JP2759413B2 - 被検眼位置検出装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 【０００１】 【産業上の利用分野】本発明は、眼科器械に対する被検
眼の位置を検出する被検眼位置検出装置に関する。 【０００２】 【従来技術】被検眼眼底を観察撮影するための眼底カメ
ラ、被検眼の屈折度を測定するレフラクトメータ等の眼
科器械においては、撮影又は測定の前に、被検眼に対し
て眼科器械を適正な位置に設定する調整いわゆるアライ
メント調整が必要である。このアライメント調整は、被
検眼の光軸と眼科器械の光軸とを合致させる調整、すな
わち光軸ずれ調整と、被検眼と眼科器械との距離を適正
な距離に設定する調整、すなわち作動距離調整とが含ま
れる。レフラクトメータに関していえば、前記両調整誤
差は屈折度測定値の誤差となってあらわれるため、測定
前のアライメント調整は測定精度の面で重要な要素とな
るものである。このアライメント調整を行うためには、
眼科器械に対し被検眼がどの位置にあるかを検出しなく
てはならず、眼科器械においては従来から種々の被検眼
位置検出装置が提案されている。例えば被検眼と眼科器
械との光軸ずれを、被検眼像を眼科器械の観察光学系に
設けられた基準指標上に投影し、被検眼の前眼部像と基
準指標とのずれ量により検出するように構成した装置が
提案されている。この場合、光軸ずれ調整は、基準指標
の中心に被検眼の前眼部像が合致するように、眼科器械
全体を左右及び上下方向に移動調整して行い、作動距離
調整は、基準指標上に被検眼の前眼部像が合焦するよう
に眼科器械を前後方向に移動調整して行う。この種の装
置においては、被検眼像を直接観察するため、被検眼光
軸と眼科器械光軸とが大きくずれている場合にも、その
ずれ量を即座に知ることができ、概略のアライメント調
整には適しているものといえる。さらに、被検眼の状態
を直接観察することができることにより、アライメント
調整後においても測定中の被検者のまばたき等を知るこ
とができ、特に、レフラクトメータにおいてはまばたき
等による測定障害を除くことができるる。 【０００３】 【発明が解決しようとする課題】この装置においては、
作動距離が適正か否かは前眼部像のピント状態により判
別しなくてはならず、作動距離調整に必要とされる精度
を得ることは困難である。また、適正位置から前後どち
らの方向にずれているかも知ることができず、調整操作
の上で欠点を有している。また、被検眼の光軸と眼科器
械の光軸とのずれに関しても、直接視覚的に判別するた
め、被検眼の適正位置の範囲を正確に知ることができ
ず、調整に多大の時間を要するだけでなく、調整結果に
検者の個人差が含まれる欠点を有している。 【０００４】 【発明の構成】本発明は、上記従来の欠点を解消した被
検眼位置検出装置を提供することを目的とするものであ
って、被検眼前眼部の像を撮影装置上に導くための照準
光学系と、上記撮像装置からの信号に基づき被検眼前眼
部の像を表示するためのテレビモニタ部と、被検眼に投
影したアライメント調整用の光束を受光するための光束
検出手段と、上記光束検出手段からの信号に基づき被検
眼の適正位置からのアライメント調整のずれ量に従って
方向と大きさの変化するアライメント調整用の図形を電
気的に合成して上記テレビモニタ上に表示するための表
示制御部とを有することを特徴とする被検眼位置検出装
置である。 【０００５】 【実施例】以下、本発明の実施例をオートレフラクトメ
ータに適用した例について図に基づいて説明する。オー
トレフラクトメータの測定系としては、図１に示すよう
に、測定ターゲットを被検眼眼底に投影するターゲット
投影光学系１００と、その眼底上のターゲット像を結像
させる受光光学系２００とからなる。ターゲット投影用
光学系１００は、光軸を中心に配置された一対の赤外線
光源１０１ａ、１０１ｂ、赤外線光源１０１ａ、１０１
ｂからの光をそれぞれ集光する集光レンズ１０２ａ、１
０２ｂ、平行光を作るコリメータレンズ１０３、円形開
口絞り１０４を有する測定ターゲット１０５、結像レン
ズ１０６、投影用結像レンズ１０７、赤外光に関するハ
ーフミラー１０８および長波長部の赤外光を反射し可視
部とこれに近接した赤外光とを透過する特性を有するダ
イクロイックミラー１０９とから構成される。上記一対
の赤外線光線１０１ａ、１０１ｂは高速度で交互に点灯
し、また該両源１０１ａ、１０１ｂは一体となって光軸
を中心に回転可能に構成される。 【０００６】上記構成において、一対の赤外線光源１０
１ａ、１０１ｂからの光は、それぞれ集光レンズ１０２
ａ、１０２ｂによって集光され、さらにコリメーターレ
ンズ１０３により平行光にされて円形開口絞り１０４に
斜に入射する。円形開口絞り１０４を通過した光は、結
像レンズ１０６により点Ｐ₁ の位置に結像した後、投影
用結像レンズ１０７、ハーフミラー１０８及びダイクロ
イツクミラー１０９を介して被検眼Ｅに入射する。ここ
で赤外線光源１０１ａ、１０１ｂの像は被検眼Ｅの瞳孔
位置に結像し、また測定ターゲット１０５の円形開口絞
り１０４の像は被検眼の眼底Ｐ₂ に結像する。そして、
測定ターゲット１０５と被検眼Ｅの眼底Ｐ₂ とが共役な
位置関係にあるときには、赤外線光源１０１ａからの光
によって照明された円形開口絞り１０４の像と、赤外線
光源１０１ｂからの光によって照明された円形開口絞り
１０４の像とが、眼底Ｐ₂ の同一位置に結像される。一
方、測定ターゲット１０５と被検眼Ｅの眼底Ｐ₂ とが共
役な位置関係にないときには、上記各赤外線光源１０１
ａ、１０１ｂからの光によって照明された円形開口絞り
１０４の像が眼底Ｐ₂ の分離した２ヶ所にそれぞれ結像
する。ターゲット受光光学系２００は、ダイクロイツク
ミラー１０９、ハーフミラー１０８、受光用対物レンズ
２１０、ミラー２１１、受光用対物レンズ２１０に関し
被検眼角膜と共役な位置に配置された角膜反射光遮断絞
り２１２及びリレーレンズ２１３によって構成される。
角膜反射光遮断絞り２１２は、赤外光源１０１ａ、１０
１ｂが光軸回りに回転するとき、この回転運動に連動し
て回転するように構成されている。さらに、上記角膜反
射光遮断絞り２１２は、リレーレンズ２１３の前側焦点
位置に配置されて、リレーレンズ２１３による受光光学
系はテレセン光学系に類似したものとなる。 【０００７】以上の構成において、被検眼眼底Ｐ₂ の測
定ターゲット像は、グイクロイツクミラー１０９、ハー
フミラー１０８、受光用対物レンズ２１０、ミラー２１
１、リレーレンズ２１３によって、２次元検出器２１４
に投影される。この時、被検眼角膜からの有害反射光
は、反射光遮断絞り２１２に設けられた突出遮光部によ
って除去される。２次元検出器２１４は、被検眼眼底Ｐ
₂ における円形口絞り１０４の像が、赤外線光源１０１
ａ及び１０１ｂの交互点灯によって合致するか分離する
かを弁別し、分離している時にはその分離距離を測定す
る。この測定値から後述の演算回路によりその赤外線光
源１０１ａ及び１０１ｂの並んだ径線方向の被検眼屈折
力を算出する。次に、本発明に係る被検眼位置検出装置
は、図１に示すように、被検眼前眼部像を観察し得るよ
うに構成した照準光学系３００と、被検眼位置を電気的
に検出するための検出系４００とからなる。照準光学系
３００は、ハーフミラー１０９、投影レンズ３０２、ハ
ーフミラー３０４及び撮像管３０６を同一光軸上に配置
し、またハーフミラー３０４の反応光軸上に光源３０
７、集光レンズ３０８、視準板３１０、ミラー３１２及
び投影レンズ３１４を配置して構成される。撮影管３０
６はテレビモニタ３１６に連結されている。視準板３１
０は、図２に示すように、中央に円、その周辺に放射線
をもった視準スケール３１１を有する。 【０００８】上記のように構成された照準光学系３００
において、撮像管３０６には、投影レンズ３０２による
被検眼Ｅの前眼部像と、投影レンズ３１４による視準指
標３１１の像が重ねて投影され、テレビモニタ３１６上
に表示される。この照準光学系３００は、概略の調整を
することができるだけでなく、被検眼前眼部を観察する
ことができるから測定中の被検者のまばたき等も検出す
ることができる。被検眼位置検出系４００は、発光素子
４０２、ピンホール絞り４０４、投影レンズ４００、第
１ハーフミラー４０８及び第２ハーフミラー４１０を、
第２ハーフミラー４１０の反射光軸上に配置する。さら
に、第１ハーフミラー４０８の反射光軸上に、結像レン
ズ４１２、チョッパー４１４、２次元受光素子４１６を
配置する。さらに、チョッパー４１４の一方の側には基
準信号用発光素子４１８、また他方の側には基準信号用
発光素子４２０が配置される。チョッパー４１４は、図
３に示すように、複数の扇形スリット４２２を有する円
盤によって構成され、円盤中心４２４を中心に回転運動
する。光軸４２５は扇形スリット４２２の中心を通過す
る。また絞り４２８は受光素子４１６に入射する光量を
一定にするためのものであり、扇形スリット４２２の２
倍の開口を有する絞りである。扇形スリット４２２にお
ける光束４３０は、前記絞り４２８の開口部の路外接円
である。 【０００９】以上の構成において、適正作動距離の時
は、ピンホール絞り４０４の像が投影レンズ４０６によ
り、第１ハーフミラー４０８、第２ハーフミラー４１
０、ダイクロイックミラー１０９を介して、被検眼Ｅの
前眼部へ結像され、被検眼Ｅの角膜面で反射される。こ
の反射光束は、ダイクロイックミラー１０９、第２ハー
フミラー４１０、第１ハーフミラー４０８、結像レンズ
４１２、チョッパー４１４を介して２次元受光素子４１
６上に結像される。上記構成における被検眼位置検出系
４００の検出原理は、以下の通りである。結像レンズ４
１２及び角膜反射によるピンホール絞り像の結像点４２
６が受光素子４１６より後方（結像レンズ４１２と反対
側）にある場合において、チョッパー４１４が回転する
と、図４Ａ、Ｂ、Ｃに示すように扇形スリット４２２が
徐々に結像レンズ４１２の光束内を通過することによ
り、受光素子４１６上には図５Ａ、Ｂ、Ｃに示すような
光束が入射する。図５において、Ｘは光軸の通過位置を
示し、〇は入射光束の断面の重心位置を示す。この時の
受光素子４１６の検出信号は、図６の実線で示す如くで
ある。図６において、横軸はチョッパーの位置を示し、
縦軸はＹ軸方向の座標値を示す。なお、図４及び図５に
おいては、絞り４２６を省略してある。 【００１０】また、結像レンズ４１２による結像点４２
８が受光素子４１６より前方（結像レンズ４１２の側）
にある場合は、チョッパー４１４が回転すると、図７、
図８に示すようになる。図７、図８は図４、図５にそれ
ぞれ対応する。この時の受光素子４１６の検出信号は、
図６の点線で示す如くである。さらにまた、結像レンズ
４１２による結像点が受光素子４１６上である場合に
は、受光素子４１６の検出信号は、図６の一点鎖線で示
す如く横軸と平行となる。すなわち、上記受光素子４１
６の検出信号により、結像点が受光素子の前後方向のど
こにあるか、言い換えれば、被検眼の角膜頂点位置が所
定位置から前後方向においてどの向きにどれだけずれて
いるかを検知することができる。同時に、受光素子４１
６上の平均的入射位置の座標を検出することにより、被
検眼の角膜頂点位置が所定適当位置に対し上下及び左右
方向においてどの向きにどれだけずれているかを検出す
ることができる。なお、本実施例では、被検眼Ｅが適正
位置にある時、ピンホール絞り４０４が被検眼Ｅの角膜
頂点と共役な位置関係になるように配置したが、被検眼
Ｅの角膜頂点と角膜曲率中心との中点あるいは角膜曲率
中心と共役な位置に配置してもよい。 【００１１】次に、被検眼検出系４００の２次元受光素
子４１６によって、被検眼Ｅとオートフラクトメータと
の相対的位置関係を検出する電気回路を、第９図にもと
づいて説明する。受光素子４１６は、第１０図に示すよ
うに、光束４５０が入射すると、その入射位置の座標に
係る距離ｘ₁₉ｘ₂₉ｙ₁₉ｙ₂ と入射光量に対応した電圧Ｘ
₁₉Ｘ₂₉Ｙ₁₉Ｙ₂ を出力する。光束４５０が受光素子４２
６の中央に入射すると、Ｘ₁ ＝Ｘ₂ 、Ｙ₁ ＝Ｙ₂ とな
る。なお、本実施例では、チョッパー４１４の回転によ
って光束はＹ方向に走査される。最初に、Ｘ方向すなわ
ちオートレフラクトメータ光軸に対する被検眼光軸の左
右方向のずれを検出する回路について説明する。チョッ
パー４１４による走査がＹ方向についてなされているた
め、被検眼のずれ量の如何にかかわらず、光束４５０の
平均的位置を示す信号Ｘ₁₉Ｘ₂ は、受光素子４１６への
入射光量が変化しない限り、一定レベルで出力される。
受光素子４１６の出力信号Ｘ₁₉Ｘ₂ は、それぞれ増幅回
路４５２、４５４によって増幅され、減算回路４５６及
び加算回路４５８でそれぞれの演算（Ｘ₁ −Ｘ₂ ）及び
（Ｘ₁ ＋Ｘ₂ ）がなされる。減算回路４５６及び加算回
路４５８の出力は、第１割算回路４６０によって（Ｘ₁
−Ｘ₂ ）／（Ｘ₁ ＋Ｘ₂ ）が演算されるが、これは、受
光素子４１６への入射光量が変動しても、入射座標位置
に対応した一定レベルの電圧信号を得ることができるよ
うにするためである。第１割算回路４６０の出力である
（Ｘ₁ −Ｘ₂ ）／（Ｘ₁ ＋Ｘ₂ ）＝Ｘ値の絶対値は被検
眼のＸ方向のずれ量を示し、その符号はずれの方向を示
す。この第１割算回路４６０の出力は、第１比較器４６
２及び第２比較器４６４へ入力される。第１＋基準設定
器４６６は基準となる許容設定信号＋εを発生するもの
で、第１比較器４６２において第１割算回路４６０の出
力信号と基準信号＋εとの比較がなされる。 【００１２】第１比較器４６２は、第１＋基準設定器４
６６からの許容設定信号＋εより第１割算回路４６０の
出力が小の場合には“１”信号を発生し、大の場合に
は、“０”信号を発生する。同様に、第２の比較器４６
４は第１−基準設定器４６８からの許容設定信号−εよ
り第１割算回路４６０の出力が大の場合には、“１”信
号を発生し、小の場合には、“０”信号を発生する。こ
こで第１＋基準設定器４６６及び第１−基準設定器４６
８の出力信号＋ε及び−εは、眼科器械を被検眼Ｅに対
し設定する時の設定誤差の許容範囲を示す。また、第１
比較器４６２の出力信号をａ、第２比較器４６４の出力
信号をｂとすると、被検眼Ｅの光軸がオートレフラクト
メータの光軸に対し所定許容範囲よりも右向にずれてい
る場合、信号ａは信号“０”となり、信号ｂは信号
“１”となる。同様に、左方向にずれている場合には、
信号ａは信号“１”となり、信号ｂは信号“０”とな
る。さらに、所定許容範囲に入っている場合には、信号
ａ及び信号ｂの双方が信号“１”となる。この第１比較
器４６２及び第２比較器４６４の出力信号ａ及びｂは表
示制御回路４７０に入力される。次に、Ｙ方向すなわち
オートレフラクトメータ光軸に対する被検眼Ｅの光軸の
上下方向のずれを検出する回路について説明する。チョ
ッパー４１４による走査はＹ方向についてなされている
から、受光素子４１６の出力する電圧信号Ｙ₁₉Ｙ ₂ は、
該走査に対応した変調信号となる。ここで、電圧信号Ｙ
₁₉Ｙ₂ は、上記被検眼位置検出系４００の原理の説明で
示したように、Ｚ方向すなわちレフラクトメータの前後
方向（光軸方向）の位置の情報も含んでいるから、以
後、信号Ｙ₁（Ｚ₁ ）、Ｙ₂ （Ｚ₂ ）で示すものとす
る。 【００１３】受光素子４１６のＹ₁(Ｚ₁ ）、Ｙ
₂ （Ｚ₂ ）の出力は、増幅回路４７２、４７４で増幅さ
れ、減算回路４７６及び加算回路４７８に入力される。
減算回路４７６の出力はローパスフィルター回路４８０
を経て第２割算回路４８２に入力される。加算回路４７
８の出力は直接第２割算回路４８２に入力される。ロー
パスフィルター回路４８０は、減算回路４７６の出力信
号からその変調部分すなわち信号Ｚ₁ Ｚ₂ の影響を取除
いて、一定レベルの電圧信号とするためのものである。
第２割算回路４８２はＹ値＝（Ｙ₁ −Ｙ₂ ）／（Ｙ₁ ＋
Ｙ₂ ）の演算を行う。割算回路４８２の出力Ｙの絶対値
は被検眼ＥのＹ方向のずれ量を示し、その符号はずれの
方向を示す。第２割算回路４８２の出力は、第３比較器
４８４及び第４比較器４８６により第２＋基準設定器４
８８及び第２−基準設定器４９０の出力信号との比較が
なされる。第３比較器４８４及び第４比較器４８６の出
力信号を夫々信号ｃ及び信号ｄとすれば、オートレフラ
クトメータの光軸に対して被検眼Ｅの光軸が所定許容幅
より上方向にずれている場合には、信号ｃは信号
“０”、信号ｄは信号“１”となる。逆に、下方向にず
れている場合には、信号ｃは信号“１”で、信号ｄは信
号“０”となる。上下方向とも所定許容幅内に入ってい
る場合には、信号ｃ及び信号ｄともに信号“１”とな
る。第３比較器４８４及び第４比較器４８６の出力信号
は表示制御回路４７０に入力される。 【００１４】次に、Ｚ方向のずれすなわちオートレフラ
クトメータ本体と被検眼との適正距離からのずれ量を検
出する回路に関して説明する。上記Ｙ方向に関する回路
における減算回路４７６および加算回路４７８は直接第
３割算回路４９２に接続される。第３割算回路４９２
は、バンドドスフィルター回路４９４、同期整流回路４
９６を経てローパスフィルター回路４９８へ接続され
る。また、基準信号受光素子４２０は、増幅回路５０２
を経て同期整流回路４９６に接続されている。上記回路
において、第３割算回路４９２は、信号Ｙ₂ ＝Ｙ₁ （Ｚ
₁ ）−Ｙ₂ （Ｚ₂ ）／Ｙ₁ （Ｚ₁ ）＋Ｙ₂ （Ｚ₂ ）の演
算をなし、バンドバスフィルター回路４９４に入力され
る。バンドバスフィルター回路４９４からの出力は、Ｚ
方向のずれ量に比例した振幅を有する変調波を出力す
る。この変調波は、図１１Ａ及びＢのように、ずれの方
向によって位相の異なる信号となる。他方、基準信号受
光素子４２０の出力は、増幅回路５０２によって増幅さ
れて、図１１Ｃに示す矩形波のリフアレンス信号として
同期整流回路４９６に入力する。同期整流回路４９６
は、このリフアレンス信号で上記バンドバスフィルター
回路４９４から出力を同期整流して、ずれの方向によっ
て図１１ＤまたはＥの信号を出力する。同期整流回路４
９６からの出力は、ローパスフィルター回路４９８によ
り図１１ＦまたはＧの信号に変換される。すなわち、ロ
ーバスフィルター回路４９８の出力の絶対値はＺ方向の
ずれ量を示し、その符号はずれの方向を示すものであ
り、その出力信号は第５比較器５０４及び第６比較器５
０６へ入力される。 【００１５】第５比較器５０４、第６比較器５０６、第
３＋基準設定器５０８、第３−基準設定器５１０は、Ｘ
方向及びＹ方向の検出で述べた各比較器及び基準設定器
と同様の機能を有するものである。すなわち、第５比較
器５０４及び第６比較器５０６の出力信号を夫々信号ｅ
及び信号ｆとする。オートレフラクトメータと被検眼Ｅ
との距離量が所定許容量より小の場合には、信号ｅは信
号“０”、信号ｆは信号“１”となり、所定許容範囲よ
りも大の場合には、信号ｅは信号“１”、信号ｆが信号
“０”となる。該距離量が所定許容量内にあるときは信
号ｅ及びｆが“１”となる。信号ｅ及びｆは表示回路４
７０に入力される。また、光量設定器５１０と加算回路
４７８とに接続された第７比較器５１２は、被検眼位置
検出用の光束の角膜反射による投影像が受光素子４１６
上に投影されているか否かを検出するものであり、受光
素子４１６に入射する光量レベルが光量設定量５１０の
設定値以上の場合には信号“１”を、また光量基準器５
１０の設定値以下の場合には信号“０”を発生するもの
であり、この出力を信号ｇと呼ぶ。以上述べた信号ａ〜
ｇはＡＮＤ回路５１４に入力される。ＡＮＤ回路５１４
は、信号ａ〜ｆが“１”の場合、すなわち被検眼Ｅがオ
ートレフラクトメータ本体に対し所定許容範囲内に入っ
た場合（アライメント調整が完了した場合）にのみ信号
“１”を発生するものである。このＡＮＤ回路５１４の
出力信号は、テレビモニタ３１６に表示される基準指標
の光源３０７の制御回路５１６に入力され、ＡＮＤ回路
５１４の出力信号が“１”になった場合には、基準指標
光源３０７が点滅状態になるように構成される。このよ
うに構成することにより、後述するようにテレビモニタ
３１６上の表示に従いアライメント調整を行い、その調
整が完了した場合には、被検眼Ｅの像と重ねて表示され
る基準指標像が点滅することになり、極めて容易に調整
完了を知ることができる。 【００１６】次に、信号ａ〜ｇが入力されている表示制
御回路４７０に関して述べる。表示制御回路４７０は、
撮像管３０６を介して被検眼像が表示されているテレビ
モニタ３１６の画面上に信号ａ〜ｇによって被検眼Ｅの
位置情報を表示するものである。以下、オートレフラク
トメータのアライメント調整手順に従って、テレビモニ
タ３１６上に表示について説明する。まず第１に、オー
トレフラクトメータの被検者固定装置に被検者を固定す
る。この時には、被検眼Ｅの位置はオートレフラクトメ
ータ本体に対する適正位置より大きくずれている場合が
多く、テレビモニタ上には図１２Ａに示すように表示さ
れる。図１２Ａにおいて、５３０は被検眼像であり、５
３２は基準指標３１１の像であり、５３４は後述する被
検眼位置検出情報指標である。この場合、被検眼位置検
出用に被検眼角膜に投影される光束は角膜に投影されて
いないため、受光素子４１６上には反射投影像が投影さ
れていない。また、信号ｇは信号“０”であり、この信
号“０”により、表示制御回路４７０はテレビモニタ上
の下部に被検眼位置検出情報指標５３４を表示するが、
図１２Ａの状態では被検眼位置検出系４００の電気回路
は作動していない。 【００１７】検者は、基準指標５３２に被検眼像５３０
が合致するようにオートレフラクトメータ本体を公知の
移動調整機構（図示せず）により右方向及び上方向に概
略移動調整する。また、作動距離調整に関しては、被検
眼像５３０が概略ピントの合った状態になるまでオート
レフラクトメータ本体を前後方向に移動調整する。この
概略調整が終わると、被検眼位置検出用の光束が被検眼
Ｅの角膜で反射されて受光素子４１６に該反射光束が入
射する。その結果、第７比較器５１２の出力信号は
“１”となり、表示制御回路４７０は入力されている信
号ａ〜ｆにより被検眼位置検出情報指標５３４の表示を
制御するようになる。また上記概略調整が完了すると、
被検眼位置検出用の投影光源は被検眼角膜へ投影され、
テレビモニタ３１６上では被検眼像の角膜上にピンホー
ル絞り４０４の像が観察されるようになる。以上の概略
調整が終了すると、被検眼位置検出系が機能する。表示
制御回路４７０に入力されている信号ａ、ｂは、オート
レフラクトメータの光軸に対する被検眼の左右方向の光
軸ずれ量を示すものであり、表示制御回路４７０は信号
ａが“１”信号ｂが“０”の時には矢印５３４ａをテレ
ビモニタ３１６上に表示し、信号ａが“０”、信号ｂが
“１”の時には矢印５３４ｂをテレビモニタ３１６上に
表示する。 【００１８】すなわち、テレビモニタ３１６上にはオー
トレフラクトメータ本体を移動調整する方向が表示され
ることにより、検者はこの表示に従ってオートレフラク
トメータ本体を左あるいは右方向に移動調整すればよ
い。この左右方向の調整より被検眼Ｅが所定範囲内に入
った時には、信号ａ、信号ｂとも“１”となり、この場
合表示制御回路４７０はテレビモニタ３１６上の矢印５
３４ａ、５３４ｂを消滅させる。同様に、表示制御回路
４７０は上下方向の光軸ずれ量を示す信号ｃ、ｄにより
テレビモニタ３１６に矢印５３４ｃ及び５３４ｄを表示
し、調整方向を示すように構成する。なお、本実施例で
は矢印５３４ａ、５３４ｂ、５３４ｃ、５３４ｄを一定
の長さの矢印で構成しているが、許容量からのずれ量の
値を矢印の長手方向の長さに変換して表示するように構
成してもよい。この場合は、矢印の長さにより許容量か
らのずれ量を即座に判断することができる。さらに、本
実施例では、概略調整が完了しないで、かつ受光素子４
１６上に反射投影像が投影されていない場合、テレビモ
ニタ３１６下部に被検眼位置検出情報５３４が表示され
ないが、この場合に前記情報とは異なった特別の指標を
表示するように構成してもよい。 【００１９】また、表示制御回路４７０は、前後方向の
作動距離のずれ量を示す信号ｅ、ｆにより、テレビモニ
タ３１６の矢印５３４ａ〜５３４ｄの表示装置の中心に
文字Ｂ又はＦを表示するように構成する。すなわち、オ
ートレフラクトメータと被検眼の距離（作動距離）が所
定許容範囲より小さく信号ｅが“０”、信号ｆが“１”
の場合には、被検眼Ｅに対してオートレフラクトメータ
を後方向に移動調整すべき旨を示す文字“Ｂ”が表示さ
れる。逆に、該作動距離が所定許容範囲より大の場合に
は文字“Ｆ”が表示される。該作動距離が所定許容範囲
内に入った場合には、文字“Ｂ”、“Ｆ”とも表示され
ない。図１２Ｂは、概略調整が終了し、被検眼Ｅに対し
オートレフラクトメータ光軸が少量であるが左右方向及
び下方向にずれ、しかも作動距離が小さ過ぎる場合のテ
レビモニタ３１６上の表示例を示すものである。検者
は、このテレビモニタ３１６上の表示に従って、オート
レフラクトメータを左右、上下、及び前後方向に移動調
整する。そして、３方向のすべてにおいて許容範囲内に
入り、すなわち信号ａ〜ｆがすべて“１”になり、しか
もｇが“１”になった時、矢印５３４ａ〜５３４ｄ及び
文字Ｂ、Ｆのすべてが消えると同時に、前述のように被
検眼像と重なって表示される基準指標像５３２の点滅が
始める。すなわち、この基準指標像５３２の点滅により
すべての方向のアライメント調整すなわち光軸ずれ調
整、作動距離調整が完了したことが極めて容易に認識で
きることになる。 【００２０】上記アライメント調整が終了した後、オー
トレフラクトメータの測定が開始されるが、測定中に被
検眼のまばたき等を観察し、同時に被検眼Ｅが適正位置
からずれるようになった否かを認識することができる。
なお、オートレフ演算部５４０は、２次元検出器２１４
からの測定信号から被検眼の屈折度を算出するための演
算部である。オートレフ演算部５４０で算出された被検
眼の屈折度に対応した電気信号は表示制御回路４７０に
入力される。前述のアライメント調整が完了した後、オ
ートレフラクトメータの測定系により被検眼の屈折度測
定を行い、オートレフ演算部５４０からの電気信号によ
りテレビモニタ３１６の下部に測定結果を表示させ得る
ように構成する。すなわち、テレビモニタには、被被検
像、被検眼位置情報及び被検眼の屈折度測定結果のすべ
てが表示される。本実施例では、被検眼がオートレフラ
クトメータに対し適正許容範囲内に入った時、基準指標
５３２を点滅状態になるよう構成したが、基準指標５３
２の点滅の代わりに、被検眼投影する光束の光源４０２
を点滅状態にしてもよい。すなわち、概略調整が終了す
ると、テレビモニタ３１６上の被検眼の角膜面には光源
４０２からの光束により明るいピンホール絞り４０４像
が観察することができるが、この被検眼に投影する光束
の光源４０２を点滅させることによりピンホール絞り４
０４の像が点滅するように構成すれば、上述と同様極め
て容易にアライメント調整が完了したことを認識するこ
とができる。 【００２１】なお、上記アライメント完了信号は、基準
指標の光源、あるいはピンホール絞り４０４の光源４０
２を兼用しているが、これに限らず、特別の指標を表示
し得るように構成してもよいことはいうまでもない。 【００２２】 【発明の効果】以上詳細に説明した通り、本発明によれ
ば、表示装置の表示によって、作動距離が適正か否か
を、また適正位置から前後どちらの方向にずれているか
を容易に且つ精度高く検出することができ、測定を効率
的に行うことができる効果を有する。

【図面の簡単な説明】 【図１】本発明の実施例を採用したオートレフラクトメ
ータの光学図である。 【図２】照準光学系の視準板の正面図である。 【図３】チョッパと光束との関係の説明図である。 【図４】被検眼とレフラクトメータとの距離が適正値よ
り小さい時のチョッパ通過光束の説明図である。 【図５】図４に示す状態における光束と受光素子との関
係の説明図である。 【図６】受光素子の検出信号図である。 【図７】被検眼とレフラクトメータとの距離が適正値よ
り大きい時のチョッパ通過光束の説明図である。 【図８】図７に示す状態における光束と受光素子との関
係の説明図である。 【図９】電気回路のフローチャート図である。 【図１０】受光素子の機能説明図である。 【図１１】図９のフローチャートにおける波形図であ
る。 【図１２】テレビモニタの表示説明図である。 【図面の符号】 １００ ターゲット投影光学系、 １０１ 赤外線光源、 １０５ 測定ターゲット、 ２００ ターゲット受光光学系、 ２１２ 角膜反射光遮断絞り、 ２１４ ２次元検出器、 ３００ 照準光学系、 ３０２ 投影レンズ、 ３１４ テレビモニタ、 ４００ 被検眼位置検出系、 ４０４ ピンホール絞り、 ４１４ チョッパー、 ４２０ 基準信号用受光素子。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 神谷 稔 東京都板橋区蓮沼町75番１号 株式会社 トプコン内 (72)発明者 北尾 郁雄 東京都板橋区蓮沼町75番１号 株式会社 トプコン内 (56)参考文献 特開 昭54−12194（ＪＰ，Ａ) 特開 昭56−5636（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−11630（ＪＰ，Ａ) 実開 昭55−131703（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭56−31762（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭56−40582（ＪＰ，Ｕ)

Claims (1)

1. (57)【特許請求の範囲】 １．被検眼前眼部の像を撮影装置上に導くための照準光
   学系と、 上記撮像装置からの信号に基づき被検眼前眼部の像を表
   示するためのテレビモニタ部と、 被検眼に投影したアライメント調整用の光束を受光する
   ための光束検出手段と、 上記光束検出手段からの信号に基づき被検眼の適正位置
   からのアライメント調整のずれ量に従って方向と大きさ
   の変化するアライメント調整用の図形を電気的に合成し
   て上記テレビモニタ上に表示するための表示制御部とを
   有することを特徴とする被検眼位置検出装置。