JPS6132968U - テストプロ−ブカ−ド - Google Patents

テストプロ−ブカ−ド

Info

Publication number
JPS6132968U
JPS6132968U JP11731084U JP11731084U JPS6132968U JP S6132968 U JPS6132968 U JP S6132968U JP 11731084 U JP11731084 U JP 11731084U JP 11731084 U JP11731084 U JP 11731084U JP S6132968 U JPS6132968 U JP S6132968U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe card
test probe
test
integrated circuit
probes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11731084U
Other languages
English (en)
Inventor
勉 明石
Original Assignee
日本電気株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日本電気株式会社 filed Critical 日本電気株式会社
Priority to JP11731084U priority Critical patent/JPS6132968U/ja
Publication of JPS6132968U publication Critical patent/JPS6132968U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示す構成図である。 1・一・・・・テストプローブカードホード、2・・曲
電源用探針、3・・・・・・接地用探針、4・・・・・
・信号用探針、5・・・・・・導体パターン、6・・・
・・・被試験集積回路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 基板上に集積回路を形成してなる集積回路装置の機能試
    験をする自動試験機用テストプa−フカードにおいて、
    電流量の大きい電源用パッド及ひ接地用パッドに接触す
    る探針を、他の信号用パッドに接触する探針より大径と
    したことを特徴とするテストプローブカード。
JP11731084U 1984-07-31 1984-07-31 テストプロ−ブカ−ド Pending JPS6132968U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11731084U JPS6132968U (ja) 1984-07-31 1984-07-31 テストプロ−ブカ−ド

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11731084U JPS6132968U (ja) 1984-07-31 1984-07-31 テストプロ−ブカ−ド

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6132968U true JPS6132968U (ja) 1986-02-27

Family

ID=30676224

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11731084U Pending JPS6132968U (ja) 1984-07-31 1984-07-31 テストプロ−ブカ−ド

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6132968U (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5760264A (en) * 1980-09-29 1982-04-12 Hitachi Ltd Measuring terminal for electric resistance of mounting member

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5760264A (en) * 1980-09-29 1982-04-12 Hitachi Ltd Measuring terminal for electric resistance of mounting member

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS60107773U (ja) 回路板と回路テスターとの接続確認装置
JPS6132968U (ja) テストプロ−ブカ−ド
JPS60192441U (ja) 集積回路試験装置
JPS60183442U (ja) 集積回路測定治具
JPS60183879U (ja) 半導体試験装置の接触子
JPS60111284U (ja) 印刷基板の測定装置
JPS59125837U (ja) 半導体検査装置
JPS6298234U (ja)
JPS60109326U (ja) 半導体疑似試験装置
JPS58148933U (ja) 集積回路測定装置
JPS60183877U (ja) Icハンドラの測定用ソケツト
JPS58148934U (ja) 集積回路測定装置
JPS60129677U (ja) 集積回路用テストボ−ド
JPS58144839U (ja) テストプロ−ブカ−ド構造
JPS6039974U (ja) インサ−キットテスタ用プロ−ブ
JPS59148251U (ja) ウエハプロ−バの測定針研磨装置
JPS59140442U (ja) 半導体素子のマ−キング装置
JPS6054976U (ja) 接触確認付絶縁試験機
JPH044754U (ja)
JPH0316069U (ja)
JPS5842942U (ja) 集積回路
JPS59187144U (ja) 半導体装置用試験装置
JPS59162671U (ja) 半導体装置用高温試験装置
JPS60191978U (ja) Ic用検査装置
JPS5887343U (ja) Icテスタ−のテストプロ−バ−構造