JPH06224351A - 半導体装置のリード加工装置とその加工方法 - Google Patents

半導体装置のリード加工装置とその加工方法

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JPH06224351A
JPH06224351A JP3137693A JP3137693A JPH06224351A JP H06224351 A JPH06224351 A JP H06224351A JP 3137693 A JP3137693 A JP 3137693A JP 3137693 A JP3137693 A JP 3137693A JP H06224351 A JPH06224351 A JP H06224351A
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JP
Japan
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lead
die
package
semiconductor device
punch
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Application number
JP3137693A
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English (en)
Inventor
Koichi Murayama
晃一 村山
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 正確に折り曲げることができる半導体装置の
リード加工装置とその加工方法を提供すること。 【構成】 リード12の先端部分をノックアウト5側と
ダイ3側との両側から保持する一対のローラー2を設
け、ノックアウト5側のローラー2とこのノックアウト
5との間に配置したパンチ4をリード12に当接して、
ダイ3との間に挟み込む加工装置1で、その加工方法
は、先ず、リード12の先端部分を一対のローラー2で
挟持し、このローラー2とパッケージ11との間のリー
ド12の一方側からパンチ4を当接し、ローラー2とパ
ンチ4とをリード12の他方側に配置したダイ3の方向
に移動して、リード12を折り曲げる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、リードフレームを用い
た半導体装置のパッケージから延出するリードの加工装
置とその加工方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】プラスチック等のパッケージにて封止さ
れた半導体装置では、そのパッケージの周縁から複数の
リードが延出されており、パッケージ内の半導体素子と
基板等に設けられた回路との電気的な接続が行われる。
このような半導体装置の多くは、リードフレームを用い
て製造されている。すなわち、リードフレームに搭載し
た半導体素子と、その周辺に配置されたリードとをボン
ディングワイヤーにて配線した後、プラスチック等のパ
ッケージによりこの半導体素子を一体封止し、パッケー
ジから外側に延出するリードを所定の形状に加工してい
る。
【0003】リードを所定の形状に加工するには、図6
の断面図に示すような加工装置1が用いられる。この加
工装置1は、主に、半導体装置10のパッケージ11か
ら延出するリード12の例えば下方に配置されるダイ3
と、ダイ3の凹部31の形状に対応した凸状のパンチ4
とから構成されており、パンチ4とダイ3との間でリー
ド12を挟み込む、いわゆるプレス加工を施すものであ
る。
【0004】この加工装置1を用いたリード12の加工
方法は、予め、必要な長さにリード12を切断した後、
ダイ3の上に半導体装置10を搭載する。そして、リー
ド12のパッケージ11からの延出部分をダイ3とノッ
クアウト5との間で挟持する。この状態で、パンチ4を
図中矢印に示すように下降して、ダイ3の凹部31とパ
ンチ4との間でリード12を挟み込み、ダイ3の形状に
沿ってリード12を折り曲げる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うなリードの加工装置とその加工方法には、次のような
問題がある。すなわち、加工前の半導体装置のパッケー
ジから延出するリードの先端部分が切り離された状態と
なっているため、加工装置のパンチとダイとの間にリー
ドを挟み込むと、その力によりリードの先端部分が横方
向にずれる恐れがある。このようなリードの先端部分の
ずれにより、図7の側面図に示すようなリード不良を起
こす原因となる。
【0006】つまり、図7(a)に示すリード曲がりで
は、半導体装置10のパッケージ11から延出するリー
ド12が曲がり、隣合うリード12との間隔(ピッチ)
の均一性が損なわれた状態である。また、図7(b)に
示すスラントリードでは、各リード12がそれぞれ同じ
方向に曲がってしまう状態である。このようなリード不
良を起こすと、半導体装置10とプリント配線板等の外
部の回路との位置合わせが不正確となったり、電気的な
接触不良の原因となる。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、このような課
題を解決するために成された半導体装置のリード加工装
置とその加工方法である。すなわち、この加工装置は、
パッケージの周縁から外側に向けて延出するリードをダ
イとノックアウトとの間で挟持し、所定の形状に折り曲
げるためのもので、リードの先端部分をノックアウト側
とダイ側との両側から保持する一対のローラーを設け、
ノックアウト側のローラーとこのノックアウトとの間に
配置したパンチをリードに当接して、ダイとの間に挟み
込むものである。
【0008】また、この加工方法は、パッケージの周縁
から外側に向けて延出するリードをダイとノックアウト
との間で挟み込み、パンチを用いて所定の形状に折り曲
げる方法であり、リードの先端部分をダイ側とノックア
ウト側とから一対のローラーで挟持し、このノックアウ
ト側のローラーとノックアウトとの間にパンチを配置す
る。この状態で、一対のローラーとパンチとをダイの方
向に移動して、リードをこのダイに設けられた凹部の形
状に沿って折り曲げる加工方法である。
【0009】
【作用】半導体装置のパッケージから延出するリードの
先端部分を一対のローラーで挟持するため、パンチとダ
イとの間にこのリードを挟み込んでもリードがずれるこ
とがない。つまり、パンチによるリードの折り曲げを行
う前に、予めリードの先端部分を一対のローラーにて挟
持しておき、この状態でパンチとローラーとを同方向に
移動すればリードを横方向(ピッチ方向)にずらすこと
なく正確に折り曲げることができる。
【0010】
【実施例】以下に、本発明の半導体装置のリード加工装
置とその加工方法の実施例を図に基づいて説明する。先
ず、本発明の半導体装置のリード加工装置を図1を用い
て説明する。図1は、リード加工装置を説明する断面図
であり、(a)は挟持状態、(b)は加工状態を示して
いる。すなわち、この加工装置1は、半導体装置10の
パッケージ11から外側に延出するリード12を所定の
形状に折り曲げるためのもので、リード12の延出部分
を挟持するダイ3とノックアウト5、およびリード12
の先端部分を保持する一対のローラー2、リード12に
当接して所定の形状に折り曲げるためのパンチ4とから
構成される。
【0011】加工前のリード12は、パッケージ11の
周縁から外側へ略水平に延出しており、所定の長さで切
り離されている。このリード12のパッケージ11に近
い延出部分をダイ3とノックアウト5との間で挟持し、
さらに、切り離されているリード12の先端部分を一対
のローラー2にて保持する。これにより、リード12を
確実に押さえることができるようになる。
【0012】この状態でパンチ4と一対のローラー2と
を同時に下降すると、ダイ3とノックアウト5との挟持
部分からリード12が折り曲げられ、ダイ3の凹部31
の形状に沿ってリード12が加工されることになる。ま
た、リード12が折り曲げられて、その先端部分がパッ
ケージ11側に引き寄せられることになるが、この際、
ローラー2の転がり作用により横方向(ピッチ方向)に
ずれを起こすことなくパッケージ11方向に引き寄せら
れる。
【0013】次に、本発明の半導体装置のリード加工方
法を、図2〜図5の断面図に基づいて工程順に説明す
る。先ず、第1の工程として図2に示すように、半導体
装置10のパッケージ11から延出するリード12を所
定の長さに切断する。すなわち、半導体装置10をダイ
3aに搭載し、パッケージ11から延出するリード12
の不要部分をパンチ4aにてプレス加工する。一般に、
リードフレームを用いて製造される半導体装置10で
は、延出するリードの先端側にはタイバー等の不要部分
があるため、リード12の加工に必要な部分のみを残し
て不要部分を切断する、いわゆる予備リードカットを行
う。
【0014】次に、第2の工程として図3に示すよう
に、この半導体装置10をリード12の加工装置1に搭
載する。すなわち、ダイ3に半導体装置10を搭載し、
ダイ3とノックアウト5との間でリード12のパッケー
ジ11に近い延出部分を挟持する。また、リード12の
先端部分を、ダイ3側とノックアウト5側とから一対の
ローラー2でそれぞれ保持する。このローラー2によ
り、切り離されたリード12の先端部分も確実に保持す
ることができる。また、ノックアウト5側のローラー2
とノックアウト5との間にパンチ4を配置し、リード1
2に当接させる。
【0015】次に、第3の工程として図4に示すよう
に、パンチ4とリード12の先端部分を保持している一
対のローラー2とを同時にダイ3側へ移動する(図中矢
印参照)。これにより、リード12は、ノックアウト5
とダイ3との挟持部分で折り曲げられ、さらに、パンチ
4とダイ3の凹部31との間に挟み込まれることにな
る。すなわち、リード12がダイ3の凹部31の形状に
沿って折り曲げ加工されることになる。
【0016】リード12が折り曲げられることで、リー
ド12の先端部分がパッケージ11側に引き寄せられて
も、一対のローラー2の転がり作用により横方向(ピッ
チ方向)にずれることがなくなる。このため、リード曲
がりやスラントリードを起こすことなく正確に折り曲げ
加工を施すことができるようになる。
【0017】次に、第4の工程として図5に示すよう
に、折り曲げ加工が施されたリード12の先端部分をダ
イ3bとパンチ4bにて挟持し、リードカット6を用い
て必要な長さに切断する。これにより、半導体装置10
のパッケージから延出するリード12を所定の形状に正
確に加工することができる。特に、リード12の本数が
多い場合や、ピッチが狭い場合においても、このような
リード12の加工方法により、リード不良を起こすこと
のない半導体装置10を製造することができる。
【0018】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の半導体装
置のリード加工装置とその加工方法によれば次のような
効果がある。すなわち、半導体装置のパッケージから延
出するリードの先端部分が切り離されていても、加工装
置に設けられた一対のローラーにより保持することが可
能となる。したがって、予めリードの先端部分を一対の
ローラーで保持した後、パンチとダイとの間にリードを
挟み込めば、リードが横方向(ピッチ方向)にずれるこ
とがなくなる。このため、リード曲がりやスラントリー
ド等のリード不良を起こすことなく、正確な折り曲げ加
工ができることになり、精度の高い半導体装置を製造す
ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のリード加工装置を説明する断面図で、
(a)は挟持状態、(b)は加工状態である。
【図2】本発明の加工方法を説明する断面図(その1)
である。
【図3】本発明の加工方法を説明する断面図(その2)
である。
【図4】本発明の加工方法を説明する断面図(その3)
である。
【図5】本発明の加工方法を説明する断面図(その4)
である。
【図6】従来例を説明する断面図である。
【図7】リード不良を説明する側面図で、(a)はリー
ド曲がり、(b)はスラントリードである。
【符号の説明】
1 加工装置 2 ローラー 3 ダイ 4 パンチ 5 ノックアウト 10 半導体装置 11 パッケージ 12 リード

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パッケージの周縁から外側に向けて延出
    するリードをダイとノックアウトとの間で挟持し、該リ
    ードを所定の形状に折り曲げる半導体装置のリード加工
    装置において、 前記リードの先端部分を、前記ノックアウト側と前記ダ
    イ側とから保持するための一対のローラーと、 前記ノックアウト側のローラーと該ノックアウトとの間
    に配置され、前記ダイの凹部との間で前記リードを挟み
    込んで折り曲げるためのパンチとから成ることを特徴と
    する半導体装置のリード加工装置。
  2. 【請求項2】 パッケージの周縁から外側に向けて延出
    するリードをダイとノックアウトとの間で挟み込み、パ
    ンチを用いて所定の形状に折り曲げる半導体装置のリー
    ド加工方法において、 前記リードの先端部分を前記ダイ側と前記ノックアウト
    側とから一対のローラーで保持し、 前記ノックアウト側のローラーと該ノックアウトとの間
    に前記パンチを配置し、 この状態で、前記一対のローラーと前記パンチとを前記
    ダイの方向に移動して、 前記リードを前記ダイの凹部の形状に沿って折り曲げる
    ようにしたことを特徴とする半導体装置のリード加工方
    法。
JP3137693A 1993-01-26 1993-01-26 半導体装置のリード加工装置とその加工方法 Pending JPH06224351A (ja)

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JP3137693A JPH06224351A (ja) 1993-01-26 1993-01-26 半導体装置のリード加工装置とその加工方法

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JP3137693A Pending JPH06224351A (ja) 1993-01-26 1993-01-26 半導体装置のリード加工装置とその加工方法

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JP (1) JPH06224351A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100444171B1 (ko) * 2001-12-28 2004-08-11 동부전자 주식회사 원 펌트림장치

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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