JPH06258668A - マトリクスアレイ基板とその製造方法およびそれを用いた液晶表示装置 - Google Patents

マトリクスアレイ基板とその製造方法およびそれを用いた液晶表示装置

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JPH06258668A
JPH06258668A JP4522793A JP4522793A JPH06258668A JP H06258668 A JPH06258668 A JP H06258668A JP 4522793 A JP4522793 A JP 4522793A JP 4522793 A JP4522793 A JP 4522793A JP H06258668 A JPH06258668 A JP H06258668A
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JP
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liquid crystal
semiconductor layer
thin film
substrate
data lines
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JP4522793A
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Hisaaki Hayashi
央晶 林
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Toshiba Corp
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Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】この発明は、第1の基板上に自己整合型薄膜ト
ランジスタを形成する製造工程を用いても、半導体層シ
ョートリングの消失しない構造にでき、静電気対策がで
き、画質不良を防止でき、高信頼性にできることを目的
とする。 【構成】この発明は、第1の基板11において、半導体
層6による半導体層ショートリングの形成箇所の下部
に、ゲート絶縁層13を配設する。このとき、遮光層1
2はデータ線3もしくはゲート線2と一部を除いて重な
らない状態かもしくはデータ線3もしくはゲート線2の
下部にも遮光層12がある構造とするようにしたもので
ある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、テレビやディスプレ
イに使用される薄膜トランジスタを用いたアクティブマ
トリクス型の液晶表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、高精細、高機能な液晶表示装置の
実現を狙ったものとして、薄膜トランジスタ(TFT)
を用いたアクティブマトリクス型の液晶パネルを有する
液晶表示装置の開発が進められている。
【0003】このような液晶表示装置は、高コントラス
トや高速応答性、クロストークがないなどの優れた性能
を持っている。これらの性能を生かして、近年、テレビ
ジョン用やOA(オフィスオートメーション)用のディ
スプレイとして透明画素電極の配列ピッチが100nm
程度と短く、かつ、上記透明画素電極が約100万と数
の多いアクティブマトリクス型の液晶表示装置が開発さ
れている。
【0004】このような液晶表示装置としては、第1の
基板上にm本のデータ線と、n本のゲート線のそれぞれ
の交点に薄膜トランジスタ及び透明画素電極とが配置さ
れている。
【0005】薄膜トランジスタのドレイン電極はデータ
線に接続され、ゲート電極はゲート線に、ソース電極は
透明画素電極に接続される。前記の回路において、画素
表示を行う場合、ゲート線がアドレス信号により順次走
査され、薄膜トランジスタが行毎に順次導通状態とな
る。
【0006】一方、このゲート線の走査と同期してデー
タ線には列毎に画素データの画素信号が供給される。行
毎に順次、透明画素電極に導かれた画素信号の信号電圧
は、第2の基板に形成される透明対向電極との間に狭持
された液晶に印加され、画像信号となって、画像表示が
なされる。
【0007】このような液晶表示装置の製造工程にて、
静電気に起因する不良が発生することがある。例えば、
製造装置との摩擦などにより生じた静電気によって、デ
ータ線とゲート線の交差部にて、絶縁層の絶縁破壊が生
じて、短絡状態となると、該当のデータ線とゲート線が
輝線となる線欠陥状態の画質不良を呈する。
【0008】また、溜った電荷が流れ出す配線が無い
と、一部のデータ線、もしくはゲート線に静電気が生じ
た場合、これらの静電気により、前記データ線もしくは
ゲート線に沿った薄膜トランジスタの特性が劣化して、
画質不良を呈することがある。
【0009】これらの画質不良を防ぐためのひとつの手
段として、第1の基板にて、半導体層による配線(半導
体層ショートリング)によりそれぞれのデータ線もしく
は、それぞれのゲート線を電気的に導通させるるような
構造とし、表示領域外部にて、それぞれのデータ線とそ
れぞれのゲート線を全て、もしくはいくつかのまとまり
ごとに、橋絡されるように、半導体層ショートリングを
配設している。
【0010】近年、液晶表示装置では、省電力化によ
り、バックライトの電力は落としても、画面輝度を高く
するために、第1の基板と第2の基板とで構成されたパ
ネルの透過率を高くする方法が検討されている。
【0011】そのひとつの方法として、第1の基板に自
己整合(セルフアライン)型薄膜トランジスタを形成す
る方式が有望であり、第1の基板へのパターン形成に、
この方法を用いての半導体層ショートリングの形成が必
要とされる。
【0012】自己整合型薄膜トランジスタを形成する製
造工程中、第1の基板の裏側から露光をするため、上記
のような構造においては、第1の基板の裏面からの露光
を遮光する遮光層のない箇所の半導体保護層は除去さ
れ、その結果、半導体層ショートリングが消失してしま
うという欠点がある。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】この発明は、上記した
ような欠点に対して、自己整合型薄膜トランジスタを形
成する製造工程を用いても、液晶パネルの表示領域外部
に形成される半導体層ショートリングが消失しない構造
にでき、静電気対策ができ、画質不良を防止できる高信
頼性の液晶表示装置を提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】この発明のマトリクスア
レイ基板は、薄膜トランジスタおよび薄膜トランジスタ
のソース電極に接続された透明画素電極を行方向にm
個、列方向にn個マトリクス状に配列して表示領域と
し、上記薄膜トランジスタにそれぞれ特定のゲート線と
データ線が接続される、ゲート線をm行とデータ線をn
列もしくはゲート線をm列とデータ線をn行配列したも
のにおいて、上記表示領域外部の上記第1の基板上に、
上記ゲート線とデータ線をすべてもしくはいくつかのま
とまりごとに、電気的に導通する半導体層と、この半導
体層の下部に配設される遮光層とを設けた構成となって
いる。
【0015】この発明の液晶表示装置の製造方法は、薄
膜トランジスタおよび薄膜トランジスタのソース電極に
接続された透明画素電極を行方向にm個、列方向にn個
マトリクス状に配列して表示領域とし、上記薄膜トラン
ジスタにそれぞれ特定のゲート線とデータ線が接続され
る、ゲート線をm行とデータ線をn列もしくはゲート線
をm列とデータ線をn行配列した第1の基板と、透明対
向電極を形成した第2の基板と、上記第1、第2の基板
間に挟持された液晶とで構成される液晶パネルを有する
ものにおいて、上記液晶パネルの表示領域の外部の上記
第1の基板上に遮光層を形成し、この遮光層の上部に絶
縁膜、半導体層、保護層を積層し、上記保護層の一部を
エッチングにより除去し、上記保護層が除去された半導
体層上に上記ゲート線あるいはデータ線を形成し、上記
ゲート線とデータ線をすべてもしくはいくつかのまとま
りごとに半導体層を介して電気的に導通させるものとな
っている。
【0016】
【作用】この発明は、上記のような構成において、液晶
パネルの表示領域外部に、それぞれのゲート線とデータ
線をすべてもしくはいくつかのまとまりごとに、電気的
に導通するように配設された半導体層と、この半導体層
の下部に配設される遮光層を設けるようにしたものであ
る。
【0017】
【実施例】以下、この発明の一実施例について図面を参
照しながら説明する。図2は、液晶表示装置のアクティ
ブマトリクス型の液晶パネルの回路構成図である。
【0018】すなわち、液晶パネル1は、n本のゲート
線(走査線)2とm本のデータ線(信号線)3が交差す
るように形成され、その交差部にそれぞれアモルファス
シリコン(a−Si)により構成される薄膜トランジス
タ(TFT;スイッチング素子)4を備えた第1の基盤
(図示しない)と透明電極5bを備えた第2の基板(図
示しない)との間に液晶組成物5が保持されてなってい
る。薄膜トランジスタ4のドレイン電極はデータ線3に
接続され、ゲート電極はゲート線2に接続され、ソース
電極は表示画素を構成する透明画素電極5aに接続され
ている。ゲート線2およびデータ線3の端部には、それ
ぞれアドレス信号入力部2a、…および画像信号入力部
3a、…が形成されている。
【0019】アドレス信号入力部2a、…には、ゲート
線駆動回路(図示しない)が接続され、画像信号入力部
3a、…には、データ線駆動回路(図示しない)が接続
されている。
【0020】これにより、画素表示を行う場合、ゲート
線2、…がゲート線駆動回路からのアドレス信号に対応
して順次走査駆動され、薄膜トランジスタ4が行毎に順
次導通状態となる。一方、このゲート線2、…の走査と
同期してデータ線3、…には列毎に画素データの画素信
号がデータ線駆動回路から供給される。この結果、行毎
に順次、導かれた画素信号の信号電圧は、透明画素電極
5aと透明電極5bとの間に狭持された液晶5cに印加
され、画像信号となって、画像表示がなされる。
【0021】また、上記第1の基板上の上記透明画素電
極5aからなる表示領域1aの外部1bには、半導体層
6が、それぞれのゲート線2、…、およびそれぞれのデ
ータ線3、…と電気的に導通する(橋絡される)ように
配設されている。すなわち、半導体層6により半導体層
ショートリングが形成されている。
【0022】なお、上記半導体層6は、液晶パネル1の
表示領域外部1bにて、それぞれのゲート線2、…とそ
れぞれのデータ線3、…のいくつかのまとまりごとに、
橋絡されるように配設されているものであっても良い。
【0023】図3は、図2における上記2つのデータ線
3、3とそれらが半導体層6で導通されている部分Pの
拡大図を示すものである。上記半導体層6とデータ線3
およびゲート線2とが電気的に導通しているA−A´
間、B−B´間の断面構成について、図1の(a)
(b)を用いて説明する。
【0024】すなわち、ガラスで構成される基板(第1
の基板)11上には、遮光層12とゲート絶縁膜13が
積層(堆積)されている。ゲート絶縁膜13は、遮光層
12上にも積層されている。このゲート絶縁膜13上に
は、上記半導体層6が積層されている。この半導体層6
には、半導体保護層14を介して電気的に接続されるデ
ータ線3あるいはゲート線2が積層されている。
【0025】上記遮光層12は、250nm程度のMo
Ta(モリブデン タンタル)層で形成されている。な
お、上記遮光層12は、クロムCrやレジストなどでも
遮光の機能を果たすもので形成されるようにしても良
い。ゲート絶縁膜13は、300nm程度の酸化シリコ
ンSiOx膜で形成され、半導体層6は、100nm程
度の、a−Si膜で形成され、半導体保護層14は、4
00nm程度の窒化シリコンSiNx膜で形成され、デ
ータ線3あるいはゲート線2は、500nm程度のアル
ミニウムからなる層で形成されている。
【0026】たとえば、データ線3とデータ線3との間
の半導体層6の形状Sを500/μm、長さ100/μ
m、ゲート絶縁膜13の厚さdを300nm、ゲート絶
縁膜13の誘電率εを「5」とすれば、半導体層6の容
量Cは、 C=ε0 ε・S/d =0.07nF となる。また、半導体層6の抵抗値を1×108 Ω程度
とすれば、時定数τは、CR積をとれば、 τ=CR =7ms 程度となる。
【0027】したがって、あるデータ線3もしくはゲー
ト線2に、静電気などにより、電荷が溜って、高電位に
なったとしても、+数ms程度で、半導体層6を通っ
て、電気的に接続された他のデータ線3もしくはゲート
線2に電荷は流れてゆき、電位は下がるので、上記デー
タ線3もしくはゲート線2に接続されている薄膜トラン
ジスタ4に、ダメージを与えないでおくことができる。
またデータ線3とゲート線2とを電気的に接続しておく
ことにより、データ線3とゲート線2との交差部におけ
る絶縁破壊が生じなくなるため、画質不良を減少させる
ことができる。
【0028】ところで、各データ線間、ゲート線間に設
けられた半導体層6は、製造後に電気的に切断しても良
いが、この半導体層6は過度な抵抗を有するため、残し
ておいても駆動波形が大幅に乱れることがなく、製造工
程が増加しないため好ましい。次に、上記第1の基板1
1上の表示領域外部1bの製造方法について、図4から
図7を用いて説明する。まず、図4に示すように、基板
11上に、250nm程度のモリブデンタンタルMoT
aからなる遮光層12を成膜し、パターニングする。
【0029】次に、図5に示すように、プラズマCVD
により300nm程度の酸化シリコンSiOxからなる
ゲート絶縁膜13、100nm程度のa−Siからなる
半導体層6、400nm程度の窒化シリコンSiNxか
らなる半導体保護層14を堆積する。
【0030】次に、ポジ型レジストを塗布し、基板11
の裏面(背面)側から露光し、遮光層12に自己整合さ
れたレジストパターンを形成する。次に、レジストパタ
ーンをマスクとして半導体保護層14をエッチングし、
レジストを除去してパターン形成すると、図6に示すよ
うに、遮光層12のある箇所の半導体保護層14は残
り、遮光層12の無い箇所の半導体保護層14は除去さ
れる。
【0031】次に、図7に示すように、データ線3ある
いはゲート線2として、500nm程度のアルミニウム
からなる層を堆積して、パターン形成する。このパター
ン形成後の構造は、遮光層12があるため、図7に示す
ようになり、データ線3とデータ線3、もしくはゲート
線2とゲート線2の間は、半導体層6によって、橋絡さ
れている。
【0032】このように、半導体層6の下部に遮光層1
2を有した構造であり、基板11には電気的に、表示領
域外部1bにて、半導体層6による半導体層ショートリ
ングを介して、それぞれのデータ線3、もしくはゲート
線2が全てもしくはいくつかのまとまりごとに接続され
ている。次に、薄膜トランジスタ4の製造方法について
説明する。
【0033】すなわち、図8(a)に示すように、基板
11上に不透明な金属膜よりなるゲート電極21とし
て、遮光層12と同様に2000〜4000オームスト
ロングのモリブデンタンタルMoTaによって形成す
る。次に、図8(b)に示すように(図5の場合と同
じ)、プラズマCVDによりゲート絶縁膜13、a−S
i半導体層6、半導体保護層14を堆積する。
【0034】次に、ポジ型レジストを塗布し、基板11
の裏面側より露光し、図8(c)に示すように、ゲート
電極21に自己整合されたレジストパターン22を形成
する。次に、レジストパターン22をマスクとして半導
体保護層14をエッチングし、レジストを除去して図8
(d)に示すように(図6の場合と同じ)、パターンニ
ングする。
【0035】次に、全面にリンドープのn+ −a−Si
膜23および第2の金属膜24を積層し、フォトレジス
ト25を塗布し、フォトレジスト25をフォトマスクを
使用してレジスト側から溶光して図8(e)に示すよう
に、パターンニングする。次に、フォトレジスト25を
マスクとして第2の金属膜24、リンドープのn+ −a
−Si膜23、a−Si半導体層6をエッチングし、図
8(f)に示すように、パターンニングしてソース電極
26、ドレイン電極27を形成し、その後透明画素電極
5aを形成して、図9に示すような薄膜トランジスタ4
を形成する。
【0036】なお、上記半導体層6、ゲート線2、デー
タ線3の形成と、薄膜トランジスタ4の形成とが同時に
行われるようになっており、遮光層12の成膜、ゲート
電極21の成膜が同時もしくは個別に行われた後、ゲー
ト絶縁膜13、a−Si半導体層6、半導体保護層14
が順に堆積されるようになっている。また、薄膜トラン
ジスタを形成した後、データ線3、ゲート線2の形成が
行われるようになっている。
【0037】ところで、ゲート絶縁膜13、半導体層
6、半導体保護層14の各膜厚が、薄膜トランジスタ4
と表示領域外部1bとで最適な特性が得られるように異
ならしめても良い。
【0038】上記したように、液晶パネルの表示領域外
部に、それぞれのゲート線とデータ線をすべてもしくは
いくつかのまとまりごとに、電気的に導通するように配
設された半導体層と、この半導体層の下部に配設される
遮光層を設けるようにしたものである。
【0039】これにより、自己整合型薄膜トランジスタ
を形成する製造工程を用いても、液晶パネルの表示領域
外部に形成される半導体層ショートリングが消失しない
構造にでき、静電気対策ができ、画質不良を防止でき、
高信頼性にできる。
【0040】すなわち、自己整合型薄膜トランジスタを
形成する製造工程において、遮光層を形成することによ
り、半導体層による半導体層ショートリングを配設でき
る。したがって、何等かの原因で、一部のデータ線もし
くはゲート線に静電気が生じ、電荷が滞った場合でも、
上記電荷は半導体層ショートリングを伝わって、拡散し
ていき、最初に静電気の生じたデータ線もしくはゲート
線の電位は、減衰していくので、静電気に起因する画像
不良は発生しなくなる。また、製造工程中に発生する静
電気によるパネルの劣化起因の製造歩留まりの低下を防
ぐことができ、低コストの液晶パネルを作成することが
できる。
【0041】なお、前記実施例では、遮光層がデータ線
およびゲート線と半導体層との交差部分が抜けている場
合について説明したが、データ線およびゲート線と半導
体層との交差部分も遮光層が設けられるようにしても良
い。この場合、上記図2における上記2つのデータ線
3、3とそれらが半導体層6で導通されている部分Pの
拡大図は図10に示すようになり、この図10のB−B
´間の断面構成は図11に示すようになる。そして、こ
の場合は、交差部分をフォトエッチングにより半導体保
護層を除去する工程が増える。
【0042】
【発明の効果】以上詳述したようにこの発明によれば、
自己整合型薄膜トランジスタを形成する製造工程を用い
ても、液晶パネルの表示領域外部に形成される半導体層
ショートリングが消失しない構造にでき、静電気対策が
でき、画質不良を防止でき、高信頼性にでき、しかも製
造工程中に発生する静電気によるパネルの劣化起因の製
造歩留まりの低下を防ぐことができ、低コストの液晶パ
ネルを作成することができる液晶表示装置を提供でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例における液晶表示装置の液
晶パネルのデータ線と半導体層の交差部およびゲート線
のと半導体層の交差部断面図。
【図2】液晶パネルの回路構成を示す回路図。
【図3】データ線およびゲート線とそれらが半導体層で
導通されている部分の拡大斜視図。
【図4】データ線と半導体層の交差部における成膜工程
を示した断面図。
【図5】データ線と半導体層の交差部における成膜工程
を示した断面図。
【図6】データ線と半導体層の交差部における成膜工程
を示した断面図。
【図7】データ線と半導体層の交差部における成膜工程
を示した断面図。
【図8】薄膜トランジスタの成膜工程を示した断面図。
【図9】薄膜トランジスタの概略構成を示す図。
【図10】2つのデータ線とそれらが半導体層で導通さ
れている部分の拡大図。
【図11】データ線と半導体層の交差部における成膜工
程を示した断面図。
【符号の説明】
1…液晶パネル、2…ゲート線、3…データ線、4…薄
膜トランジスタ、5〜…液晶画素、6…半導体層、11
…基板、12…遮光層、13…ゲート絶縁層、14…半
導体保護層。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 薄膜トランジスタおよび薄膜トランジス
    タのソース電極に接続された透明画素電極を行方向にm
    個、列方向にn個マトリクス状に配列して表示領域と
    し、上記薄膜トランジスタにそれぞれ特定のゲート線と
    データ線が接続される、ゲート線をm行とデータ線をn
    列もしくはゲート線をm列とデータ線をn行配列したマ
    トリクスアレイ基板において、 上記表示領域外部の上記第1の基板上に、上記ゲート線
    とデータ線をすべてもしくはいくつかのまとまりごと
    に、電気的に導通する半導体層と、この半導体層の下部
    に配設される遮光層とを具備したことを特徴とするマト
    リクスアレイ基板。
  2. 【請求項2】 薄膜トランジスタおよび薄膜トランジス
    タのソース電極に接続された透明画素電極を行方向にm
    個、列方向にn個マトリクス状に配列して表示領域と
    し、上記薄膜トランジスタにそれぞれ特定のゲート線と
    データ線が接続される、ゲート線をm行とデータ線をn
    列もしくはゲート線をm列とデータ線をn行配列した第
    1の基板と、透明対向電極を形成した第2の基板と、上
    記第1、第2の基板間に挟持された液晶とで構成される
    液晶パネルを有する液晶表示装置において、 上記液晶パネルの表示領域外部の上記第1の基板上に、
    上記ゲート線とデータ線をすべてもしくはいくつかのま
    とまりごとに、電気的に導通する半導体層と、この半導
    体層の下部に配設される遮光層とを具備したことを特徴
    とする液晶表示装置。
  3. 【請求項3】 薄膜トランジスタおよび薄膜トランジス
    タのソース電極に接続された透明画素電極を行方向にm
    個、列方向にn個マトリクス状に配列して表示領域と
    し、上記薄膜トランジスタにそれぞれ特定のゲート線と
    データ線が接続される、ゲート線をm行とデータ線をn
    列もしくはゲート線をm列とデータ線をn行配列した第
    1の基板と、透明対向電極を形成した第2の基板と、上
    記第1、第2の基板間に挟持された液晶とで構成される
    液晶パネルを有するものにおいて、 上記液晶パネルの表示領域の外部の上記第1の基板上に
    遮光層を形成し、 この遮光層の上部に絶縁膜、半導体層、保護層を積層
    し、 上記保護層の一部をエッチングにより除去し、 上記保護層が除去された半導体層上に上記ゲート線ある
    いはデータ線を形成し、 上記ゲート線とデータ線をすべてもしくはいくつかのま
    とまりごとに半導体層を介して電気的に導通させるよう
    にしたことを特徴とする液晶表示装置の製造方法。
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