JPH01154480U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH01154480U JPH01154480U JP5253188U JP5253188U JPH01154480U JP H01154480 U JPH01154480 U JP H01154480U JP 5253188 U JP5253188 U JP 5253188U JP 5253188 U JP5253188 U JP 5253188U JP H01154480 U JPH01154480 U JP H01154480U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrated circuit
- type
- package
- socket
- probe
- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第1図は本考案の一実施例の断面図、第2図a
およびbはQUIP型ICの外観を示す平面図お
よび側面図である。 1:QUIP型IC、2:ICソケツト、3:
プローブ式接触子、4:可動棒、11:内側端子
、12:外側端子。
およびbはQUIP型ICの外観を示す平面図お
よび側面図である。 1:QUIP型IC、2:ICソケツト、3:
プローブ式接触子、4:可動棒、11:内側端子
、12:外側端子。
Claims (1)
- クワツド・イン・ライン・パツケージ型集積回
路の捺印面を下にした状態で位置を固定し、端子
部に接触するためのプローブ式接触子をもつソケ
ツトと、前記集積回路のパツケージ上面を押し下
げる手段とを具備することを特徴とする集積回路
試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5253188U JPH01154480U (ja) | 1988-04-18 | 1988-04-18 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5253188U JPH01154480U (ja) | 1988-04-18 | 1988-04-18 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01154480U true JPH01154480U (ja) | 1989-10-24 |
Family
ID=31278534
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5253188U Pending JPH01154480U (ja) | 1988-04-18 | 1988-04-18 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01154480U (ja) |
-
1988
- 1988-04-18 JP JP5253188U patent/JPH01154480U/ja active Pending