JPH118313A - レイアウト検証装置及びレイアウト検証方法 - Google Patents

レイアウト検証装置及びレイアウト検証方法

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JPH118313A
JPH118313A JP9173075A JP17307597A JPH118313A JP H118313 A JPH118313 A JP H118313A JP 9173075 A JP9173075 A JP 9173075A JP 17307597 A JP17307597 A JP 17307597A JP H118313 A JPH118313 A JP H118313A
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JP
Japan
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data
layout pattern
drc
pattern data
error
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JP9173075A
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English (en)
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Hirohisa Tsuchida
裕久 土田
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】レイアウトパターンデータのDRC処理後のD
RCエラーデータの確認を容易化するレイアウト検証装
置及び方法の提供。 【解決手段】レイアウト検証装置は、レイアウトパター
ンデータのDRC(デザインルールチェック)を行い、
DRCエラー箇所が存在する場合、そのDRCエラーデ
ータとあらかじめ入力する切り出し指定107より、ユ
ーザーが確認したいDRCエラー線分を解析し、その最
外周座標を抽出し、オーバーラップ量を加味したDRC
エラーデータ周辺のデータを切り出した特定レイアウト
パターンデータ109を出力するエラー線分解析、レイ
アウト切り出し部を有する。DRCエラーデータとDR
Cエラーデータ周辺のみを切り出した特定レイアウトパ
ターンデータを読み込みレイアウトパターンデータを確
認する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、LSI設計技術に
関し、特に設計されたLSIレイアウトパターンデータ
の品質を効果的に向上させるレイアウト検証装置及び方
法に関する。
【0002】
【従来の技術】図8に、従来のLSIレイアウトパター
ンデータの検証装置のハードウェア構成の一例を示す。
図8において、801はレイアウトパターンデータを入
力する入力装置、802は中央演算装置、803はレイ
アウトパターンデータや、DRC(Design Rule Chec
k;デザインルールチェック)エラーデータを保存する
磁気ディスク装置、804はDRCエラーデータやレイ
アウトパターンデータを表示する表示装置である。
【0003】図9は、従来のLSIレイアウトパターン
データ検証の処理の一例をブロック図にて示したもので
ある。
【0004】図9において、901は、レイアウトパタ
ーンデータのチェック内容を定義記述したDRCルール
ファイル、902はDRC処理の対象となるレイアウト
パターンデータである。レイアウトパターンデータの各
種図形データのデザインルーチンチェック(単に、「D
RC」ともいう)において、読み込み部903は、DR
Cルールファイル901と、DRC処理の対象となるレ
イアウトパターンデータ902と、を読み込む。
【0005】DRC処理部904は、読み込み部903
で読み込んだDRCルールファイルの情報、及びレイア
ウトパターンデータによりDRC処理を行う。そして、
DRC処理部904は、DRCの処理の結果、チェック
内容に対して違反している箇所を示すエラーデータをD
RCエラーデータ905に出力し、表示部906は、D
RCエラーデータ905とレイアウトパターンデータ9
02を画面上に表示する。
【0006】次に、従来のDRC処理を行い、そのエラ
ーデータの確認する場合の流れを説明する。表示部90
6にて、レイアウトエディタ等を用いて、まずDRCエ
ラーデータ905の読み込みを行い、次にDRC処理を
行ったレイアウトパターンデータ902の全てを読み込
み表示する。
【0007】そして、表示部906にて、DRCエラー
データとレイアウトパターンデータを重ね合わせる。D
RCエラーデータのある箇所において、そのDRCエラ
ーが出力されたチェック項目に関するレイアウトパター
ンデータがどのようになっているかを確認し、DRCチ
ェック値に満たない場合に、レイアウトパターンデータ
の修正を行う等の作業に移る。
【0008】また、DRCエラー箇所の座標のみを予め
記憶し、レイアウトパターンデータのみをレイアウトエ
ディタ等を用いて読み込み、そのDRCエラー箇所の座
標のレイアウトパターンデータを確認するという方法も
知られている。
【0009】次にDRCエラーデータの表示結果につい
て説明する。
【0010】図11は、図9に示した処理ブロック構成
の従来のレイアウト検証装置において、1つのチェック
項目(AデータとBデータの間隔チェック)についてD
RCを行った結果、DRCエラーデータ及びレイアウト
パターンデータを表示した例を示したものである。図1
1において、1101は、DRC処理部904における
DRC処理の結果、発生したDRCエラーデータを示
し、それ以外はレイアウトパターンデータである。
【0011】次に、別の従来技術として、例えば特開平
4−63460号公報には、表示部でDRCエラーデー
タを発生する処理のチェック対象となるレイアウトパタ
ーンデータとDRCエラーデータを同時に表示するよう
にしたレイアウト検証装置が提案されている。図10
は、この従来のLSIレイアウトパターンデータ検証装
置の処理をブロック図にて示したものである。1001
〜1006は、図9に示した901〜906と同等であ
るので、説明を省略する。
【0012】図10において、1007は、DRCルー
ルファイル1001とレイアウトパターンデータ100
2を読み込みチェック対象のレイアウトパターンデータ
のみを抽出するDRC解析部、1008はDRC解析部
1007で抽出するDRC解析部、1008はDRC解
析部1007で抽出された特定のレイアウトパターンデ
ータ、1009はチェック番号とレイアウトパターンを
対応づける内部テーブルである。表示部1006は、D
RCエラーデータ1005と特定レイアウトパターン1
008を画面表示する。
【0013】図12は、図10に示した処理ブロック構
成を有する従来のレイアウト検証装置において、1つの
チェック項目(1202のAデータと1203のBデー
タの間隔チェック)についてDRCを行った結果、DR
Cエラーデータ及びレイアウトパターンデータを同時に
表示した例を示したものである。
【0014】図12において、1201はDRC処理で
発生したDRCエラーデータ、1202と1203はD
RCエラーデータを発生したDRCチェック項目に係わ
るレイアウトパターンデータである。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】以上説明した従来技術
は、下記記載の問題点を有している。
【0016】(1)まず、図9を参照して説明した従来
技術では、DRCエラーデータ表示処理において、レイ
アウトパターンデータの全てをレイアウトエディタに読
み込み、また全体を表示する必要があり、DRCエラー
データとは直接関係ないレイアウトパターンデータも常
に表示されているため、表示画面が煩雑になる、という
問題点を有している。
【0017】また、最近の大規模な大規模集積回路のレ
イアウトパターンデータの検証においては、レイアウト
パターンデータやDRCエラーデータの表示を行うレイ
アウトエディタの負担が重く、1つのDRCエラーデー
タの発生箇所におけるレイアウトパターンデータを確認
する際にも時間がかかるといった問題がある。
【0018】(2)次に、図10を参照して説明した従
来技術においても、表示部では、DRCエラーデータと
そのDRCのチェック項目に関係するレイアウトパター
ンデータのみの表示を行うが、そのレイアウト層、例え
ばゲートやアルミ配線のみといった工程でさえも、最近
の大規模なレイアウトパターンデータを扱うものでは、
データ規模が大きく、DRCエラーデータ発生箇所のレ
イアウトパターンデータを表示するには、レイアウトエ
ディタの負担が重く、容易に確認できない状況にある。
【0019】したがって、本発明は、上記した問題点に
鑑みてなされたものであって、その目的は、レイアウト
パターンデータのDRC処理後のDRCエラーデータの
確認を容易化するレイアウト検証装置及び方法を提供す
ることにある。
【0020】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明のLSI用のレイアウトパターンデータ検証
装置は、LSI用のレイアウトパターンデータに対し、
前記レイアウトパターンデータの各種の図形データの間
隔や幅などの寸法を測定して規格値以外の場合には、エ
ラーデータを発生する処理を行う手段と、エラー箇所の
任意の周囲のレイアウトパターンデータを切り出す手段
と、該切り出したレイアウトパターンデータと前記エラ
ーデータを出力する手段と、を備えたことを特徴とす
る。
【0021】本発明のレイアウト検証方法は、(a)レ
イアウトパターンデータの各種規格値以外の場合のエラ
ー箇所を抽出し、エラーデータを出力するステップと、
(b)該エラー箇所周辺のレイアウトパターンデータを
入力レイアウトパターンデータより切り出すステップ
と、(c)前記エラーデータと前記切り出したレイアウ
トパターンデータを表示するステップと、を含む。
【0022】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について以下
に説明する。本発明のレイアウト検証装置は、その好ま
しい実施の形態において、レイアウトパターンデータの
DRC処理を行い、DRCエラー箇所が存在する場合、
該DRCエラーデータと、予め入力する切り出し指定情
報より、ユーザーが確認したいDRCエラー線分を解析
し、その最外周座標を抽出し、オーバーラップ量を加味
したDRCエラーデータ周辺のデータを切り出した特定
レイアウトパターンデータを出力する手段を備えてい
る。
【0023】また、本発明のレイアウト検証方法によれ
ば、その好ましい実施の形態において、DRCエラー発
生箇所のレイアウトパターンデータを確認する際、上記
DRCエラーデータとDRCエラーデータ周辺のみを切
り出した特定レイアウトパターンデータを読み込み、レ
イアウトパターンデータを確認するようにしたものであ
る。より詳細には、LSI用のレイアウトパターンデー
タに対し、前記レイアウトパターンデータの各種の図形
データの間隔や幅などの寸法を測定して規格値以外の場
合には、DRCエラーデータを発生する処理を行う手段
を備え、(a)切り出し指定情報(図1の107)で指
定されたチェック項目に関するDRCエラーデータを入
力し、(b)DRCエラーデータの線分や、必要に応じ
てデータ座標を解析し、最も外周の座標を算出し、
(c)算出されたDRCエラーデータの最外周座標に、
切り出し指定情報で予め指定しておいたレイアウトパタ
ーンデータのDRCエラーデータに対するオーバーラッ
プ量を加味し、切り出し対象となるレイアウトパターン
データのエリアの座標とし、(d)得られた座標のエリ
アのレイアウトパターンデータを切り出し、上記(a)
〜(d)の各処理をチェックするDRCエラーデータに
対して行う。そして、DRCエラーデータの確認を行う
場合には、前記DRCエラーデータとその周辺を切り出
したレイアウトパターンデータをレイアウトエディタ等
を用いて確認を行う。なお、本発明の実施の形態におい
て、上記各ステップは、好ましくは、コンピュータ等情
報処理装置で実行されるプログラムにおいて制御するこ
とで実現される。
【0024】
【実施例】本発明の実施例について図面を参照して説明
する。
【0025】図1は、本発明の一実施例に係るレイアウ
ト検証装置の処理ブロック図である。図1において、D
RCルールファイル101、レイアウトパターンデータ
102、読み込み部103、DRC処理部104、DR
Cエラーデータ105、及び表示部106は、従来技術
の説明で参照した図9におけるDRCルールファイル9
01、レイアウトパターンデータ902、読み込み部9
03、DRC処理部904、DRCエラーデータ90
5、及び表示部906と同等であるので、その説明は省
略する。図1を参照すると、本発明の実施例において
は、図9に示した従来技術の処理ブロックに、切り出し
指定部107と、エラー線分解析、レイアウト切り出し
部108と、特定レイアウトパターンデータ109とが
追加されている。
【0026】切り出し指定部107は、DRC処理を行
いDRCレイアウトパターンデータを確認したいチェッ
ク項目の指定と、DRCエラーデータの最外周いくらま
でオーバラップしたレイアウトパターンデータを切り出
すをか指定する情報を格納する。
【0027】エラー線分解析、レイアウト切り出し部1
08は、切り出し指定部107の切り出し指定情報と、
指定されたDRCエラーデータ105と、レイアウトパ
ターンデータ102を読み込み、DRCエラーデータが
存在する周辺のレイアウトパターンデータのみを、切り
出し指定部107で指定された指定オーバラップ量だけ
切り出す。
【0028】特定レイアウトパターンデータ109は、
エラーデータ線分解析、レイアウト切り出し部108に
より出力されたDRCエラーデータ周辺のみの特定のレ
イアウトパターンデータである。この特定レイアウトパ
ターンデータ109を表示部106にて表示する。ま
た、DRCエラーデータ105と同時に表示することも
可能である。
【0029】図2は、図1に示したエラー線分解析、レ
ウアウト切り出し部108の処理を詳細に示した処理ブ
ロック図である。
【0030】DRCエーデータ読み込み部204におい
て、切り出し指定203で指定されたDRCエラーデー
タ201を読み込み、そのDRCエラーデータの存在箇
所の範囲を、エラー線分処理部205にて認識する。
【0031】切り出しエリア処理部206において、切
り出し指定203で任意に指定されたDRCエラーデー
タと、切り出したいレイアウトパターンデータのオーバ
ーラップ量を算出する。
【0032】また、特定レイアウトパターンデータ切り
出し部207において、切り出しエリア処理部206で
求めた座標値の範囲のレイアウトパターンデータを切り
出し、特定レイアウトパターンデータ208に出力す
る。
【0033】図3は、図1に示すエラー線分解析、レイ
アウト切り出し部108の処理を示すフローチャートで
ある。図3を参照して、エラー線分解析、レイアウト切
り出し部の動作について説明する。
【0034】まず、切り出し指定203で指定されたチ
ェック項目に関するDRCエラーデータをDRCエラー
データ201より読み込み(ステップ301)、各DR
Cエラーデータに認識番号を付け、認識番号とDRCエ
ラーデータを対応づける。
【0035】次に変数iに1を格納する(ステップ30
2)。
【0036】まず、1番目のDRCエラーデータの線分
や、場合によっては、台形のデータ座標を解析し、最も
外周の座標を算出する(ステップ303)。
【0037】ステップ303で算出されたDRCエラー
データの最外周座標に、切り出し指定203で予め指定
しておいたレイアウトパターンデータのDRCエラーデ
ータに対するオーバーラップ量を加味し、切り出したい
レイアウトパターンデータのエリアの座標とする(ステ
ップ304)。
【0038】次にステップ304で得られた座標のエリ
アのレイアウトパターンデータを切り出す(ステップ3
05)。
【0039】他にチェックする必要のあるDRCエラー
データは無いか否かを判定し(ステップ306)、なけ
れば処理を終了し(ステップ306のYes分岐)、他
にあるならば(ステップ306のNo分岐)、変数iに
1を加算し(ステップ307)、次のDRCエラーデー
タについても同様の処理を行う。
【0040】上記のようなレイアウト検証装置におい
て、DRCエラーデータの確認を行う場合には、DRC
エラーデータとその周辺を切り出したレイアウトパター
ンデータをレイアウトエディタ等を用いて、確認を行
う。
【0041】図4に、本発明の一実施例として、切り出
すレイアウトデータを、DRCエラーデータ周辺の全層
について行った場合のDRCエラーデータと切り出しレ
イアウトパターンデータの表示例を示す。
【0042】図4において、401はDRCエラーデー
タ、402は切り出したレイアウトパターンデータエリ
ア、403は切り出したいレイアウトパターンデータの
DRCエラーデータの最外周に対するオーバーラップ量
である。404〜407は、切り出しレイアウトパター
ンエリア内のレイアウトパターンデータである。
【0043】また、図5に、本発明の一実施例として、
DRCエラーデータの周辺のデータを、DRCの対象と
なるレイアウトパターンデータのみ表示した場合の、D
RCエラーデータと切り出しレイアウトパターンデータ
の表示例を示す。
【0044】図5において、501はDRCエラーデー
タ、502は切り出しレイアウトパターンデータエリア
である。503はレイアウトパターンデータのDRCエ
ラーデータ最外周に対するオーバーラップ量である。5
04と505は501のDRCエラーデータを発生させ
るチェック項目に直接係わるレイアウトパターンデータ
である。
【0045】次に、本発明のその他の実施例として、D
RCエラーデータ周辺のレイアウトデータの切り出し方
法について、図面を参照して説明する。
【0046】DRCエラーデータが密集している場合、
上記切り出したレイアウトデータが複数存在し、且つ、
切り出したレイアウトパターンデータが同座標において
重なる箇所が存在する場合、図2の切り出しエリア解析
部206において、同一エリアの切り出しデータ部の論
理和をとる。
【0047】これにより複数個のDRCエラーデータが
存在する場合において、切り出すDRCエラーデータを
極力減らし、近傍に存在するDRCエラーデータの確認
を行えるようにする。
【0048】図6は、この実施例における、エラー線分
解析、レイアウトの切り出し部の処理を示すフローチャ
ートである。図6を参照して、ステップ601から60
6の処理は、図3に示したステップ301〜307の処
理ち同一であるため、その説明は省略する。この実施例
においては、他にDRCエラーが無い場合に、切り出し
エリアにおいて重なりがあるか否かを判定し(ステップ
607)、重なりがある場合には(ステップ607のY
es分岐)、重なる部分が存在する切り出しエリアの論理
和をとり(ステップ608)、上記座標のエリアのレイ
アウトパターンデータを抽出する(ステップ609)。
【0049】図7は、DRCエラーデータの周辺のデー
タを切り出したレイアウトパターンデータとDRCエラ
ーデータを表示した例を示す。
【0050】図7において、701と707は別々のD
RCエラーデータ、702と708はそれぞれの切り出
しで算出された切り出しエリア、703はレイアウトパ
ターンデータのDRCエラーデータに対するオーバーラ
ップ量、704〜706はレイアウトパターンデータで
ある。
【0051】
【発明の効果】以上説明したように本発明のレイアウト
検証装置、及びレイアウト検証方法によれば、DRC検
証後のレイアウトパターンデータの確認に際して、レイ
アウトエディタ等に読み込むレイアウトパターンを極力
減らすことができ、レイアウトエディタへの負荷を増大
を抑止低減することにより、LSIのレイアウトパター
ンの設計時において、レイアウト検証後のレイアウトパ
ターンデータの修正箇所の検出を容易化、及び効率化
し、生産性を特段に向上する、という効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のLSIレイアウト検証装置
の処理ブロック図である。
【図2】本発明の一実施例における、エラー線分解析、
レイアウト切り出し部の処理ブロック図である。
【図3】本発明の一実施例における、エラー線分解析、
レイアウト切り出し部の処理を示すフローチャートであ
る。
【図4】本発明の一実施例におけるDRCエラーデータ
と切り出しレイアウトデータの表示の一例を示す図であ
る。
【図5】本発明の一実施例におけるDRCエラーデータ
と切り出しレイアウトデータの表示の別の例を示す図で
ある。
【図6】本発明の第2の実施例におけるエラー線分解
析、レイアウト切り出し部の処理を示すフローチャート
である。
【図7】本発明の第2の実施例におけるDRCエラーデ
ータと切り出しレイアウトデータの表示の一例を示す図
である。
【図8】従来のLSIレイアウト検証装置のハードウェ
ア構成を示す図である。
【図9】従来のLSIレイアウト検証装置(第1の従来
技術)の処理ブロックを示す図である。
【図10】従来のLSIレイアウト検証装置(第2の従
来技術)の処理ブロックを示す図である。
【図11】第1の従来技術のDRCエラーデータとレイ
アウトパターンデータの表示の一例を示す図である。
【図12】第2の従来技術のDRCエラーデータとレイ
アウトパターンデータの表示の一例を示す図である。
【符号の説明】
101 DRCルールファイル 102 レイアウトパターンデータ 103 読み込み部 104 DRC処理部 105 DRCエラーデータ 106 表示部 107 切り出し指定 108 エラー線分解析、レイアウト切り出し部 109 特定レイアウトパターン 201 DRCエラーデータ 202 レイアウトパターンデータ 203 切り出し指定 204 DRCエラーデータ読み込み部 205 エラー線分処理部 206 切り出しエリア処理部 207 特定レイアウトパターンデータ切り出し部 208 特定レイアウトパターンデータ 401 DRCエラーデータ 402 切り出しエリア 403 切り出しオーバーラップ量 404〜407 レイアウトパターンデータ 501 DRCエラーデータ 502 切り出しエリア 503 オーバーラップ量 504、505 レイアウトパターンデータ 701、707 DRCエラーデータ 702、708 切り出しエリア 703 オーバーラップ量 704〜706 レイアウトパターンデータ 801 入力装置 802 中央演算装置 803 磁気ディスク装置 804 表示装置 901 DRCルールファイル 902 レイアウトパターンデータ 903 読み込み部 904 DRC処理部 905 DRCエラーデータ 906 表示部 1001 DRCルールファイル 1002 レイアウトパターンデータ 1003 読み込み部 1004 DRC処理部 1005 DRCエラーデータ 1006 表示部 1007 DRCルール解析部 1008 特定レイアウトパターンデータ 1009 内部テーブル 1101 DRCエラーデータ 1201 DRCエラーデータ 1202、1203 レイアウトパターンデータ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】LSI用のレイアウトパターンデータに対
    して、前記レイアウトパターンデータの各種の図形デー
    タの間隔や幅などの寸法を測定して規格値以外の場合に
    はエラーデータを発生する手段と、 エラー箇所の任意の周囲のレイアウトパターンデータを
    切り出す手段と、 該切り出したレイアウトパターンデータと前記エラーデ
    ータとを出力する手段と、 を備えたことを特徴とするLSI用のレイアウトパター
    ンデータ検証装置。
  2. 【請求項2】LSI用のレイアウトパターンデータに対
    して、前記レイアウトパターンデータの各種の図形デー
    タの間隔や幅などの寸法を測定して規格値以外の場合に
    はDRC(デザインルールチェック)エラーデータを発
    生する手段と、 DRC処理を行ってDRCレイアウトパターンデータを
    確認したいチェック項目の指定と、前記DRCエラーデ
    ータの最外周いくらまでオーバラップしたレイアウトパ
    ターンデータを切り出すかを指定する情報を格納する切
    り出し指定情報記憶部と、 切り出し指定情報と、指定されたDRCエラーデータ
    と、レイアウトパターンデータを入力し、DRCエラー
    データが存在する周辺のレイアウトパターンデータのみ
    を、前記切り出し指定情報で指定された指定オーバラッ
    プ量だけ切り出して、特定レイアウトパターンデータと
    して出力する手段と、 前記出力された特定レイアウトパターンデータ、及び前
    記DRCエラーデータを表示する手段と、 を備えたことを特徴とするLSI用のレイアウトパター
    ンデータ検証装置。
  3. 【請求項3】(a)レイアウトパターンデータの各種規
    格値以外の場合のエラー箇所を抽出し、エラーデータを
    出力するステップと、 (b)該エラー箇所周辺のレイアウトパターンデータ
    を、入力したレイアウトパターンデータより切り出すス
    テップと、 (c)前記エラーデータと前記切り出したレイアウトパ
    ターンデータとを表示するステップと、 を含むことを特徴とするレイアウト検証方法。
  4. 【請求項4】LSI用のレイアウトパターンデータに対
    して、前記レイアウトパターンデータの各種の図形デー
    タの間隔や幅などの寸法を測定して規格値以外の場合に
    はDRC(デザインルールチェック)エラーデータを出
    力する手段を備え、 (a)DRCのチェック項目、及びDRCエラーデータ
    とオーバーラップしたレイアウトパターンデータの切り
    出し情報を予め格納する切り出し情報記憶部で指定され
    たチェック項目に関するDRCエラーデータを入力し、 (b)DRCエラーデータの線分や、必要に応じてデー
    タ座標を解析し、最も外周の座標を算出し、 (c)算出されたDRCエラーデータの最外周座標に、
    前記切り出し指定情報記憶部に予め指定しておいたレイ
    アウトパターンデータのDRCエラーデータに対するオ
    ーバーラップ量を加味し、切り出し対象となるレイアウ
    トパターンデータのエリアの座標とし、 (d)得られた座標のエリアのレイアウトパターンデー
    タを切り出し、 DRCエラーデータの確認を行う場合には、前記DRC
    エラーデータとその周辺を切り出したレイアウトパター
    ンデータを表示するなどして確認を行う、ことを特徴と
    するレイアウト検証方法。
  5. 【請求項5】切り出しエリアにおいて重なる部分が存在
    する場合、重なる部分が存在する切り出しエリアの論理
    和をとって、レイアウトパターンデータの切り出しを行
    うことを特徴とする請求項4記載のレイアウト検証方
    法。
  6. 【請求項6】(a)LSI用のレイアウトパターンデー
    タに対して、前記レイアウトパターンデータの各種の図
    形データの間隔や幅などの寸法を測定して規格値以外の
    場合にはDRC(デザインルールチェック)エラーデー
    タを発生する手段、 (b)DRC処理を行ってDRCレイアウトパターンデ
    ータを確認したいチェック項目の指定と、前記DRCエ
    ラーデータの最外周いくらまでオーバラップしたレイア
    ウトパターンデータを切り出すかを指定する情報を格納
    した切り出し指定情報記憶部の情報に基づき、指定され
    たDRCエラーデータと、レイアウトパターンデータを
    入力し、DRCエラーデータが存在する周辺のレイアウ
    トパターンデータのみを、前記切り出し指定情報部で指
    定された指定オーバラップ量だけ切り出して、特定レイ
    アウトパターンデータとして出力する手段、及び、 (c)前記出力された特定レイアウトパターンデータ、
    及び前記DRCエラーデータを出力装置に出力する手
    段、 の上記各手段を情報処理装置で機能させるプログラムを
    記録した記録媒体。
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JP (1) JPH118313A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4777851A (en) * 1986-10-02 1988-10-18 Rca Licensing Corporation Automatic fastener attachment system
US6993728B2 (en) * 1998-09-29 2006-01-31 Kabushiki Kaisha Toshiba Method of designing integrated circuit and apparatus for designing integrated circuit

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6993728B2 (en) * 1998-09-29 2006-01-31 Kabushiki Kaisha Toshiba Method of designing integrated circuit and apparatus for designing integrated circuit

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