JP2001275972A - 眼光学特性測定装置 - Google Patents
眼光学特性測定装置Info
- Publication number
- JP2001275972A JP2001275972A JP2000089978A JP2000089978A JP2001275972A JP 2001275972 A JP2001275972 A JP 2001275972A JP 2000089978 A JP2000089978 A JP 2000089978A JP 2000089978 A JP2000089978 A JP 2000089978A JP 2001275972 A JP2001275972 A JP 2001275972A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- eye
- wavefront
- light
- deflection prism
- characteristic measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/1015—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for wavefront analysis
Landscapes
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Ophthalmology & Optometry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Eye Examination Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】
［目的］ 本発明は、被検眼眼底に微小光源像を投影す
るための投影系と、眼底からの反射光で被検眼瞳孔内か
ら射出される光束の波面を検出するための波面検出系を
有する眼光学特性測定装置を提供することを目的とす
る。 ［構成］ 本発明は、投影系が、被検眼眼底に微少光源
像を投影し、波面検出系が、眼底からの反射光で被検眼
瞳孔内から射出される光束の波面を検出し、投影系と波
面検出系の両光路内に、少なくとも１つの収差補正用透
過面を有する偏角プリズムが、入射する光束を偏向させ
ることができる。
るための投影系と、眼底からの反射光で被検眼瞳孔内か
ら射出される光束の波面を検出するための波面検出系を
有する眼光学特性測定装置を提供することを目的とす
る。 ［構成］ 本発明は、投影系が、被検眼眼底に微少光源
像を投影し、波面検出系が、眼底からの反射光で被検眼
瞳孔内から射出される光束の波面を検出し、投影系と波
面検出系の両光路内に、少なくとも１つの収差補正用透
過面を有する偏角プリズムが、入射する光束を偏向させ
ることができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、被検眼眼底に微小
光源像を投影するための投影系と、眼底からの反射光で
被検眼瞳孔内から射出される光束の波面を検出するため
の波面検出系を有する眼光学特性測定装置に関するもの
である。
光源像を投影するための投影系と、眼底からの反射光で
被検眼瞳孔内から射出される光束の波面を検出するため
の波面検出系を有する眼光学特性測定装置に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】従来の眼光学特性測定装置においては、
眼底に形成された点光源からの光束で被検眼瞳孔内を透
過した光束の波面を波面センサーにより検出して、球面
度数、乱視度数、乱視軸だけでなく高次の収差特性を検
出する様に構成した装置が知られている。
眼底に形成された点光源からの光束で被検眼瞳孔内を透
過した光束の波面を波面センサーにより検出して、球面
度数、乱視度数、乱視軸だけでなく高次の収差特性を検
出する様に構成した装置が知られている。
【０００３】ところで、これら従来の眼光学特性測定装
置は、眼底上に点光源を投影するため、眼底上の１点か
らの反射光だけを捉えた場合には、眼底上の血管等の影
響で投影位置の違い等により波面の測定結果がばらつ
き、精度の高い測定結果を得ることができないという問
題点があった。
置は、眼底上に点光源を投影するため、眼底上の１点か
らの反射光だけを捉えた場合には、眼底上の血管等の影
響で投影位置の違い等により波面の測定結果がばらつ
き、精度の高い測定結果を得ることができないという問
題点があった。
【０００４】そのため、投影系と波面検出系との共用光
路内に光束を偏向させるための反射部材を配置し、眼底
に投影された点光源像の位置を変更させながら各投影位
置からの平均化された波面を検出し、投影位置によるば
らつきを除去して測定精度を向上させる様にした提案も
なされていた。
路内に光束を偏向させるための反射部材を配置し、眼底
に投影された点光源像の位置を変更させながら各投影位
置からの平均化された波面を検出し、投影位置によるば
らつきを除去して測定精度を向上させる様にした提案も
なされていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の技術においては、反射光学素子を用いて光束を偏向さ
せるため反射面を微小振動させるための構成が必要であ
るだけでなく、反射光学素子のため光軸を折り返すため
の光学素子が必要となり、光学系も複雑となることが避
けられず、組み立ての際の光学調整も極めて困難である
という問題点を有していた。
の技術においては、反射光学素子を用いて光束を偏向さ
せるため反射面を微小振動させるための構成が必要であ
るだけでなく、反射光学素子のため光軸を折り返すため
の光学素子が必要となり、光学系も複雑となることが避
けられず、組み立ての際の光学調整も極めて困難である
という問題点を有していた。
【０００６】本願発明は、この従来技術の有する問題点
を解決することを目的とするものであり、偏向光学素子
として、透過する光束を偏向させるための偏角プリズム
を使用し、かつ、この偏角プリスムで発生する非点収差
等の収差成分を除去するため、偏角プリズムの少なくと
も１面を非球面等の収差補正透過面にしたことを特徴と
するものである。
を解決することを目的とするものであり、偏向光学素子
として、透過する光束を偏向させるための偏角プリズム
を使用し、かつ、この偏角プリスムで発生する非点収差
等の収差成分を除去するため、偏角プリズムの少なくと
も１面を非球面等の収差補正透過面にしたことを特徴と
するものである。
【０００７】本発明によれば、偏角プリズムの少なくと
も１つの透過面を収差補正面にすることにより、偏角プ
リズムをこの種の装置における偏向部材として初めて適
用可能となったものであり、光路内に配置した偏角プリ
ズムを光軸を中心として回転させるだけで光束を傾向さ
せることができ、光学系も極めて簡単な構成にすること
ができるという利点を有しているものである。
も１つの透過面を収差補正面にすることにより、偏角プ
リズムをこの種の装置における偏向部材として初めて適
用可能となったものであり、光路内に配置した偏角プリ
ズムを光軸を中心として回転させるだけで光束を傾向さ
せることができ、光学系も極めて簡単な構成にすること
ができるという利点を有しているものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題に鑑み
案出されたもので、被検眼眼底に微少光源像を投影する
ための投影系と、該眼底からの反射光で被検眼瞳孔内か
ら射出される光束の波面を検出するための波面検出系
と、前記投影系と波面検出系の両光路内に、少なくとも
１つの収差補正用透過面を有し入射する光束を偏向させ
るための偏角プリズムを配置したことを特徴としてい
る。
案出されたもので、被検眼眼底に微少光源像を投影する
ための投影系と、該眼底からの反射光で被検眼瞳孔内か
ら射出される光束の波面を検出するための波面検出系
と、前記投影系と波面検出系の両光路内に、少なくとも
１つの収差補正用透過面を有し入射する光束を偏向させ
るための偏角プリズムを配置したことを特徴としてい
る。
【０００９】更に本発明の偏角プリズムは、投影系と波
面検出系の共用、或いは別個の光路内に配置することも
できる。
面検出系の共用、或いは別個の光路内に配置することも
できる。
【００１０】また本発明の偏角プリズムは、光軸を中心
として回転可能に構成することもできる。
として回転可能に構成することもできる。
【００１１】そして本発明の収差補正用透過面は、非球
面の透過面とすることもできる。
面の透過面とすることもできる。
【００１２】更に本発明は、収差補正用透過面は、回折
光学素子面とすることもできる。
光学素子面とすることもできる。
【００１３】また本発明の波面検出系は、複数の開口絞
りを有するハルトマン絞りと、該ハルトマン絞りの各開
口を透過した光束の到達位置を検出するための光電検出
器とから構成することもできる。
りを有するハルトマン絞りと、該ハルトマン絞りの各開
口を透過した光束の到達位置を検出するための光電検出
器とから構成することもできる。
【００１４】
【発明の実施の形態】本発明は上記課題に鑑み案出され
たもので、投影系が、被検眼眼底に微少光源像を投影
し、波面検出系が、眼底からの反射光で被検眼瞳孔内か
ら射出される光束の波面を検出し、投影系と波面検出系
の両光路内に、少なくとも１つの収差補正用透過面を有
する偏角プリズムが、入射する光束を偏向させることが
できる。
たもので、投影系が、被検眼眼底に微少光源像を投影
し、波面検出系が、眼底からの反射光で被検眼瞳孔内か
ら射出される光束の波面を検出し、投影系と波面検出系
の両光路内に、少なくとも１つの収差補正用透過面を有
する偏角プリズムが、入射する光束を偏向させることが
できる。
【００１５】更に本発明の偏角プリズムは、投影系と波
面検出系の共用、或いは別個の光路内に配置することも
できる。
面検出系の共用、或いは別個の光路内に配置することも
できる。
【００１６】また本発明の偏角プリズムは、光軸を中心
として回転可能にすることもできる。
として回転可能にすることもできる。
【００１７】そして本発明の収差補正用透過面は、非球
面の透過面とすることもできる。
面の透過面とすることもできる。
【００１８】更に本発明は、収差補正用透過面は、回折
光学素子面とすることもできる。
光学素子面とすることもできる。
【００１９】また本発明の波面検出系は、光電検出器
が、複数の開口絞りを有するハルトマン絞りの各開口を
透過した光束の到達位置を検出することもできる。
が、複数の開口絞りを有するハルトマン絞りの各開口を
透過した光束の到達位置を検出することもできる。
【００２０】
【００２１】以下、本発明の実施例を図面により説明す
る。
る。
【００２２】［第１実施例］
【００２３】本発明の第１実施例である眼特性測定装置
１００００は、図１に示す様に、第１波長の光束を発す
るための第１の光源部１００と、第１の光源部１００か
らの光束で被検眼網膜上で微小な領域を、その照明条件
を変化可能に照明するための第１照明光学系２００Ａ
と、被検眼網膜から反射して戻ってくる光束の一部を、
反射光束を少なくとも９本のビームに変換するための第
１変換部材４００を介して第１受光部５１０に導くため
の第１受光光学系３００Ａと、被検眼網膜から反射して
戻ってくる第２光束を第２受光部５２０に導くための第
２受光光学系３００Ｂと、光束の傾き角に対応する第１
受光部５１０からの第１信号に基づき、被検眼の光学特
性を求めるための演算部６００とから構成されている。
なお、第１照明光学系２００Ａが投影系に該当し、第１
受光光学系３００Ａが、波面検出系に該当する。
１００００は、図１に示す様に、第１波長の光束を発す
るための第１の光源部１００と、第１の光源部１００か
らの光束で被検眼網膜上で微小な領域を、その照明条件
を変化可能に照明するための第１照明光学系２００Ａ
と、被検眼網膜から反射して戻ってくる光束の一部を、
反射光束を少なくとも９本のビームに変換するための第
１変換部材４００を介して第１受光部５１０に導くため
の第１受光光学系３００Ａと、被検眼網膜から反射して
戻ってくる第２光束を第２受光部５２０に導くための第
２受光光学系３００Ｂと、光束の傾き角に対応する第１
受光部５１０からの第１信号に基づき、被検眼の光学特
性を求めるための演算部６００とから構成されている。
なお、第１照明光学系２００Ａが投影系に該当し、第１
受光光学系３００Ａが、波面検出系に該当する。
【００２４】そして第１照明光学系２００Ａと第１受光
光学系３００Ａの両光路内に、少なくとも１つの収差補
正用透過面を有し、入射する光束を偏向させるための偏
角プリズム３０００が配置されている。
光学系３００Ａの両光路内に、少なくとも１つの収差補
正用透過面を有し、入射する光束を偏向させるための偏
角プリズム３０００が配置されている。
【００２５】そして演算部６００が、制御部６１０を含
む全体の制御を司っている。更に、制御部６１０は、第
１受光部５１０、第２受光部５２０、第３受光部５３０
からの信号、、（１０）からの信号を受け取り、第
１の光源部１００乃至第４の光源部１３０の駆動及び、
第１駆動部９１０乃至第３駆動部９３０の駆動を司ると
ともに、表示部７００、メモリ８００の制御を行う。
む全体の制御を司っている。更に、制御部６１０は、第
１受光部５１０、第２受光部５２０、第３受光部５３０
からの信号、、（１０）からの信号を受け取り、第
１の光源部１００乃至第４の光源部１３０の駆動及び、
第１駆動部９１０乃至第３駆動部９３０の駆動を司ると
ともに、表示部７００、メモリ８００の制御を行う。
【００２６】第１の光源部１００は、空間コヒーレンス
が高く、時間コヒーレンスは高くないものが望ましい。
本第１実施例の第１の光源部１００には、ＳＬＤが採用
されており、輝度が高い点光源を得ることができる。
が高く、時間コヒーレンスは高くないものが望ましい。
本第１実施例の第１の光源部１００には、ＳＬＤが採用
されており、輝度が高い点光源を得ることができる。
【００２７】また、本第１実施例の第１の光源部１００
は、ＳＬＤに限られるものではなく、レーザーの様に空
間、時間ともコヒーレンスが高いものでも、回転拡散板
などを挿入することにより、適度に時間コヒーレンスを
下げることで利用できる。
は、ＳＬＤに限られるものではなく、レーザーの様に空
間、時間ともコヒーレンスが高いものでも、回転拡散板
などを挿入することにより、適度に時間コヒーレンスを
下げることで利用できる。
【００２８】そして、ＳＬＤの様に、空間、時間ともコ
ヒーレンスが高くないものでも、光量さえ充分であれ
ば、ピンホール等を光路の光源の位置に挿入すること
で、使用可能になる。
ヒーレンスが高くないものでも、光量さえ充分であれ
ば、ピンホール等を光路の光源の位置に挿入すること
で、使用可能になる。
【００２９】本第１実施例の照明用の第１の光源部１０
０の波長は、赤外域の波長、例えば７８０ｎｍを使用す
ることができる。
０の波長は、赤外域の波長、例えば７８０ｎｍを使用す
ることができる。
【００３０】第１照明光学系２００Ａは、第１の光源部
１００からの光束で被検眼眼底上で微小な領域を照明す
るためのものである。第１照明光学系２００Ａは、第１
のコリメータレンズ２１０からなり、被検眼１０００を
照明するものである。
１００からの光束で被検眼眼底上で微小な領域を照明す
るためのものである。第１照明光学系２００Ａは、第１
のコリメータレンズ２１０からなり、被検眼１０００を
照明するものである。
【００３１】第１受光光学系３００Ａは、被検眼網膜か
ら反射して戻ってくる光束を受光し第１受光部５１０に
導くためのものである。第１受光光学系３００Ａは、第
１のアフォーカルレンズ３１０と、第２のビームスプリ
ッタ３４０と、第２のアフォーカルレンズ３１２と、偏
角プリズム３０００と、第１のビームスプリッタ３３０
と、第１受光手段３０１Ａとから構成されている。ま
た、第１受光手段３０１Ａは、第１のコリメートレンズ
３２０と、反射光束を少なくとも９本のビームに変換す
るための変換部材４００と、第１受光部５１０とから構
成されている。
ら反射して戻ってくる光束を受光し第１受光部５１０に
導くためのものである。第１受光光学系３００Ａは、第
１のアフォーカルレンズ３１０と、第２のビームスプリ
ッタ３４０と、第２のアフォーカルレンズ３１２と、偏
角プリズム３０００と、第１のビームスプリッタ３３０
と、第１受光手段３０１Ａとから構成されている。ま
た、第１受光手段３０１Ａは、第１のコリメートレンズ
３２０と、反射光束を少なくとも９本のビームに変換す
るための変換部材４００と、第１受光部５１０とから構
成されている。
【００３２】また、第１受光光学系３００Ａには、第１
のビームスプリッタ３３０が挿入されており、第１照明
光学系２００Ａからの光を被検眼１０００に送光し、反
射光を透過させる様に構成されている。
のビームスプリッタ３３０が挿入されており、第１照明
光学系２００Ａからの光を被検眼１０００に送光し、反
射光を透過させる様に構成されている。
【００３３】第１受光部５１０は、変換部材４００を通
過した第１受光光学系３００Ａからの光を受光し、第１
信号を生成するためのものである。なお、第１受光部
５１０は、光電検出器に該当する。
過した第１受光光学系３００Ａからの光を受光し、第１
信号を生成するためのものである。なお、第１受光部
５１０は、光電検出器に該当する。
【００３４】第１の光源部１００と眼底が共役となって
おり、眼底と第１受光部５１０とが共役となっている。
更に、変換部材４００と瞳孔も共役となっており、瞳孔
と偏角プリズム３０００の収差を付加した面が共役とな
っている。
おり、眼底と第１受光部５１０とが共役となっている。
更に、変換部材４００と瞳孔も共役となっており、瞳孔
と偏角プリズム３０００の収差を付加した面が共役とな
っている。
【００３５】即ち、第１のアフォーカルレンズ３１０の
前側焦点は、被検査対象物である被検眼前眼部と略一致
している。
前側焦点は、被検査対象物である被検眼前眼部と略一致
している。
【００３６】そして、第１照明光学系２００Ａと第１受
光光学系３００Ａとは、第１の光源部１００からの光束
が集光する点で反射されたとして、その反射光による第
１受光部５１０での信号ピークが最大となる関係を維持
して、連動して移動し、第１受光部５１０での信号ピー
クが強くなる方向に移動し、強度が最大となる位置で停
止する様に構成されている。この結果、第１の光源部１
００からの光束が、被検眼眼底上で集光することとな
る。
光光学系３００Ａとは、第１の光源部１００からの光束
が集光する点で反射されたとして、その反射光による第
１受光部５１０での信号ピークが最大となる関係を維持
して、連動して移動し、第１受光部５１０での信号ピー
クが強くなる方向に移動し、強度が最大となる位置で停
止する様に構成されている。この結果、第１の光源部１
００からの光束が、被検眼眼底上で集光することとな
る。
【００３７】ここで偏角プリズム３０００について、詳
細に説明する。
細に説明する。
【００３８】偏角プリズム３０００は、光透過部材で作
られた楔型の偏角プリズムであり、第１照明光学系２０
０Ａと第１受光光学系３００Ａとの共用光路の被検眼の
瞳と共役位置に、光軸を中心として回転可能に配置され
る。即ち、演算部６００からの制御信号に基づいて、第
３の駆動部９３０が偏角プリズム３０００を回転させる
ことができる。
られた楔型の偏角プリズムであり、第１照明光学系２０
０Ａと第１受光光学系３００Ａとの共用光路の被検眼の
瞳と共役位置に、光軸を中心として回転可能に配置され
る。即ち、演算部６００からの制御信号に基づいて、第
３の駆動部９３０が偏角プリズム３０００を回転させる
ことができる。
【００３９】偏角プリズム３０００は、第１の光源部１
００からの光束を微小角度偏向させるためのプリズムで
あり、被検眼眼底に投影される光束の主光線は、被検眼
１０００の瞳の位置を中心として微小角度偏向され、被
検眼１０００の眼底上には中心から微小量だけ離れた位
置に点光源像が形成される。この点光源からの光束は、
再度偏角プリズム３０００を透過することにより傾向が
戻され、第１受光部５１０には、光軸と平行な主光線の
光束として投影される。
００からの光束を微小角度偏向させるためのプリズムで
あり、被検眼眼底に投影される光束の主光線は、被検眼
１０００の瞳の位置を中心として微小角度偏向され、被
検眼１０００の眼底上には中心から微小量だけ離れた位
置に点光源像が形成される。この点光源からの光束は、
再度偏角プリズム３０００を透過することにより傾向が
戻され、第１受光部５１０には、光軸と平行な主光線の
光束として投影される。
【００４０】ここで、偏角プリズム３０００を高速で回
転させると、眼底上では光源像は眼底上で所定半径の円
状軌跡に沿って回転し、この回転軌跡上のそれぞれの点
光源からの光束により形成される平均化された波面を、
第１受光部５１０で検出することができる。このため眼
底上の点光源の投影位置の違いによる測定のばらつきを
平均化して測定でき、被検眼１０００から射出される波
面の測定精度を格段に向上させることができる。
転させると、眼底上では光源像は眼底上で所定半径の円
状軌跡に沿って回転し、この回転軌跡上のそれぞれの点
光源からの光束により形成される平均化された波面を、
第１受光部５１０で検出することができる。このため眼
底上の点光源の投影位置の違いによる測定のばらつきを
平均化して測定でき、被検眼１０００から射出される波
面の測定精度を格段に向上させることができる。
【００４１】なお偏角プリズム３０００は、第１照明光
学系２００Ａ（投影系）と第１受光光学系３００Ａ（受
光系）の共用光路内に配置したが、第１照明光学系２０
０Ａ（投影系）、第１受光光学系３００Ａ（受光系）の
それぞれの光路に同一の偏角プリズム３０００を配置
し、両偏角プリズム３０００を同期して回転させても同
一の効果を得ることができる。
学系２００Ａ（投影系）と第１受光光学系３００Ａ（受
光系）の共用光路内に配置したが、第１照明光学系２０
０Ａ（投影系）、第１受光光学系３００Ａ（受光系）の
それぞれの光路に同一の偏角プリズム３０００を配置
し、両偏角プリズム３０００を同期して回転させても同
一の効果を得ることができる。
【００４２】次に、変換部材４００について説明する。
【００４３】第１受光光学系３００Ａに配置された変換
部材４００は、反射光束を複数のビームに変換する波面
変換部材である。本第１実施例の変換部材４００には、
光軸と直交する面内に配置された複数のマイクロフレネ
ルレンズが採用されている。
部材４００は、反射光束を複数のビームに変換する波面
変換部材である。本第１実施例の変換部材４００には、
光軸と直交する面内に配置された複数のマイクロフレネ
ルレンズが採用されている。
【００４４】測定対象部を球面成分と３次の非点収差以
外のその他の高次収差まで測定するためには、測定対象
物を介した少なくとも１７本のビームで測定する必要が
ある。変換部材の一例を図７ａ、図７ｂで示す。何れも
中心の開口が光学系の光軸に一致して配置される。
外のその他の高次収差まで測定するためには、測定対象
物を介した少なくとも１７本のビームで測定する必要が
ある。変換部材の一例を図７ａ、図７ｂで示す。何れも
中心の開口が光学系の光軸に一致して配置される。
【００４５】ここでマイクロフレネルレンズについて詳
細に説明する。
細に説明する。
【００４６】マイクロフレネルレンズは波長ごとの高さ
ピッチの輪帯をもち、集光点と平行な出射に最適化され
たブレーズを持つ光学素子である。ここで利用すること
のできるマイクロフレネルレンズは、例えば、半導体微
細加工技術を応用した８レベルの光路長差をつけたもの
で、９８％の集光効率を実現できる。
ピッチの輪帯をもち、集光点と平行な出射に最適化され
たブレーズを持つ光学素子である。ここで利用すること
のできるマイクロフレネルレンズは、例えば、半導体微
細加工技術を応用した８レベルの光路長差をつけたもの
で、９８％の集光効率を実現できる。
【００４７】眼底からの反射光は、第２のアフォーカル
レンズ３１２及び第２のシリンダーレンズ３２０を通過
し、変換部材４００を介して、その１次光として第１受
光部５１０上に集光する。ここで０次光は透過光束に相
当し、１次光は収束光束に相当する。
レンズ３１２及び第２のシリンダーレンズ３２０を通過
し、変換部材４００を介して、その１次光として第１受
光部５１０上に集光する。ここで０次光は透過光束に相
当し、１次光は収束光束に相当する。
【００４８】また変換部材４００は、少なくとも１７個
の領域に分けられた各領域において、収束作用を行うマ
イクロレンズ部と透過作用を行う開口部分で構成するこ
とも可能である。
の領域に分けられた各領域において、収束作用を行うマ
イクロレンズ部と透過作用を行う開口部分で構成するこ
とも可能である。
【００４９】本第１実施例の変換部材４００は、反射光
束を少なくとも１７本以上のビームに変換する波面変換
部材から構成されている。
束を少なくとも１７本以上のビームに変換する波面変換
部材から構成されている。
【００５０】次に第１受光部５１０は、変換部材４００
で変換された複数のビームを受光するためのものであ
り、本第１実施例では、リードアウトノイズの少ないＣ
ＣＤが採用されている。ＣＣＤは、他に低ノイズタイプ
の一般的なものから測定用の２０００＊２０００素子の
冷却ＣＣＤ等、何れのタイプのものが使用できる。
で変換された複数のビームを受光するためのものであ
り、本第１実施例では、リードアウトノイズの少ないＣ
ＣＤが採用されている。ＣＣＤは、他に低ノイズタイプ
の一般的なものから測定用の２０００＊２０００素子の
冷却ＣＣＤ等、何れのタイプのものが使用できる。
【００５１】低ノイズタイプのＣＣＤとそのドライバー
からの画像信号出力は、適応した画像入力ボードを使用
することで簡単に実現することができる。
からの画像信号出力は、適応した画像入力ボードを使用
することで簡単に実現することができる。
【００５２】そして第１受光光学系３００Ａは、被検眼
虹彩と変換部材４００と略共役な関係を形成している。
虹彩と変換部材４００と略共役な関係を形成している。
【００５３】また、第１受光光学系３００Ａには、プリ
ズム３３１が挿入されており、第１照明光学系２００Ａ
からの光を被検眼１０００に送光し、反射光を透過させ
る様に構成されている。
ズム３３１が挿入されており、第１照明光学系２００Ａ
からの光を被検眼１０００に送光し、反射光を透過させ
る様に構成されている。
【００５４】更に、対象物である被検眼１０００と光学
特性測定装置１００００との作動距離を調整する作動距
離調整光学系、対象物である被検眼１０００と光学特性
測定装置１００００との光軸と直交方向の位置関係を調
整するアライメント光学系、及び対象物を照明するため
の第２照明光学系２００Ｂが設けられている。
特性測定装置１００００との作動距離を調整する作動距
離調整光学系、対象物である被検眼１０００と光学特性
測定装置１００００との光軸と直交方向の位置関係を調
整するアライメント光学系、及び対象物を照明するため
の第２照明光学系２００Ｂが設けられている。
【００５５】アライメントは、次の様に行われる。第２
照明光学系２００Ｂの第２の光源部１１０からの光束
を、集光レンズ３７０、第３のビームスプリッター３５
０、第２のビームスプリッター３４０を介して対象物で
ある被検眼１０００を略平行な光束で照明する。被検眼
角膜で反射した反射光束は、あたかも角膜曲率半径の１
／２の点から射出したような発散光束で射出される。こ
の発散光束は、第２受光光学系３００Ｂである第３のビ
ームスプリッター３５０、第２のビームスプリッター３
４０及び集光レンズ３７０を介して第２受光部５２０で
スポット像として受光される。第２受光部５２０上でス
ポット像が光軸上から外れている場合には、これが光軸
上にくる様に光学特性測定装置１００００本体を上下左
右に移動調整する。第２受光部５２０上でスポット像が
光軸上に一致したときに、アライメント調整が完了す
る。
照明光学系２００Ｂの第２の光源部１１０からの光束
を、集光レンズ３７０、第３のビームスプリッター３５
０、第２のビームスプリッター３４０を介して対象物で
ある被検眼１０００を略平行な光束で照明する。被検眼
角膜で反射した反射光束は、あたかも角膜曲率半径の１
／２の点から射出したような発散光束で射出される。こ
の発散光束は、第２受光光学系３００Ｂである第３のビ
ームスプリッター３５０、第２のビームスプリッター３
４０及び集光レンズ３７０を介して第２受光部５２０で
スポット像として受光される。第２受光部５２０上でス
ポット像が光軸上から外れている場合には、これが光軸
上にくる様に光学特性測定装置１００００本体を上下左
右に移動調整する。第２受光部５２０上でスポット像が
光軸上に一致したときに、アライメント調整が完了す
る。
【００５６】第２の光源部１１０の波長は、第１の光源
部１００の波長と異なり、これよりも長い波長、例えば
９４０ｎｍが選択できる。なお、第２の光源部１１０と
瞳孔とが共役であり、瞳孔と第２受光部５２０とが共役
となっている。
部１００の波長と異なり、これよりも長い波長、例えば
９４０ｎｍが選択できる。なお、第２の光源部１１０と
瞳孔とが共役であり、瞳孔と第２受光部５２０とが共役
となっている。
【００５７】第２のビームスプリッター３４０が、第１
の光源部１００の波長を透過し、第２の光源部１１０の
波長を反射するようなダイクロイックミラーで形成する
ことにより、互いの光束がもう一方の光学系に入りノイ
ズとなることを防止できる。
の光源部１００の波長を透過し、第２の光源部１１０の
波長を反射するようなダイクロイックミラーで形成する
ことにより、互いの光束がもう一方の光学系に入りノイ
ズとなることを防止できる。
【００５８】スポット像が光軸上にくれば、アライメン
ト調整は完了する。また、第３の光源部１２０により被
検眼前眼部を照明することにより、被検眼像が前記第２
受光部５２０上に形成されるので、この前眼部像を利用
して瞳中心が光軸と一致するようにアライメント調整を
行うこともできる。
ト調整は完了する。また、第３の光源部１２０により被
検眼前眼部を照明することにより、被検眼像が前記第２
受光部５２０上に形成されるので、この前眼部像を利用
して瞳中心が光軸と一致するようにアライメント調整を
行うこともできる。
【００５９】次に、作動距離調整は、第４の光源部１３
０から射出された光束を対象物に向けて照射し、対象物
である被検眼から反射された光を集光レンズ５３１を介
して第３受光部５３０により受光することにより行われ
る。第３受光部５３０は、第４の光源部１３０と光軸と
第３受光部５３０とを含む面内の光束位置の変化を検出
できるものであれば足り、例えば、その面内に配置した
一次元ＣＣＤやポジションセンシングディバイス（ＰＳ
Ｄ）により構成することができる。
０から射出された光束を対象物に向けて照射し、対象物
である被検眼から反射された光を集光レンズ５３１を介
して第３受光部５３０により受光することにより行われ
る。第３受光部５３０は、第４の光源部１３０と光軸と
第３受光部５３０とを含む面内の光束位置の変化を検出
できるものであれば足り、例えば、その面内に配置した
一次元ＣＣＤやポジションセンシングディバイス（ＰＳ
Ｄ）により構成することができる。
【００６０】被検眼が適正作動距離にある場合には、第
３受光部５３０の光軸上に第４の光源部１３０からのス
ポット像が形成され、適正作動距離から前後に外れたと
きには、それぞれ光軸より上又は下にスポット像が形成
されることとなる。
３受光部５３０の光軸上に第４の光源部１３０からのス
ポット像が形成され、適正作動距離から前後に外れたと
きには、それぞれ光軸より上又は下にスポット像が形成
されることとなる。
【００６１】ここで、眼特性測定装置１００００の電気
的な構成を図２に基づいて説明する。眼特性測定装置１
００００の電気的な構成は、演算部６００と、制御部６
１０と、表示部７００と、メモリ８００と、第１の駆動
部９１０と、第２の駆動部９２０と、第３の駆動部９２
０とから構成されている。
的な構成を図２に基づいて説明する。眼特性測定装置１
００００の電気的な構成は、演算部６００と、制御部６
１０と、表示部７００と、メモリ８００と、第１の駆動
部９１０と、第２の駆動部９２０と、第３の駆動部９２
０とから構成されている。
【００６２】制御部６１０は、演算部６００からの制御
信号に基づいて、第１の光源部１００〜第４の光源１３
０の点灯、消灯を制御したり、第１の駆動部９１０と第
２の駆動部９２０と第３の駆動部９３０とを制御するた
めのものである。
信号に基づいて、第１の光源部１００〜第４の光源１３
０の点灯、消灯を制御したり、第１の駆動部９１０と第
２の駆動部９２０と第３の駆動部９３０とを制御するた
めのものである。
【００６３】第１の駆動部９１０は、演算部６００に入
力された第１受光部５１０からの信号に基づいて、第１
照明光学系２００Ａ全体を光軸方向に移動させるための
ものである。 第１の駆動部９１０は適宜のレンズ移動
手段を駆動させて、照明光学系２００Ａの移動、調節が
行われる様に構成されている。従って第１の駆動部９１
０は、被検眼の網膜に点光源が照明される様に第１照明
光学系２００Ａ全体を光軸方向に移動等させるものであ
る。
力された第１受光部５１０からの信号に基づいて、第１
照明光学系２００Ａ全体を光軸方向に移動させるための
ものである。 第１の駆動部９１０は適宜のレンズ移動
手段を駆動させて、照明光学系２００Ａの移動、調節が
行われる様に構成されている。従って第１の駆動部９１
０は、被検眼の網膜に点光源が照明される様に第１照明
光学系２００Ａ全体を光軸方向に移動等させるものであ
る。
【００６４】第２の駆動部９２０は、演算部６００に入
力された第１受光部５１０からの信号に基づいて、第１
受光光学系３００Ａ全体を光軸方向に移動させるための
ものである。第２の駆動部９２０は、 適宜のレンズ移
動手段を駆動させて、第１受光光学系３００Ａの移動、
調節が行われる様に構成されている。
力された第１受光部５１０からの信号に基づいて、第１
受光光学系３００Ａ全体を光軸方向に移動させるための
ものである。第２の駆動部９２０は、 適宜のレンズ移
動手段を駆動させて、第１受光光学系３００Ａの移動、
調節が行われる様に構成されている。
【００６５】第３の駆動部９３０は、演算部６００から
の制御信号に基づいて、偏角プリズム３０００を回転さ
せるためのものである。偏角プリズム３０００の回転機
構は、モータ等、適宜の回転制御手段が採用される。
の制御信号に基づいて、偏角プリズム３０００を回転さ
せるためのものである。偏角プリズム３０００の回転機
構は、モータ等、適宜の回転制御手段が採用される。
【００６６】以上の様に構成された眼特性測定装置１０
０００は、偏角プリズム３０００を組み込んだ光学系で
被検眼１０００の屈折力等の測定を行う。具体的には、
被検眼１０００の位置のアライメント調整を行う。次に
第１受光部５１０から画像データを取得する。そして、
後述する第４式及び第５式に基づいて、ゼルニケ係数の
算出を行う。更に、ゼルニケ係数の算出を行った後、演
算された（Ｓ、Ｃ、Ａ Ｘ、ＳＡ、Ｃｏｍａ、・・・・
・）等を表示部７００に表示する。これにより、高精度
に被検眼１０００の屈折力等を測定することができる。
０００は、偏角プリズム３０００を組み込んだ光学系で
被検眼１０００の屈折力等の測定を行う。具体的には、
被検眼１０００の位置のアライメント調整を行う。次に
第１受光部５１０から画像データを取得する。そして、
後述する第４式及び第５式に基づいて、ゼルニケ係数の
算出を行う。更に、ゼルニケ係数の算出を行った後、演
算された（Ｓ、Ｃ、Ａ Ｘ、ＳＡ、Ｃｏｍａ、・・・・
・）等を表示部７００に表示する。これにより、高精度
に被検眼１０００の屈折力等を測定することができる。
【００６７】「測定原理」
【００６８】ここで、第１受光部５１０で得られた光束
の傾き角に基づいて被検眼１０００の光学特性を求める
ための演算部６００の動作原理について詳細に説明す
る。
の傾き角に基づいて被検眼１０００の光学特性を求める
ための演算部６００の動作原理について詳細に説明す
る。
【００６９】本発明によって測定されるものは、眼の波
面収差である。
面収差である。
【００７０】変換部材４００の縦横の座標をＸ、Ｙと
し、 第１受光部５１０の縦横座標をｘ、ｙとすれば、
し、 第１受光部５１０の縦横座標をｘ、ｙとすれば、
【００７１】一般に第３式で表される波面Ｗ（Ｘ、Ｙ）
は、下記の第１式と第２式の関係で結び付けられる。
は、下記の第１式と第２式の関係で結び付けられる。
【００７２】「数１」
【００７３】・・・・・第１式
【００７４】「数２」
【００７５】・・・・・第２式
【００７６】「数３」
【００７７】・・・・・第３式
【００７８】そこで、第３式の両辺を、変換部材４００
上の座標Ｘ、Ｙでそれぞれ微分し、第１式と第２式の左
辺に代入すると、Ｃｉｊ の多項式を得ることができ
る。
上の座標Ｘ、Ｙでそれぞれ微分し、第１式と第２式の左
辺に代入すると、Ｃｉｊ の多項式を得ることができ
る。
【００７９】なお、第３式のＺｉｊ は、ゼルニケの多
項式と呼ばれるものであり、 下記の第４式と第５式で
表されるものである。
項式と呼ばれるものであり、 下記の第４式と第５式で
表されるものである。
【００８０】「数４」
【００８１】・・・・・第４式
【００８２】「数５」
【００８３】・・・・・第５式
【００８４】そして、下記の第６式の自乗誤差を最小に
することにより、未知量のＣｉｊを求めることができ
る。
することにより、未知量のＣｉｊを求めることができ
る。
【００８５】「数６」
【００８６】・・・・・第６式
【００８７】以上の様に求められたＣｉｊ を利用する
ことにより、眼の光学的に重要なパラメータとして利用
することができる。
ことにより、眼の光学的に重要なパラメータとして利用
することができる。
【００８８】ここで、ゼルニケの多項式の意味を示す。
【００８９】Ｚ１０、Ｚ１１ ティルト Ｚ２１ デフォーカス Ｚ２０、Ｚ２２ ３次非点収差 Ｚ３０、Ｚ３３ 矢状収差 Ｚ３１、Ｚ３２ ３次コマ収差 Ｚ４２ ３次球面収差 Ｚ４１、Ｚ４３ ５次非点収差 Ｚ５２、Ｚ５３ ５次コマ収差 Ｚ６３ ５次球面収差 Ｚ８４ ７次球面収差
【００９０】次に偏角プリズム３０００の具体的構成に
ついて説明する。
ついて説明する。
【００９１】一般の偏角プリズムは、互いに傾斜した２
つ透過平面を有するものであるが、この一般の偏角プリ
ズムに入射する光束の波面を、例えば平面波としても、
偏角プリズムは高次の光学的収差を有するもので、偏角
プリズムを射出する光束は傾斜した平面波にならないと
いう問題点を有している。このため、本願の様に、被検
眼１０００から射出される波面を検出し、この波面の検
出結果から被検眼１０００の眼特性を検出する測定で
は、この偏角プリズムで発生する収差が測定結果に悪影
響を与え、高精度な波面を検出できないという問題点が
あった。このため、本件発明における偏角プリズム３０
００は、高次の収差を補正するために偏角プリズム３０
００の少なくとも１つの平面を収差補正用の透過面に形
成したものである。なお、収差補正用の透過面は、収差
補正用透過面に該当するものである。
つ透過平面を有するものであるが、この一般の偏角プリ
ズムに入射する光束の波面を、例えば平面波としても、
偏角プリズムは高次の光学的収差を有するもので、偏角
プリズムを射出する光束は傾斜した平面波にならないと
いう問題点を有している。このため、本願の様に、被検
眼１０００から射出される波面を検出し、この波面の検
出結果から被検眼１０００の眼特性を検出する測定で
は、この偏角プリズムで発生する収差が測定結果に悪影
響を与え、高精度な波面を検出できないという問題点が
あった。このため、本件発明における偏角プリズム３０
００は、高次の収差を補正するために偏角プリズム３０
００の少なくとも１つの平面を収差補正用の透過面に形
成したものである。なお、収差補正用の透過面は、収差
補正用透過面に該当するものである。
【００９２】図３の（ａ）に示す様に、偏角プリズム３
０００に平面波の光束を入射させると仮定すると、偏角
プリズム３０００を透過した光束の波面は所定角度傾い
た波面になるが、収差により完全な平面波にならない。
この射出波面をＷ（ｘ、ｙ）とする。
０００に平面波の光束を入射させると仮定すると、偏角
プリズム３０００を透過した光束の波面は所定角度傾い
た波面になるが、収差により完全な平面波にならない。
この射出波面をＷ（ｘ、ｙ）とする。
【００９３】この射出波面をＷ（ｘ、ｙ）の収差を、ゼ
ルニケ多項式で示すと、上記の第３式と同様に下記の式
で表すことができる。
ルニケ多項式で示すと、上記の第３式と同様に下記の式
で表すことができる。
【００９４】「数７」
【００９５】・・・・・第７式
【００９６】一方、偏角プリズム３０００の透過面の非
球面面形状をｆ（ｘ、ｙ）をゼルニケ多項式であらわす
と下記式となる。
球面面形状をｆ（ｘ、ｙ）をゼルニケ多項式であらわす
と下記式となる。
【００９７】「数８」
【００９８】・・・・・第８式
【００９９】ここで、ｘ、ｙは、偏角プリズム３０００
面での入射光束の半径によって規格化されている。
面での入射光束の半径によって規格化されている。
【０１００】ここで、偏角プリズム３０００で発生する
収差を補正するには、（ｉ、ｊ）＝（１、０）（１、
１）以外の項で形成される、波面及び面形状において、
収差を補正するには、（ｉ、ｊ）＝（１、０）（１、
１）以外の項で形成される、波面及び面形状において、
【０１０１】 Ｗ（ｘ、ｙ）＋ｆ（ｘ、ｙ）・（ｎ−１）＝０ ・・・・・第９式
【０１０２】という条件を満たす面形状を選択すれば良
い。
い。
【０１０３】即ち、第７式と第８式より、
【０１０４】 ｉ≧２の時 ｄｉｊ＝−（Ｃｉｊ／（ｎ−１）） （ｉ＝２・・・、ｊ＝０・ ・・ｉ）
【０１０５】・・・・第１１式
【０１０６】 ｉ＜２の時 ｄｉｊ＝０ （ｉ＝０、１、 ｊ＝０・・・ｉ）
【０１０７】・・・・第１２式
【０１０８】となる面形状を選択すれば、偏角プリズム
３０００での波面の傾斜項以外の収差量を０にすること
ができ、図３（ｂ）及び図３（ｃ）に示す様に、偏角プ
リズム３０００を透過した光束の波面の収差は除去され
収差のない傾斜した平面波Ｗ’（ｘ、ｙ）を得ることが
できる。
３０００での波面の傾斜項以外の収差量を０にすること
ができ、図３（ｂ）及び図３（ｃ）に示す様に、偏角プ
リズム３０００を透過した光束の波面の収差は除去され
収差のない傾斜した平面波Ｗ’（ｘ、ｙ）を得ることが
できる。
【０１０９】ここで、上記の偏角プリズム３０００を具
体的設計例で示すことにする。
体的設計例で示すことにする。
【０１１０】例えば、使用する偏角プリズム３０００の
屈折率を１.７３５０３７（眼特性測定装置１００００
での使用波長８４０ｎｍでの屈折率）として、偏角プリ
ズム３０００の入射側の平面が光軸に対し、８.４度傾
斜させ、射出側の平面は光軸に対し１０度傾け、透過偏
角が１.１７４５６７度となる偏角プリズムを想定す
る。
屈折率を１.７３５０３７（眼特性測定装置１００００
での使用波長８４０ｎｍでの屈折率）として、偏角プリ
ズム３０００の入射側の平面が光軸に対し、８.４度傾
斜させ、射出側の平面は光軸に対し１０度傾け、透過偏
角が１.１７４５６７度となる偏角プリズムを想定す
る。
【０１１１】この条件でこのＣｉｊ を具体的に演算す
ると図４に示す様になる。
ると図４に示す様になる。
【０１１２】ここで、この算出された係数Ｃｉｊ に基
づき、第１１式、第１２式に基づき、ｄｉｊ が求めら
れ、収差補正のための面形状ｆ（ｘ、ｙ）が決定され
る。
づき、第１１式、第１２式に基づき、ｄｉｊ が求めら
れ、収差補正のための面形状ｆ（ｘ、ｙ）が決定され
る。
【０１１３】なお、上記算出により求められた収差補正
用の面３１００は、図３（ｂ）に示す様に偏角プリズム
３０００の入射面、或いは、図３（ｃ）に示す様に射出
平面に設けても良い。
用の面３１００は、図３（ｂ）に示す様に偏角プリズム
３０００の入射面、或いは、図３（ｃ）に示す様に射出
平面に設けても良い。
【０１１４】そして偏角プリズム３０００としては、図
５に示す様に、楔型の偏角プリズム３０００の少なくと
も１面を収差補正用の非球面形状にする代わりに、同効
果を有する回折光学素子面３２００にしても良い。
５に示す様に、楔型の偏角プリズム３０００の少なくと
も１面を収差補正用の非球面形状にする代わりに、同効
果を有する回折光学素子面３２００にしても良い。
【０１１５】また図６に示す様に、一般の偏角プリズム
と、その偏角プリズムで発生する収差だけを補正するた
めに、平面板の１平面に回折光学素子面３２００を設け
る様にして、２つの光学部材により、収差のない偏角プ
リズム３０００を構成しても良い。
と、その偏角プリズムで発生する収差だけを補正するた
めに、平面板の１平面に回折光学素子面３２００を設け
る様にして、２つの光学部材により、収差のない偏角プ
リズム３０００を構成しても良い。
【０１１６】なお回折光学素子面３２００は、収差補正
用透過面に該当するものである。
用透過面に該当するものである。
【０１１７】
【効果】以上の様に構成された本発明は、被検眼眼底に
微少光源像を投影するための投影系と、該眼底からの反
射光で被検眼瞳孔内から射出される光束の波面を検出す
るための波面検出系と、前記投影系と波面検出系の両光
路内に、少なくとも１つの収差補正用透過面を有し入射
する光束を偏向させるための偏角プリズムを配置してい
るので、極めて正確な測定を行うことができるという卓
越した効果がある。
微少光源像を投影するための投影系と、該眼底からの反
射光で被検眼瞳孔内から射出される光束の波面を検出す
るための波面検出系と、前記投影系と波面検出系の両光
路内に、少なくとも１つの収差補正用透過面を有し入射
する光束を偏向させるための偏角プリズムを配置してい
るので、極めて正確な測定を行うことができるという卓
越した効果がある。
【０１１８】
【図１】本発明の第１実施例の光学特性測定装置１００
００の構成を示す図である。
００の構成を示す図である。
【図２】第１実施例の光学特性測定装置１００００の電
気的構成を示す図である。
気的構成を示す図である。
【図３】偏角プリズム３００例を説明する図である。
【図４】演算結果を示す図である。
【図５】偏角プリズム３０００の変形例を説明する図で
ある。
ある。
【図６】偏角プリズム３０００の変形例を説明する図で
ある。
ある。
【図７】ハルトマン板の開口を説明する図である。
１００００ 第１実施例の光学特性測定装置 １０００ 被検眼 ３０００ 偏角プリズム ３１００ 収差補正用の面 １００ 第１の光源部 １１０ 第２の光源部 １２０ 第３の光源部 １３０ 第４の光源部 ２００Ａ 第１照明光学系 ２２０ シリンダーレンズ ３００Ａ 第１受光光学系 ３００Ｂ 第２受光光学系 ３１０ 対物レンズ ３２０ コリメートレンズ ３３０ 第１のビームスプリッタ ３４０ 第２のビームスプリッタ ３５０ 第３のビームスプリッタ ４００ 第１変換部材 ５１０ 第１受光部 ５２０ 第２受光部 ５３０ 第３受光部 ６００ 演算部 ７００ 表示部
Claims (6)
- 【請求項１】 被検眼眼底に微少光源像を投影するため
の投影系と、該眼底からの反射光で被検眼瞳孔内から射
出される光束の波面を検出するための波面検出系と、前
記投影系と波面検出系の両光路内に、少なくとも１つの
収差補正用透過面を有し入射する光束を偏向させるため
の偏角プリズムを配置したことを特徴とする眼光学特性
測定装置。 - 【請求項２】 前記偏角プリズムは、投影系と波面検出
系の共用、或いは別個の光路内に配置された請求項１記
載の眼光学特性測定装置。 - 【請求項３】 前記偏角プリズムは、光軸を中心として
回転可能に構成されている請求項２記載の眼光学特性測
定装置。 - 【請求項４】 収差補正用透過面は、非球面の透過面で
ある請求項１記載の眼光学特性測定装置。 - 【請求項５】 収差補正用透過面は、回折光学素子面で
ある請求項１記載の眼光学特性測定装置。 - 【請求項６】 波面検出系は、複数の開口絞りを有する
ハルトマン絞りと、該ハルトマン絞りの各開口を透過し
た光束の到達位置を検出するための光電検出器からなる
請求項１記載の眼光学特性測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000089978A JP4491663B2 (ja) | 2000-03-28 | 2000-03-28 | 眼光学特性測定装置 |
| US09/819,354 US6536900B2 (en) | 2000-03-28 | 2001-03-28 | Eye characteristic measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000089978A JP4491663B2 (ja) | 2000-03-28 | 2000-03-28 | 眼光学特性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001275972A true JP2001275972A (ja) | 2001-10-09 |
| JP4491663B2 JP4491663B2 (ja) | 2010-06-30 |
Family
ID=18605654
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000089978A Expired - Fee Related JP4491663B2 (ja) | 2000-03-28 | 2000-03-28 | 眼光学特性測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6536900B2 (ja) |
| JP (1) | JP4491663B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001321340A (ja) * | 2000-05-12 | 2001-11-20 | Topcon Corp | 眼特性測定装置 |
| JP2005224328A (ja) * | 2004-02-10 | 2005-08-25 | Topcon Corp | 収差補正機能付き画像形成装置 |
| US7296896B2 (en) | 2005-02-04 | 2007-11-20 | Nidek Co., Ltd. | Ophthalmic measurement apparatus |
| JP2008110175A (ja) * | 2006-10-31 | 2008-05-15 | Nidek Co Ltd | 眼科測定装置 |
| US9179836B2 (en) | 2011-06-06 | 2015-11-10 | Clarity Medical Systems, Inc. | Compact wavefront sensor module and its attachment to or integration with an ophthalmic instrument |
| US9918628B2 (en) | 2014-06-27 | 2018-03-20 | Kabushiki Kaisha Topcon | Accommodation function evaluation apparatus |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6619799B1 (en) | 1999-07-02 | 2003-09-16 | E-Vision, Llc | Optical lens system with electro-active lens having alterably different focal lengths |
| DE19938203A1 (de) | 1999-08-11 | 2001-02-15 | Aesculap Meditec Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Korrektur von Sehfehlern des menschlichen Auges |
| EP1157657A4 (en) * | 1999-12-27 | 2007-08-08 | Topcon Corp | INSTRUMENT FOR MEASURING OPTICAL CHARACTERISTICS |
| US6712466B2 (en) | 2001-10-25 | 2004-03-30 | Ophthonix, Inc. | Eyeglass manufacturing method using variable index layer |
| US7034949B2 (en) * | 2001-12-10 | 2006-04-25 | Ophthonix, Inc. | Systems and methods for wavefront measurement |
| US6781681B2 (en) | 2001-12-10 | 2004-08-24 | Ophthonix, Inc. | System and method for wavefront measurement |
| US6761454B2 (en) | 2002-02-13 | 2004-07-13 | Ophthonix, Inc. | Apparatus and method for determining objective refraction using wavefront sensing |
| US20050174535A1 (en) * | 2003-02-13 | 2005-08-11 | Lai Shui T. | Apparatus and method for determining subjective responses using objective characterization of vision based on wavefront sensing |
| WO2003102519A1 (en) * | 2002-05-31 | 2003-12-11 | Wavefront Sciences, Inc. | Methhod and system for sensing and analyzing a wavefront of an optically transmissive system |
| JP4185331B2 (ja) * | 2002-08-29 | 2008-11-26 | 株式会社トプコン | 矯正データ測定方法、測定装置、測定プログラム及び測定プログラムを記録した記録媒体 |
| DE102004036929B4 (de) * | 2004-07-29 | 2008-07-17 | Zf Friedrichshafen Ag | Pralldämpferanordnung für ein Kraftfahrzeug |
| US7896498B2 (en) * | 2009-03-30 | 2011-03-01 | Ottawa Hospital Research Institute | Apparatus and method for optical measurements |
| CN102525404B (zh) * | 2010-11-05 | 2015-09-30 | 尼德克株式会社 | 眼科装置 |
| US8681422B2 (en) * | 2011-12-14 | 2014-03-25 | Nistica, Inc. | Optical processing device employing a digital micromirror device (DMD) and having reduced wavelength dependent loss |
| US9122926B2 (en) | 2012-07-19 | 2015-09-01 | Honeywell International Inc. | Iris recognition using localized Zernike moments |
| US11982927B2 (en) * | 2018-06-04 | 2024-05-14 | Mitsubishi Electric Corporation | Light irradiation device having two wedge prisms and an aberration correction surface |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0648543B2 (ja) * | 1985-12-04 | 1994-06-22 | 三菱電機株式会社 | 光学ヘツド装置 |
| JP3047314B2 (ja) * | 1995-01-12 | 2000-05-29 | 株式会社リコー | 光ヘッド |
| US5768001A (en) * | 1996-06-10 | 1998-06-16 | Agfa Division, Bayer Corp. | Rotating beam deflector having an integral wave front correction element |
| US6199986B1 (en) * | 1999-10-21 | 2001-03-13 | University Of Rochester | Rapid, automatic measurement of the eye's wave aberration |
| US6439720B1 (en) * | 2000-01-27 | 2002-08-27 | Aoptics, Inc. | Method and apparatus for measuring optical aberrations of the human eye |
-
2000
- 2000-03-28 JP JP2000089978A patent/JP4491663B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-03-28 US US09/819,354 patent/US6536900B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001321340A (ja) * | 2000-05-12 | 2001-11-20 | Topcon Corp | 眼特性測定装置 |
| JP4517211B2 (ja) * | 2000-05-12 | 2010-08-04 | 株式会社トプコン | 眼特性測定装置 |
| JP2005224328A (ja) * | 2004-02-10 | 2005-08-25 | Topcon Corp | 収差補正機能付き画像形成装置 |
| JP4509591B2 (ja) * | 2004-02-10 | 2010-07-21 | 株式会社トプコン | 収差補正機能付き画像形成装置 |
| US7296896B2 (en) | 2005-02-04 | 2007-11-20 | Nidek Co., Ltd. | Ophthalmic measurement apparatus |
| JP2008110175A (ja) * | 2006-10-31 | 2008-05-15 | Nidek Co Ltd | 眼科測定装置 |
| US9179836B2 (en) | 2011-06-06 | 2015-11-10 | Clarity Medical Systems, Inc. | Compact wavefront sensor module and its attachment to or integration with an ophthalmic instrument |
| KR101605842B1 (ko) | 2011-06-06 | 2016-03-23 | 클레러티 메디칼 시스템즈 인코포레이티드 | 안과 장치 |
| US9918628B2 (en) | 2014-06-27 | 2018-03-20 | Kabushiki Kaisha Topcon | Accommodation function evaluation apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4491663B2 (ja) | 2010-06-30 |
| US20010035939A1 (en) | 2001-11-01 |
| US6536900B2 (en) | 2003-03-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4491663B2 (ja) | 眼光学特性測定装置 | |
| JP4517211B2 (ja) | 眼特性測定装置 | |
| JP4587095B2 (ja) | 光学特性の測定装置 | |
| US9084564B2 (en) | System for determining the topography of the cornea of an eye | |
| JP3740546B2 (ja) | 眼科測定装置 | |
| US6880933B2 (en) | Method and apparatus for measuring wavefront aberrations | |
| US6540692B2 (en) | Optical characteristic measuring apparatus | |
| JPH11137522A (ja) | 光学特性測定装置 | |
| KR100925526B1 (ko) | 어베로미터 조명기기 및 방법 | |
| JPH10305013A (ja) | 眼特性測定装置 | |
| JP2012524590A (ja) | レイトレーシング共役波面収差測定のためのデバイス及び方法 | |
| CN113749608B (zh) | 一种人眼波前像差检测系统 | |
| WO2004028355A1 (ja) | 眼特性測定装置 | |
| US7296895B2 (en) | Sequential scanning wavefront measurement and retinal topography | |
| JP3823266B2 (ja) | 光学特性測定装置 | |
| JP4692939B2 (ja) | 眼特性測定装置 | |
| US6676258B2 (en) | Eye characteristic measurement apparatus with speckle noise reduction | |
| US7249852B2 (en) | Eye characteristic measuring apparatus | |
| JP2004159784A (ja) | 眼特性測定装置 | |
| USRE39882E1 (en) | Ophthalmologic characteristic measuring apparatus | |
| JP4618593B2 (ja) | 眼特性測定装置 | |
| JP3898108B2 (ja) | 眼特性測定装置 | |
| JP4231273B2 (ja) | 眼特性測定装置 | |
| JP4492859B2 (ja) | 眼屈折力測定装置 | |
| JPH0723906A (ja) | ベイダル光学系を使用した自動屈折装置、レンズメータ及び角膜計 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070314 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100122 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100302 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100322 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130416 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130416 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140416 Year of fee payment: 4 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |