JPH06203759A - プラズマディスプレイパネルの電極支持基板 - Google Patents
プラズマディスプレイパネルの電極支持基板Info
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- JPH06203759A JPH06203759A JP34873592A JP34873592A JPH06203759A JP H06203759 A JPH06203759 A JP H06203759A JP 34873592 A JP34873592 A JP 34873592A JP 34873592 A JP34873592 A JP 34873592A JP H06203759 A JPH06203759 A JP H06203759A
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- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
- Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)
Abstract
関し、エージングやパターン検査が容易に行え、またエ
ージング工程後における試験用電極端子の切削に伴うガ
ラス基板の分離を精度良く行う。 【構成】複数の表示電極対を備え、該表示電極対の一方
の表示電極の端子接続部と他方の表示電極の端子接続部
を前記基板の一方側と他方側の端部に振り分けて導出す
ると共に、隣接する複数の一方の端子接続部を共通接続
する島状の集合電極端子と、複数の他方の端子接続部を
個別接続する短冊状の単一電極端子とを設け、さらに前
記基板の同じ側の端部に設けられた集合電極端子と複数
の単一電極端子とを共通接続する島状の試験用電極端子
を備えた電極支持基板であって、エージング工程後にお
いて、試験用電極端子と集合電極端子、単一電極端子の
各端子とを基板と共に分離するためのスクライブライン
に沿って集合電極端子に点状の複数の非電極形成部Kを
設ける。
Description
ーン検査に好適な試験用電極端子を有するプラズマディ
スプレイパネル(PDP)の電極支持基板に関する。
示、高輝度表示が可能であり且つ大型画面の実現が容易
であることから、特に20インチ以上の大型フラット形
表示手段の主流になるものと期待されている。また、高
品位テレビジョンの分野の進展も有望である。それ故、
全放電表示領域にわたって放電電圧或いは放電輝度の変
動を均一化するためのエージングが容易に行えると共
に、一対の表示電極間の短絡あるいは電極の断線を容易
に試験できる電極端子構造を有するPDPが必要とされ
る。
並ぶ単位発光領域を選択的に発光させることによって任
意の文字や図形を表示する。
カラー表示に適している。図3は面放電型PDPの1つ
の画素EGに対応する部分の断面構造の一例を示す分解
斜視図、図4は図3のPDP1の外観を示す斜視図であ
る。
AC駆動形式のPDPであり、表示面H側のガラス基板
11、横方向に互いに平行に隣接して延びた一対の表示
電極X,Y、AC駆動のための誘電体層17とその保護
膜18、背面側のガラス基板21、表示電極X,Yと直
交するアドレス電極22、アドレス電極22と平行な隔
壁29、及びカラー表示のための3色の蛍光体28R,
28G,28Bなどから構成されている。
対する紫外線励起のための放電ガスが封入されている。
このような放電空間30は、隔壁29によって表示電極
X,Yの延長方向に単位発光領域EU毎に区画され、且
つその間隔寸法が規定されている。
8R,28G,28Bに対して表示面H側に配置される
ことから、帯状の透明導電体(ネサ膜など)41と、そ
の導電性を補うための金属層(Cr−Cu−Crなど)
42とからなり、薄膜法により形成されている。
せるためのアドレス電極22は銀ペーストの印刷及び焼
成により形成されている。このような、表示電極X,Y
及びアドレス電極22は、図4に示すように、それぞれ
表示領域(放電を生じさせる領域)EHからガラス基板
11,21の端部まで導出されており(図では表示電極
X,Yのみが示されている)、この端部に導出された端
子接続部によって、PDP1と図示しない外部の駆動回
路とがフレキシブルプリント配線板などによって電気的
に接続される。この場合、外部接続を簡素化するため特
開昭57─78751号に示されているように一対の表
示電極X,Yの一方を複数本づつ集合化して共通接続
し、また、その接続を容易且つ確実とするためガラス基
板11の両側端に表示電極X,Yの端子接続部を交互に
導出して隣接端子間の間隔を広げると共に、幅長の電極
端子を形成する構成が採られる。
示電極対X,Yが2群に分けられ、それら各群の一方の
X側表示電極は隣接する3本(実際は240本程度)の
電極(X11,X12,X13)(X21,X22,X
23)を共通の集合電極端子X1,X2に接続し、また
他方のY側電極Y11,Y12,Y13,Y21,Y2
2,Y23はそれぞれ個別に単一電極Y1,Y2,Y
3,Y4,Y5,Y6に接続され、ガラス基板の右端と
左端に導出されている。
ラス基板(電極支持基板)11,21について別個に誘
電体層、隔壁、蛍光体層、シール材などを設けた後、ガ
ラス基板11,21を対向配置した状態でシール材を溶
融してその対向基板の周囲を封止し、チップ管を介して
内部の排気と放電ガスの充填を行う一連の工程によって
パネルが組み立てられる。
目的としたエージング工程および電極の短絡、断線をチ
ェックするためのパターン検査工程が施される。エージ
ングおよびパターン検査を容易化するため、表示電極
X,Yが配列される一方のガラス基板11は図5で示さ
れるように表示電極X11,X12,X13,X21,
X22,X23,Y11,Y12,Y13,Y21,Y
22,Y23より延出させた集合電極端子X1,X2及
び複数の単一電極端子Y1,Y2,Y3,Y4,Y5,
Y6の形成と同時に、それらX,Yの電極端子を一体的
に接合する試験用電極端子XT,YTを当該ガラス基板
11の外縁部で島状に形成している。そしてエージング
時にはこれら電極端子XT,YTから放電開始電圧を越
える電圧を印加することにより全放電セルを放電状態に
する。
ガラス基板11の外縁部と共に、図示しないダイヤモン
ドホイールで切削され分離除去される。分離後のガラス
基板(電極支持基板)が前記図4で示したもので最終的
なプラズマディスプレイパネルを完成させることにな
る。
ドホイールによる切削工程では、厚み2〜3mm程度の
ガラス基板11と、その上に配設された厚み1mm程度
で幅120〜150mm程度の集合電極端子X1,X2
と幅300μm程度の複数の単一電極端子Y1,Y2,
Y3,Y4,Y5,Y6をスクライブラインSLで、同
時に切削する形態となる。この時、スクライブラインS
L上の集合電極端子X1,X2下部のガラス基板11に
は図6に示すように、クラックC1が発生しにくくな
る。このためスクライブラインSLに沿って正確に分割
できず、集合電極端子X1,X2自身並びに隣接する他
の単一電極端子Y2,Y3などをも損傷させる結果とな
り、これゆえ製品不良を生じさせるという問題があっ
た。
或いはパターン検査後における試験用電極端子の切削時
の母線端子、単一電極端子の損傷を発生しないプラズマ
ディスプレイパネルの電極支持基板を提供することを目
的とする。
解決するため、第1図に示すように、放電空間を規定す
る一方のガラス基板11上にそれぞれ隣接して対となる
複数の表示電極X11,X12,X13,X21,X2
2,X23,Y11,Y12,Y13,Y21,Y2
2,Y23対を備え、それら表示電極対の一方の表示電
極の端子接続部と他方の表示電極の端子接続部を前記基
板11の一方側と他方側の端部に振り分けて導出すると
ともに、隣接する複数の一方の端子接続部を共通接続す
る島状の集合電極端子X1,X2と、複数の他方の端子
接続部をそれぞれ個別接続する短冊状の単一電極端子Y
1,Y2,Y3,Y4,Y5,Y6とを設け、さらに前
記基板11の同じ側の端部に設けられた集合電極端子X
1,X2と複数の単一電極端子Y1,Y2,Y3,Y
4,Y5,Y6とを共通接続する島状の試験用電極端子
XT,YTを備えてなるプラズマディスプレイパネルの
電極支持基板であって、エージング、電極パターン検査
の工程後において前記試験用電極端子XT,YTと集合
電極端子、単一電極端子の各電極端子とを基板とともに
分離するためのスクライブラインに沿って前記集合電極
端子XT,YTに点状の複数の非電極形成部Kを設けて
構成する。
が形成されるので、エージング或いはパターン検査等の
試験工程においては、この試験用電極端子が専用のエー
ジングバーとなる。また、試験終了後の切削工程におい
ては、集合電極端子と試験用電極端子の接合部のスクラ
イブライン上にガラス基板表面が所定間隔で露出してい
る領域が設けられているため、ガラス基板内にメディア
ンクラック(縦割れ)等からなるクラックを一様に生じ
させることができる。
明する。図1は本発明の電極端子パターンを持つプラズ
マディスプレイパネルの電極構成平面図、図2は図1の
電極端子パターンをスクライブラインに沿って切断した
場合の断面図である。なお各図において同等部分には同
一符号を付してある。
X13,X21,X22,X23,Y11,Y12,Y
13,Y21,Y22,Y23が配列された一方のガラ
ス基板11側の電極構成は、従来例で説明したようにそ
れら表示電極X,Yをガラス基板11の両側端で交互に
導出させるとともに、独立駆動のY側電極Y11,Y1
2,Y13,Y21,Y22,Y23には広幅の単一電
極端子Y1,Y2,Y3,Y4,Y5,Y6が接続さ
れ、共通駆動のX側電極X11,X12,X13,X2
1,X22,X23には島状に形成させた集合電極端子
X1,X2がそれぞれ接続されている。
2,Y3と集合電極端子X1には試験用電極端子YT
が、基板右側の単一電極端子Y4,Y5,Y6と集合電
極端子X2には試験用電極端子XTがそれぞれ接続され
ている。
く、また表示電極、電極端子の数は実際のパネルでは2
40本程度有し、集合電極端子X1,X2の端子幅wは
120〜150mm程度の大きさとなり、ガラス基板1
1の幅半分を占有することになる。
試験用電極端子XT,YTの接合部の端子パターンに特
徴を有しており、それは、スクライブラインSLに沿っ
て、複数の四角形からなる開孔部(非電極形成領域)K
を5mm以下のピッチpで設けている。この開孔部Kは
電極形成用マスクを変えることで容易に形成でき、形成
された端子パターンの開孔部部分はガラス表面が露出し
た態様となる。
つ電極支持基板を組立ててパネルを完成した後、例えば
エージング工程では試験用電極端子XT,YTを使用し
て、それら電極から電圧を印加することにより全放電セ
ルを放電状態にし、その放電によって全放電表示領域に
わたって放電電圧或いは放電輝度の変動を均一化させ、
また通電用プローグを接続して表示電極X−Y間の短絡
等を試験する。
ネルを完成させるため、電極支持基板(ガラス基板)1
1の外縁部及びその上に配設された前記エージング、パ
ターン検査工程で使用した試験用電極端子XT,YTの
切削、分離工程について説明する。
用して、前述したスクライブラインSLに沿って切削す
る。このとき、ダイヤモンドブレードはテーパ付で先端
角45°程度、加重は2〜3Kg/cm2程度で実施す
る。
より図2に示すように集合電極端子X1(X2)下部の
ガラス基板11内にも深さch100〜200μm程度
のメディアンクラックC1が入ることが観察された。
ラインSLを中心にして、ガラス基板11の外縁部を下
方向に加圧すると、当該スクライブラインSLに沿って
単一電極端子Y1,Y2,Y3(Y4,Y5,Y6)と
集合電極端子X1(X2)を含むガラス基板11が簡単
(容易)に切断され、その結果、試験用電極端子XT
(YT)を分離する。このとき集合電極端子および単一
電極端子に剥離等の障害は発生しない。
て、所定間隔で開孔する形状は四角形に限られず、丸、
三角や十字を用いても同様な効果が期待できる。
に係わるプラズマディスプレパネルの端子パターン構造
によれば、エージング或いはパターン検査が容易に行な
えるし、またエージング等の工程後における当該試験用
電極端子の切削に伴うガラス基板の分離を精度良く行う
ことができるので、製品不良を減少させる効果を奏す
る。
スプレイパネルの電極構成平面図である。
沿って切断した断面図である。
断面構造の一例を示す分解斜視図である。
プレイパネルの電極構成平面図である。
沿って切断した断面図である。
Y,Y11,Y12,Y13,Y21,Y22,Y23
は表示電極、 X1,X2は集合電極端子、 Y1,Y2,Y3,Y4,Y5,Y6は単一電極端子、 XT,YTは試験用電極端子
Claims (1)
- 【請求項1】放電空間を規定する一方のガラス基板(1
1)上にそれぞれ隣接して対となる複数の表示電極(X
11,X12,X13,X21,X22,X23)(Y
11,Y12,Y13,Y21,Y22,Y23)対を
備え、それら表示電極対の一方の表示電極の端子接続部
と他方の表示電極の端子接続部を前記基板(11)の一
方側と他方側の端部に振り分けて導出するとともに、隣
接する複数の一方の端子接続部を共通接続する島状の集
合電極端子(X1,X2)と、複数の他方の端子接続部
をそれぞれ個別接続する短冊状の単一電極端子(Y1,
Y2,Y3,Y4,Y5,Y6)とを設け、さらに前記
基板(11)の同じ側の端部に設けられた集合電極端子
(X1,X2)と複数の単一電極端子(Y1,Y2,Y
3,Y4,Y5,Y6)とを共通接続する島状の試験用
電極端子(XT,YT)を備えてなるプラズマディスプ
レイパネルの電極支持基板であって、エージング、電極
パターン検査の工程後において前記試験用電極端子(X
T,YT)と集合電極端子、単一電極端子の各電極端子
とを基板とともに分離するためのスクライブラインに沿
って前記集合電極端子(XT,YT)に点状の複数の非
電極形成部(K)を設けたことを特徴とするプラズマデ
ィスプレイパネルの電極支持基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34873592A JP3428052B2 (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | プラズマディスプレイパネルの電極支持基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34873592A JP3428052B2 (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | プラズマディスプレイパネルの電極支持基板 |
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Publication Number | Publication Date |
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JPH06203759A true JPH06203759A (ja) | 1994-07-22 |
JP3428052B2 JP3428052B2 (ja) | 2003-07-22 |
Family
ID=18399017
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34873592A Expired - Fee Related JP3428052B2 (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | プラズマディスプレイパネルの電極支持基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3428052B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100293698B1 (ko) * | 1998-05-13 | 2001-09-17 | 구자홍 | 플라즈마디스플레이패널의패턴검사기및그검사방법 |
KR100361801B1 (ko) * | 2000-03-13 | 2002-11-23 | 엘지전자 주식회사 | 플라즈마 디스플레이 패널 |
KR100778415B1 (ko) * | 2006-11-17 | 2007-11-22 | 삼성에스디아이 주식회사 | 플라즈마 디스플레이 패널 |
US7388330B2 (en) | 2003-11-26 | 2008-06-17 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Plasma display panel having electrode shorted segment with electrode void regions formed therein |
KR100863911B1 (ko) * | 2007-08-22 | 2008-10-17 | 삼성에스디아이 주식회사 | 플라즈마 디스플레이 패널 |
-
1992
- 1992-12-28 JP JP34873592A patent/JP3428052B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100293698B1 (ko) * | 1998-05-13 | 2001-09-17 | 구자홍 | 플라즈마디스플레이패널의패턴검사기및그검사방법 |
KR100361801B1 (ko) * | 2000-03-13 | 2002-11-23 | 엘지전자 주식회사 | 플라즈마 디스플레이 패널 |
US7388330B2 (en) | 2003-11-26 | 2008-06-17 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Plasma display panel having electrode shorted segment with electrode void regions formed therein |
KR100778415B1 (ko) * | 2006-11-17 | 2007-11-22 | 삼성에스디아이 주식회사 | 플라즈마 디스플레이 패널 |
KR100863911B1 (ko) * | 2007-08-22 | 2008-10-17 | 삼성에스디아이 주식회사 | 플라즈마 디스플레이 패널 |
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JP3428052B2 (ja) | 2003-07-22 |
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