JPH06196656A - ダイナミックram - Google Patents
ダイナミックramInfo
- Publication number
- JPH06196656A JPH06196656A JP4263348A JP26334892A JPH06196656A JP H06196656 A JPH06196656 A JP H06196656A JP 4263348 A JP4263348 A JP 4263348A JP 26334892 A JP26334892 A JP 26334892A JP H06196656 A JPH06196656 A JP H06196656A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- array
- sub
- replacement
- word line
- dynamic ram
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims abstract description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/78—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
- G11C29/80—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/78—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
- G11C29/80—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout
- G11C29/808—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout using a flexible replacement scheme
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/14—Word line organisation; Word line lay-out
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
Mにおいて、不良セルの置換を効率よく行う。 【構成】 不良セル置換用のセルを専用のサブアレイ
1、2に入れ、そのサブアレイを通常のサブアレイ10
より小さく作ることにより、2重ワード線方式において
置換する単位が大きくなったことによる面積オーバーヘ
ッドを減らす。
Description
いたダイナミックRAMの不良セルの置き換えに関す
る。
微細化の困難を解決するために2重ワード線方式をとり
いれている。このことは、1992シンポジウムオンV
LSIサーキット予稿(Sym.on VLSI Ci
rcuit Digest of Technical
Papers)PP112−113に述べられてい
る。2重ワード線方式を用いたダイナミックRAMの構
成図を図2に示す。
ド線20に対し4本のサブワード線22が走る。
は、各サブアレイ毎に冗長セルを入れていた。(図3)
これは、ジャーナルオブソリッドステートサーキット
(Jour.of Solid State Circ
uits)VOL.26 PP12−17(JAN.1
991)に述べられている。しかし、従来の冗長方式で
は、各サブアレイ毎の不良箇所の数が同じではないので
置換セルがすべて使われることはほとんどなかった。
ド線1組分(サブワード線4本分)を一度に置換する必
要があり、通常のダイナミックRAMのサブアレイ当た
りのワード線本数512本に対して無視できない数とな
ってきた。サブアレイ当たりのワード線本数が512
本、サブアレイが32行ある16Mbit DRAMの
場合、置換メインワード線を、サブアレイ当たり4本入
れると、一つのサブアレイ当たりのサブワード線は16
本なので、16×32=512本のサブワード線が存在
することになる。
クRAMの冗長方式では、置換セルが各サブアレイに入
っているため、また、2重ワード線方式のDRAMでは
一度に置換するセルの単位ば大きくなるため、チップの
面積が大きくなってしまうという問題があった。しか
も、各サブアレイに含まれる不良の数は一定でないので
ほとんどの置換セルは使われないという問題もあった。
AMでは、置換用のセルのみが入り、通常のサブアレイ
より小さいサブアレイを備えている。
る。
セルアレイの端のセンスアンプ列とリタンダンシセンス
アンプ列3の間に位置する。このリダンシサブアレイ1
にはメインワード線が8組程度入っている。通常のサブ
アレイ10では512/4=128組のメインワード線
が入っている。リダンシサブアレイ1に含まれるセルの
数が通常のサブアレイ10のそれよりずっと少ないので
大きさもずっと小さい。この8組はどのサブアレイに対
しても置換できる。又、各組には4本のワード線が含ま
れており、それぞれを独立に置換すると合計8×4=3
2箇所の不良箇所が置換できる。
と、ビット線(図1の27)が短くなり、従ってビット
線の容量に対するセルの容量の比が通常のサブアレイよ
り大きくなり、置換セルの動作マージンが通常のセルよ
り増す。すると、置換したところが、同様に不良であっ
たという確率は減る。
ルと被置換セルの両方をセンス動作させ、データとり出
し時に切り替えるとよい。そのとき、本発明のように置
換セル用のサブアレイを小さく必要最小限にしておくこ
とで消費電流のオーバーヘッドを抑えることができる。
ト線方向でも同様のことが言える。
を別のサブアレイにまとめたので行及び列の置換単位を
大きくしても面積の増加がおさえられる。また、置換用
サブアレイを通常のサブアレイより小さくしたので、置
換先のセルの不良を少なくでき、置換アドレスをアクセ
スしたときの電流の増加が少ない。さらに、置換用セル
をキップの中心にもってこれるので置換アドレスをアク
セスしたときのアクセス遅れが少ない。
Claims (2)
- 【請求項1】 2重ワード線方式を用いたダイナミック
RAMにおいて、不良セル置換用のセルを専用のサブア
レイに入れ、そのサブアレイを通常のサブアレイより小
さく作ることを特徴とするダイナミックRAM。 - 【請求項2】 行方向の置換は、メインワード線単位で
行うことを特徴とする請求項1に記載のダイナミックR
AM。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4263348A JPH0831573B2 (ja) | 1992-10-01 | 1992-10-01 | ダイナミックram |
US08/129,854 US5414660A (en) | 1992-10-01 | 1993-09-30 | Double word line type dynamic RAM having redundant sub-array of cells |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4263348A JPH0831573B2 (ja) | 1992-10-01 | 1992-10-01 | ダイナミックram |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06196656A true JPH06196656A (ja) | 1994-07-15 |
JPH0831573B2 JPH0831573B2 (ja) | 1996-03-27 |
Family
ID=17388228
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4263348A Expired - Lifetime JPH0831573B2 (ja) | 1992-10-01 | 1992-10-01 | ダイナミックram |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5414660A (ja) |
JP (1) | JPH0831573B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
USRE38944E1 (en) | 1994-12-20 | 2006-01-24 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor memory |
US7239548B2 (en) | 2004-12-24 | 2007-07-03 | Spansion Llc | Method and apparatus for applying bias to a storage device |
JP2007280611A (ja) * | 2007-08-02 | 2007-10-25 | Hitachi Ltd | 半導体装置 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5640361A (en) * | 1996-05-01 | 1997-06-17 | Hewlett-Packard Company | Memory architecture |
US5996096A (en) * | 1996-11-15 | 1999-11-30 | International Business Machines Corporation | Dynamic redundancy for random access memory assemblies |
JP3688443B2 (ja) * | 1997-08-28 | 2005-08-31 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
US6469947B2 (en) | 1999-06-29 | 2002-10-22 | Hyundai Electronics Co., Ltd. | Semiconductor memory device having regions with independent word lines alternately selected for refresh operation |
KR100361863B1 (ko) | 1999-06-29 | 2002-11-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
US6898110B2 (en) * | 2001-01-31 | 2005-05-24 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit device |
KR100443507B1 (ko) * | 2001-11-30 | 2004-08-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | 임베디드 디램의 리던던시 회로 |
US20080291760A1 (en) * | 2007-05-23 | 2008-11-27 | Micron Technology, Inc. | Sub-array architecture memory devices and related systems and methods |
US11664086B2 (en) * | 2021-07-14 | 2023-05-30 | Arm Limited | Column redundancy techniques |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02125660A (ja) * | 1988-11-04 | 1990-05-14 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63220500A (ja) * | 1987-03-09 | 1988-09-13 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置の冗長回路 |
US5265055A (en) * | 1988-10-07 | 1993-11-23 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor memory having redundancy circuit |
US5289417A (en) * | 1989-05-09 | 1994-02-22 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device with redundancy circuit |
EP0411626B1 (en) * | 1989-08-04 | 1995-10-25 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory device having a redundancy |
US5126973A (en) * | 1990-02-14 | 1992-06-30 | Texas Instruments Incorporated | Redundancy scheme for eliminating defects in a memory device |
JP3001252B2 (ja) * | 1990-11-16 | 2000-01-24 | 株式会社日立製作所 | 半導体メモリ |
JP2730375B2 (ja) * | 1992-01-31 | 1998-03-25 | 日本電気株式会社 | 半導体メモリ |
US5262994A (en) * | 1992-01-31 | 1993-11-16 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Semiconductor memory with a multiplexer for selecting an output for a redundant memory access |
US5257229A (en) * | 1992-01-31 | 1993-10-26 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Column redundancy architecture for a read/write memory |
JP2501993B2 (ja) * | 1992-02-24 | 1996-05-29 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
-
1992
- 1992-10-01 JP JP4263348A patent/JPH0831573B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1993
- 1993-09-30 US US08/129,854 patent/US5414660A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02125660A (ja) * | 1988-11-04 | 1990-05-14 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
USRE38944E1 (en) | 1994-12-20 | 2006-01-24 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor memory |
USRE40356E1 (en) | 1994-12-20 | 2008-06-03 | Hitachi, Ltd. | Large-capacity semiconductor memory with improved layout for sub-amplifiers to increase operational speed |
USRE41379E1 (en) | 1994-12-20 | 2010-06-15 | Rising Silicon, Inc. | Large-Capacity semiconductor memory with improved layout for sub-amplifiers to increase operational speed |
USRE42659E1 (en) | 1994-12-20 | 2011-08-30 | Tsugio Takahashi | Large-capacity semiconductor memory with improved layout for sub-amplifiers to increase speed |
US7239548B2 (en) | 2004-12-24 | 2007-07-03 | Spansion Llc | Method and apparatus for applying bias to a storage device |
JP2007280611A (ja) * | 2007-08-02 | 2007-10-25 | Hitachi Ltd | 半導体装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5414660A (en) | 1995-05-09 |
JPH0831573B2 (ja) | 1996-03-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3135795B2 (ja) | ダイナミック型メモリ | |
US6862229B2 (en) | Physically alternating sense amplifier activation | |
JP3421441B2 (ja) | ダイナミック型メモリ | |
EP0678872B1 (en) | Semiconductor memory device | |
US8477556B2 (en) | Memory architecture having multiple partial wordline drivers and contacted and feed-through bitlines | |
EP0771006A3 (en) | Semiconductor memory | |
JPH06196656A (ja) | ダイナミックram | |
US7359252B2 (en) | Memory data bus structure and method of transferring information with plural memory banks | |
US5263002A (en) | Semiconductor memory device and its topography | |
US5940315A (en) | Strapped wordline architecture for semiconductor memory | |
JPH0772991B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP2000222898A (ja) | 半導体メモリおよび半導体メモリの歩留りを向上させる方法 | |
EP0905703B1 (en) | Semiconductor memory having space-efficient layout | |
US5142492A (en) | Semiconductor memory device | |
US6618299B2 (en) | Semiconductor memory device with redundancy | |
JPH0676594A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP3230795B2 (ja) | 読み出し専用半導体記憶装置 | |
EP0079220A2 (en) | Semiconductor memory devices | |
EP0913831B1 (en) | Space-efficient master data line (MDQ) switch placement | |
JP3003613B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP3222545B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP3278646B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPS6386186A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP2515029B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP2880835B2 (ja) | 半導体記憶装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19961029 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080327 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090327 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090327 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100327 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100327 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110327 Year of fee payment: 15 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110327 Year of fee payment: 15 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120327 Year of fee payment: 16 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120327 Year of fee payment: 16 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130327 Year of fee payment: 17 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130327 Year of fee payment: 17 |