JPS6291438U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6291438U JPS6291438U JP18323985U JP18323985U JPS6291438U JP S6291438 U JPS6291438 U JP S6291438U JP 18323985 U JP18323985 U JP 18323985U JP 18323985 U JP18323985 U JP 18323985U JP S6291438 U JPS6291438 U JP S6291438U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- needle
- semiconductor chip
- semiconductor
- testing device
- insulating member
- Prior art date
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- Pending
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 6
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第1図は、この考案の一実施例による針2の拡
大詳細図、第2図は、従来の針2の拡大詳細図、
第3図は従来の半導体試験装置の部分断面図であ
る。 図において、2は針、4は絶縁部材である。な
お、各図中、同一符号は、同一または相当部分を
示すものである。
大詳細図、第2図は、従来の針2の拡大詳細図、
第3図は従来の半導体試験装置の部分断面図であ
る。 図において、2は針、4は絶縁部材である。な
お、各図中、同一符号は、同一または相当部分を
示すものである。
Claims (1)
- 半導体チツプの電極に針を当て、この針から電
流を入出力して上記半導体チツプの電気的特性の
試験を行う半導体試験装置において、上記針の上
記半導体チツプとの接触部分を除く少なくとも先
端部分を絶縁部材により被覆したことを特徴とす
る半導体試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18323985U JPS6291438U (ja) | 1985-11-26 | 1985-11-26 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18323985U JPS6291438U (ja) | 1985-11-26 | 1985-11-26 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6291438U true JPS6291438U (ja) | 1987-06-11 |
Family
ID=31129792
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18323985U Pending JPS6291438U (ja) | 1985-11-26 | 1985-11-26 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6291438U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013219269A (ja) * | 2012-04-11 | 2013-10-24 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置の特性評価装置 |
-
1985
- 1985-11-26 JP JP18323985U patent/JPS6291438U/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2013219269A (ja) * | 2012-04-11 | 2013-10-24 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置の特性評価装置 |