JPH06275989A - チップ部品測定用治具 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 多数のチップ型電子部品の測定を能率良く行
うことを可能とする測定用治具を提供する。 【構成】 対向２面に電極を有するチップ型電子部品２
１の電気的特性を測定するための測定治具であり、チッ
プ型電子部品２１の外部電極２１ａ，２１ｂを露出させ
るように複数の該チップ型電子部品２１を整列保持させ
るためのチップホルダー２０と、チップホルダー２０の
両側に配置されており、チップ型電子部品２１の外部電
極２１ａ，２１ｂに接触されるプローブ１６ｃ，１７ｃ
を有するスプリングコンタクトプローブ１６，１７が複
数取り付けられた一対のプローブホルダー１４，１５と
を備え、プローブホルダー１４，１５を、チップホルダ
ー２０に対して近接させた状態と、チップホルダー２０
から遠ざけた状態とをとり得るようにプローブホルダー
１４，１５を駆動する駆動手段をさらに備える、チップ
部品測定用治具。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、チップ型電子部品の電
気的特性を測定する際に用いられる治具に関し、特に、
対向２面に電極を有するチップ型電子部品の測定に適し
たチップ部品測定用治具に関する。

【０００２】

【従来の技術】電子部品の出荷に先立ち、例えば絶縁抵
抗や耐圧等の電気的特性が測定されている。従来、チッ
プ型電子部品の電気的特性の測定は、例えば図４に示す
測定用治具を用いて行われていた。

【０００３】測定用治具１は、矩形のベースプレート２
を有する。矩形のベースプレート２の上面２ａ上に、複
数対のスプリングコンタクトプローブ３，４が取り付け
られている。各スプリングコンタクトプローブ３，４
は、それぞれ、本体３ａ，４ａと、該本体３ａ，４ａか
らベースプレート２の中央に向かって繰り出されている
ロッド３ｂ，４ｂと、ロッド３ｂ，４ｂの先端に固定さ
れたプローブ３ｃ，４ｃとを有する。このプローブ３
ｃ，４ｃ及びロッド３ｂ，４ｂは、本体３ａ，４ａ内に
収納されている圧縮ばねにより、ベースプレート２の中
央方向に付勢されている。他方、本体３ａ，４ａのプロ
ーブ３ｃ，４ｃが設けられている側と反対側の面から
は、端子３ｄ，４ｄが引き出されている。この端子３
ｄ，４ｄには、測定機と接続するための測定用リード線
５，６が接続されている。

【０００４】チップ型電子部品７の電気的特性を測定す
るに際しては、向かい合っている上記プローブ３ｃ，４
ｃ間をばねによる付勢力に逆らって遠ざけ、その間にチ
ップ型電子部品７を挿入する。しかる後、ばねの付勢力
によりチップ型電子部品７の対向２面に形成されている
電極に、上記プローブ３ｃ，４ｃを弾性接触させ、該チ
ップ型電子部品７の電気的特性を測定機により測定す
る。

【０００５】測定用治具１では、複数対のスプリングコ
ンタクトプローブ３，４がベースプレート２上に配置さ
れているため、実際の測定に際しては、ベースプレート
２上の複数対のスプリングコンタクトプローブ３，４間
に、それぞれ、手作業によりチップ型電子部品７を１個
づつ配置し、各チップ型電子部品７の電気的特性の測定
が行われていた。また、測定終了後には、複数対のスプ
リングコンタクトプローブ３，４間から各チップ型電子
部品７を１個づつ取り外し、次に測定すべきチップ型電
子部品と交換していた。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上記のように従来のチ
ップ型電子部品測定用治具１を用いた場合、ベースプレ
ート２上に配置されている各スプリングコンタクトプロ
ーブ３，４間に手作業により１個ずつチップ型電子部品
を取り付け、かつ測定終了後においても、各対のスプリ
ングコンタクトプローブ３，４間から手作業によりチッ
プ型電子部品７を１個ずつ取り外さねばならなかった。
すなわち、測定用治具１にチップ型電子部品７をセット
し、かつ取り外す作業が非常に煩雑であった。

【０００７】加えて、次の測定のためには、測定終了ま
で待機しなければならず、作業者の作業が中断せざるを
得なかった。よって、チップ型電子部品の電気的特性の
測定に際して作業能率を高めることが非常に困難であっ
た。本発明の目的は、多数のチップ型電子部品の電気的
特性の測定を能率良く行うことを可能とするチップ部品
測定用治具を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明は、対向２面に電
極を有するチップ型電子部品の特性を測定するための測
定用治具であり、下記の構成を備えることを特徴とす
る。

【０００９】すわなち、本発明のチップ部品測定用治具
は、複数の前記チップ型電子部品を、各チップ型電子部
品の対向２面の電極を露出させ、かつ向きを揃えて整列
保持させるためのチップホルダーと、前記チップホルダ
ーの両側に配置されており、かつ複数の前記チップ型電
子部品の対向２面の電極に、それぞれ接触されることが
予定されている複数のプローブが備えられたプローブホ
ルダーと、前記プローブホルダーのプローブをチップ型
電子部品の電極に接触させた状態と、該電極から離した
状態とをとり得るように、前記プローブホルダーをチッ
プホルダーに対して近接・離間させるための駆動手段と
を備えることを特徴とする。

【００１０】

【作用及び発明の効果】本発明のチップ部品測定用治具
では、チップホルダーに複数個のチップ型電子部品が保
持された状態において、前記駆動手段によりプローブホ
ルダーをチップホルダーに近接させ、プローブホルダー
の複数のプローブを、それぞれチップ型電子部品の対向
２面の電極に接触させて測定が行われる。従って、チッ
プホルダーに複数個のチップ型電子部品を一括して保持
させた後には、プローブホルダー間に配置する作業を一
括して行うことができる。

【００１１】しかも、複数個のチップ型電子部品の電気
的特性を測定している間に、別のチップホルダーに複数
のチップ型電子部品をセットしておけば、測定終了後に
チップホルダーを交換するだけで、次の複数のチップ型
電子部品の電気的特性を測定し得る。従って、本発明の
チップ型電子部品測定用治具を用いることにより、多数
のチップ型電子部品の電気的特性作業の能率を大幅に高
めることが可能となる。

【００１２】

【実施例の説明】以下、図面を参照しつつ実施例を説明
することにより、本発明を明らかにする。 図１（ａ）
及び（ｂ）は、本発明の一実施例にかかるチップ部品測
定用治具にチップ部品をセットした状態を示す平面図及
び側面図である。

【００１３】本実施例のチップ部品測定用治具は、両端
に一対の側壁１１ａ，１１ｂを有するベースプレート１
１を用いて構成されている。側壁１１ａと、側壁１１ｂ
との間には、スライドシャフト１２，１３が取り付けら
れている。スライドシャフト１２，１３に沿って移動し
得るようにプローブホルダー１４，１５が配置されてい
る。すなわち、プローブホルダー１４，１５は、スライ
ドシャフト１２，１３が挿通する貫通孔を有し、それに
よってスライドシャフト１２，１３に沿って移動し得る
ように構成されている。

【００１４】他方、プローブホルダー１４，１５には、
それぞれ、スライドシャフト１２，１３の延びる方向と
直交する方向に、複数のスプリングコンタクトプローブ
１６，１７が並設されている。各スプリングコンタクト
プローブ１６，１７は、それぞれ、プローブホルダー１
４，１５に固定された本体１６ａ，１７ａと、本体１６
ａ，１７ａから内側に延ばされたロッド１６ｂ，１７ｂ
と、プローブ１６ｃ，１７ｃとを有する。プローブ１６
ｃ，１７ｃは、上記ロッド１６ｂ，１７ｂの先端に固定
されており、該ロッド１６ｂ，１７ｂと共に、本体１６
ａ，１７ａ内に収納されたばね（図示せず）により、前
方すなわちプローブ１６ｃ，１７ｃの繰り出し方向に付
勢されている。

【００１５】なお、スプリングコンタクトプローブ１
６，１７の本体１６ａ，１７ａの外側表面からは、プロ
ーブ１６ｃ，１７ｃに電気的に接続された端子１６ｄ，
１７ｄが引き出されている。端子１６ｄ，１７ｄには、
それぞれ、測定機に接続するためのリード線１８，１９
が電気的に接続されている。なお、上記スプリングコン
タクトプローブ１６，１７は、間に後述のチップホルダ
ー２０を挟んで向かい合うように複数対配置されてい
る。

【００１６】他方、プローブホルダー１４，１５の間に
は、チップホルダー２０が配置されている。このチップ
ホルダー２０は、図２に部分切欠斜視図で示すように、
上部に所定の間隔を隔てて上方に突出するように突起２
０ａ，２０ａを形成した構造を有する。突起２０ａ，２
０ａ間の距離は、図示のようにチップ型電子部品２１を
収納し得る大きさとされている。なお、突起２０ａ，２
０ａ間の距離は、チップ型電子部品２１を収納すること
ができさえすればよく、チップ型電子部品２１を強固に
保持し得るように、チップ型電子部品２１の幅と同一寸
法にする必要はない。

【００１７】もっとも、突起２０ａ，２０ａの長さ（電
子部品２１の対向２面の電極２１ａ，２１ｂを結ぶ方向
の距離）は、図示のようにチップ型電子部品２１の外部
電極２１ａ，２１ｂを充分に露出させるように選択する
ことが好ましい。さもないと、前述したプローブ１６
ｃ，１７ｃが突起２０ａ，２０ａ間の距離よりも大きな
径を有する場合には、チップ型電子部品２１の外部電極
２１ａ，２１ｂに確実に接触させ得ないおそれがある。
もっとも、プローブ１６ｃ，１７ｃの径が突起２０ａ間
の距離よりも小さい場合には、突起２０ａ，２０ａ間に
プローブ１６ｃ，１７ｃが入り込む得るため、突起２０
ａ，２０ａの長さを上記のように選択する必要はない。

【００１８】図１にもどり、上記チップホルダー２０
は、直方体状のホルダー固定部材２２上に配置されてお
り、カバー２２ａを用いて両者を連結することにより、
ホルダー固定部材２２上に位置決めされている。

【００１９】他方、ホルダー固定部材２２の底面２２ｂ
中央から下方に延びるように軸２３が配置されており、
軸２３の下端はベースプレート１１に連結されている。
この軸２３にはカムプレート２４が連結されており、カ
ムプレート２４は軸２３の回りに回転し得るように構成
されている。また、カムプレート２４には、軸２３の回
りに回転し得るように軸２３に連結されたレバー２５の
一端が固定されている。よって、レバー２５を図１の矢
印Ａで示す方向に回転させることにり、カムプレート２
４が図示の矢印Ｂ方向に示すように回転される。カムプ
レート２４の平面形状は、プローブホルダー１４，１５
間の距離を変化させるように選択されている。

【００２０】プローブホルダー１４，１５は、両者の間
に架け渡された引張ばね２６，２７により、両者が近接
するように付勢されている。他方、レバー２５を図示の
状態にしたときには、図示のようにプローブ１６ｃ，１
７ｃがチップ型電子部品２０から離れた状態となるよう
に、上記ばね２６，２７の付勢力に逆らってプローブホ
ルダー１４，１５の間が遠ざけられた第１の状態とされ
る。第１の状態において、レバー２５を図示の矢印Ａ方
向に移動し、カムプレート２４を回転させることによ
り、ばね２６，２７の付勢力によりプローブホルダー１
４，１５間が近づけられ、プローブ１６ｃ，１７ｃがチ
ップ型電子部品２１の外部電極２１ａ，２１ｂに接触さ
れる。このように、レバー２５及びカムプレート２４並
びにばね２６，２７は、プローブホルダー１４，１５
を、第１の状態（プローブ１６ｃ，１７ｃがチップ部品
２１の電極から遠ざけられた状態）と、第２の状態（プ
ローブ１６ｃ，１７ｃがチップ型電子部品２１の外部電
極２１ａ，２１ｂに弾性接触される状態）とをとり得る
ことを可能とするために設けられている。

【００２１】本実施例のチップ部品測定用治具では、上
記のようにチップホルダー２２に複数の突起２０ａが形
成されており、該複数の突起２０ａ間にそれぞれチップ
型電子部品２１が整列保持される。そして、その状態に
おいて、上記レバー２５を矢印Ａ方向に移動することに
より、一度に複数のチップ型電子部品２１のそれぞれに
一対のプローブ１６ｃ，１７ｃを接触させることができ
るため、チップ型電子部品の測定作業を能率よく行い得
る。

【００２２】しかも、別途用意されたチップホルダーに
予め複数のチップ型電子部品を収納しておけば、測定終
了後には、チップホルダー２０ごと交換することによ
り、次の複数のチップ型電子部品２１の特性の測定を速
やかに行い得る。従って、複数のチップ型電子部品を本
実施例の測定用治具を用いて測定している間に、次の複
数のチップ型電子部品をホルダーに配置する作業を行え
ば、チップ型電子部品の測定時間中においても作業が進
行するため、作業能率を効果的に高め得る。

【００２３】なお、上記実施例では、一対のプローブホ
ルダー１４，１５をチップホルダー２０に対して近接さ
せた状態及び遠ざけた状態とをとり得るように、カムプ
レート２４、ばね２６，２７等を用いたが、図３（ａ）
及び（ｂ）に示すように、プローブホルダー１４，１５
をベースプレートの側壁１１ａ，１１ｂに取り付けられ
たエアーシリンダ３４，３５を用いて、各プローブホル
ダー１４，１５を上記２種類の状態をとり得るように移
動させてもよい。

【００２４】なお、図１（ａ）においては、プローブホ
ルダー１４，１５に並設されているスプリングコンタク
トプローブ１６，１７は、両端に位置するもののみを図
示し、中間の部分については省略してあることを指摘し
ておく。同様にプローブホルダー２０上に収納されるチ
ップ型電子部品２１につていも、両端近傍に配置された
もののみを図示し、中間の部分に配置されたチップ型電
子部品については図示を省略してあることを指摘してお
く。

【００２５】また、上記実施例では、チップホルダー２
０として、上面に複数の突起２０ａが形成されたものを
用いたが、チップ型電子部品の挿入される複数の貫通孔
を有し、該貫通孔内にチップ型電子部品を挿入した状態
において、チップ型電子部品の対向２面の電極が貫通孔
外に露出しているような形状のチップホルダーを用いて
もよい。

【００２６】また、本発明のチップ部品測定用治具は、
対向２面に電極を有するチップ型電子部品の電気的特性
一般に用い得るものであり、例えば、チップ型コンデン
サ、チップ型抵抗、チップ型サーミスタ等の様々なチッ
プ型電子部品の測定に幅広く用いることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】（ａ）及び（ｂ）は、それぞれ、実施例のチッ
プ部品測定用治具を示す平面図及び側面図。

【図２】チップホルダーを示す部分切欠斜視図。

【図３】（ａ）及び（ｂ）は、それぞれ、他の実施例の
チップ部品測定用治具を示す平面図及び側面図。

【図４】従来のチップ型電子部品の測定用治具を示す斜
視図。

【符号の説明】

１４，１５…プローブホルダー １６，１７…スプリングコンタクトプローブ １６ｃ，１７ｃ…プローブ ２０…チップホルダー ２１…チップ型電子部品 ２１ａ，２１ｂ…チップ型電子部品の外部電極

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 対向２面に電極を有するチップ型電子部
   品の電気的特性を測定するための治具であって、 複数の前記チップ型電子部品を、各チップ型電子部品の
   対向２面の電極を露出させ、かつ向きを揃えて整列保持
   させるためのチップホルダーと、 前記チップホルダーの両側に配置されており、かつ複数
   の前記チップ型電子部品の対向２面の電極に、それぞれ
   接触されることが予定されている複数のプローブが備え
   られたプローブホルダーと、 前記プローブホルダーのプローブをチップ型電子部品の
   電極に接触させた状態と、該電極から離した状態とをと
   り得るように、前記プローブホルダーをチップホルダー
   に対して近接・離間させるための駆動手段とを備えるこ
   とを特徴とする、チップ部品測定用治具。