JPH06195701A - 磁気ディスク及びその製造方法 - Google Patents

磁気ディスク及びその製造方法

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JPH06195701A
JPH06195701A JP34778292A JP34778292A JPH06195701A JP H06195701 A JPH06195701 A JP H06195701A JP 34778292 A JP34778292 A JP 34778292A JP 34778292 A JP34778292 A JP 34778292A JP H06195701 A JPH06195701 A JP H06195701A
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JP
Japan
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magnetic disk
substrate
magnetic
abrasive grain
texture processing
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JP34778292A
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Inventor
Koichi Nakamura
浩一 中村
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 磁気ディスクドライブ装置の磁気ディスクに
おいて、記録容量の高密度化に伴う磁気ヘッドの低浮上
化においても浮上特性、CSS特性、吸着特性が低化し
ないようにすることを目的とする。 【構成】 テクスチャー加工を施した基板7の表面に均
一な高さの突起物と、突起物10の先端部に多数の微細
突起11を形設した構成により、磁気ディスクの表面形
状が磁気ヘッドによって変化することがなく、磁気ヘッ
ドの低浮上化においても十分満足できる諸特性を有し、
磁気ディスクと磁気ヘッドとの接触面積が小さくなり優
れた吸着特性を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、高密度記録特性の優れ
た磁気ディスク及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】コンピュータ等の記憶手段として、ラン
ダムアクセス可能な円盤状の磁気ディスクが、使用され
ている。
【0003】磁気ディスクの基板としては、アルミニュ
ーム合金基板、ガラス基板、または、プラスチック基板
等が一般的に考えられているが、実用的にはアルミニュ
ーム合金基板が主流となっている。
【0004】以下に従来の磁気ディスクについて説明す
る。図9に示すように、アルミニューム合金基板1に無
電解メッキ法で20μm程度の厚みのNi−P膜で非磁
性膜2を形成し、ディスク表面を鏡面に仕上げるため
に、ポリッシュ加工を行い、さらにディスク表面に突起
物を形成するためにテクスチャー加工した後、Cr膜
3、磁性膜4、保護膜5、潤滑膜6を順次積層した構成
である。
【0005】テクスチャー加工は、磁気ディスクの吸着
を軽減させると共に磁気ディスクの磁性膜の磁気異方性
を円周方向に付与させる効果があり、電磁変換特性、浮
上特性、CSS特性、吸着特性に優れた磁気ディスクに
できる(例えば、特開平3−16024号公報,特開平
4−95221号公報参照)。
【0006】磁気ディスクドライブ装置で一般に採用さ
れているCSS方式では、磁気ヘッド・磁気ディスク間
に静止(接触)・摺動・浮上の三つの状態が生じる。す
なわち、磁気ディスクの停止時には磁気ヘッドは、磁気
ディスク上に接触停止しており、磁気ディスクの低速回
転中には、磁気ヘッド・磁気ディスクは、接触・摺動を
し、磁気ディスクの定常回転中には、磁気ディスク上に
非接触で浮上量0.2〜0.5μmで浮上している。しか
し、CSS方式では、磁気ヘッドと磁気ディスクの接触
・摺動・浮上が繰り返し行われることから、磁気ヘッド
・磁気ディスク間の摩擦係数が大きくなり、磁気ディス
クあるいは磁気ヘッドが破損するいわゆるヘッド・クラ
ッシュを起こすことがある。そのため、磁気ディスクの
表面に固体潤滑剤または、液体潤滑剤を被覆するなどの
対策処置がなされている。
【0007】しかし、磁気ディスクに潤滑剤を塗布する
ことにより、磁気ヘッドと磁気ディスク間に強い吸着現
象を引き起こすことがあり、この吸着現象は、磁気ディ
スクドライブ装置のスタート時に磁気ヘッド及び磁気ヘ
ッドの支持体であるフレクシャーに強い負荷を与え、磁
気ヘッドやフレクシャーに損傷を引き起こしたり、また
は、磁気ディスクの表面に強いスクラッチ傷を発生させ
たりするので、CSSを繰り返しても摩擦・摩耗が生じ
ない程度に磁気ディスクの表面に潤滑剤を薄く塗布し、
かつ吸着現象が生じないように磁気ディスクの表面粗さ
を粗くするテクスチャー加工が必要とされている。
【0008】従来のテクスチャー加工法は、図10に示
すように、ポリッシュ加工した基板7を矢印Aで示した
方向に回転させながらアルミナ砥粒研磨テープまたはダ
イヤモンド微粒子の研磨砥粒を吹き付けた研磨布8を基
板7に押しつけて、矢印Bで示した方向に走行させる1
回のテクスチャー加工で磁気ヘッドの走行方向に一致す
る円周方向に沿った同心円状のテクスチャーラインを形
成する。
【0009】テクスチャー加工された基板7の表面状態
は、図11に示すように、Raは8nm〜15nmで、
基板7の表面の突起物9の高さが不均一である。このた
め従来の磁気ディスクでは、磁気ヘッドと突起物9の高
さの不均一な磁気ディスクの表面との間に局部的な接触
が生じ、磁気ヘッドに損傷を引き起こすか、または、磁
気ディスクの表面にスクラッチ傷を発生させ、磁気ヘッ
ドの低浮上化における浮上特性、CSS特性が不十分で
あった。
【0010】また、磁気ディスクドライブ装置の記録容
量をさらに高めることが要求され、その方法として、下
記の方法がある。 1) 磁気ディスクの磁性膜層の膜厚を薄くする方法 2) 磁気ディスクの磁性膜層の保磁力Hcを大きくす
る方法 3) 磁気ヘッドのギャップ長を小さくする方法 4) 磁気ヘッドの浮上量を低減する方法 これらによって磁気ヘッドの浮上量は、低浮上化が進
み、磁気ヘッドの浮上量は、0.2μmから0.1μmへと
徐々に低くなりつつある。
【0011】図12に示すように、磁気ヘッドの浮上量
を変化させたとき、CSS試験における動摩擦係数μの
変化は、磁気ヘッドの浮上量が、低くなるにしたがって
動摩擦係数μが急激に上昇しCSS特性が劣化する。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】上述のように従来の構
成では磁気ヘッドの浮上量が0.1μmという低浮上化で
CSS試験を行った場合、磁気ヘッドの摺動時間と距離
が増加し、磁気ディスクの表面が摩耗され磁気ディスク
の表面形状が変化すると共に磁気ディスク上に生じた摩
耗粉が磁気ヘッドに付着することによってヘッド・クラ
ッシュが生じてしまうという問題点を有していた。
【0013】本発明は、上記従来の問題点を解決するも
ので、磁気ヘッドの浮上量が0.1μmの低浮上量におい
てもCSS特性が劣化せず、しかも浮上特性及び吸着特
性の良い磁気ディスク及びその製造方法を提供すること
を目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の磁気ディスク及びその製造方法は、テクスチ
ャー加工を施した基板上に記憶媒体となる磁性膜及び保
護膜を形設した磁気ディスクであって、磁気ディスクの
基板の表面に均一な高さの突起物と、突起物の先端部に
微細突起を形設した構成、およびはじめに砥粒の粒径の
粗いアルミナ砥粒研磨テープもしくはダイヤモンド粒子
の研磨布を用いてテクスチャー加工し、ついで砥粒の粒
径の細かいアルミナ砥粒研磨テープもしくはダイヤモン
ド粒子の研磨布を用いてテクスチャー加工する方法、ま
たは砥粒の粒径の異なる2種類のアルミナ砥粒研磨テー
プもしくはダイヤモンド粒子の研磨布を同時に用いてテ
クスチャー加工する方法、またははじめに砥粒の粒径の
粗いアルミナ砥粒研磨テープを用いてテクスチャー加工
し、ついで砥粒の粒径の細かいダイヤモンド粒子の研磨
布を用いてテクスチャー加工する方法としたものであ
る。
【0015】
【作用】この構成および方法において、磁気ディスク
は、突起物の先端形状が均一であるので、磁気ディスク
の表面形状が、磁気ヘッドによって変化することがなく
磁気ヘッドの浮上量が0.1μmという低浮上化において
も十分満足できる浮上特性、CSS特性を有し、かつ、
突起物上に多数の微細突起があるので磁気ディスクと磁
気ヘッドとの接触面積が小さくなり優れた吸着特性を有
することとなる。
【0016】
【実施例】
(実施例1)以下、請求項1記載の本発明の実施例につ
いて説明する。
【0017】前述の従来例で説明したようにアルミニウ
ム基板にNi−P膜を形成し、ポリッシュ加工した基板
を以下に述べる実施例2ないし実施例6のいずれかの方
法でテクスチャー加工した本実施例の磁気ディスクの基
板の表面状態は、図1に示すように、基板7はRaが2
nm〜8nmと小さくかつ均一な高さの突起物10と、
その突起物10上に多数の微細突起11を有している。
この基板に前述図8で説明したように、Cr膜3、磁性
膜4、保護膜5、潤滑膜6を順次積層した構成の磁気デ
ィスクである。
【0018】本実施例の磁気ディスクについての浮上特
性評価、CSS試験、吸着試験の結果について説明す
る。
【0019】浮上特性評価は、浮上量0.1μmの磁気ヘ
ッドのグライド保証となる浮上量0.06μmでのAE
(Acoustic.Emission)出力電圧にて
評価した。グライド保証とは、磁気ヘッドの浮上量に対
してその60〜80%の浮上量を保証することである。
AE出力電圧の測定は、図2に示すように、磁気ヘッド
12の支持部であるフレクシャー13の固定部14にA
E素子15を取り付けることにより、磁気ディスク16
上の磁気ヘッド12が受ける衝撃力をAE素子15が電
圧に変換したものを測定し、ノイズレベルの2倍以上に
なる出力電圧の回数(N)をカウントすることで磁気ヘ
ッド12と磁気ディスク16の接触回数を評価するもの
である。
【0020】本実施例の磁気ディスクの出力電圧の回数
(N)と従来の磁気ディスクの出力電圧の回数(N)を
図3に比較して示している。図3からわかるように本実
施例の磁気ディスクは表面に異常突起物がなく、又突起
物の高さが均一となっているので、磁気ヘッド12と磁
気ディスク16との接触が生じないが、従来の磁気ディ
スクは表面に多数の異常突起物があり、磁気ヘッド12
と磁気ディスク16との接触回数が多く、浮上特性が劣
化すると考えられる。
【0021】また、CSS試験は、浮上量0.1μmの磁
気ヘッドを使用して測定し、測定条件は、半径25〜3
0mm,回転数3600rpmで、コンタクト・スター
ト・ストップを2万回行い、その後の動摩擦係数μの値
を測定するものである。
【0022】本実施例の磁気ディスクの動摩擦係数μと
従来の磁気ディスクの動摩擦係数μを図4に比較して示
している。この図4からわかるように、従来の磁気ディ
スクは、CSS2万回後の動摩擦係数μの値が、0.7以
上となり、磁気ヘッド浮上量0.1μmの低浮上量では、
満足するCSS特性が得られない。これに対し本実施例
の磁気ディスクは、CSS2万回後の動摩擦係数μの値
が、0.3以下となり、磁気ヘッドの浮上量が0.1μmの
低浮上量においても十分満足できるCSS特性が得られ
る。
【0023】また、吸着試験は、恒温槽を用い高温高湿
(温度60℃、湿度80%)で24時間放置し、その
後、静止摩擦係数の上昇量δμsを測定するものであ
る。使用したヘッドは、フェライトモノリシックミニス
ライダーで、測定半径は45mmである。
【0024】本実施例の磁気ディスクの上昇量δμsと
従来の磁気ディスクの上昇量δμsを図5に比較して示
している。この図5からわかるように、従来の磁気ディ
スクの静止摩擦係数の上昇量δμsは、0.05以上と高
い吸着量を示しているが、本実施例の磁気ディスクの上
昇量δμsは0であり、磁気ヘッドと磁気ディスクが、
全く吸着しなかった。
【0025】以上のように本実施例によれば、磁気ディ
スクの表面の突起物10の高さが均一でしかも、Raが
2nm〜8nmと小さいことにより、磁気ヘッドの浮上
量が0.1μmの低浮上化における浮上特性、CSS特性
を大巾に改善することができ、また、突起物10の上に
多数の微細突起11が形設されていることにより、磁気
ディスクと磁気ヘッドとの接触面積が小さくなり、磁気
ディスクの表面粗さが小さくても吸着特性を満足するこ
とができ、磁気ディスクの耐久性が向上し信頼性を高く
できる。
【0026】(実施例2)以下請求項2記載の発明の実
施例について、図面を参照しながら説明する。
【0027】図6に示すように、アルミニウム基板上
に、無電解メッキ法でNi−P膜を20μm程度の厚み
に施した後、ポリッシュ加工により表面を鏡面にした基
板17を所定の回転数で矢印Aで示した方向に回転させ
ながら、#4000のアルミナ砥粒研磨テープ18を矢
印Bで示した方向に走行し、かつ一定圧力で基板17に
押し付けることで粗さRaが4nm〜8nmの突起物を
形成し、ついで#8000のアルミナ砥粒研磨テープ1
9を矢印Cで示した方向に走行し、かつ一定圧力で基板
17に押し付けることで突起物上に微細突起を形成す
る。その後、超精密洗浄装置により完全に基板17の表
面から加工塵を除去し、基板17上にスパッタリング法
によりCr下地膜を20nmの厚さに形成し、さらにC
o−Ni−Crの合金を用いて厚さ60nmの磁性膜を
形成し、カーボンをスパッタリングさせ厚さ30nmの
カーボン保護膜を形成し、その上に潤滑剤を塗布するこ
とにより磁気ディスクを作製する。
【0028】この方法によれば、実施例1で説明した表
面に均一な高さの突起物とその突起物の先端部に微細突
起を備えた磁気ディスクを製造することができる。
【0029】(実施例3)以下請求項3記載の発明の実
施例について説明する。
【0030】本実施例の特徴とするところは、前述実施
例2の方法で使用した#4000のアルミナ砥粒研磨テ
ープ18に代えて#4000の粒度のダイヤモンド微粒
子の研磨砥粒を吹き付けた研磨布を用い、かつ#800
0のアルミナ砥粒研磨テープ19に代えて#8000の
粒度のダイヤモンド微粒子の研磨砥粒を吹き付けた研磨
布を用いた点である。
【0031】この方法により、実施例2で説明したと同
様の磁気ディスクを製造することができる。
【0032】(実施例4)以下請求項4記載の発明の実
施例について、図面を参照しながら説明する。
【0033】図7に示すように、アルミニウム基板上
に、無電解メッキ法でNi−P膜を20μm程度の厚み
に施した後、ポリッシュ加工により表面を鏡面にした基
板を所定の回転数で矢印Aで示した方向に回転させなが
ら、#4000のアルミナ砥粒研磨テープ20と#80
00のアルミナ砥粒研磨テープ21をそれぞれ矢印Bお
よびCで示した方向に走行し、かつ同時に一定圧力で基
板17に押し付けることで#4000のアルミナ砥粒研
磨テープ20により粗さRaが4nm〜8nmの突起物
を形成し、#8000のアルミナ砥粒研磨テープ21に
より突起物上に微細突起を形成する。その後、超精密洗
浄装置により完全に基板17の表面から加工塵を除去
し、基板17上にスパッタリング法によりCr下地膜を
20nmの厚さに形成し、さらにCo−Ni−Crの合
金を用いて厚さ60nmの磁性膜を形成し、カーボンを
スパッタリングさせ厚さ30nmのカーボン保護膜を形
成し、その上に潤滑剤を塗布することにより磁気ディス
クを作製する。
【0034】この方法により、実施例2で説明したと同
様の磁気ディスクを製造することができる。
【0035】(実施例5)以下請求項5記載の発明の実
施例について説明する。
【0036】本実施例の特徴とするところは、前述実施
例4の方法で使用した#4000のアルミナ砥粒研磨テ
ープ20に代えて#4000の粒度のダイヤモンド微粒
子の研磨砥粒を吹き付けた研磨布を用い、かつ#800
0のアルミナ砥粒研磨テープ21に代えて#8000の
粒度のダイヤモンド微粒子の研磨砥粒を吹き付けた研磨
布を用いた点である。
【0037】この方法により、実施例2で説明したと同
様の磁気ディスクを製造することができる。
【0038】(実施例6)以下請求項6記載の発明の実
施例について説明する。
【0039】図8に示すように、アルミニウム基板上
に、無電解メッキ法でNi−P膜を20μm程度の厚み
に施した後、ポリッシュ加工により表面を鏡面にした基
板17を所定の回転数で矢印Aで示した方向に回転させ
ながら、#4000のアルミナ砥粒研磨テープ22を矢
印Bで示した方向に走行し、かつ一定圧力で基板17に
押し付けることで粗さRaが4nm〜8nmの突起物を
形成し、ついで#8000の粒度のダイヤモンド微粒子
の研磨砥粒を吹き付けた研磨布23を矢印Cで示した方
向に走行し、かつ一定圧力で基板17に押し付けること
で突起物上に微細突起を形成する。その後、超精密洗浄
装置により完全に基板17の表面から加工塵を除去し、
基板17上にスパッタリング法によりCr下地膜を20
nmの厚さに形成し、さらにCo−Ni−Crの合金を
用いて厚さ60nmの磁性膜を形成し、カーボンをスパ
ッタリングさせ厚さ30nmのカーボン保護膜を形成
し、その上に潤滑剤を塗布することにより磁気ディスク
を作製する。
【0040】この方法により、実施例2で説明したと同
様の磁気ディスクを製造することができる。
【0041】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明は、テクスチャー加工を施した磁気ディスクの基板の
表面に均一な高さの突起物と、突起物の先端部に微細突
起を形設した構成、及びはじめに砥粒の粒径の粗いアル
ミナ砥粒研磨テープもしくはダイヤモンド粒子の研磨布
を用いてテクスチャー加工し、ついで砥粒の粒径の細か
いアルミナ砥粒研磨テープもしくはダイヤモンド粒子の
研磨布を 用いてテクスチャー加工する方法、または砥
粒の粒径の異なる2種類のアルミナ砥粒研磨テープもし
くはダイヤモンド粒子の研磨布を同時に用いてテクスチ
ャー加工する方法、またははじめに砥粒の粒径の粗いア
ルミナ砥粒研磨テープを用いてテクスチャー加工し、つ
いで砥粒の粒径の細かいダイヤモンド粒子の研磨布を用
いてテクスチャー加工する方法により、磁気ヘッドの浮
上量が0.1μmの低浮上量においてもCSS特性が劣化
せず、しかも浮上特性及び吸着特性の良い優れた磁気デ
ィスク及びその製造方法を実現できるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1の磁気ディスクの表面状態を
示す断面略図
【図2】磁気ディスクのAE出力電圧測定器の概念を示
す正面略図
【図3】本発明の実施例1の磁気ディスクと従来の磁気
ディスクとのAE出力のカウント数の測定値を比較して
示したグラフ
【図4】同上のCSS2万回後の動摩擦係数μの測定値
を比較して示したグラフ
【図5】同上の静止摩擦係数の上昇量δμsの測定値を
比較して示したグラフ
【図6】本発明の実施例2の磁気ディスクの製造方法の
テクスチャー加工の概念を示す平面略図
【図7】本発明の実施例4の磁気ディスクの製造方法の
テクスチャー加工の概念を示す平面略図
【図8】本発明の実施例6の磁気ディスクの製造方法の
テクスチャー加工の概念を示す平面略図
【図9】本発明の実施例1および従来の磁気ディスクの
要部断面略図
【図10】従来の磁気ディスクの製造方法のテクスチャ
ー加工の概念を示す平面略図
【図11】従来の磁気ディスクの表面状態を示す断面略
【図12】従来の磁気ディスクの磁気ヘッドの浮上量と
動摩擦係数μの関係を示すグラフ
【符号の説明】
7 基板 10 突起物 11 微細突起

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】テクスチャー加工を施した基板上に記憶媒
    体となる磁性膜及び保護膜を形設した磁気ディスクであ
    って、前記磁気ディスクの表面に均一な高さの突起物
    と、前記突起物の先端部に微細突起を形設したことを特
    徴とした磁気ディスク。
  2. 【請求項2】はじめに砥粒の粒径の粗いアルミナ砥粒研
    磨テープを一定圧力で基板に押し付けてテクスチャー加
    工を行い、ついで砥粒の粒径の細かいアルミナ砥粒研磨
    テープを用いて同様にテクスチャー加工を行うことを特
    徴とした請求項1記載の磁気ディスクの製造方法。
  3. 【請求項3】はじめに砥粒の粒径の粗いダイヤモンド粒
    子を有する研磨布を一定圧力で基板に押し付けてテクス
    チャー加工を行い、ついで砥粒の粒径の細かいダイヤモ
    ンド粒子を有する研磨布を用いて同様にテクスチャー加
    工を行うことを特徴とした請求項1記載の磁気ディスク
    の製造方法。
  4. 【請求項4】砥粒の粒径が異なる2種類のアルミナ砥粒
    研磨テープを同時に一定圧力で基板に押し付けてテクス
    チャー加工を行うことを特徴とした請求項1記載の磁気
    ディスクの製造方法。
  5. 【請求項5】砥粒の粒径が異なる2種類のダイヤモンド
    粒子を有する研磨布を同時に一定圧力で基板に押し付け
    てテクスチャー加工を行うことを特徴とした請求項1記
    載の磁気ディスクの製造方法。
  6. 【請求項6】はじめに砥粒の粒径の粗いアルミナ砥粒研
    磨テープを一定圧力で基板に押し付けてテクスチャー加
    工を行い、ついで砥粒の粒径の細かいダイヤモンド粒子
    を有する研磨布を用いて同様にテクスチャー加工を行う
    ことを特徴とした請求項1記載の磁気ディスクの製造方
    法。
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