JPS6383667U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6383667U JPS6383667U JP17846586U JP17846586U JPS6383667U JP S6383667 U JPS6383667 U JP S6383667U JP 17846586 U JP17846586 U JP 17846586U JP 17846586 U JP17846586 U JP 17846586U JP S6383667 U JPS6383667 U JP S6383667U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chip
- probe
- measurement information
- mounting
- electrical characteristics
- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 2
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例を示す平面図、第２
図は第１図の―線断面図である。 １：チツプホルダ、２：チツプ、２ａ：電極、
３：ガイドレール、４：プローブ、５：スプリン
グ、６：特性判定器。
図は第１図の―線断面図である。 １：チツプホルダ、２：チツプ、２ａ：電極、
３：ガイドレール、４：プローブ、５：スプリン
グ、６：特性判定器。
Claims (1)
- 表面実装用チツプマウンタにテーピング状態で
供給されるチツプの電気的特性を測定してその測
定情報を出力するプローブと、このプローブの測
定情報に基づいて前記チツプの電気的特性の良否
を判定する特性判定器とを有することを特徴とす
る不良チツプ実装防止装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17846586U JPS6383667U (ja) | 1986-11-20 | 1986-11-20 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17846586U JPS6383667U (ja) | 1986-11-20 | 1986-11-20 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6383667U true JPS6383667U (ja) | 1988-06-01 |
Family
ID=31120620
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17846586U Pending JPS6383667U (ja) | 1986-11-20 | 1986-11-20 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6383667U (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05251892A (ja) * | 1992-03-06 | 1993-09-28 | Nec Corp | テーピング品検査用オートハンドラの不良品取外し装置 |
| JPH06275989A (ja) * | 1993-03-24 | 1994-09-30 | Murata Mfg Co Ltd | チップ部品測定用治具 |
| JP2014059925A (ja) * | 2012-09-14 | 2014-04-03 | Nhk Spring Co Ltd | 圧電素子供給装置及び圧電素子の電気的特性測定方法 |
| WO2017056301A1 (ja) * | 2015-10-01 | 2017-04-06 | 富士機械製造株式会社 | 検査装置 |
-
1986
- 1986-11-20 JP JP17846586U patent/JPS6383667U/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05251892A (ja) * | 1992-03-06 | 1993-09-28 | Nec Corp | テーピング品検査用オートハンドラの不良品取外し装置 |
| JPH06275989A (ja) * | 1993-03-24 | 1994-09-30 | Murata Mfg Co Ltd | チップ部品測定用治具 |
| JP2014059925A (ja) * | 2012-09-14 | 2014-04-03 | Nhk Spring Co Ltd | 圧電素子供給装置及び圧電素子の電気的特性測定方法 |
| WO2017056301A1 (ja) * | 2015-10-01 | 2017-04-06 | 富士機械製造株式会社 | 検査装置 |
| JPWO2017056301A1 (ja) * | 2015-10-01 | 2018-07-19 | 株式会社Ｆｕｊｉ | 検査装置 |
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