JPH0618364A - レンズ測定装置 - Google Patents
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- JPH0618364A JPH0618364A JP4197521A JP19752192A JPH0618364A JP H0618364 A JPH0618364 A JP H0618364A JP 4197521 A JP4197521 A JP 4197521A JP 19752192 A JP19752192 A JP 19752192A JP H0618364 A JPH0618364 A JP H0618364A
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- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 屈折測定及び曲率半径の測定が短時間にでき
ると共に、コスト的にも有利なレンズ特性測定装置を提
供する。 【構成】 被検レンズに第１測定用指標を投影する第１
投影手段と、被検レンズの屈折力により偏位した測定用
指標を光電的に検出する第１検出手段と、該第１検出手
段の検出結果に基づいて被検レンズの屈折度数を演算す
る屈折度数演算手段と、曲率半径測定用の第２測定用指
標を被検レンズの凹面に投影する第２投影手段と、該第
２測定用指標の凹面反射による反射像を光電的に検出す
る第２検出手段と、該第２検出手段の検出結果に基づい
て曲率半径を演算する曲率半径演算手段とを有する。
ると共に、コスト的にも有利なレンズ特性測定装置を提
供する。 【構成】 被検レンズに第１測定用指標を投影する第１
投影手段と、被検レンズの屈折力により偏位した測定用
指標を光電的に検出する第１検出手段と、該第１検出手
段の検出結果に基づいて被検レンズの屈折度数を演算す
る屈折度数演算手段と、曲率半径測定用の第２測定用指
標を被検レンズの凹面に投影する第２投影手段と、該第
２測定用指標の凹面反射による反射像を光電的に検出す
る第２検出手段と、該第２検出手段の検出結果に基づい
て曲率半径を演算する曲率半径演算手段とを有する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レンズの光学特性を測
定するレンズ特性測定装置に係り、殊にコンタクトレン
ズの曲率半径と屈折力の測定に好適な装置に関する。
定するレンズ特性測定装置に係り、殊にコンタクトレン
ズの曲率半径と屈折力の測定に好適な装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】コンタクトレンズの選定要素として、屈
折力と後面の曲率半径がある。従来、屈折測定にはレン
ズメ−タ、曲率半径の測定にはいわゆるラジアスゲ−
ジ、という全く別個の装置によってそれぞれ測定されて
いた。
折力と後面の曲率半径がある。従来、屈折測定にはレン
ズメ−タ、曲率半径の測定にはいわゆるラジアスゲ−
ジ、という全く別個の装置によってそれぞれ測定されて
いた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、２機種
の装置を用意し使い分けなければならないというのは、
測定に時間がかかるばかりでなく、コスト的にも高価に
なってしまうという欠点があった。本発明は、上記欠点
に鑑み案出されたもので、屈折測定及び曲率半径の測定
が短時間にできると共に、コスト的にも有利なレンズ特
性測定装置を提供することを技術課題とする。
の装置を用意し使い分けなければならないというのは、
測定に時間がかかるばかりでなく、コスト的にも高価に
なってしまうという欠点があった。本発明は、上記欠点
に鑑み案出されたもので、屈折測定及び曲率半径の測定
が短時間にできると共に、コスト的にも有利なレンズ特
性測定装置を提供することを技術課題とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明のレンズ測定装置は次のような構成を有する
ことを特徴とする。 （１） 被検レンズに第１測定用指標を投影する第１投
影手段と、被検レンズの屈折力により偏位した測定用指
標を光電的に検出する第１検出手段と、該第１検出手段
の検出結果に基づいて被検レンズの屈折度数を演算する
屈折度数演算手段と、曲率半径測定用の第２測定用指標
を被検レンズの凹面に投影する第２投影手段と、該第２
測定用指標の凹面反射による反射像を光電的に検出する
第２検出手段と、該第２検出手段の検出結果に基づいて
曲率半径を演算する曲率半径演算手段とを有する。
に、本発明のレンズ測定装置は次のような構成を有する
ことを特徴とする。 （１） 被検レンズに第１測定用指標を投影する第１投
影手段と、被検レンズの屈折力により偏位した測定用指
標を光電的に検出する第１検出手段と、該第１検出手段
の検出結果に基づいて被検レンズの屈折度数を演算する
屈折度数演算手段と、曲率半径測定用の第２測定用指標
を被検レンズの凹面に投影する第２投影手段と、該第２
測定用指標の凹面反射による反射像を光電的に検出する
第２検出手段と、該第２検出手段の検出結果に基づいて
曲率半径を演算する曲率半径演算手段とを有する。
【０００５】（２） （１）の第１検出手段の光電素子
は光軸方向に移動可能とされ、第２検出手段の光電素子
と共用される。
は光軸方向に移動可能とされ、第２検出手段の光電素子
と共用される。
【０００６】（３） （１）の第１検出手段の光学系は
反射部材を介して第２検出手段の光学系と同軸に配置さ
れている。
反射部材を介して第２検出手段の光学系と同軸に配置さ
れている。
【０００７】（４） （１）の第１投影手段の投影光束
の波長と第２投影手段の投影光の波長とを変えると共
に、波長分割部材を介して同時測定を可能にしている。
の波長と第２投影手段の投影光の波長とを変えると共
に、波長分割部材を介して同時測定を可能にしている。
【０００８】
【実施例１】本発明の１実施例を図面に基づいて詳細に
説明する。 ［構 成］図１は本実施例のレンズ特性測定装置の光学
系配置図である。 （屈折力測定系）１は測定光学系の光軸を示し、固定台
２に載置されたコンタクトレンズ３が測定光軸１上に置
かれる。コンタクトレンズ３の凸面側には、３つの点光
源４ａ，４ｂ，４ｃが光軸１に対し等距離に配置されて
いる（図２参照 なお、光源数は最低３点あれば測定可
能である）。また、光源４ａ，４ｂ，４ｃはレンズ５の
前側焦点位置に置かれ，光源４ａ，４ｂ，４ｃからの測
定光束は平行光束となる。６はスポット絞りであり、ス
ポット絞り６はレンズ５の後側焦点位置、かつレンズ７
の前側焦点位置に配置されている。レンズ７の後側焦点
位置がコンタクトレンズ３の頂点とほぼ一致するように
配置される。光源４ａ，４ｂ，４ｃを出射する光軸に平
行な測定光束は、スポット絞り６を通った後、コンタク
トレンズ３のほぼ頂点に光源像を形成する。８は結像レ
ンズ、９はビ−ムスプリッタ、１０は二次元ＣＣＤであ
る。二次元ＣＣＤ１０は結像レンズ８及びレンズ７に対
してスポット絞り６と共役に配置されている。
説明する。 ［構 成］図１は本実施例のレンズ特性測定装置の光学
系配置図である。 （屈折力測定系）１は測定光学系の光軸を示し、固定台
２に載置されたコンタクトレンズ３が測定光軸１上に置
かれる。コンタクトレンズ３の凸面側には、３つの点光
源４ａ，４ｂ，４ｃが光軸１に対し等距離に配置されて
いる（図２参照 なお、光源数は最低３点あれば測定可
能である）。また、光源４ａ，４ｂ，４ｃはレンズ５の
前側焦点位置に置かれ，光源４ａ，４ｂ，４ｃからの測
定光束は平行光束となる。６はスポット絞りであり、ス
ポット絞り６はレンズ５の後側焦点位置、かつレンズ７
の前側焦点位置に配置されている。レンズ７の後側焦点
位置がコンタクトレンズ３の頂点とほぼ一致するように
配置される。光源４ａ，４ｂ，４ｃを出射する光軸に平
行な測定光束は、スポット絞り６を通った後、コンタク
トレンズ３のほぼ頂点に光源像を形成する。８は結像レ
ンズ、９はビ−ムスプリッタ、１０は二次元ＣＣＤであ
る。二次元ＣＣＤ１０は結像レンズ８及びレンズ７に対
してスポット絞り６と共役に配置されている。
【０００９】（曲率半径測定系）コンタクトレンズ３の
凹面側には、３つの点光源１１ａ，１１ｂ，１１ｃが光
軸１に対し所定角度で等距離に配置されている。点光源
１１ａ，１１ｂ，１１ｃの出射光束はコリメ−タレンズ
１２により平行光束となりコンタクトレンズ３に向かう
が、投影光軸はコンタクトレンズ３からほぼ３．９mm
（平均的コンタクトレンズの曲率半径の焦点位置）の位
置Ｆを通る。１３は結像レンズ８の焦点位置に置かれて
いる絞りであり、テレセントリック絞りとなっている。
二次元ＣＣＤ１４は結像レンズ８に対してＦ点と共役と
なっている。
凹面側には、３つの点光源１１ａ，１１ｂ，１１ｃが光
軸１に対し所定角度で等距離に配置されている。点光源
１１ａ，１１ｂ，１１ｃの出射光束はコリメ−タレンズ
１２により平行光束となりコンタクトレンズ３に向かう
が、投影光軸はコンタクトレンズ３からほぼ３．９mm
（平均的コンタクトレンズの曲率半径の焦点位置）の位
置Ｆを通る。１３は結像レンズ８の焦点位置に置かれて
いる絞りであり、テレセントリック絞りとなっている。
二次元ＣＣＤ１４は結像レンズ８に対してＦ点と共役と
なっている。
【００１０】［動 作］以上の構成の装置において、以
下その動作を図３に基づいて説明する。 （屈折力測定）マイクロコンピュ−タ２０はＬＥＤ駆動
回路２１を介して点光源４ａ，４ｂ，４ｃを順次点灯さ
せる。点光源４ａ，４ｂ，４ｃは順次スポット絞り６を
照明し、スポット絞り６を通過した光束はビ−ムスプリ
ッタ９で反射した後、コンタクトレンズ２の屈折力が０
のときは、レンズ７及び結像レンズ８により光軸上の二
次元ＣＣＤ１０に結像する。コンタクトレンズ２に屈折
力があるときは、スポット絞り６の像はＣＣＤ１０上で
分離し、その屈折力によりその位置は決定される。二次
元ＣＣＤ１０上の像情報はＣＣＤ駆動回路２２により取
り出され、処理回路２３でその中心位置がデジタル信号
で得られる。このようにして得られた４点の位置からマ
イクロコンピュ−タ２０は球面度数、乱視度数、乱視
軸、プリズム度数を演算して求める。球面度数、乱視度
数、乱視軸、プリズム度数の演算方法は周知のものであ
り、本発明と同一出願人による特開昭６０−１７３３５
号（発明の名称「オ−トレンズメ−タ−」でも説明され
ているので、その記載を省略する。図示しない記憶スイ
ッチを押して、測定デ−タを記憶する。
下その動作を図３に基づいて説明する。 （屈折力測定）マイクロコンピュ−タ２０はＬＥＤ駆動
回路２１を介して点光源４ａ，４ｂ，４ｃを順次点灯さ
せる。点光源４ａ，４ｂ，４ｃは順次スポット絞り６を
照明し、スポット絞り６を通過した光束はビ−ムスプリ
ッタ９で反射した後、コンタクトレンズ２の屈折力が０
のときは、レンズ７及び結像レンズ８により光軸上の二
次元ＣＣＤ１０に結像する。コンタクトレンズ２に屈折
力があるときは、スポット絞り６の像はＣＣＤ１０上で
分離し、その屈折力によりその位置は決定される。二次
元ＣＣＤ１０上の像情報はＣＣＤ駆動回路２２により取
り出され、処理回路２３でその中心位置がデジタル信号
で得られる。このようにして得られた４点の位置からマ
イクロコンピュ−タ２０は球面度数、乱視度数、乱視
軸、プリズム度数を演算して求める。球面度数、乱視度
数、乱視軸、プリズム度数の演算方法は周知のものであ
り、本発明と同一出願人による特開昭６０−１７３３５
号（発明の名称「オ−トレンズメ−タ−」でも説明され
ているので、その記載を省略する。図示しない記憶スイ
ッチを押して、測定デ−タを記憶する。
【００１１】（曲率半径測定）測定デ−タが記憶される
と、マイクロコンピュ−タ２０は測定モ−ドを曲率半径
測定モ−ドに自動的に切換え、ＬＥＤ駆動回路２５を介
して点光源１１ａ，１１ｂ，１１ｃを順次（又は同時
に）点灯させる。コンタクトレンズ２の後面で反射した
光束は後面の曲率半径の１／２の位置（ほぼＦ点）に光
源１１の虚像ｉa,ｉb,ｉc を作る。虚像の光軸からの距
離は後面の曲率半径に対応する。結像レンズ８及び絞り
１３からなるテレセントリック光学系により、虚像ｉa
〜ｉc からの光束で光軸に平行な光束を測定光束の主光
線として取り出し、虚像ｉa,ｉb,ｉc の像の位置を二次
元ＣＣＤ１４で検出する。二次元ＣＣＤ１４で検出され
た信号はＣＣＤ駆動回路２６で取り出され、処理回路２
７により処理され像位置をデジタル信号で得る。このよ
うにして得られた虚像の位置に基づいて、マイクロコン
ピュ−タ２０はコンタクトレンズ２の後面の曲率半径を
測定する。曲率半径の演算方法は本発明と同一出願人が
出願した特開平３−２２２９３６号（発明の名称「角膜
形状測定装置」）による角膜曲率半径の演算方法と同様
であるのでその記載は省略する。なお、本実施例では、
点光源４ａと点光源１１ａの発光波長は同一又は近似し
たＬＥＤを使用するので、ビ−ムスプリッタ９を用いて
いるが、点光源４ａと点光源１１ａの発光波長を変える
とともに、ビ−ムスプリッタ９の代わりにダイクロイッ
クミラ−を用いたり、光路に波長分割フィルタを使用す
ることにより、屈折力測定と曲率半径測定を同時に測定
できる。
と、マイクロコンピュ−タ２０は測定モ−ドを曲率半径
測定モ−ドに自動的に切換え、ＬＥＤ駆動回路２５を介
して点光源１１ａ，１１ｂ，１１ｃを順次（又は同時
に）点灯させる。コンタクトレンズ２の後面で反射した
光束は後面の曲率半径の１／２の位置（ほぼＦ点）に光
源１１の虚像ｉa,ｉb,ｉc を作る。虚像の光軸からの距
離は後面の曲率半径に対応する。結像レンズ８及び絞り
１３からなるテレセントリック光学系により、虚像ｉa
〜ｉc からの光束で光軸に平行な光束を測定光束の主光
線として取り出し、虚像ｉa,ｉb,ｉc の像の位置を二次
元ＣＣＤ１４で検出する。二次元ＣＣＤ１４で検出され
た信号はＣＣＤ駆動回路２６で取り出され、処理回路２
７により処理され像位置をデジタル信号で得る。このよ
うにして得られた虚像の位置に基づいて、マイクロコン
ピュ−タ２０はコンタクトレンズ２の後面の曲率半径を
測定する。曲率半径の演算方法は本発明と同一出願人が
出願した特開平３−２２２９３６号（発明の名称「角膜
形状測定装置」）による角膜曲率半径の演算方法と同様
であるのでその記載は省略する。なお、本実施例では、
点光源４ａと点光源１１ａの発光波長は同一又は近似し
たＬＥＤを使用するので、ビ−ムスプリッタ９を用いて
いるが、点光源４ａと点光源１１ａの発光波長を変える
とともに、ビ−ムスプリッタ９の代わりにダイクロイッ
クミラ−を用いたり、光路に波長分割フィルタを使用す
ることにより、屈折力測定と曲率半径測定を同時に測定
できる。
【００１２】
【実施例２】実施例２は屈折力測定系と曲率半径測定系
の光検出器を共用する構成である。図４において実施例
１と同一の部材に対しては同一の符号を付している。図
示しないモ−ド切換スイッチ（又は実施例１のように自
動的に）により曲率半径測定モ−ドに切換えられた場
合、図示しないモ−タにより二次元ＣＣＤ１４を絞り６
と共役な位置まで光軸上を移動させるとともに、絞り１
３を光路外に移動する。このようにして、二次元ＣＣＤ
１４を両測定系に共用するとともに、ビ−ムスプリッタ
９を省略することができる。以上２つの実施例を説明し
たが、本発明は上記実施例に限らず、例えば光源はリン
グ状光源でも同様の効果が得られるし、光電素子は１次
元素子を複数使用して、２次元的測定をしても良い。ま
た、点光源４ａ〜４ｄ、スポット絞り６を十分小さくす
れば、スポット絞り６と検出素子を共役に置かなくても
精度の高い屈折力の測定が可能である。
の光検出器を共用する構成である。図４において実施例
１と同一の部材に対しては同一の符号を付している。図
示しないモ−ド切換スイッチ（又は実施例１のように自
動的に）により曲率半径測定モ−ドに切換えられた場
合、図示しないモ−タにより二次元ＣＣＤ１４を絞り６
と共役な位置まで光軸上を移動させるとともに、絞り１
３を光路外に移動する。このようにして、二次元ＣＣＤ
１４を両測定系に共用するとともに、ビ−ムスプリッタ
９を省略することができる。以上２つの実施例を説明し
たが、本発明は上記実施例に限らず、例えば光源はリン
グ状光源でも同様の効果が得られるし、光電素子は１次
元素子を複数使用して、２次元的測定をしても良い。ま
た、点光源４ａ〜４ｄ、スポット絞り６を十分小さくす
れば、スポット絞り６と検出素子を共役に置かなくても
精度の高い屈折力の測定が可能である。
【００１３】
【発明の効果】本発明によれば、レンズを所定の位置に
置くことにより、同時または間断を置かずにレンズの屈
折力測定と曲率半径の測定を行うことができるので、コ
スト面及び操作性において有用である。
置くことにより、同時または間断を置かずにレンズの屈
折力測定と曲率半径の測定を行うことができるので、コ
スト面及び操作性において有用である。
【図１】実施例１の装置の光学配置図である。
【図２】点光源４ａ，４ｂ，４ｃの配置を示す図であ
る。
る。
【図３】装置の動作を説明するブロック図である。
【図４】実施例２の装置の光学配置図である。
１ 光軸 ２ 固定台 ３ コンタクトレンズ ４ａ，４ｂ，４ｃ，１１ａ，１１ｂ，１１ｃ 点光源 ５，７，８，１２ レンズ ６ スポット絞り ９ ビ−ムスプリッタ １０，１４ 二次元ＣＣＤ
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成５年５月３１日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００８】
【実施例１】本発明の１実施例を図面に基づいて詳細に
説明する。 ［構 成］図１は本実施例のレンズ特性測定装置の光学
系配置図である。 （屈折力測定系）１は測定光学系の光軸を示し、固定台
２に載置されたコンタクトレンズ３が測定光軸１上に置
かれる。コンタクトレンズ３の凸面側には、４つの点光
源４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄが光軸１に対し等距離に配置
されている（図２参照 なお、光源数は最低３点あれば
測定可能である）。また、光源４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄ
はレンズ５の前側焦点位置に置かれ，光源４ａ，４ｂ，
４ｃ，４ｄからの測定光束は平行光束となる。６はスポ
ット絞りであり、スポット絞り６はレンズ５の後側焦点
位置、かつレンズ７の前側焦点位置に配置されている。
レンズ７の後側焦点位置がコンタクトレンズ３の頂点と
ほぼ一致するように配置される。光源４ａ，４ｂ，４
ｃ，４ｄを出射する光軸に平行な測定光束は、スポット
絞り６を通った後、コンタクトレンズ３のほぼ頂点に光
源像を形成する。８は結像レンズ、９はビ−ムスプリッ
タ、１０は二次元ＣＣＤである。二次元ＣＣＤ１０は結
像レンズ８及びレンズ７に対してスポット絞り６と共役
に配置されている。
説明する。 ［構 成］図１は本実施例のレンズ特性測定装置の光学
系配置図である。 （屈折力測定系）１は測定光学系の光軸を示し、固定台
２に載置されたコンタクトレンズ３が測定光軸１上に置
かれる。コンタクトレンズ３の凸面側には、４つの点光
源４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄが光軸１に対し等距離に配置
されている（図２参照 なお、光源数は最低３点あれば
測定可能である）。また、光源４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄ
はレンズ５の前側焦点位置に置かれ，光源４ａ，４ｂ，
４ｃ，４ｄからの測定光束は平行光束となる。６はスポ
ット絞りであり、スポット絞り６はレンズ５の後側焦点
位置、かつレンズ７の前側焦点位置に配置されている。
レンズ７の後側焦点位置がコンタクトレンズ３の頂点と
ほぼ一致するように配置される。光源４ａ，４ｂ，４
ｃ，４ｄを出射する光軸に平行な測定光束は、スポット
絞り６を通った後、コンタクトレンズ３のほぼ頂点に光
源像を形成する。８は結像レンズ、９はビ−ムスプリッ
タ、１０は二次元ＣＣＤである。二次元ＣＣＤ１０は結
像レンズ８及びレンズ７に対してスポット絞り６と共役
に配置されている。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００９】（曲率半径測定系）コンタクトレンズ３の
凹面側には、４つの点光源１１ａ，１１ｂ，１１ｃ，１
１ｄが光軸１に対し所定角度で等距離に配置されてい
る。点光源１１ａ，１１ｂ，１１ｃ，１１ｄの出射光束
はコリメ−タレンズ１２により平行光束となりコンタク
トレンズ３に向かうが、投影光軸はコンタクトレンズ３
からほぼ３．９mm（平均的コンタクトレンズの曲率半径
の焦点位置）の位置Ｆを通る。１３は結像レンズ８の焦
点位置に置かれている絞りであり、テレセントリック絞
りとなっている。二次元ＣＣＤ１４は結像レンズ８に対
してＦ点と共役となっている。
凹面側には、４つの点光源１１ａ，１１ｂ，１１ｃ，１
１ｄが光軸１に対し所定角度で等距離に配置されてい
る。点光源１１ａ，１１ｂ，１１ｃ，１１ｄの出射光束
はコリメ−タレンズ１２により平行光束となりコンタク
トレンズ３に向かうが、投影光軸はコンタクトレンズ３
からほぼ３．９mm（平均的コンタクトレンズの曲率半径
の焦点位置）の位置Ｆを通る。１３は結像レンズ８の焦
点位置に置かれている絞りであり、テレセントリック絞
りとなっている。二次元ＣＣＤ１４は結像レンズ８に対
してＦ点と共役となっている。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１０】［動 作］以上の構成の装置において、以
下その動作を図３に基づいて説明する。 （屈折力測定）マイクロコンピュ−タ２０はＬＥＤ駆動
回路２１を介して点光源４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄを順次
点灯させる。点光源４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄは順次スポ
ット絞り６を照明し、スポット絞り６を通過した光束は
ビ−ムスプリッタ９で反射した後、コンタクトレンズ３
の屈折力が０のときは、レンズ７及び結像レンズ８によ
り光軸上の二次元ＣＣＤ１０に結像する。コンタクトレ
ンズ３に屈折力があるときは、スポット絞り６の像はＣ
ＣＤ１０上で分離し、その屈折力によりその位置は決定
される。二次元ＣＣＤ１０上の像情報はＣＣＤ駆動回路
２２により取り出され、処理回路２３でその中心位置が
デジタル信号で得られる。このようにして得られた４点
の位置からマイクロコンピュ−タ２０は球面度数、乱視
度数、乱視軸、プリズム度数を演算して求める。球面度
数、乱視度数、乱視軸、プリズム度数の演算方法は周知
のものであり、本発明と同一出願人による特開昭６０−
１７３３５号（発明の名称「オ−トレンズメ−タ−」で
も説明されているので、その記載を省略する。図示しな
い記憶スイッチを押して、測定デ−タを記憶する。
下その動作を図３に基づいて説明する。 （屈折力測定）マイクロコンピュ−タ２０はＬＥＤ駆動
回路２１を介して点光源４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄを順次
点灯させる。点光源４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄは順次スポ
ット絞り６を照明し、スポット絞り６を通過した光束は
ビ−ムスプリッタ９で反射した後、コンタクトレンズ３
の屈折力が０のときは、レンズ７及び結像レンズ８によ
り光軸上の二次元ＣＣＤ１０に結像する。コンタクトレ
ンズ３に屈折力があるときは、スポット絞り６の像はＣ
ＣＤ１０上で分離し、その屈折力によりその位置は決定
される。二次元ＣＣＤ１０上の像情報はＣＣＤ駆動回路
２２により取り出され、処理回路２３でその中心位置が
デジタル信号で得られる。このようにして得られた４点
の位置からマイクロコンピュ−タ２０は球面度数、乱視
度数、乱視軸、プリズム度数を演算して求める。球面度
数、乱視度数、乱視軸、プリズム度数の演算方法は周知
のものであり、本発明と同一出願人による特開昭６０−
１７３３５号（発明の名称「オ−トレンズメ−タ−」で
も説明されているので、その記載を省略する。図示しな
い記憶スイッチを押して、測定デ−タを記憶する。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１１】（曲率半径測定）測定デ−タが記憶される
と、マイクロコンピュ−タ２０は測定モ−ドを曲率半径
測定モ−ドに自動的に切換え、ＬＥＤ駆動回路２５を介
して点光源１１ａ，１１ｂ，１１ｃ，１１ｄを順次（又
は同時に）点灯させる。コンタクトレンズ３の後面で反
射した光束は後面の曲率半径の１／２の位置（ほぼＦ
点）に光源１１の像ｉa,ｉb,ｉc,ｉd を作る。像の光軸
からの距離は後面の曲率半径に対応する。結像レンズ８
及び絞り１３からなるテレセントリック光学系により、
像ｉa 〜ｉd からの光束で光軸に平行な光束を測定光束
の主光線として取り出し、像ｉa,ｉb,ｉc,ｉd 像の位置
を二次元ＣＣＤ１４で検出する。二次元ＣＣＤ１４で検
出された信号はＣＣＤ駆動回路２６で取り出され、処理
回路２７により処理され像位置をデジタル信号で得る。
このようにして得られた像の位置に基づいて、マイクロ
コンピュ−タ２０はコンタクトレンズ３の後面の曲率半
径を測定する。曲率半径の演算方法は本発明と同一出願
人が出願した特開平３−２２２９３６号（発明の名称
「角膜形状測定装置」）による角膜曲率半径の演算方法
と同様であるのでその記載は省略する。なお、本実施例
では、点光源４ａと点光源１１ａの発光波長は同一又は
近似したＬＥＤを使用するので、ビ−ムスプリッタ９を
用いているが、点光源４ａと点光源１１ａの発光波長を
変えるとともに、ビ−ムスプリッタ９の代わりにダイク
ロイックミラ−を用いたり、光路に波長分割フィルタを
使用することにより、屈折力測定と曲率半径測定を同時
に測定できる。
と、マイクロコンピュ−タ２０は測定モ−ドを曲率半径
測定モ−ドに自動的に切換え、ＬＥＤ駆動回路２５を介
して点光源１１ａ，１１ｂ，１１ｃ，１１ｄを順次（又
は同時に）点灯させる。コンタクトレンズ３の後面で反
射した光束は後面の曲率半径の１／２の位置（ほぼＦ
点）に光源１１の像ｉa,ｉb,ｉc,ｉd を作る。像の光軸
からの距離は後面の曲率半径に対応する。結像レンズ８
及び絞り１３からなるテレセントリック光学系により、
像ｉa 〜ｉd からの光束で光軸に平行な光束を測定光束
の主光線として取り出し、像ｉa,ｉb,ｉc,ｉd 像の位置
を二次元ＣＣＤ１４で検出する。二次元ＣＣＤ１４で検
出された信号はＣＣＤ駆動回路２６で取り出され、処理
回路２７により処理され像位置をデジタル信号で得る。
このようにして得られた像の位置に基づいて、マイクロ
コンピュ−タ２０はコンタクトレンズ３の後面の曲率半
径を測定する。曲率半径の演算方法は本発明と同一出願
人が出願した特開平３−２２２９３６号（発明の名称
「角膜形状測定装置」）による角膜曲率半径の演算方法
と同様であるのでその記載は省略する。なお、本実施例
では、点光源４ａと点光源１１ａの発光波長は同一又は
近似したＬＥＤを使用するので、ビ−ムスプリッタ９を
用いているが、点光源４ａと点光源１１ａの発光波長を
変えるとともに、ビ−ムスプリッタ９の代わりにダイク
ロイックミラ−を用いたり、光路に波長分割フィルタを
使用することにより、屈折力測定と曲率半径測定を同時
に測定できる。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１２】
【実施例２】実施例２は屈折力測定系と曲率半径測定系
の光検出器を共用する構成である。図４において実施例
１と同一の部材に対しては同一の符号を付している。図
示しないモ−ド切替スイッチ（又は自動的に）により屈
折力測定モ−ドに切換えられた場合、図示しないモ−タ
により二次元ＣＣＤ１４を絞り６と共役な位置まで光軸
上を移動させるとともに、絞り１３を光路外に移動す
る。このようにして、二次元ＣＣＤ１４を両測定系に共
用するとともに、ビ−ムスプリッタ９を省略することが
できる。以上２つの実施例を説明したが、本発明は上記
実施例に限らず、例えば光源はリング状光源でも同様の
効果が得られるし、光電素子は１次元素子を複数使用し
て、２次元的測定をしても良い。また、点光源４ａ〜４
ｄ、スポット絞り６を十分小さくすれば、スポット絞り
６と検出素子を共役に置かなくても精度の高い屈折力の
測定が可能である。。
の光検出器を共用する構成である。図４において実施例
１と同一の部材に対しては同一の符号を付している。図
示しないモ−ド切替スイッチ（又は自動的に）により屈
折力測定モ−ドに切換えられた場合、図示しないモ−タ
により二次元ＣＣＤ１４を絞り６と共役な位置まで光軸
上を移動させるとともに、絞り１３を光路外に移動す
る。このようにして、二次元ＣＣＤ１４を両測定系に共
用するとともに、ビ−ムスプリッタ９を省略することが
できる。以上２つの実施例を説明したが、本発明は上記
実施例に限らず、例えば光源はリング状光源でも同様の
効果が得られるし、光電素子は１次元素子を複数使用し
て、２次元的測定をしても良い。また、点光源４ａ〜４
ｄ、スポット絞り６を十分小さくすれば、スポット絞り
６と検出素子を共役に置かなくても精度の高い屈折力の
測定が可能である。。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図２
【補正方法】変更
【補正内容】
【図２】点光源４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄの配置を示す図
である。
である。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】符号の説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【符号の説明】 １ 光軸 ２ 固定台 ３ コンタクトレンズ ４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄ，１１ａ，１１ｂ，１１ｃ，１
１ｄ 点光源 ５，７，８，１２ レンズ ６ スポット絞り ９ ビ−ムスプリッタ １０，１４ 二次元ＣＣＤ
１ｄ 点光源 ５，７，８，１２ レンズ ６ スポット絞り ９ ビ−ムスプリッタ １０，１４ 二次元ＣＣＤ
【手続補正８】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図２
【補正方法】変更
【補正内容】
【図２】
Claims (4)
- 【請求項１】 被検レンズに第１測定用指標を投影する
第１投影手段と、被検レンズの屈折力により偏位した測
定用指標を光電的に検出する第１検出手段と、該第１検
出手段の検出結果に基づいて被検レンズの屈折度数を演
算する屈折度数演算手段と、曲率半径測定用の第２測定
用指標を被検レンズの凹面に投影する第２投影手段と、
該第２測定用指標の凹面反射による反射像を光電的に検
出する第２検出手段と、該第２検出手段の検出結果に基
づいて曲率半径を演算する曲率半径演算手段とを有する
ことを特徴とするレンズ測定装置。 - 【請求項２】 請求項１の第１検出手段の光電素子は光
軸方向に移動可能とされ、第２検出手段の光電素子と共
用されることを特徴とするレンズ測定装置。 - 【請求項３】 請求項１の第１検出手段の光学系は反射
部材を介して第２検出手段の光学系と同軸に配置されて
いることを特徴とするレンズ測定装置。 - 【請求項４】 請求項１の第１投影手段の投影光束の波
長と第２投影手段の投影光の波長とを変えると共に、波
長分割部材を介して同時測定を可能にしたことを特徴と
するレンズ測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19752192A JP3221733B2 (ja) | 1992-06-30 | 1992-06-30 | レンズ測定装置 |
| US08/082,965 US5432596A (en) | 1992-06-30 | 1993-06-29 | Lens measurement apparatus providing measurements of multiple lens characteristics |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19752192A JP3221733B2 (ja) | 1992-06-30 | 1992-06-30 | レンズ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0618364A true JPH0618364A (ja) | 1994-01-25 |
| JP3221733B2 JP3221733B2 (ja) | 2001-10-22 |
Family
ID=16375852
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19752192A Expired - Fee Related JP3221733B2 (ja) | 1992-06-30 | 1992-06-30 | レンズ測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5432596A (ja) |
| JP (1) | JP3221733B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6108510A (en) * | 1997-06-20 | 2000-08-22 | Minolta Co., Ltd. | Tandem-type image forming apparatus having full-color print mode and single-color print mode |
| JP2003169778A (ja) * | 2001-12-07 | 2003-06-17 | Nidek Co Ltd | 形状測定装置 |
| JP2006267108A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Oculus Optikgeraete Gmbh | 光学レンズの屈折特性を測定するための測定装置 |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09138181A (ja) * | 1995-11-15 | 1997-05-27 | Nikon Corp | 光学系の屈折力および曲率半径の測定装置 |
| JP3599523B2 (ja) * | 1997-03-04 | 2004-12-08 | 株式会社ニデック | 眼科装置 |
| JP4769923B2 (ja) | 1998-12-10 | 2011-09-07 | カール ツァイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト | 眼内レンズの計算に好適な、眼の軸方向長さ及び／又は角膜の曲率及び／又は前房深さを非接触的に測定するための一体化装置 |
| US6577387B2 (en) | 2000-12-29 | 2003-06-10 | Johnson & Johnson Vision Care, Inc. | Inspection of ophthalmic lenses using absorption |
| JP4000086B2 (ja) * | 2003-04-17 | 2007-10-31 | 株式会社トーメーコーポレーション | レンズの基礎データの測定方法及び測定装置 |
| JP2005291900A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Nidek Co Ltd | レンズメータ |
| JP4492858B2 (ja) * | 2004-07-20 | 2010-06-30 | 株式会社ニデック | 眼科装置及び眼内屈折力分布算出プログラム |
| US20060017184A1 (en) * | 2004-07-22 | 2006-01-26 | Dermot Keena | Predictive method of assigning power to an ophthalmic lens or lens lot |
| US20060017185A1 (en) * | 2004-07-22 | 2006-01-26 | Brendan Boland | Predictive method of assigning power to an ophthalmic lens or lens lot |
| JP4819366B2 (ja) * | 2005-01-07 | 2011-11-24 | 株式会社ニデック | レンズメータ |
| US8448344B2 (en) | 2011-03-23 | 2013-05-28 | Mccray Optical Supply Inc. | Digital lens gauge |
| US8823927B2 (en) * | 2012-05-10 | 2014-09-02 | National Applied Research Laboratories | System and method for nondestructive measuring refractive index and thickness of lens |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3614214A (en) * | 1970-09-09 | 1971-10-19 | Stanford Research Inst | Method and system for taking photographs of an eye fundus |
| US3639041A (en) * | 1970-09-21 | 1972-02-01 | Stanford Research Inst | System and method for scanning the depth of the optic fundus |
| US4410268A (en) * | 1980-04-28 | 1983-10-18 | Tokyo Kogaku Kikai Kabushiki Kaisha | Apparatus for automatically measuring the characteristics of an optical system |
| JPS57139636A (en) * | 1981-02-23 | 1982-08-28 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | Radius-of-curvature measuring device |
| US4666269A (en) * | 1982-08-09 | 1987-05-19 | Canon Kabushiki Kaisha | Ophthalmologic apparatus |
| JPS6017335A (ja) * | 1983-07-08 | 1985-01-29 | Nidetsuku:Kk | オ−トレンズメ−タ |
| JPS62268523A (ja) * | 1986-05-17 | 1987-11-21 | キヤノン株式会社 | 眼科装置 |
| JPS63208736A (ja) * | 1987-02-24 | 1988-08-30 | Nidetsuku:Kk | 光学系の光学特性測定装置 |
| JP3042851B2 (ja) * | 1990-01-29 | 2000-05-22 | 株式会社ニデック | 角膜形状測定装置 |
| JPH04204032A (ja) * | 1990-11-30 | 1992-07-24 | Hitachi Ltd | レンズ光学性能測定装置 |
-
1992
- 1992-06-30 JP JP19752192A patent/JP3221733B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-06-29 US US08/082,965 patent/US5432596A/en not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6108510A (en) * | 1997-06-20 | 2000-08-22 | Minolta Co., Ltd. | Tandem-type image forming apparatus having full-color print mode and single-color print mode |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3221733B2 (ja) | 2001-10-22 |
| US5432596A (en) | 1995-07-11 |
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