するので、検証ルールのミス
を容易にチェックすることができ、ＬＳＩレイアウト設
計の品質向上、テストデータ生成に要する作業時間の低
減を図ることができる。
【００２１】また、第２発明のＬＳＩレイアウト検証テ
ストデータ生成装置では、設計基準毎にテストデータを
マトリックス状に生成するので、第１発明の効果に加え
て、設計基準とそのテストデータとの対応付けを容易に
確認できるという効果がある。
ストデータ生成装置では、設計基準毎にテストデータを
マトリックス状に生成するので、第１発明の効果に加え
て、設計基準とそのテストデータとの対応付けを容易に
確認できるという効果がある。
【図１】本発明の一実施例（実施例１）によるＬＳＩレ
イアウト検証テストデータ生成装置の構成を示すブロッ
ク図である。
イアウト検証テストデータ生成装置の構成を示すブロッ
ク図である。
【図２】実施例１のＬＳＩレイアウト検証テストデータ
生成装置の動作手順を示すフローチャートである。
生成装置の動作手順を示すフローチャートである。
【図３】実施例１のＬＳＩレイアウト検証テストデータ
生成装置により生成したテストデータ例を示す図であ
る。
生成装置により生成したテストデータ例を示す図であ
る。
【図４】本発明の他の実施例（実施例２）によるＬＳＩ
レイアウト検証テストデータ生成装置の構成を示すブロ
ック図である。
レイアウト検証テストデータ生成装置の構成を示すブロ
ック図である。
【図５】実施例２のＬＳＩレイアウト検証テストデータ
生成装置の動作手順を示すフローチャートである。
生成装置の動作手順を示すフローチャートである。
【図６】実施例２のＬＳＩレイアウト検証テストデータ
生成装置により生成したテストデータ例を示す図であ
る。
生成装置により生成したテストデータ例を示す図であ
る。
【図７】従来例によるテストデータを示す図である。
１ 検証ルール ２ ルール読み込み手段 ３ テストデータ生成手段 ４ テストデータ ５ ワーキンググリッド読み込み手段 ６ ワーキンググリッド 11 設計基準違反データ 12 設計基準合格（限界値）データ 13 設計基準合格データ 21 設計基準採番手段 22 マトリックス状配置座標計算手段
Claims (2)
- 【請求項１】 ＬＳＩレイアウト検証に用いるテストデ
ータを自動的に生成する装置であって、複数の設計基準
が含まれているレイアウト検証ルールを読み込む手段
と、読み込まれたレイアウト検証ルールに含まれる各設
計基準毎にテストデータを生成する手段とを備えること
を特徴とするＬＳＩレイアウト検証テストデータ生成装
置。 - 【請求項２】 各設計基準に番号付けを行う手段と、各
設計基準毎のテストデータのマトリックス状の配置位置
を計算する手段とを備え、各設計基準毎のテストデータ
をマトリックス状に配置して生成するように構成したこ
とを特徴とする請求項１記載のＬＳＩレイアウト検証テ
ストデータ生成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5075679A JPH06290235A (ja) | 1993-04-01 | 1993-04-01 | Ｌｓｉレイアウト検証テストデータ生成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5075679A JPH06290235A (ja) | 1993-04-01 | 1993-04-01 | Ｌｓｉレイアウト検証テストデータ生成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06290235A true JPH06290235A (ja) | 1994-10-18 |
Family
ID=13583132
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5075679A Pending JPH06290235A (ja) | 1993-04-01 | 1993-04-01 | Ｌｓｉレイアウト検証テストデータ生成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06290235A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011003658A (ja) * | 2009-06-17 | 2011-01-06 | Toyota Motor Corp | テストデータ生成方法 |
| JP2013077263A (ja) * | 2011-09-30 | 2013-04-25 | Lapis Semiconductor Co Ltd | レイアウトパタン生成装置及びプログラム |
| US9836565B2 (en) | 2014-12-24 | 2017-12-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Electronic design automation method and apparatus thereof |
-
1993
- 1993-04-01 JP JP5075679A patent/JPH06290235A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011003658A (ja) * | 2009-06-17 | 2011-01-06 | Toyota Motor Corp | テストデータ生成方法 |
| JP2013077263A (ja) * | 2011-09-30 | 2013-04-25 | Lapis Semiconductor Co Ltd | レイアウトパタン生成装置及びプログラム |
| US9836565B2 (en) | 2014-12-24 | 2017-12-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Electronic design automation method and apparatus thereof |
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