JPH05317259A

JPH05317259A - 眼科用測定機器

Info

Publication number: JPH05317259A
Application number: JP4148100A
Authority: JP
Inventors: Hiroshi Aoki; 博青木
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1992-05-14
Filing date: 1992-05-14
Publication date: 1993-12-03

Abstract

(57)【要約】【目的】装置内部の温度変化によって生ずる測定誤差
を低減する。【構成】光源１から被検眼Ｅに至る光路O1上には、レ
ンズ２、絞り３、孔開きミラー４、レンズ５、ダイクロ
イックミラー６が配設され、孔開きミラー４の公報には
絞り７、レンズ８、分割プリズム９、ダイクロイックミ
ラー１０が配設され受光素子１１に至っている。また、
ダイクロイックミラー６の後方の光路O3上には、ミラー
１３、レンズ１４、ダイクロイックミラー１０が設けら
れており、全体でオートレフラクトメータを構成してい
る。光源１５から受光素子１６へ至る光路O4上には、コ
リメータレンズ１７、被検レンズＬ、当接部材１８、絞
り１９が配設され、オートレンズメータを構成してい
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、眼鏡店や眼科医院等で
用いられており、例えば被検眼の屈折力を測定するオー
トレフラクトメータや、眼鏡用レンズやコンタクトレン
ズのための諸種のレンズの屈折度を測定するオートレン
ズメータ等の眼科用測定機器に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】被検眼の眼屈折力を測定するオートレフ
ラクトメータと、眼鏡レンズ等の屈折度を測定するオー
トレンズメータは、眼鏡店、眼科医において眼鏡処方の
際には欠かせないものであり、省スペースと測定時間短
縮を考慮して両者が複合された眼科機器が提案されてい
る。また、温度変化や経年変化等によって測定精度が低
下しないように、特にオートレンズメータにおいては被
検レンズが配置されているか否か判定し、被検レンズが
存在しないと判定された場合にはその結果を初期値とし
て再設定し、この初期値を基準に被検レンズを測定して
測定精度を維持する装置が、特開平２−３７５３４公報
に提案されている。

【０００３】また、被検レンズの測定方法は、光源から
の光束をコリメータレンズで平行光束に変換し、コリメ
ータレンズと被検レンズとの間にマスクパターンを配置
して、マスクパターン及び被検レンズの透過光を二次元
ＣＣＤで受光し、マスクパターン像の位置関係から、被
検レンズの屈折力を算出している。従来のレンズメータ
では、眼鏡レンズとコンタクトレンズを共に測定可能と
するために、直径が小さいコンタクトレンズに合わせ
て、小径で狭い測定領域のマスクパターンを用いてい
る。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】光学測定機器は電源を
入れると装置内部の温度変化によって、時間と共に装置
内部のレンズに偏心が生じ、電源投入前後では異なった
状態となる。例えばオートレンズメータの場合には、測
定光路上に被検レンズを挿入すると同時に測定が行われ
ているため、電源を入れたときか、別途に設けた手動の
初期化釦を押さなければ初期設定は行われない。

【０００５】また上述のオートレンズメータでは、マス
クパターンを小さくしているので、マスクパターンの加
工精度が測定精度を大きく左右し、大きなマスクパター
ンを用いたレンズメータに比べて精度が低下するという
問題がある。

【０００６】本発明の第１の目的は、初期値を補正する
ために初期化釦を操作しなければならないという煩わし
さを解消し、常に精度の良い測定が実施できる眼科用測
定機器を提供することにある。

【０００７】また、本発明の第２の目的は、被検レンズ
の種類によらずに常に高精度を維持できる眼科用測定機
器を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上述の第１の目的を達成
するための第１発明に係る眼科用測定機器は、被検光学
系に光束を投影する投影手段と、前記被検光学系から透
過屈折された光束を検出する検出手段と、該検出手段の
測定基準点を記憶する記憶手段と、前記被検光学系が光
路中に配置された時の前記検出手段から得られた検出結
果と前記測定基準点と前記検出結果との差を用いて前記
被検光学系の光学特性を測定する第１の測定手段と、少
なくとも１つの別の物性を測定する第２の測定手段とを
有する眼科用測定機器において、前記第２の測定手段が
実行されたとき、前記測定基準点を演算する演算手段を
有することを特徴とするものである。

【０００９】また、第２の目的を達成するための第２発
明に係る眼科用測定機器は、光源からの光を被測定物に
投影する投影光学系と、光束を選択透過するマスクパタ
ーンと、該マスクパターン像を被測定体の略頂点位置に
結像するリレー光学系と、前記光束を受光する光位置検
出器とを有する眼科用測定機器において、前記マスクパ
ターン像の大きさを可変とするように、前記リレー光学
系内の第１の光学要素を交換又は移動する手段と、前記
光位置検出器上に受光された前記光束の倍率を補正する
第２の光学要素を交換又は移動する手段とを備えたこと
を特徴とするものである。

【００１０】

【作用】上述の構成を有する第１発明に係る眼科用測定
機器は、第２の測定手段による測定と共に、被検光学系
を配置しない状態で第１の測定手段による測定が行わ
れ、演算手段が第１の測定手段の測定結果を測定基準点
として更新する。また、第２発明に係る眼科用測定機器
は、被測定体の種類に応じて、第１の光学要素及び第２
の光学要素を移動させ、被測定体の頂点位置に結像する
マスクパターン像の大きさを変化させる。

【００１１】

【実施例】本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明
する。図１は第１の実施例の構成図である。被検眼測定
用光源１から被検眼Ｅに至る光路O1上には、レンズ２、
図２に示すように開口３ａを有する投影絞り３、穴開き
ミラー４、レンズ５、ダイクロイックミラー６が順次に
配設され、穴開きミラー４の反射方向の光路O2上には、
図３に示すように６個の開口７ａ〜７ｆを有する測定絞
り７、レンズ８、図４に示すように６個のくさびプリズ
ム９ａ〜９ｆから構成される分離プリズム９、ダイクロ
イックミラー１０、撮像素子１１が配設され、撮影素子
１１の出力はテレビモニタ１２に接続されている。ダイ
クロイックミラー６の後方の光路O3上には、ミラー１
３、レンズ１４、ダイクロイックミラー１０が配設さ
れ、光路O1とは別光路で撮像素子１１に至っている。な
お、測定用光源１は被検眼Ｅの眼底Erと略共役な位置
に、撮影用絞り３、測定用絞り７は瞳孔Eiと共役な位置
に、穴開きミラー４は瞳孔Eiと略共役な位置にそれぞれ
配置されている。

【００１２】被検眼Ｅが装用する被検レンズＬの屈折測
定に用いられるレンズ測定用光源１５から二次元光位置
検出器１６に至る光路O4上には、コリメータレンズ１
７、被検レンズＬ、被検レンズＬを支持する当接部材１
８、測定絞り７と同様に６個の開口を有する測定絞り１
９が配設されており、光位置検出器１６の出力はテレビ
モニタ１２に接続されている。また、両測定値は必要に
応じてプリンタ２０から出力できるようになっている。
また、ダイクロイックミラー６の前方には、前眼部を照
明する複数個の照明用光源２１が設けられており、アラ
イメント時に使用される。なお、光路01上にレンズ５の
略焦点位置に拡散板２２を挿入できるようにされてい
る。

【００１３】照明用光源２１を点灯することにより被検
眼Ｅの前眼部を照明し、検者はテレビモニタ１２に写し
出される図５に示す前眼部像Ｍを観察してライメントを
行う。アライメントが終了すると、照明用光源２１を消
灯して被検眼測定用光源１を点灯する。測定用光源１か
らの光束は光路O1上を進んで被検眼Ｅに至り、その眼底
Erによる反射光は同じ光路を戻って、穴開きミラー４で
反射されて光路O2上を進み、撮像素子１１上に図６に示
すように６個の反射光束像Ｐとして投影される。これら
の反射光束像Ｐの位置関係から、図示しないコンピュー
タによって被検眼Ｅの屈折力が算出される。

【００１４】被検レンズＬの測定時には、被検レンズＬ
を当接部材１８に当接させて光路O4上に固定し、レンズ
測定用光源１５を点灯する。測定用光源１５から出射し
た光束は、コリメータレンズ１７によって平行光束とさ
れて被検レンズＬに入射し、更に測定絞り１９を介し
て、光位置検出器１６上に６個の透過光束像として投影
され、これらの透過光束像の位置関係から被検レンズＬ
の屈折力及びプリズム度が算出される。

【００１５】被検レンズＬの光軸を光路O4に合致させる
アライメントは、被検レンズＬによる透過光束像の位置
を利用して行い、例えばテレビモニタ１２上に図７に示
すような放射状のマークＱを電気的に発生させておき、
被検レンズＬからの透過光束像Ｐ’をテレビモニタ１２
に出力して、このマークＱの中心に透過光束像Ｐ’の中
心を一致させるようにして行えば容易である。

【００１６】検者は上述の被検眼Ｅと被検レンズＬと測
定を終えた後に、図示しないスイッチを押すことによ
り、図１のプリンタ２０によって、出力Ａを得てその検
出結果を保存することができる。なお、眼屈折力測定、
被検レンズ測定の測定原理は、別に開示されているもの
でもよいし、検出に一次元センサアレイを使用し、被検
眼Ｅのアライメントに別の撮像素子を用いても同様に実
現可能である。

【００１７】いま、光路04上に被検レンズＬが無く、そ
の投影光束Ｐ’の各座標値が図８(a) に示すように（X
1、Y1）〜（X6、Y6）で、その中心座標値が（X0、Y0）
であるとする。次に、図１の装置で電源をオンにした状
態で放置し、内部温度上昇により、コリメータレンズ１
７が偏心して図８(b) に示すように（X1’、Y1’）〜
（X6’、Y6’）に変わったとすると、そのシフト分（X
0’−Y0’）〜（X6’−Y6’）が被検レンズＬの測定時
のプリズム測定誤差である。また、座標（X1、Y1）への
投影光束にごみが載り、図８に示すように（X1”、Y
1”）に変わったとすれば柱面屈折値が加わり、更に（X
0”、Y0”）に中心座標が変わる。これは被検レンズＬ
の測定時における屈折力測定誤差（柱面屈折値分）及び
プリズム測定誤差の合成誤差となる。

【００１８】検者が被検眼Ｅの屈折力を測定するため
に、被検レンズＬを測定するため、図示しない眼屈折力
測定用スイッチを押すと同時に、レンズ測定用光源１５
を点灯し、光位置検出器１６で検出すれば、ほぼ図８
(b) 、(c) の何れかになっているので、得られた座標
（X1’、Y1’）〜（X6’、Y6’）又は（X1”、Y1”）、
（X2、Y2）〜（X6、Y6）を以後のレンズ測定のための測
定基準点として用いれば、被検レンズＬの測定に際し、
前述の屈折力値及びプリズム値に左右されず、誤差のな
い測定ができる。

【００１９】光源１を点灯し拡散板２２を挿入したと
き、撮像素子１１上に投影光束がＰが投影され、その各
座標値が図８(a) に示すように、（X1、Y1）〜（X6、Y
6）であるとする。次に、電源をオンした後に、例えば
座標（X1、Y1）への投影光束にごみが載ると柱面屈折値
が加わるので、図８(c) に示すように（X1”、Y1”）に
変わり、被検眼Ｅの屈折力測定誤差となってしまう。

【００２０】そこで、検者が被検レンズＬの屈折力を測
定するために、図示しない被検レンズ測定用スイッチを
押すと同時に、拡散板２２を光路01上に挿入し、光源を
点灯し、撮像素子１１でほぼ図８(c) に示すような検出
を行い、得られた座標（X1”、Y1”）、（X2、Y2）〜
（X6、Y6）を以後の被検眼測定のための測定基準点とし
て用いれば、同様に被検眼Ｅの屈折力値に対して誤差の
ない測定ができる。

【００２１】拡散板２２の位置は、検査しようとする光
学部材によって決められ、例えばダイクロイックミラー
６はごみが付着し易いと考えられるので、ダイクロイッ
クミラー６と被検眼Ｅの間に拡散板２２を挿入できるよ
うにしてもよい。

【００２２】図９は第２の実施例の構成図であり、第１
の実施例中のオートレフラクトメータの代りに、オート
ケラトメータがオートレンズメータと複合されている。
なお、第１の実施例と同一の部材には同一の符号を付し
ている。被検眼Ｅの角膜Ecに対向する位置には対物レン
ズ２３が配置され、この対物レンズ２３の後方には、ミ
ラー２４、絞り２５、撮像素子２６が設けられている。
また、対物レンズ２３の周囲には、図１０に示すように
直交する２径線上にＬＥＤ又は白熱電球から成る４個の
光源２７ａ〜２７ｄが配置され、これらの各光源２７ａ
〜２７ｄと被検眼Ｅの角膜Ecの間に、それぞれ点状開口
を有し角膜Ec上に点状スポットを投影する指標２８ａ〜
２８ｄが挿入されている。

【００２３】角膜曲率測定時には光源２７ａ〜２７ｄを
点灯し、被検眼Ｅ上に指標２８ａ〜２８ｄによる点状ス
ポットを投影する。角膜Ecで反射された光束は対物レン
ズ２３、ミラー２４、絞り２５を経て、図１１に示すよ
うに撮像素子２６上にスポット像２７Ａ〜２７Ｄとして
結像する。結像した点状スポット像２７Ａ〜２７Ｄは図
示しないコンピュータによって解析されて角膜曲率が算
出される。

【００２４】オートレンズメータ光学系は先の図１の場
合とほぼ同様であり、上述したような測定基準点の補正
を行えば、オートレンズメータの測定誤差は低減され
る。

【００２５】図１２は第３の実施例の構成図である。レ
ンズ測定用光源３１の前方の光路05上には、光束を平行
光にするコリメータレンズ３２、被検レンズＬ、被検レ
ンズＬを当接させる当接部材３３、光路05の内外に移動
可能なレンズ３４、図１３に示すように直径Ａの円に内
設するように４個の開口３５ａ〜３５ｄが設けられたマ
スクパターン３５、二次元光位置検出器３６が順次に配
列されている。そして、二次元光位置検出器３６の出力
はテレビモニタ３７に接続されている。また、レンズ３
４はレンズ操作手段３８によって操作され、レンズ３４
が光路05外に離脱したときには屈折力の異なるレンズ３
４’と入れ換わり、マスクパターン３５と二次元光位置
検出器３６の間にはレンズ操作手段３８によりレンズ３
４”が挿入される構成とされている。

【００２６】被検レンズＬの測定時にレンズ測定用光源
３１を点灯すると、光束はコリメータレンズ３２によっ
て平行光とされ被検レンズＬに入射する。被検レンズＬ
によって屈折された光束は、レンズ３４、マスクパター
ン３５を経て位置検出器３６上に図１４に示す像Ma〜Md
を結像し、これらの像Ma〜Mdはコンピュータによって解
析されて、被検レンズＬの球面屈折度、乱視屈折度、乱
視角度等が算出され、テレビモニタ３７上に表示され
る。

【００２７】次に、コンタクトレンズを測定する際に
は、検者が図示しないコンタクトレンズ選択スイッチを
押すと、レンズ操作手段３８によってレンズ３４がレン
ズ３４’と交換され、更にレンズ３４”が光路05上に挿
入され、同様にして二次元光位置検出器３６上の像から
種々の測定値が得られることになる。

【００２８】図１５はマスクパターン３５とそのパター
ン像３５Ａの関係の説明図である。一般的に、眼鏡レン
ズの測定径は５ｍｍであり、コンタクトレンズでは３ｍ
ｍである。図１５(a) は被検レンズＬが眼鏡レンズの場
合であり、レンズ３４は当接部材３３の直後のパターン
像３４Ａをマスクパターン３５と共役に保ち、パターン
像３５Ａとレンズ３４内の距離、レンズ３４とマスクパ
ターン３５の距離は共にＳであり、倍率βは１になって
いる。このとき、マスクパターン３５の外接円径が５ｍ
ｍであれば、パターン像３５Ａの直径は同様に５ｍｍと
なる。つまり、直径５ｍｍの投影光束を用いて眼屈折度
測定が行われることになる。

【００２９】図１５(b) はコンタクトレンズを測定する
状態を示している。コンタクトレンズはその直径が非常
に小さいため、直径５ｍｍの光束を用いて屈折度測定を
することは不可能である。このため、マスクパターン３
５とパターン像３５ＡをＳ’対Ｓ”に内分する点に、レ
ンズ３４の代りに挿入されるレンズ３４’を挿入して、
パターン像３５Ａ上における投影光束径を小さくする。
マスクパターン３５とパターン像３５Ａの間の距離を２
Ｓ、倍率をβとすれば、Ｓ”／Ｓ’＝β ・・・(1) Ｓ’＋Ｓ”＝２Ｓ・・・(2) (1) 、(2) 式より、Ｓ’＝２Ｓ／（１＋β）Ｓ”＝２Ｓβ／（１＋β）従って、レンズ３４’の焦点距離ｆは、ｆ＝Ｓ’・Ｓ”／（Ｓ’−Ｓ”）・・・(3) となる。

【００３０】外接円径を３ｍｍにする場合には、倍率β
＝５／３≒１．６７となる。βと２Ｓを与えれば、レン
ズ３４’の焦点距離を決定することができる。この手法
によれば、マスクパターン３５を交換することなく、任
意の径のレンズ透過光束に対応することが可能となる。
なお、この場合には二次元光位置検出器３６上における
像の倍率が変化するので、この倍率を補正する必要があ
る。

【００３１】図１６(a) は眼鏡レンズを測定する場合の
説明図であり、レンズ３４は二次元光位置検出器３６の
虚像を像面３６Ａの位置に形成している。このとき、像
面３６Ａ上での二次元光位置検出器３６の倍率αは、像
面３６Ａとレンズ３４間の距離ａ、レンズ３４と検出器
３６間の距離ｂにより、α＝ｂ／ａで与えられる。ま
た、レンズ３４が形成するもう１つの虚像、つまりパタ
ーン像３５Ａと像面３６Ａとの距離はｘとなっている。

【００３２】図１６(b) に示すようにコンタクトレンズ
の測定時には、レンズ３４の代りにレンズ３４’が挿入
され、レンズ３４’の焦点距離よりパターン像３５の像
３５Ａとレンズ３４’の距離が求まる。次に、レンズ３
４”を挿入して、像３５Ａから３ｘ／５の距離に光位置
検出器３６の像面３６Ａが形成されるようにする。この
とき、像面３６Ａと倍率５α／３で光位置検出器３６上
に結像するように、距離ｃ、ｄ、ｅが決定される。

【００３３】図１７(a) 、(b) 、(c) は、それぞれ眼鏡
レンズＧ、コンタクトレンズＣ、逆向きに置いたコンタ
クトレンズＣ’を同じ当接部材３３に載置して屈折値を
測定する場合の説明図である。各被検レンズの後側頂点
位置とパターン像３５Ａとの距離は被検レンズの種類に
よって異なっているが、レンズ３４、３４’、３４”の
位置を被検レンズの種類に応じて微妙に変化させ、パタ
ーン像３５Ａの位置と各被検レンズの後側頂点位置との
相対距離Δｄを一定に保つ構成にすれば、測定精度を向
上させることができる。

【００３４】図１８は第４の実施例の構成図である。第
３の実施例と同一の部材は同一の符号を付している。光
源３１から二次元光位置検出器３６に光路06上には、コ
リメータレンズ３２、被検レンズＬ、当接部材３３、光
軸方向に可動の可動レンズ４１、マスクパターン３５が
配置され、マスクパターン３５と光位置検出器３６の間
にはレンズ３４”が挿入可能とされている。なお、可動
レンズ４１はレンズ３４”と共にレンズ操作手段３８に
よって操作される構成とされている。

【００３５】図１９は可動レンズ４１、マスクパターン
３５、パターン像３５Ａの関係を示す説明図である。マ
スクパターン３５は測定径が４ｍｍであり、パターン像
３５Ａから可動レンズ４１までの距離はＳ、可動レンズ
４１からマスクパターン３５までの距離はＳ’となって
いる。図１９(a) ではＳ／Ｓ’、つまり倍率β＝１．２
５となっている。このとき、パターン像３５Ａ上におけ
る測定径は５ｍｍとなり、眼鏡レンズの測定に適した状
態となる。

【００３６】一方、図１９(b) に示すように距離Ｓと
Ｓ’の距離が入れ換わるように可動レンズ４１を移動
し、パターン像３５Ａから可動レンズ４１までの距離が
Ｓ’、可動レンズ４１からマスクパターン３５までの距
離がＳとなった状態では、倍率β₀ ＝１／１．２５とな
り、コンタクトレンズの測定に適した状態となる。な
お、この場合に二次元光位置検出器３６上での倍率を合
わせるために、レンズ３５”が挿入されるとは云うまで
もない。

【００３７】図２０の第５の実施例の構成図である。光
源４６ａ〜４６ｄは４つの点光源であり、それぞれが直
交する２軸上に対称に配置されている。光源４６の前方
の光路07上には、レンズ４７、中心に円形開口を有し光
軸方向に移動可能で、位置の確認手段を有するマスクパ
ターン４８、レンズ４９、被検レンズＬを載置する当接
部材５０、被検レンズＬ、レンズ５１、二次元光検出器
５２が順次に配置されている。また、レンズ４７とレン
ズ５１はそれぞれレンズ操作手段５３によって焦点距離
が異なるレンズ４７’、レンズ５１’と交換可能な構成
とされ、光源４６ａ〜４６ｄと被検レンズＬの頂点付近
とは略共役であり、またマスクパターン４８と光検出器
５２は略共役に構成とされている。なお、レンズ４７と
レンズ４９はタンデム系とされている。

【００３８】被検レンズＬを挿入しない状態において、
光源４６ａ〜４６ｄを点灯すると、光検出器５２上には
マスクパターン４８と光検出器５２が共役であるため、
図２１(a) に示すような単一のスポット像Ｍが得られ
る。球面屈折力を有する被検レンズＬを光路上に挿入す
ると、被検レンズＬの屈折力によって光検出器５２上の
像が図２１(b) に示すように４つの像Ma〜Mdに分離す
る。マスクパターン４８を光軸に沿って移動させると、
４つの像Ma〜Mdの距離は近づいて或る点において１つに
重なり、図２１の(a) の状態になる。このときのマスク
パターン４８の位置と、初期状態における像Ma〜Mdの位
置から、被検レンズＬの屈折力はコンピュータにより算
出される。

【００３９】また、被検レンズＬが柱面屈折力を持つ場
合には、像Ｍが光検出器５２上で点状になることはない
が、像Ｍが最も小さくなったときに、マスクパターン４
８の位置により各スポット像Ma〜Mdの位置の柱面度を含
む屈折力を算出することができる。

【００４０】被検レンズＬとしてコンタクトレンズを測
定するときには、レンズ４７とレンズ５１を、焦点距離
が１．６７倍長いレンズ４７’と、焦点距離が１．６７
倍短いレンズ５１’に交換し、上述と同様に測定を行え
ばよい。

【００４１】図２２は第６の実施例の構成図である。光
源５６の前方の光路08上には、コリメータレンズ５７、
被検レンズＬ、当接部材５８、レンズ５９、４つの開口
６０ａ〜６０ｄを有するマスクパターン６０、４つのく
さびプリズムを複合した分離プリズム６１、レンズ６
２、二次元光検出器６３が順次に配設されている。な
お、レンズ５９はレンズ５９’と交換され、レンズ６２
と光検出器６３の間にはレンズ６４が挿脱できるように
なっており、共にレンズ操作手段６５により操作される
構成とされている。

【００４２】被検レンズＬの屈折値の測定の際におい
て、光源５６を点灯すると、光束はレンズ５７、被検レ
ンズＬ、レンズ５９を順に通過し、マスクパターン６０
によって４つのスポット光束となり、図２３に示すよう
に分離プリズム６１を通過して拡大され、レンズ６２を
経て各スポット像Ma〜Mdとして光検出器６３上に結像す
る。これらのスポット像Ma〜Mdは第３の実施例と同様に
解析されて、被検レンズＬの屈折力が算出される。コン
タクトレンズの測定に際してレンズ５９とレンズ５９’
が第１の実施例と同様の原理により交換され、更にレン
ズ６４が光路内に挿入され同様に測定が行われる。

【００４３】なお、上述の実施例において、光位置検出
器は二次元検出器である必要はなく、図２４に示すリン
グ絞り６６と、図２５に示す放射状に配置した一次元ラ
インセンサ６７ａ〜６７ｅの組合わせにより、前述の手
法を用いてレンズの屈折力を測定することもできる。

【００４４】

【発明の効果】以上説明したように第１発明に係る眼科
用測定機器は、電源投入後の温度変化等によりレンズ等
か偏心して測定基準点に狂いが生じても、他の測定の最
中に測定基準点の補正を行うため、測定精度が向上す
る。

【００４５】また、第２発明に係る眼科用測定機器は、
光学的にパターン像の大きさを変化させて、種々の被測
定体に対応しているため、複数のマスクパターンを用意
したり、小型の被測定体に合わせた小型のマスクパター
ンを用いる必要がなく、コスト削減や精度向上が期待で
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１の実施例の光学配置図である。

【図２】開口絞りの正面図である。

【図３】開口絞りの正面図である。

【図４】６分割されたプリズムの正面図である。

【図５】被検眼のモニタ像の説明図である。

【図６】撮像素子上での像の説明図である。

【図７】被検レンズのアライメントの説明図である。

【図８】測定基準点の補正の説明図である。

【図９】第２の実施例の構成図である。

【図１０】光源の配置図である。

【図１１】光検出器上のスポット像の説明図である。

【図１２】第３の実施例の構成図である。

【図１３】マスクパターンの正面図である。

【図１４】光検出器上のスポット像の説明図である。

【図１５】測定原理の説明図である。

【図１６】測定原理の説明図である。

【図１７】各種被検レンズの測定例の説明図である。

【図１８】第４の実施例の構成図である。

【図１９】測定原理の説明図である。

【図２０】第５の実施例の構成図である。

【図２１】光検出器上の像の説明図である。

【図２２】第６の実施例の構成図である。

【図２３】分離プリズムの正面図である。

【図２４】リング絞りの正面図である。

【図２５】ラインセンサの正面図である。

【符号の説明】

１、１５、２１、２７ａ〜２７ｄ、３１、４６、５６
光源４孔開きミラー９分離プリズム１１、２６撮像素子３３、５０、５８当接部材３８、５３、６５レンズ操作手段３５、４８、６０マスクパターン３６、５２、６３二次元光検出器

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被検光学系に光束を投影する投影手段
と、前記被検光学系から透過屈折された光束を検出する
検出手段と、該検出手段の測定基準点を記憶する記憶手
段と、前記被検光学系が光路中に配置された時の前記検
出手段から得られた検出結果と前記測定基準点と前記検
出結果との差を用いて前記被検光学系の光学特性を測定
する第１の測定手段と、少なくとも１つの別の物性を測
定する第２の測定手段とを有する眼科用測定機器におい
て、前記第２の測定手段が実行されたとき、前記測定基
準点を演算する演算手段を有することを特徴とする眼科
用測定機器。
【請求項２】光源からの光を被測定物に投影する投影
光学系と、光束を選択透過するマスクパターンと、該マ
スクパターン像を被測定体の略頂点位置に結像するリレ
ー光学系と、前記光束を受光する光位置検出器とを有す
る眼科用測定機器において、前記マスクパターン像の大
きさを可変とするように、前記リレー光学系内の第１の
光学要素を交換又は移動する手段と、前記光位置検出器
上に受光された前記光束の倍率を補正する第２の光学要
素を交換又は移動する手段とを備えたことを特徴とする
眼科用測定機器。
【請求項３】前記リレー光学系は少なくとも３個以上
の前記光源を前記被測定体の略頂点位置に結像し、前記
リレー光学系内に前記光源の間隔を可変にする前記第１
の光学要素を交換又は移動するようにした請求項２に記
載の眼科用測定機器。