JPH06204290A - 回路基板の製造方法及び前記電気接続部材と電気的回路部品との接続方法 - Google Patents
回路基板の製造方法及び前記電気接続部材と電気的回路部品との接続方法Info
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- JPH06204290A JPH06204290A JP4348348A JP34834892A JPH06204290A JP H06204290 A JPH06204290 A JP H06204290A JP 4348348 A JP4348348 A JP 4348348A JP 34834892 A JP34834892 A JP 34834892A JP H06204290 A JPH06204290 A JP H06204290A
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- H05K3/4007—Surface contacts, e.g. bumps
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 回路基板に電気回路部品を接続するための電
気的導電部材を所望の突出量と形状で、より簡単に形成
する製造方法及び回路基板と電気回路部品との接続方法
を提供することにある。 【構成】 本発明による回路基板の製造方法は、第1の
電気的絶縁材の面の少なくとも一部分に一定の膜厚で第
2の電気的絶縁材料を設ける工程と、前記第2の電気的
絶縁材料の所望の領域に複数の穴を設け、前記第1の電
気的絶縁材の面に設けられた回路パターンの一部を露出
する工程と、前記穴に前記第2の電気的絶縁材料の表面
と同一面または突出するように前記電気的導電部材を充
填する工程と、前記電気的導電部材の表面に、接着性樹
脂溶液から電気的泳動法により接着性樹脂層を共析形成
する工程と、を少なくとも有している。
気的導電部材を所望の突出量と形状で、より簡単に形成
する製造方法及び回路基板と電気回路部品との接続方法
を提供することにある。 【構成】 本発明による回路基板の製造方法は、第1の
電気的絶縁材の面の少なくとも一部分に一定の膜厚で第
2の電気的絶縁材料を設ける工程と、前記第2の電気的
絶縁材料の所望の領域に複数の穴を設け、前記第1の電
気的絶縁材の面に設けられた回路パターンの一部を露出
する工程と、前記穴に前記第2の電気的絶縁材料の表面
と同一面または突出するように前記電気的導電部材を充
填する工程と、前記電気的導電部材の表面に、接着性樹
脂溶液から電気的泳動法により接着性樹脂層を共析形成
する工程と、を少なくとも有している。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、回路基板の製造方法お
よび電気回路部品の回路基板への接続方法に関する。
よび電気回路部品の回路基板への接続方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、樹脂・セラミック・金属回路基
板、リードフレームと電気回路部品との接続はコネクタ
ー方法、はんだ付け方法、ワイヤボンディング方法、T
AB(Tape Automated bondin
g)方法、CCB(Controlled colla
psed Bonding)方法、異方性導電膜を用い
る方法、ゼブラゴムを用いる方法等が公知である。
板、リードフレームと電気回路部品との接続はコネクタ
ー方法、はんだ付け方法、ワイヤボンディング方法、T
AB(Tape Automated bondin
g)方法、CCB(Controlled colla
psed Bonding)方法、異方性導電膜を用い
る方法、ゼブラゴムを用いる方法等が公知である。
【0003】ところが、これらの方法においては、隣接
する接続部同士が接触しないようにする為の最小ピッチ
が比較的大きいため、接続部同士のピッチに小さいもの
が要求される場合には対応できないという問題があっ
た。更に、これらの方法では配線長が長くなるために抵
抗値の増大、浮遊容量の増大、L成分の増大を招く、ま
たたとえ配線長が短くてもS(電気抵抗率Ω・cm)の
値が大きいために抵抗値が増大し電気的特性上問題があ
った。特に高周波電気回路では顕著であった。
する接続部同士が接触しないようにする為の最小ピッチ
が比較的大きいため、接続部同士のピッチに小さいもの
が要求される場合には対応できないという問題があっ
た。更に、これらの方法では配線長が長くなるために抵
抗値の増大、浮遊容量の増大、L成分の増大を招く、ま
たたとえ配線長が短くてもS(電気抵抗率Ω・cm)の
値が大きいために抵抗値が増大し電気的特性上問題があ
った。特に高周波電気回路では顕著であった。
【0004】このような問題点を解決すべく、絶縁保持
体中に複数の導電部材を相互に絶縁して保持させた構成
をなす電気的接続部材、又は絶縁保持体の内部及び/又
は保持体面上で配線されており、接続導電部材の両端が
前記保持体の両面に保持体の面と同一もしくは突出して
露出している構成をなす電気的接続部材を用いて電気回
路部品同士を電気的に接続する方法が提案されている
(特開昭63−224164、特開昭63−21635
1、特開平02−049385、USP4,926,5
49等)。
体中に複数の導電部材を相互に絶縁して保持させた構成
をなす電気的接続部材、又は絶縁保持体の内部及び/又
は保持体面上で配線されており、接続導電部材の両端が
前記保持体の両面に保持体の面と同一もしくは突出して
露出している構成をなす電気的接続部材を用いて電気回
路部品同士を電気的に接続する方法が提案されている
(特開昭63−224164、特開昭63−21635
1、特開平02−049385、USP4,926,5
49等)。
【0005】図10(a),(b)は、このような1つ
の電気的接続部材を用いた電気回路部品間の電気的接続
を示す模式図であり、図中1は電気的接続部材、2,3
は接続すべき電気回路部品を示す。電気的接続部材1
は、金属又は合金からなる複数の棒状の導電部材4を、
各々の導電部材4同士を電気的に絶縁して、電気的絶縁
材料からなる薄板上の保持体5中に保持した構成をな
し、導電部材4の両端を各々バンプ8及び9として電気
回路部品2及び3側に突出してある(図10(a)参
照)。
の電気的接続部材を用いた電気回路部品間の電気的接続
を示す模式図であり、図中1は電気的接続部材、2,3
は接続すべき電気回路部品を示す。電気的接続部材1
は、金属又は合金からなる複数の棒状の導電部材4を、
各々の導電部材4同士を電気的に絶縁して、電気的絶縁
材料からなる薄板上の保持体5中に保持した構成をな
し、導電部材4の両端を各々バンプ8及び9として電気
回路部品2及び3側に突出してある(図10(a)参
照)。
【0006】そして、一方の電気回路部品2の接続部6
と導電部材4のバンプ8とを、また、他方の電気回路部
品3の接続部7と導電部材4のバンプ9とを各々例えば
押圧により圧着する。また、熱圧着、超音波加熱法等に
よって金属化および/又は合金化する事により接続し、
電気回路部品2,3同士を電気的に接続する(図10
(b)参照)。
と導電部材4のバンプ8とを、また、他方の電気回路部
品3の接続部7と導電部材4のバンプ9とを各々例えば
押圧により圧着する。また、熱圧着、超音波加熱法等に
よって金属化および/又は合金化する事により接続し、
電気回路部品2,3同士を電気的に接続する(図10
(b)参照)。
【0007】ところで上記電気的接続部材1を製造する
方法として図11(a)〜(e)に示す方法が提案され
ている。この方法は、まず、導電材製の銅箔10上に前
記保持体5となる感光性樹脂11を塗布する(図11
(a)参照)。次に、後工程で前記導電部材4を埋設す
る所定の位置を露光、現像することにより、感光性樹脂
11に穴12を形成して銅箔10を露出させる。次い
で、温度を上げて感光性樹脂11を硬化させる(図11
(b)参照)。そして穴12内の近傍の銅箔10のエッ
チングを行ない穴12の下部に凹部13を形成する(図
11(c)参照)。
方法として図11(a)〜(e)に示す方法が提案され
ている。この方法は、まず、導電材製の銅箔10上に前
記保持体5となる感光性樹脂11を塗布する(図11
(a)参照)。次に、後工程で前記導電部材4を埋設す
る所定の位置を露光、現像することにより、感光性樹脂
11に穴12を形成して銅箔10を露出させる。次い
で、温度を上げて感光性樹脂11を硬化させる(図11
(b)参照)。そして穴12内の近傍の銅箔10のエッ
チングを行ない穴12の下部に凹部13を形成する(図
11(c)参照)。
【0008】その後、銅箔10に対する金等のめっき処
理を行なう事により、凹部13及び穴12内に導電部材
4を充填していき、凹部13内に前記バンプ9を形成
し、また感光性樹脂11の上面にバンプ8を形成する
(図11(d)参照)。
理を行なう事により、凹部13及び穴12内に導電部材
4を充填していき、凹部13内に前記バンプ9を形成
し、また感光性樹脂11の上面にバンプ8を形成する
(図11(d)参照)。
【0009】その後、銅箔10を金属エッチングによっ
て除去する事により、前記電気的接続部材1が完成する
(図11(e)参照)。
て除去する事により、前記電気的接続部材1が完成する
(図11(e)参照)。
【0010】
【発明が解決しようとしている課題】しかしながら、上
記の図10に示すような熱圧着等によって金属化及び/
又は合金化する事により、電気回路部品の接続部と導電
部材のバンプとを接続する方法では、接続時に電気回路
部品が熱に曝されるため低耐熱性のものでは接続できな
いという問題がある。
記の図10に示すような熱圧着等によって金属化及び/
又は合金化する事により、電気回路部品の接続部と導電
部材のバンプとを接続する方法では、接続時に電気回路
部品が熱に曝されるため低耐熱性のものでは接続できな
いという問題がある。
【0011】ところで、高温加熱によらず比較的低温の
接着により電気的接続を図る方法が既に公知になってい
る(特開昭63−151031号公報)。この方法は紫
外線硬化樹脂が塗布された回路基板の電極とバンプ付き
半導体素子の電極とを位置決め、圧着し、紫外線を照射
して樹脂の硬化収縮を利用することにより電気的接続を
行なうが、この方法では樹脂の配合が難しく、所望の樹
脂を得るのに技術的な課題が多い。
接着により電気的接続を図る方法が既に公知になってい
る(特開昭63−151031号公報)。この方法は紫
外線硬化樹脂が塗布された回路基板の電極とバンプ付き
半導体素子の電極とを位置決め、圧着し、紫外線を照射
して樹脂の硬化収縮を利用することにより電気的接続を
行なうが、この方法では樹脂の配合が難しく、所望の樹
脂を得るのに技術的な課題が多い。
【0012】また、隣接する接続部間に樹脂が存在する
ため熱膨張係数の差が大きいために、剥れが生じたり、
クラックが生じ易すかったりする等の品質上の問題が生
じたりする。
ため熱膨張係数の差が大きいために、剥れが生じたり、
クラックが生じ易すかったりする等の品質上の問題が生
じたりする。
【0013】またさらに前記の図10に示す様な電気的
接続部材を用いて、電気回路部品の接続同士を接続する
方法では、電気的接続部材の両方の面を接続しなければ
ならなくなることから1接続カ所について2カ所の接続
が必要となり接続信頼性が滅ずるという問題がある。ま
たさらに上記の図11に示すような電気的接続部材の製
造方法にあっては、導電部材を感光性樹脂から突出させ
る突出量は銅エッチング工程と金めっき工程の2工程に
よるために、両方のバンプを均一に突出させることがむ
ずかしくなる。またバンプ形状が両方の面とも均一な形
状でなくなると接続の信頼性がなくなるという問題点が
生ずる。
接続部材を用いて、電気回路部品の接続同士を接続する
方法では、電気的接続部材の両方の面を接続しなければ
ならなくなることから1接続カ所について2カ所の接続
が必要となり接続信頼性が滅ずるという問題がある。ま
たさらに上記の図11に示すような電気的接続部材の製
造方法にあっては、導電部材を感光性樹脂から突出させ
る突出量は銅エッチング工程と金めっき工程の2工程に
よるために、両方のバンプを均一に突出させることがむ
ずかしくなる。またバンプ形状が両方の面とも均一な形
状でなくなると接続の信頼性がなくなるという問題点が
生ずる。
【0014】本発明はかかる事情に鑑みてなされたもの
であり、電気的接続部材低温接続用の突起物(バンプ)
を形成する方法を提供するとともに、低温で容易に信頼
性良く電気回路部品を回路基板に接続する方法を提供す
ることを目的とする。
であり、電気的接続部材低温接続用の突起物(バンプ)
を形成する方法を提供するとともに、低温で容易に信頼
性良く電気回路部品を回路基板に接続する方法を提供す
ることを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に記載
された回路基板の製造方法は、第1の電気的絶縁材の面
の少なくとも一部分に一定の膜厚で第2の電気的絶縁材
料を設ける工程と、前記第2の電気的絶縁材料の所望の
領域に複数の穴を設け、前記第1の電気的絶縁材の面に
設けられた回路パターンの一部を露出する工程と、前記
穴に前記第2の電気的絶縁材料の表面を同一面または突
出するように前記電気的導電部材を充填する工程と、前
記電気的導電部材の表面に、接着性樹脂溶液から電気的
泳動法により接着性樹脂を共析形成する工程と、を少な
くとも有している。
された回路基板の製造方法は、第1の電気的絶縁材の面
の少なくとも一部分に一定の膜厚で第2の電気的絶縁材
料を設ける工程と、前記第2の電気的絶縁材料の所望の
領域に複数の穴を設け、前記第1の電気的絶縁材の面に
設けられた回路パターンの一部を露出する工程と、前記
穴に前記第2の電気的絶縁材料の表面を同一面または突
出するように前記電気的導電部材を充填する工程と、前
記電気的導電部材の表面に、接着性樹脂溶液から電気的
泳動法により接着性樹脂を共析形成する工程と、を少な
くとも有している。
【0016】本発明の請求項2に記載された回路基板と
電気回路部品との接続方法は、第1の電気的絶縁材料の
面の少なくとも一部分に一定の膜厚で第2の電気的絶縁
材料を設ける工程と、前記第2の電気的絶縁材料の所望
の領域に複数の穴を設け、前記第1の電気的絶縁材の面
に設けられた回路パターンの一部を露出する工程と、前
記穴に前記第2の電気的絶縁材料の表面と同一面または
突出するように前記電気的導電部材を充填する工程と、
前記電気的導電部材の表面に、接着性樹脂溶液から電気
的泳動法により接着性樹脂層を共析形成する工程と、前
記接着性樹脂層が共析形成された前記電気的導電部材の
1つ以上と、電気回路部品の接続部の1つ以上との接続
を、熱圧着により前記接着性樹脂層を流動化させて前記
電気的導電材料と前記電気回路部品の接続部とを電気的
に接続する工程と、を少なくとも有している。
電気回路部品との接続方法は、第1の電気的絶縁材料の
面の少なくとも一部分に一定の膜厚で第2の電気的絶縁
材料を設ける工程と、前記第2の電気的絶縁材料の所望
の領域に複数の穴を設け、前記第1の電気的絶縁材の面
に設けられた回路パターンの一部を露出する工程と、前
記穴に前記第2の電気的絶縁材料の表面と同一面または
突出するように前記電気的導電部材を充填する工程と、
前記電気的導電部材の表面に、接着性樹脂溶液から電気
的泳動法により接着性樹脂層を共析形成する工程と、前
記接着性樹脂層が共析形成された前記電気的導電部材の
1つ以上と、電気回路部品の接続部の1つ以上との接続
を、熱圧着により前記接着性樹脂層を流動化させて前記
電気的導電材料と前記電気回路部品の接続部とを電気的
に接続する工程と、を少なくとも有している。
【0017】本発明の請求項3に記載された回路基板の
製造方法は、第1の電気的絶縁材料の面の少なくとも一
部分に一定の膜厚で電気的絶縁材料を設ける工程と、前
記第2の電気的絶縁材料の所望の領域に複数の穴を設
け、前記第1の電気的絶縁材の面に設けられた回路パタ
ーンの一部を露出する工程と、前記穴に前記第2の電気
的絶縁材料の表面と同一面または突出するように前記電
気的導電部材を充填する工程と、前記電気的導電部材の
表面に、金属粉末を含有させた接着性樹脂溶液から電気
的泳動法により接着性樹脂層を共析形成する工程と、を
少なくとも有している。
製造方法は、第1の電気的絶縁材料の面の少なくとも一
部分に一定の膜厚で電気的絶縁材料を設ける工程と、前
記第2の電気的絶縁材料の所望の領域に複数の穴を設
け、前記第1の電気的絶縁材の面に設けられた回路パタ
ーンの一部を露出する工程と、前記穴に前記第2の電気
的絶縁材料の表面と同一面または突出するように前記電
気的導電部材を充填する工程と、前記電気的導電部材の
表面に、金属粉末を含有させた接着性樹脂溶液から電気
的泳動法により接着性樹脂層を共析形成する工程と、を
少なくとも有している。
【0018】本発明の請求項4に記載された回路基板と
電気回路部品との接続方法は、第1の電気的絶縁材料の
面の少なくとも一部分に一定の膜厚で第2の電気的絶縁
材料を設ける工程と、前記第2の電気的絶縁材料の所望
の領域に複数の穴を設け、前記第1の電気的絶縁材料の
面に設けられた回路パターンの一部を露出する工程と、
前記穴に前記電気的絶縁材料の表面と同一面または突出
するように前記電気的導電部材を充填する工程と、前記
電気的導電部材の表面に、金属粉末を含有させた接着性
樹脂溶液から電気的泳動法により接着性樹脂層を共析形
成する工程と、前記接着性樹脂層が共析形成された前記
電気的導電部材の1つ以上と、電気回路部品の接続部の
1つ以上との接続を、熱圧着により前記接着性樹脂層を
流動化させて前記電気的導電材料と前記電気回路部品の
接続部とを直接及び/又は前記金属粉末を介して電気的
に接続する工程と、を少なくとも有している。
電気回路部品との接続方法は、第1の電気的絶縁材料の
面の少なくとも一部分に一定の膜厚で第2の電気的絶縁
材料を設ける工程と、前記第2の電気的絶縁材料の所望
の領域に複数の穴を設け、前記第1の電気的絶縁材料の
面に設けられた回路パターンの一部を露出する工程と、
前記穴に前記電気的絶縁材料の表面と同一面または突出
するように前記電気的導電部材を充填する工程と、前記
電気的導電部材の表面に、金属粉末を含有させた接着性
樹脂溶液から電気的泳動法により接着性樹脂層を共析形
成する工程と、前記接着性樹脂層が共析形成された前記
電気的導電部材の1つ以上と、電気回路部品の接続部の
1つ以上との接続を、熱圧着により前記接着性樹脂層を
流動化させて前記電気的導電材料と前記電気回路部品の
接続部とを直接及び/又は前記金属粉末を介して電気的
に接続する工程と、を少なくとも有している。
【0019】
【実施例】〈実施例1〉本発明に係る実施例を図1及び
図2に基づいて説明する。図1は回路基板の製造方法の
例を示すものであり、図2は電気回路部品と回路基板と
の接続方法の例を示すものでありともに断面図である。
図2に基づいて説明する。図1は回路基板の製造方法の
例を示すものであり、図2は電気回路部品と回路基板と
の接続方法の例を示すものでありともに断面図である。
【0020】以下本実施例をより詳細に説明する。
【0021】図1(a)に示すようにガラス布基材エポ
キシ樹脂銅張積層板である両面回路基板101を用意す
る。
キシ樹脂銅張積層板である両面回路基板101を用意す
る。
【0022】回路基板101は両面に回路パターン10
2、103を有しており、最小線幅0.15mm、最小
ピッチ0.3mm、厚さ18μmの銅箔回路パターンで
ある。なおここでは銅スルーホール、はんだレジストは
説明に使用しないので省略してある。
2、103を有しており、最小線幅0.15mm、最小
ピッチ0.3mm、厚さ18μmの銅箔回路パターンで
ある。なおここでは銅スルーホール、はんだレジストは
説明に使用しないので省略してある。
【0023】次に図1(b)に示すように30μm厚さ
のネガ型感光性エポキシ樹脂シート104を回路パター
ン102側に貼り付ける。
のネガ型感光性エポキシ樹脂シート104を回路パター
ン102側に貼り付ける。
【0024】その後図1(c)に示すようにフォトマス
クを介して紫外線を照射し(露光)、現像を行う。本実
施例の場合光が曝された部分に現像後エポキシ樹脂が残
り光を照射していない部分は現像によりエポキシ樹脂が
除去され穴105を形成し銅パターン102を露出させ
る。次に公知である回路パターン103にマスキングを
(不図示)して図1(d)に示すように電解金めっきを
し穴105に金を埋設し、エポキシ樹脂シート104の
面から突出するまでめっきを続けバンプ107を形成す
る。なおバンプは高さ30μm、フォトリン径60μ
m、外径80μmであった。次に図1(d)で得たもの
をエポキシエステル系の電着溶液の中に入れ、回路基板
101の回路パターン102を陰極にし対極のステンレ
ス板を陽極にし、液温20〜25℃の範囲で、pH8〜
9で印加電圧50〜200Vの任意の電圧、電流密度
0.5〜3A/dm2、処理時間2〜6分でカチオン電
着を行い、その後できた電着塗膜を乾燥させた。乾燥条
件は100〜140℃のオーブンにて10〜60分間で
ある。塗膜の厚さは20〜30μmであった。その後回
路パターン103のマスキングを除去し、図1(e)の
回路基板101を得た。すなわち図1(d)で得たバン
プ表面に接着性樹脂層であるBステージのエポキシ樹脂
塗膜108が形成されている。
クを介して紫外線を照射し(露光)、現像を行う。本実
施例の場合光が曝された部分に現像後エポキシ樹脂が残
り光を照射していない部分は現像によりエポキシ樹脂が
除去され穴105を形成し銅パターン102を露出させ
る。次に公知である回路パターン103にマスキングを
(不図示)して図1(d)に示すように電解金めっきを
し穴105に金を埋設し、エポキシ樹脂シート104の
面から突出するまでめっきを続けバンプ107を形成す
る。なおバンプは高さ30μm、フォトリン径60μ
m、外径80μmであった。次に図1(d)で得たもの
をエポキシエステル系の電着溶液の中に入れ、回路基板
101の回路パターン102を陰極にし対極のステンレ
ス板を陽極にし、液温20〜25℃の範囲で、pH8〜
9で印加電圧50〜200Vの任意の電圧、電流密度
0.5〜3A/dm2、処理時間2〜6分でカチオン電
着を行い、その後できた電着塗膜を乾燥させた。乾燥条
件は100〜140℃のオーブンにて10〜60分間で
ある。塗膜の厚さは20〜30μmであった。その後回
路パターン103のマスキングを除去し、図1(e)の
回路基板101を得た。すなわち図1(d)で得たバン
プ表面に接着性樹脂層であるBステージのエポキシ樹脂
塗膜108が形成されている。
【0025】基板材質は本実施例ではNEMA規格のG
10、FR−4クラスを使用したが、CEM−3、紙エ
ポキシ、紙フェノール基板等樹脂基板でもよく、又両面
回路基板でなくとも片面でも多層回路基板でもよい。ま
た樹脂基板でなくともセラミック基板、ガラス基板、シ
リコン基板等の回路基板でもよい。
10、FR−4クラスを使用したが、CEM−3、紙エ
ポキシ、紙フェノール基板等樹脂基板でもよく、又両面
回路基板でなくとも片面でも多層回路基板でもよい。ま
た樹脂基板でなくともセラミック基板、ガラス基板、シ
リコン基板等の回路基板でもよい。
【0026】また今回エポキシ樹脂シートを用いたが、
ポリイミド樹脂シートでもよく、シリコン系樹脂、アク
リル系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、フッ素系樹脂、
メラミン系樹脂、ウレタン系樹脂等々の樹脂でもよい。
ポリイミド樹脂シートでもよく、シリコン系樹脂、アク
リル系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、フッ素系樹脂、
メラミン系樹脂、ウレタン系樹脂等々の樹脂でもよい。
【0027】以後シートにこだわらずこれら溶状樹脂を
塗布してもよい。
塗布してもよい。
【0028】また今回エポキシエステル系でのカチオン
電着を行ったが、ポリエステル系、アクリル系、ポリイ
ミド系、ポリアミド系、アクリル・メラミン系、ポリア
クリル酸系、ウレタン系等の樹脂をベースにして電着を
行ってもよい。
電着を行ったが、ポリエステル系、アクリル系、ポリイ
ミド系、ポリアミド系、アクリル・メラミン系、ポリア
クリル酸系、ウレタン系等の樹脂をベースにして電着を
行ってもよい。
【0029】以後電着においてはこれら樹脂をベースに
したものを用いてもよい。
したものを用いてもよい。
【0030】電着塗膜の厚さは20〜30μmであった
が、接合に適した任意の厚味でもよい。
が、接合に適した任意の厚味でもよい。
【0031】図2は図1(e)で得た回路基板101に
電気回路部品である半導体素子を接続する図であり
(a)は接続前、(b)は接続後の状態を示すものであ
る。
電気回路部品である半導体素子を接続する図であり
(a)は接続前、(b)は接続後の状態を示すものであ
る。
【0032】先ず図1(e)で得た回路基板101とア
ルミニウムでできた接続部112を複数固有し、接続部
112以外はSiNのパッシベーション膜113で覆わ
れている半導体素子111を用意する。半導体素子11
1の接続部112と回路基板101のバンプ107を半
導体素子111の外形と回路基板101のパターンとを
パターン確認で位置決めし(図2(a))、熱圧着によ
り半導体素子111の接続部112と回路基板101の
バンプ107を接続させた。
ルミニウムでできた接続部112を複数固有し、接続部
112以外はSiNのパッシベーション膜113で覆わ
れている半導体素子111を用意する。半導体素子11
1の接続部112と回路基板101のバンプ107を半
導体素子111の外形と回路基板101のパターンとを
パターン確認で位置決めし(図2(a))、熱圧着によ
り半導体素子111の接続部112と回路基板101の
バンプ107を接続させた。
【0033】接続温度は170℃1分間で作業を行っ
た。
た。
【0034】その後150℃30分間樹脂をキュアさせ
て、電気回路装置を得た。
て、電気回路装置を得た。
【0035】接続後電気検査は良好であり、接続強度も
充分であった。
充分であった。
【0036】〈実施例2〉実施例2を図3に示す。図3
は電気回路部品を回路基板へ接続した断面図を示す。
は電気回路部品を回路基板へ接続した断面図を示す。
【0037】実施例2で用いた回路基板は実施例1すな
わち図1(e)で製造された回路基板101を、電気回
路部品としては、フレキシブル回路基板151を用い
た。
わち図1(e)で製造された回路基板101を、電気回
路部品としては、フレキシブル回路基板151を用い
た。
【0038】フレキシブル回路基板151はポリイミド
樹脂シート152上に回路パターン153が形成されて
おり、回路パターン153の材料は銅箔であり接続部は
銅箔上に金めっきが施されている。最小線幅は0.15
mm、最小ピッチは0.3mm、厚さは18μmの銅箔
であった。
樹脂シート152上に回路パターン153が形成されて
おり、回路パターン153の材料は銅箔であり接続部は
銅箔上に金めっきが施されている。最小線幅は0.15
mm、最小ピッチは0.3mm、厚さは18μmの銅箔
であった。
【0039】回路基板の導電材料とフレキシブル回路基
板の接続部との接続は実施例1の方法と同じ。
板の接続部との接続は実施例1の方法と同じ。
【0040】なお本第2実施例では電気回路部品として
フレキシブル回路基板を用いたがリジット回路基板でも
よく、又ポリイミド樹脂でなくともポリエステル、ポリ
エチレンテレフタレート、ポリエチレンテレナフタレー
ト等の樹脂シートでもよい。
フレキシブル回路基板を用いたがリジット回路基板でも
よく、又ポリイミド樹脂でなくともポリエステル、ポリ
エチレンテレフタレート、ポリエチレンテレナフタレー
ト等の樹脂シートでもよい。
【0041】〈実施例3〉実施例3を図4、図5に示
す。図4は回路基板の製造方法を示し、図5は電気回路
部品を回路基板に接続する方法を示し、ともに断面図で
ある。
す。図4は回路基板の製造方法を示し、図5は電気回路
部品を回路基板に接続する方法を示し、ともに断面図で
ある。
【0042】図4は実施例1で用いた同一回路基板であ
り、図1(d)まで実施例1と同一工程でありそれを図
4(d)に示す。
り、図1(d)まで実施例1と同一工程でありそれを図
4(d)に示す。
【0043】先ず図4(d)に示す回路基板101を用
意し、ポリエステル系樹脂溶液に架橋剤と触媒の混合溶
液に平均粒径5μmのNi金属粉末を攪拌混合した溶液
中で図4(d)に示す回路基板のパターンを陽極とし、
陰極にステンレス板を用いて印加電圧50〜100Vで
任意の時間電着処理を行った。その後加熱処理をして図
4(e)の金106のバンプ107上に導電性接着層1
15を形成した。図4(e)で示した図が本第3実施例
の回路基板の製造方法で得られた回路基板であり、導電
性接着樹脂115は樹脂中にNi金属粉末が含有された
ものである。導電性接着層の厚味は20〜50μmが好
ましい。
意し、ポリエステル系樹脂溶液に架橋剤と触媒の混合溶
液に平均粒径5μmのNi金属粉末を攪拌混合した溶液
中で図4(d)に示す回路基板のパターンを陽極とし、
陰極にステンレス板を用いて印加電圧50〜100Vで
任意の時間電着処理を行った。その後加熱処理をして図
4(e)の金106のバンプ107上に導電性接着層1
15を形成した。図4(e)で示した図が本第3実施例
の回路基板の製造方法で得られた回路基板であり、導電
性接着樹脂115は樹脂中にNi金属粉末が含有された
ものである。導電性接着層の厚味は20〜50μmが好
ましい。
【0044】図5は図4(e)で得られた回路基板10
1に電気回路部品である半導体素子を接続する図であり
(a)は接続前、(b)は接続後の状態を示すものであ
る。
1に電気回路部品である半導体素子を接続する図であり
(a)は接続前、(b)は接続後の状態を示すものであ
る。
【0045】先ず図1(e)で得られた回路基板とAl
でできた接続部112を複数個有し、接続部112以外
はSiNのパッシベーション膜113で覆われている半
導体素子111を用意する。半導体素子111の接続部
112と回路基板101のバンプ107を位置決めし
(図5(b))、熱圧着により半導体素子111の接続
部112と回路基板101のバンプ107をNi金属粉
末を介しておよび/または直接接続させた。
でできた接続部112を複数個有し、接続部112以外
はSiNのパッシベーション膜113で覆われている半
導体素子111を用意する。半導体素子111の接続部
112と回路基板101のバンプ107を位置決めし
(図5(b))、熱圧着により半導体素子111の接続
部112と回路基板101のバンプ107をNi金属粉
末を介しておよび/または直接接続させた。
【0046】接続温度は150℃1分間で作業を行い、
その後樹脂をキュアした。接続後、電気検査は良好であ
り、接続強度も充分であった。
その後樹脂をキュアした。接続後、電気検査は良好であ
り、接続強度も充分であった。
【0047】〈実施例4〉実施例4を図6、図7に示
す。図6は回路基板の製造方法を示した図である。
す。図6は回路基板の製造方法を示した図である。
【0048】先ず図6(a)に示すようにNEMA規格
FR−4の回路基板101を用意する。回路基板101
は両方の面に回路パターン102、103を有している
他に内部にも回路パターン109を有している三層多層
回路基板である。以後実施例1と同様な工程であるがめ
っきは銅めっきにした。図6(b)に示すように銅11
0と銅のバンプ107を有した回路基板を得る。
FR−4の回路基板101を用意する。回路基板101
は両方の面に回路パターン102、103を有している
他に内部にも回路パターン109を有している三層多層
回路基板である。以後実施例1と同様な工程であるがめ
っきは銅めっきにした。図6(b)に示すように銅11
0と銅のバンプ107を有した回路基板を得る。
【0049】その後エポキシ樹脂シートと剥し除去し図
6(c)の回路基板101を得る。その後実施例3のN
i金属粉末にかえて平均粒径8μmのはんだ粉末を実施
例3と同様な方法で電着し図6(d)を得る。
6(c)の回路基板101を得る。その後実施例3のN
i金属粉末にかえて平均粒径8μmのはんだ粉末を実施
例3と同様な方法で電着し図6(d)を得る。
【0050】図6(d)は回路基板101のパターン1
02、103と銅110の表面に導電性接着層を有した
ものである。導電性接着層は接着性樹脂中にはんだ粉末
を含有しているものである。
02、103と銅110の表面に導電性接着層を有した
ものである。導電性接着層は接着性樹脂中にはんだ粉末
を含有しているものである。
【0051】図7は図6(d)で得られた回路基板10
1に電気回路部80である半導体素子をパッケージング
したQFP IC131、チップコンデンサ133、チ
ップ抵抗135を接続した図である。
1に電気回路部80である半導体素子をパッケージング
したQFP IC131、チップコンデンサ133、チ
ップ抵抗135を接続した図である。
【0052】接続は230℃のリフロー炉で加熱し導電
性接着層121に含有されているはんだを溶融させて接
続してある。
性接着層121に含有されているはんだを溶融させて接
続してある。
【0053】ここでQFP IC131は電極であるリ
ードフレームの足132をバンプ上に接着させて、チッ
プコンデンサーの133の電極134をバンプ上に接着
させて、またチップ抵抗は電極134をバンプ上に接着
させてリフローした。接着は素子搭載時に50〜100
℃の範囲に加熱させてマウンターにて搭載した。
ードフレームの足132をバンプ上に接着させて、チッ
プコンデンサーの133の電極134をバンプ上に接着
させて、またチップ抵抗は電極134をバンプ上に接着
させてリフローした。接着は素子搭載時に50〜100
℃の範囲に加熱させてマウンターにて搭載した。
【0054】〈実施例5〉実施例5を図8、図9に示す
(ともに断面図である)。
(ともに断面図である)。
【0055】図8は回路基板の製造方法を示す図であ
る。
る。
【0056】先ず図8(a)に示すようにアルミナセラ
ミック回路基板141を用意する。回路基板141上に
は最終層が金メッキでできている回路パターン102が
描かれている。
ミック回路基板141を用意する。回路基板141上に
は最終層が金メッキでできている回路パターン102が
描かれている。
【0057】図8(b)に示すように回路基板141の
パターン102を有する面にシランカップリング剤をス
ピンナー塗布し、120℃1時間加熱後ポリイミド樹脂
溶液を同じくスピンナー塗布し350℃30分加熱しイ
ミド化を行いポリイミド樹脂142を積層した。その後
図8(c)に示すように回路パターン102上に高エネ
ルギー線であるエキシマレーザーにて穴105をあけ、
回路パターン102を露出させた。
パターン102を有する面にシランカップリング剤をス
ピンナー塗布し、120℃1時間加熱後ポリイミド樹脂
溶液を同じくスピンナー塗布し350℃30分加熱しイ
ミド化を行いポリイミド樹脂142を積層した。その後
図8(c)に示すように回路パターン102上に高エネ
ルギー線であるエキシマレーザーにて穴105をあけ、
回路パターン102を露出させた。
【0058】その後図8(d)に示すように回路パター
ンを陰極にし電解金めっきをし穴105に金106を埋
設させポリイミド樹脂142よりも突出させてめっきを
続けバンプ107を得た。
ンを陰極にし電解金めっきをし穴105に金106を埋
設させポリイミド樹脂142よりも突出させてめっきを
続けバンプ107を得た。
【0059】次に図8(e)に示すようにエキシマレー
ザーをポリイミド樹脂142に照射させポリイミドの膜
厚を薄くした。これでみかけ上バンプ107高さを高く
したことになる。
ザーをポリイミド樹脂142に照射させポリイミドの膜
厚を薄くした。これでみかけ上バンプ107高さを高く
したことになる。
【0060】次に実施例1で示した電着により、金バン
プ107の露出している部分にエポキシ接着性樹脂を推
積させ図8(f)で示す回路基板141を得た。
プ107の露出している部分にエポキシ接着性樹脂を推
積させ図8(f)で示す回路基板141を得た。
【0061】図9に図8で得たバンプ107上に接着性
樹脂であるポリイミド樹脂142で被覆された回路基板
141と複数の接続部112を有する半導体素子111
を用意し、接続前(a)、接続後(b)の状態を示す。
接続は実施例1に示すものと同じ方法をとった。
樹脂であるポリイミド樹脂142で被覆された回路基板
141と複数の接続部112を有する半導体素子111
を用意し、接続前(a)、接続後(b)の状態を示す。
接続は実施例1に示すものと同じ方法をとった。
【0062】なお上述した各実施例においては、高エネ
ルギー線であるエキシマレーザを使用したが、エキシマ
レーザ以外にもYAGレーザ、CO2レーザでもよく、
又湿式によるエッチングでもよい。
ルギー線であるエキシマレーザを使用したが、エキシマ
レーザ以外にもYAGレーザ、CO2レーザでもよく、
又湿式によるエッチングでもよい。
【0063】また回路基板材質はアルミナセラミック以
外の高純度アルミナセラミック基板、SiN基板、Si
C基板等のセラミック基板、ガラス基板、シリコン基板
等でもよい。シリコン基板の場合表面層にSiO2絶縁
膜を設ける必要がある。また基板上のパターンは本実施
例では最終層が金パターンを用いたが、銀、銅、Al、
Ni、W、Mo、In、Sn等のパターンでもよいし、
複数の金属層および又は合金層でもよい。また今回は1
層セラミック基板を用いたが内側に回路パターンを有す
る多層回路基板を用いてもよい。
外の高純度アルミナセラミック基板、SiN基板、Si
C基板等のセラミック基板、ガラス基板、シリコン基板
等でもよい。シリコン基板の場合表面層にSiO2絶縁
膜を設ける必要がある。また基板上のパターンは本実施
例では最終層が金パターンを用いたが、銀、銅、Al、
Ni、W、Mo、In、Sn等のパターンでもよいし、
複数の金属層および又は合金層でもよい。また今回は1
層セラミック基板を用いたが内側に回路パターンを有す
る多層回路基板を用いてもよい。
【0064】上述した実施例の1つによると熱圧着にて
接着性樹脂層を軟化させ流動せしめて回路基板の導電材
料と電気回路部品の接続部とを接続させ、接着性樹脂で
回路基板の導電部材の一部分および/又はそれ以外の部
分と電気回路部品の接続部の一部分および/又はそれ以
外の部分とを接着および/又は樹脂の硬化収縮により固
定するものである。
接着性樹脂層を軟化させ流動せしめて回路基板の導電材
料と電気回路部品の接続部とを接続させ、接着性樹脂で
回路基板の導電部材の一部分および/又はそれ以外の部
分と電気回路部品の接続部の一部分および/又はそれ以
外の部分とを接着および/又は樹脂の硬化収縮により固
定するものである。
【0065】従って接着性樹脂を流動させる程度の低い
温度で接合できる点に特徴を有するものである。
温度で接合できる点に特徴を有するものである。
【0066】また更に上述した実施例の1つによると回
路基板上の導体パターン上にパターンとは導通状態であ
って、個々に絶縁状態にて設けた一部又は全てに微粒金
属粉体又は粉末を含有させた導電性接着性樹脂層で被覆
された導電材料を凸形状状態の突起物(バンプ)を形成
せしめる回路基板の製造方法が得られる。
路基板上の導体パターン上にパターンとは導通状態であ
って、個々に絶縁状態にて設けた一部又は全てに微粒金
属粉体又は粉末を含有させた導電性接着性樹脂層で被覆
された導電材料を凸形状状態の突起物(バンプ)を形成
せしめる回路基板の製造方法が得られる。
【0067】更に上述した実施例の1つによると熱圧着
にて導電性接着性樹脂を軟化させ、回路基板の導電材料
と電気回路部品の接続部とを直接におよび/又は導電性
接着性樹脂中に含有している微粒金属粉体又は粉末を介
して接続するものである。
にて導電性接着性樹脂を軟化させ、回路基板の導電材料
と電気回路部品の接続部とを直接におよび/又は導電性
接着性樹脂中に含有している微粒金属粉体又は粉末を介
して接続するものである。
【0068】更に、上述した実施例の1つによると前記
導電性接着性樹脂中に含有している微粒金属粉体または
粉末は導電部材より低い融点の材料を用いた回路基板の
製造方法を示しており、その回路基板を用いて回路基板
と電気回路部品とを微粒金属粉体又は粉末を熱圧着によ
り溶融させて接続する方法が得られる。この方法を用い
ると接着性樹脂で回路基板と電気回路部品とが固定され
る他に溶融金属で金属化および/又は合金化で固定され
るため固定が強固になるとともに電気抵抗値が低くなる
とともに大電流を流せるという効果が生じる。また導電
材料より低温で接続できるということは言うまでもな
い。
導電性接着性樹脂中に含有している微粒金属粉体または
粉末は導電部材より低い融点の材料を用いた回路基板の
製造方法を示しており、その回路基板を用いて回路基板
と電気回路部品とを微粒金属粉体又は粉末を熱圧着によ
り溶融させて接続する方法が得られる。この方法を用い
ると接着性樹脂で回路基板と電気回路部品とが固定され
る他に溶融金属で金属化および/又は合金化で固定され
るため固定が強固になるとともに電気抵抗値が低くなる
とともに大電流を流せるという効果が生じる。また導電
材料より低温で接続できるということは言うまでもな
い。
【0069】更に上述した実施例の1つによると前記導
電性接着性樹脂中に含有している微粒金属粉体又は粉末
の平均粒径が10〜0.05μmの範囲で、粉体又は粉
末の含有量を30〜95wt%の範囲の回路基板を製造
する方法と、該回路基板と電気回路部品との接続方法が
提供される。これらを越える範囲のものを用いると金属
粉体または粉末が接着性樹脂に固定されなかったり接続
後の抵抗値が大きくなったりして接続の信頼性が得られ
なかったりする。また金属粉体又は粉末の粒度がそろっ
ていた方が接続の信頼性が良い。
電性接着性樹脂中に含有している微粒金属粉体又は粉末
の平均粒径が10〜0.05μmの範囲で、粉体又は粉
末の含有量を30〜95wt%の範囲の回路基板を製造
する方法と、該回路基板と電気回路部品との接続方法が
提供される。これらを越える範囲のものを用いると金属
粉体または粉末が接着性樹脂に固定されなかったり接続
後の抵抗値が大きくなったりして接続の信頼性が得られ
なかったりする。また金属粉体又は粉末の粒度がそろっ
ていた方が接続の信頼性が良い。
【0070】更に上述した実施例の1つによると当該バ
ンプは電気回路部品の接続部を電気的に接続するもので
あり、バンプの均一な突出形状突出量が接続の信頼性に
寄与する。
ンプは電気回路部品の接続部を電気的に接続するもので
あり、バンプの均一な突出形状突出量が接続の信頼性に
寄与する。
【0071】本実施例ではそれらバンプの均一な突出形
状、突出量を自由にコントロールすることを可能にする
ものである。
状、突出量を自由にコントロールすることを可能にする
ものである。
【0072】すなわち図11に示す電気的接続部材は両
方の面に均一な形状を作るために工程数が多かったが、
それに比し本発明は工程数が少ないために比較的均一な
バンプ形状が作り易い。
方の面に均一な形状を作るために工程数が多かったが、
それに比し本発明は工程数が少ないために比較的均一な
バンプ形状が作り易い。
【0073】またバンプの形状を変るためには、バンプ
の穴径を変化させれば良い。
の穴径を変化させれば良い。
【0074】ところが図12(a)(b)の例に示すよ
うに穴径Aを穴径Bのように大きくした場合、導電材料
の突出形状が変化し、すなわちBの場合バンプ中央部が
凹状になり、突出量はさほど大きくならないような状態
になる。またバンプの穴径を変化させても突出量が思っ
たより変らない場合、1接続部に2ケ以上の導電部材を
設ければ良い。このようにすれば接続強度が増大すると
ともに大電流が流せる。さらに突出量又は、突出高さを
大きくしたい場合は導電材料形状後に電気絶縁材料又は
電気絶縁シートの一部又は全てをエッチングにより除去
すれば良い。本場合所望バンプ高さ・量が要求される場
合特に1接続部に接続される電気回路部品の接続部の形
状・大きさが異なる場合等に顕著な効果が得られる。
うに穴径Aを穴径Bのように大きくした場合、導電材料
の突出形状が変化し、すなわちBの場合バンプ中央部が
凹状になり、突出量はさほど大きくならないような状態
になる。またバンプの穴径を変化させても突出量が思っ
たより変らない場合、1接続部に2ケ以上の導電部材を
設ければ良い。このようにすれば接続強度が増大すると
ともに大電流が流せる。さらに突出量又は、突出高さを
大きくしたい場合は導電材料形状後に電気絶縁材料又は
電気絶縁シートの一部又は全てをエッチングにより除去
すれば良い。本場合所望バンプ高さ・量が要求される場
合特に1接続部に接続される電気回路部品の接続部の形
状・大きさが異なる場合等に顕著な効果が得られる。
【0075】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明の回路基板に
あっては低温接合可能でかつ均一形状でコントロール可
能な量、高さのバンプを有する回路基板を容易に得るこ
とのできる製造方法である。従ってこの回路基板に電気
回路部品を接続する方法にあっては低温接合が可能とな
り接続信頼性の良い接続が可能となり、回路基板と電気
回路部品の選択の範囲が広がるとともに品質の良い回路
基板と電気回路部品とを接続した電気回路装置を得るこ
とができる。
あっては低温接合可能でかつ均一形状でコントロール可
能な量、高さのバンプを有する回路基板を容易に得るこ
とのできる製造方法である。従ってこの回路基板に電気
回路部品を接続する方法にあっては低温接合が可能とな
り接続信頼性の良い接続が可能となり、回路基板と電気
回路部品の選択の範囲が広がるとともに品質の良い回路
基板と電気回路部品とを接続した電気回路装置を得るこ
とができる。
【0076】また回路基板と電気回路部品との熱膨張差
を導電材料で吸収可能なことより品質の良い電気回路装
置を得ることができる。さらにバンプを微細にすること
ができるため高密度接合が可能となる。また接続部と接
続距離(=導電部材)が短いことにより電気特性の良い
電気回路装置が得られる。
を導電材料で吸収可能なことより品質の良い電気回路装
置を得ることができる。さらにバンプを微細にすること
ができるため高密度接合が可能となる。また接続部と接
続距離(=導電部材)が短いことにより電気特性の良い
電気回路装置が得られる。
【0077】即ち、本発明は比較的低温で容易に接続で
きるバンプを有する回路基板ができることと、低温で回
路基板と電気回路部品との接合ができるため接続がし易
く回路基板、電気回路部品の選択の自由度が広くなる。
きるバンプを有する回路基板ができることと、低温で回
路基板と電気回路部品との接合ができるため接続がし易
く回路基板、電気回路部品の選択の自由度が広くなる。
【0078】また本発明は、均一な形状の電気回路接続
用のバンプが形成しやすくなりバンプ形状、バンプ突出
量を自由にコントロールできるため適正量のバンプを有
する回路基板ができる。
用のバンプが形成しやすくなりバンプ形状、バンプ突出
量を自由にコントロールできるため適正量のバンプを有
する回路基板ができる。
【0079】従って、この回路基板を用いて電気回路部
品を接続した場合、信頼性良いものが得られる。
品を接続した場合、信頼性良いものが得られる。
【0080】またこの回路基板を用いて接続した場合、
次の有利な点が挙げられる。
次の有利な点が挙げられる。
【0081】すなわち、回路基板パターンを微細にする
ことにより微細接続ができる。
ことにより微細接続ができる。
【0082】また本接続の場合電気回路部品の接続部と
回路基板のパターンとの距離が短いため電気抵抗値が小
さくなり、又浮遊容量が小さくなるために電気特性の良
い接合体が得られる。
回路基板のパターンとの距離が短いため電気抵抗値が小
さくなり、又浮遊容量が小さくなるために電気特性の良
い接合体が得られる。
【0083】また電気回路部品の接続部は導電材料を介
して回路基板のパターンに接続されていることより、導
電材料の高さを高くすると熱応力が緩和される。この効
果は電気回路部品と回路基板の熱膨張差が大になればな
る程効果が大きくなる。
して回路基板のパターンに接続されていることより、導
電材料の高さを高くすると熱応力が緩和される。この効
果は電気回路部品と回路基板の熱膨張差が大になればな
る程効果が大きくなる。
【図1】回路基板の製造方法を説明する断面概念図であ
る。
る。
【図2】回路基板と電気回路部品との接続方法を説明す
る断面概念図である。
る断面概念図である。
【図3】第2実施例の回路基板と電気回路部品との接続
方法を説明する断面概念図である。
方法を説明する断面概念図である。
【図4】第3実施例の回路基板の製造方法を説明する断
面概念図である。
面概念図である。
【図5】第3実施例の回路基板と電気回路部品との接続
方法を説明する断面概念図である。
方法を説明する断面概念図である。
【図6】第4実施例の回路基板の製造方法を説明する断
面概念図である。
面概念図である。
【図7】第4実施例の回路基板と電気回路部品との接続
方法を説明する断面概念図である。
方法を説明する断面概念図である。
【図8】第5実施例の回路基板の製造方法を説明する断
面概念図である。
面概念図である。
【図9】第5実施例の回路基板と電気回路部品との接続
方法を説明する断面概念図である。
方法を説明する断面概念図である。
【図10】電気的接続部材の従来例である。
【図11】電気的接続部材の製造方法の従来例である。
【図12】電気的導電部材の突出形状の説明図である。
1 電気的接続部材 2 電気回路部品 3 電気回路部品 4 導電部材 5 保持体 6 接続部 7 接続部 8 バンプ 9 バンプ 10 銅箔 11 感光性樹脂 12 穴 13 凹部 101 回路基板 102 回路パターン 103 回路パターン 104 ネガ型感光性エポキシ樹脂シート 105 穴 106 金 107 バンプ 108 エポキシ樹脂膜 109 回路パターン 110 銅 111 半導体素子 112 接続部 113 パッシベーション膜 115 導電性接着層 131 QFP IC 132 リードフレームの足 133 チップコンデンサー 134 電極 135 チップ抵抗 141 回路基板 142 ポリイミド樹脂
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 榊 隆 東京都大田区下丸子3丁目30番2号キヤノ ン株式会社内 (72)発明者 寺山 芳実 東京都大田区下丸子3丁目30番2号キヤノ ン株式会社内
Claims (13)
- 【請求項1】 第1の電気的絶縁材料中に埋設された複
数の電気的導電部材を有し、前記電気的導電部材の一端
が前記第1の電気的絶縁材料の一方の面において露出し
ており、また、前記電気的導電部材の他端が前記第1の
電気的絶縁材料の他方の面において露出している回路基
板の製造方法において、 前記第1の電気的絶縁材の面の少なくとも一部分に一定
の膜厚で第2の電気的絶縁材料を設ける工程と、 前記第2の電気的絶縁材料の所望の領域に複数の穴を設
け、前記第1の電気的絶縁材の面に設けられた回路パタ
ーンの一部を露出する工程と、 前記穴に前記第2の電気的絶縁材料の表面と同一面また
は突出するように前記電気的導電部材を充填する工程
と、 前記電気的導電部材の表面に、接着性樹脂溶液から電気
的泳動法により接着性樹脂層を共析形成する工程と、 を少なくとも有することを特徴とする回路基板の製造方
法。 - 【請求項2】 第1の電気的絶縁材料中に埋設された複
数の電気的導電部材を有し、前記電気的導電部材の一端
が前記第1の電気的絶縁材料の一方の面において露出し
ており、また、前記電気的導電部材の他端が前記第1の
電気的絶縁材料の他方の面において露出している回路基
板と、 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部において前
記電気的導電部材の少なくとも1つの一端と接続される
少なくとも1つ以上の電気回路部品と、 の接続方法において、 前記第1の電気的絶縁材料の面の少なくとも一部分に一
定の膜厚で第2の電気的絶縁材料を設ける工程と、 前記第2の電気的絶縁材料の所望の領域に複数の穴を設
け、前記第1の電気的絶縁材の面に設けられた回路パタ
ーンの一部を露出する工程と、 前記穴に前記第2の電気的絶縁材料の表面と同一面また
は突出するように前記電気的導電部材を充填する工程
と、 前記電気的導電部材の表面に、接着性樹脂溶液から電気
的泳動法により接着性樹脂層を共析形成する工程と、 前記接着性樹脂層が共析形成された前記電気的導電部材
の1つ以上と、電気回路部品の接続部の1つ以上との接
続を、熱圧着により前記接着性樹脂層を流動化させて前
記電気的導電材料と前記電気回路部品の接続部とを電気
的に接続する工程と、 を少なくとも有することを特徴とする回路基板と電気回
路部品との接続方法。 - 【請求項3】 第1の電気的絶縁材料中に埋設された複
数の電気的導電部材を有し、前記電気的導電部材の一端
が前記第1の電気的絶縁材料の一方の面において露出し
ており、また、前記電気的導電部材の他端が前記第1の
電気的絶縁材料の他方の面において露出している回路基
板の製造方法において、 前記第1の電気的絶縁材料の面の少なくとも一部分に一
定の膜厚で電気的絶縁材料を設ける工程と、 前記第2の電気的絶縁材料の所望の領域に複数の穴を設
け、前記第1の電気的絶縁材の面に設けられた回路パタ
ーンの一部を露出する工程と、 前記穴に前記第2の電気的絶縁材料の表面と同一面また
は突出するように前記電気的導電部材を充填する工程
と、 前記電気的導電部材の表面に、金属粉末を含有させた接
着性樹脂溶液から電気的泳動法により接着性樹脂層を共
析形成する工程と、 を少なくとも有することを特徴とする回路基板の製造方
法。 - 【請求項4】 第1の電気的絶縁材料中に埋設された複
数の電気的導電部材を有し、前記電気的導電部材の一端
が前記第1の電気的絶縁材料の一方の面において露出し
ており、また、前記電気的導電部材の他端が前記第1の
電気的絶縁材料の他方の面において露出している回路基
板と、 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部において前
記電気的導電部材の少なくとも1つの一端と接続される
1つ以上の電気回路部品と、 の接続方法において、 前記第1の電気的絶縁材料の面の少なくとも一部分に一
定の膜厚で第2の電気的絶縁材料を設ける工程と、 前記第2の電気的絶縁材料の所望の領域に複数の穴を設
け、前記第1の電気的絶縁材の面に設けられた回路パタ
ーンの一部を露出する工程と、 前記穴に前記電気的絶縁材料の表面と同一面または突出
するように前記電気的導電部材を充填する工程と、 前記電気的導電部材の表面に、金属粉末を含有させた接
着樹性脂溶液から電気的泳動法により接着性樹脂層を共
析形成する工程と、 前記接着性樹脂層が共析形成された前記電気的導電部材
の1つ以上と、電気回路部品の接続部の1つ以上との接
続を、熱圧着により前記接着性樹脂層を流動化させて前
記電気的導電材料と前記電気回路部品の接続部とを直接
及び/又は前記金属粉末を介して電気的に接続する工程
と、 を少なくとも有することを特徴とする回路基板と電気回
路部品との接続方法。 - 【請求項5】 前記電気的導電部材の表面に、接着性樹
脂溶液から電気的泳動法により接着性樹脂層を共析形成
する工程の前あるいは後のいずれか一方に、前記第2の
電気的絶縁材料の一部又は全てを除去する工程を有する
ことを特徴とする請求項1、または3に記載の回路基板
の製造方法。 - 【請求項6】 前記電気的導電部材の表面に、接着性樹
脂溶液から電気的泳動法により接着性樹脂層を共析形成
する工程の前あるいは後のいずれか一方に、前記第2の
電気的絶縁材料の一部又は全てを除去する工程を有する
ことを特徴とする請求項2、または4に記載の回路基板
と電気回路部品との接続方法。 - 【請求項7】 前記金属粉末の平均粒は、0.05μm
〜10μmであり、前記導電性接着樹脂層に含有される
前記金属粉末は、30wt%〜95wt%であることを
特徴とする請求項3に記載の回路基板の製造方法。 - 【請求項8】 前記金属粉末の平均粒は、0.05μm
〜10μmであり、前記導電性接着樹脂層に含有される
前記金属粉末は、30wt%〜95wt%であることを
特徴とする請求項4に記載の回路基板と電気回路部品と
の接続方法。 - 【請求項9】 前記金属粉末の融点は、前記電気的導電
材料の融点より低いことを特徴とする請求項3に記載の
回路基板の製造方法。 - 【請求項10】 前記金属粉末の融点は、前記電気的導
電材料の融点より低いことを特徴とする請求項4に記載
の回路基板と電気回路部品との接続方法。 - 【請求項11】 前記熱圧着の温度は、前記電気的導電
材料の融点と、前記金属粉末の融点との間の温度である
ことを特徴とする請求項9に記載の回路基板の製造方
法。 - 【請求項12】 前記電気的導電部材は、互いに電気的
に絶縁状態の複数の導電部材で1つの電気的接続部をな
すことを特徴とする請求項1、または3に記載の回路基
板の製造方法。 - 【請求項13】 前記電気的導電部材は、互いに電気的
に絶縁状態の複数の導電部材で1つの電気的接続部をな
すことを特徴とする請求項2、または4に記載の回路基
板と電気回路部品との接続方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4348348A JPH06204290A (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 回路基板の製造方法及び前記電気接続部材と電気的回路部品との接続方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4348348A JPH06204290A (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 回路基板の製造方法及び前記電気接続部材と電気的回路部品との接続方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06204290A true JPH06204290A (ja) | 1994-07-22 |
Family
ID=18396422
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4348348A Pending JPH06204290A (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 回路基板の製造方法及び前記電気接続部材と電気的回路部品との接続方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06204290A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0997868A (ja) * | 1995-09-28 | 1997-04-08 | Dainippon Printing Co Ltd | リードフレーム部材及びその製造方法 |
US6791195B2 (en) | 2000-04-24 | 2004-09-14 | Nec Electronics Corporation | Semiconductor device and manufacturing method of the same |
JP2006286736A (ja) * | 2005-03-31 | 2006-10-19 | Sony Chemical & Information Device Corp | 電気部品、電気装置、及び電気部品の製造方法 |
JP2007123369A (ja) * | 2005-10-26 | 2007-05-17 | Citizen Electronics Co Ltd | 半導体装置及びその製造方法 |
JP2008300636A (ja) * | 2007-05-31 | 2008-12-11 | Meiko:Kk | プリント配線板及びその製造方法、並びに、このプリント配線板を用いた電子部品収容基板及びその製造方法 |
-
1992
- 1992-12-28 JP JP4348348A patent/JPH06204290A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0997868A (ja) * | 1995-09-28 | 1997-04-08 | Dainippon Printing Co Ltd | リードフレーム部材及びその製造方法 |
US6791195B2 (en) | 2000-04-24 | 2004-09-14 | Nec Electronics Corporation | Semiconductor device and manufacturing method of the same |
JP2006286736A (ja) * | 2005-03-31 | 2006-10-19 | Sony Chemical & Information Device Corp | 電気部品、電気装置、及び電気部品の製造方法 |
JP2007123369A (ja) * | 2005-10-26 | 2007-05-17 | Citizen Electronics Co Ltd | 半導体装置及びその製造方法 |
JP4697789B2 (ja) * | 2005-10-26 | 2011-06-08 | シチズン電子株式会社 | 半導体装置及びその製造方法 |
JP2008300636A (ja) * | 2007-05-31 | 2008-12-11 | Meiko:Kk | プリント配線板及びその製造方法、並びに、このプリント配線板を用いた電子部品収容基板及びその製造方法 |
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