JPH044754U - - Google Patents

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JPH044754U
JPH044754U JP4306490U JP4306490U JPH044754U JP H044754 U JPH044754 U JP H044754U JP 4306490 U JP4306490 U JP 4306490U JP 4306490 U JP4306490 U JP 4306490U JP H044754 U JPH044754 U JP H044754U
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electrode pads
output electrode
input electrode
semiconductor device
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JP4306490U
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  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案の半導体装置の第１の実施例
の平面図、第２図は同上実施例のプロービングテ
ストに使用するプローブカードの底面図、第３図
ａおよび第３図ｂは同上実施例のプロービングテ
スト工程の説明図、第４図はこの考案の第２の実
施例の平面図、第５図は第２図の実施例のプロー
ビングテストに使用するプローブカードの平面図
、第６図はこの考案の第３の実施例の平面図、第
７図は従来のプロービングテストのテストフロー
を示すフローチヤート、第８図ａおよび第８図ｂ
はプロービングテスト工程の説明図である。 １……入力電極パツド、１２……ＩＣ、１３…
…電気的導通個所、１４……出力電極パツド、１
５……プリーブカード、１６，１６ａ，１６ｂ…
…プローブ針。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 複数の出力電極パツド、および電気的に導通し
    て対をなす複数対の入力電極パツド、あるいは上
    記出力電極パツドより大きい入力電極パツドを有
    する半導体装置。
JP4306490U 1990-04-24 1990-04-24 Pending JPH044754U (ja)

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JP4306490U JPH044754U (ja) 1990-04-24 1990-04-24

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JP4306490U JPH044754U (ja) 1990-04-24 1990-04-24

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JPH044754U true JPH044754U (ja) 1992-01-16

Family

ID=31555158

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4306490U Pending JPH044754U (ja) 1990-04-24 1990-04-24

Country Status (1)

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JP (1) JPH044754U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8211716B2 (en) 2008-03-27 2012-07-03 Renesas Electronics Corporation Manufacturing method of a semiconductor device, a semiconductor wafer, and a test method

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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