JPS58159723A - 眼科機械の被検眼位置検出装置 - Google Patents
眼科機械の被検眼位置検出装置Info
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- JPS58159723A JPS58159723A JP57043415A JP4341582A JPS58159723A JP S58159723 A JPS58159723 A JP S58159723A JP 57043415 A JP57043415 A JP 57043415A JP 4341582 A JP4341582 A JP 4341582A JP S58159723 A JPS58159723 A JP S58159723A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、眼科器械の被検眼位置検出装置に関する。
被検1lil鷹を観察撮影する九めのil鷹カメラ、被
検眼の屈折度を測定するレフラクトメータ等の眼科器械
においては、撮影又は測定の* CS被検@tic対し
て眼科器械t−適正な位置に設定する調整いわゆるアラ
イメント調整が必要である。このアライメント調整は、
被検眼の光軸と眼科器械の光軸とを合致させる調整(以
下光軸ずれ調整というjと、被検眼と誤科器械との距I
Iat−適正−距11i11に設定する調整(以下作m
距#lI#整という)とが含まれる。し7ラクトメータ
に関し工いえは、前記両調整誤差は屈折度1llJ足値
の誤差となり工あられれる九め、測定前のアライメント
調整に醐建稽度の面で1蚤なfI累となるものである。
検眼の屈折度を測定するレフラクトメータ等の眼科器械
においては、撮影又は測定の* CS被検@tic対し
て眼科器械t−適正な位置に設定する調整いわゆるアラ
イメント調整が必要である。このアライメント調整は、
被検眼の光軸と眼科器械の光軸とを合致させる調整(以
下光軸ずれ調整というjと、被検眼と誤科器械との距I
Iat−適正−距11i11に設定する調整(以下作m
距#lI#整という)とが含まれる。し7ラクトメータ
に関し工いえは、前記両調整誤差は屈折度1llJ足値
の誤差となり工あられれる九め、測定前のアライメント
調整に醐建稽度の面で1蚤なfI累となるものである。
こりアライメント調整を行う友めKは、眼科器械に対し
被検眼がどの位置にあるかを検出しなくてはならず、眼
科器械においては従来から檻々の被検眼位置検出装置が
提案さt′L″cいる。fIえは被検眼と眼科器械との
光軸ずれを1被検眼像を眼科器械の観察光学系に設けら
n次基準指標上に投影し、被検眼の藺阪部像と基準指標
とりずれ童により検出するように構成しmW&置が提案
されている。こり場合、光軸ずれ調整は、基準指llり
中心に被検眼の前眼部像が合叙するように、眼科器械全
体を左右及び上F方向に移lIh11m整して行い、作
動距離調整は、基準指標上に被検眼の*眼蕩像が合焦す
るように眼科器械1−*後方向に移動[!It、て行り
。こり檻の装置においては、被検眼像t+t*ii察す
るため、場合にも、そのずれ量を即座に知ることができ
、概略のアライメント調整には適しているものといえる
。さらに、被検眼の状j!Iを直接観察することができ
ることにより、アライメント調査後においても測定中の
41L検看のまば^き等を知ることができ、%に、レフ
ラクトメータにおいてはまげ友き等による測定障瞥t#
くことができる効果を有するものである。一方、この装
置においては、作動距離が適正か否かは前@線傷のビ/
ト状層により判別しなくてはならず、作動距離調整に必
要とさ几るW1度を得ることは困難である。tた、適正
位置から5lIr後どちらの方向にずれているかも知る
ことができず、1j4II操作の上で欠点?奪し工いる
。
被検眼がどの位置にあるかを検出しなくてはならず、眼
科器械においては従来から檻々の被検眼位置検出装置が
提案さt′L″cいる。fIえは被検眼と眼科器械との
光軸ずれを1被検眼像を眼科器械の観察光学系に設けら
n次基準指標上に投影し、被検眼の藺阪部像と基準指標
とりずれ童により検出するように構成しmW&置が提案
されている。こり場合、光軸ずれ調整は、基準指llり
中心に被検眼の前眼部像が合叙するように、眼科器械全
体を左右及び上F方向に移lIh11m整して行い、作
動距離調整は、基準指標上に被検眼の*眼蕩像が合焦す
るように眼科器械1−*後方向に移動[!It、て行り
。こり檻の装置においては、被検眼像t+t*ii察す
るため、場合にも、そのずれ量を即座に知ることができ
、概略のアライメント調整には適しているものといえる
。さらに、被検眼の状j!Iを直接観察することができ
ることにより、アライメント調査後においても測定中の
41L検看のまば^き等を知ることができ、%に、レフ
ラクトメータにおいてはまげ友き等による測定障瞥t#
くことができる効果を有するものである。一方、この装
置においては、作動距離が適正か否かは前@線傷のビ/
ト状層により判別しなくてはならず、作動距離調整に必
要とさ几るW1度を得ることは困難である。tた、適正
位置から5lIr後どちらの方向にずれているかも知る
ことができず、1j4II操作の上で欠点?奪し工いる
。
ま友、被検眼の元軸と眼科器械の元軸とのずれに関して
も、直接視覚的に判別する九め、被検眼の適正位置のm
s’i正確に知ることができず、調整に多大の時間を畳
するたけでなく、調!l紹果に慣 ′者の個人差が
含まnる欠点fc有してI/′1石。
も、直接視覚的に判別する九め、被検眼の適正位置のm
s’i正確に知ることができず、調整に多大の時間を畳
するたけでなく、調!l紹果に慣 ′者の個人差が
含まnる欠点fc有してI/′1石。
本発#4は、上記従来の欠点を鱗消し九眼科慎械の被検
眼検出mat提供することを目的とするものであって、
その構成上の%黴とするところは、IIL検ll#眼部
像を基準作像と1ねて観察するための゛被検眼観察系と
、被検眼の適正位置からのすn量it気的に検出するた
めの被検眼位置検出部と、前記被検眼位置検出部からの
電気信号に工V繭記ずれ量がPk定許容量内に人つ皮C
とt表示する表示部とからなり、前記被検暇観察系の観
察像と前記表示部の表示とが同−視野内vCI111i
!できるように構成し九ことである。
眼検出mat提供することを目的とするものであって、
その構成上の%黴とするところは、IIL検ll#眼部
像を基準作像と1ねて観察するための゛被検眼観察系と
、被検眼の適正位置からのすn量it気的に検出するた
めの被検眼位置検出部と、前記被検眼位置検出部からの
電気信号に工V繭記ずれ量がPk定許容量内に人つ皮C
とt表示する表示部とからなり、前記被検暇観察系の観
察像と前記表示部の表示とが同−視野内vCI111i
!できるように構成し九ことである。
y、F、 本免qの実施fitオートレフラクトメータ
に適用した4P4につい1図にもとづい工説明する。
に適用した4P4につい1図にもとづい工説明する。
オートレフラクトメータのm足糸としLは、纂7図に示
すように、IIl′iiLターゲットkil検眼服底ニ
投影するターダット投影光字糸1・・と、十〇[Ji;
上のターゲツト像を結像させる受光光学系べOQとから
なる。
すように、IIl′iiLターゲットkil検眼服底ニ
投影するターダット投影光字糸1・・と、十〇[Ji;
上のターゲツト像を結像させる受光光学系べOQとから
なる。
ターゲット投影用光学系1u・は、光軸を中心[配tす
fL7t−51)赤外線5t、IIN)la、 1(
llb。
fL7t−51)赤外線5t、IIN)la、 1(
llb。
赤外線光源Iota 、 101bからの光音そnぞれ
集光する集光レンズ102a、102b、平行光を作る
コリメータレンズ103、円形開口絞り104を臂する
111足ターゲット105、納置レンズ106、投影用
結像レンズ107、赤外光に関するハーフばラー108
お裏び長a長部の赤外光を反射し可視部とこれに近撤し
次赤外元と倉透過する特性を庸するグイクロイソクミフ
−109とから構成される。上記一対の赤外線光源10
1 a、 10 l b框高速度で交互に点灯し、tX
、a肉#101a、101bは一体となって元軸を中心
に回転可能に構成さnる。
集光する集光レンズ102a、102b、平行光を作る
コリメータレンズ103、円形開口絞り104を臂する
111足ターゲット105、納置レンズ106、投影用
結像レンズ107、赤外光に関するハーフばラー108
お裏び長a長部の赤外光を反射し可視部とこれに近撤し
次赤外元と倉透過する特性を庸するグイクロイソクミフ
−109とから構成される。上記一対の赤外線光源10
1 a、 10 l b框高速度で交互に点灯し、tX
、a肉#101a、101bは一体となって元軸を中心
に回転可能に構成さnる。
上記構成において、一対の赤外線光源101 a。
1ON)からの元は、それぞIL果元レしズto2as
102bによって集光さnlさらにコリメーターレンズ
l0IKより平行光にされて円形開口絞り104に斜に
入射する。円形開口絞り104を通過した光は、結像レ
ンズ108により点P、の位置に結像し7′2.後、投
影用納置レンズ1G?、’・−フミラー108及びグイ
クロイックミラー109を介して被検1iijEVc人
射する。ここで赤外線光源101a、101bの像は被
検眼εの離孔位置に結像し、また測寛ターグツ?105
0円形開口絞り104の像は被検眼ノ1Iij底Pt
tlcWi’1llY 6.そして、測定ターrノド1
0Bと被検1jEの眼底P2とが共役な位置関係にある
ときには、赤外4!光源Iotaからの光によって照明
さ7″L九円形開口絞り1G+の儂と、赤外線光源10
i1)からの光KLって照明された円形開口絞り104
の像とが、眼底P!の同一位置に結像される。−万、1
III定ターケ゛ソト105と被検@Eの眼底P、とが
共役な位置関係にないときicは、上記各赤外線光源1
01 a。
102bによって集光さnlさらにコリメーターレンズ
l0IKより平行光にされて円形開口絞り104に斜に
入射する。円形開口絞り104を通過した光は、結像レ
ンズ108により点P、の位置に結像し7′2.後、投
影用納置レンズ1G?、’・−フミラー108及びグイ
クロイックミラー109を介して被検1iijEVc人
射する。ここで赤外線光源101a、101bの像は被
検眼εの離孔位置に結像し、また測寛ターグツ?105
0円形開口絞り104の像は被検眼ノ1Iij底Pt
tlcWi’1llY 6.そして、測定ターrノド1
0Bと被検1jEの眼底P2とが共役な位置関係にある
ときには、赤外4!光源Iotaからの光によって照明
さ7″L九円形開口絞り1G+の儂と、赤外線光源10
i1)からの光KLって照明された円形開口絞り104
の像とが、眼底P!の同一位置に結像される。−万、1
III定ターケ゛ソト105と被検@Eの眼底P、とが
共役な位置関係にないときicは、上記各赤外線光源1
01 a。
101bからの尤によって照明さnた円形開口絞り10
4の像が@紙P2 の分離したコケ所にそれぞn結像す
る。
4の像が@紙P2 の分離したコケ所にそれぞn結像す
る。
!−1ット受尤光学系209は、ダイクロイックミラー
109、ハーフミラ−10g、受光用対物し/ズ210
X <ラー211、受光用対物レンズ219に関し被検
眼角膜と共役な位置に配置された角膜反射光遮断絞っ2
12及びリレーレンズ218によって構成さrLる。角
膜反射光S断絞り212は、赤外光源101a、101
bが元軸回りに回転↑るとき、この回転運動に連動し1
回転するように構成さnている。さらに、上記角膜反射
光j11j11T絞り212は、リレーレンズ213の
前側焦点位置に配置さnて、リレーレンズ213にj6
受光光学系μプレセン元学糸[類似したものとなる。
109、ハーフミラ−10g、受光用対物し/ズ210
X <ラー211、受光用対物レンズ219に関し被検
眼角膜と共役な位置に配置された角膜反射光遮断絞っ2
12及びリレーレンズ218によって構成さrLる。角
膜反射光S断絞り212は、赤外光源101a、101
bが元軸回りに回転↑るとき、この回転運動に連動し1
回転するように構成さnている。さらに、上記角膜反射
光j11j11T絞り212は、リレーレンズ213の
前側焦点位置に配置さnて、リレーレンズ213にj6
受光光学系μプレセン元学糸[類似したものとなる。
以上のW#成VCおいて、被検眼眼底P、の測定ターr
ット像は、ダイクロイックミラー109、ハーフミラ−
1o1IIX 受元用刈物しノズ210、ミラー211
、リレーレンズ213VCL)テ1.2に元検出o21
4に投影式nる。この時、被検眼角膜からの有害反射光
は、反射光週断絞’、1212[設けらn九突出遮尤部
に工って除去きnる。−次元検出器214は、被検眼眼
底P、 VCおける円形開口絞9104の像が、赤外線
光源101d及びIQlbの交互点灯[二ってせ欽する
か分離すりかt弁別し、分離している時にr工その分離
距離を歯ボする、CO)測足値かI−)後述の演算回路
に工つその赤外線光源IQ1a及び101b17)並ん
だ径線方向の被検眼屈折力を算出する。
ット像は、ダイクロイックミラー109、ハーフミラ−
1o1IIX 受元用刈物しノズ210、ミラー211
、リレーレンズ213VCL)テ1.2に元検出o21
4に投影式nる。この時、被検眼角膜からの有害反射光
は、反射光週断絞’、1212[設けらn九突出遮尤部
に工って除去きnる。−次元検出器214は、被検眼眼
底P、 VCおける円形開口絞9104の像が、赤外線
光源101d及びIQlbの交互点灯[二ってせ欽する
か分離すりかt弁別し、分離している時にr工その分離
距離を歯ボする、CO)測足値かI−)後述の演算回路
に工つその赤外線光源IQ1a及び101b17)並ん
だ径線方向の被検眼屈折力を算出する。
次に、本発@に係る被検眼位置検出装置は、萬/図に示
すように、被検@前職線傷を観察し得るように構成した
照準光学系3ooと、被検縦位置を電気的に検出するた
めの検出糸辱0・とからなる。
すように、被検@前職線傷を観察し得るように構成した
照準光学系3ooと、被検縦位置を電気的に検出するた
めの検出糸辱0・とからなる。
照準光学系30Qは、ハーフミラ−1・9、投影レンズ
aIJ2、ハーフミラ−304及び撮像管3・・を同一
光軸上に配置し、またハーフミラ−804の反射光軸上
に光113・1、集光レンズ1・$、視準fj310.
ミラー312及び投影レンズ114を配置して構成され
る。撮影管so・はテレビモニタ31・に連結されてい
る。規準徹310は、馬コ図に示すように、中央に円、
その周辺に放射線をもった規準スクール311を有する
。
aIJ2、ハーフミラ−304及び撮像管3・・を同一
光軸上に配置し、またハーフミラ−804の反射光軸上
に光113・1、集光レンズ1・$、視準fj310.
ミラー312及び投影レンズ114を配置して構成され
る。撮影管so・はテレビモニタ31・に連結されてい
る。規準徹310は、馬コ図に示すように、中央に円、
その周辺に放射線をもった規準スクール311を有する
。
上記のように構成され次照準光学系3oIにおいて、m
儂wao@には、投影レンズ3・!による被検@Etf
)前@線傷と、投影レンズ114によるa準11j@3
11の像が重ねて投影さn1テレビモニタ31G上に表
示さnる。この照準光学系300は、概略の調!lをす
ることができるだけでなく、被検*5utst−観察す
ることができるから掬足中の被検壜゛のまばたき等も検
出することができる。
儂wao@には、投影レンズ3・!による被検@Etf
)前@線傷と、投影レンズ114によるa準11j@3
11の像が重ねて投影さn1テレビモニタ31G上に表
示さnる。この照準光学系300は、概略の調!lをす
ることができるだけでなく、被検*5utst−観察す
ることができるから掬足中の被検壜゛のまばたき等も検
出することができる。
被検眼位置検出系+00は、発光素子4(1、ピンホー
ルiり+94、投影レンズ4o・、纂/ハ艷バラー40
口及び#!コハーフミラー4141tX82ハーフミラ
−410の反射光軸上に配置する。さらに、II/ハー
フミラ−40暮の反射光軸上に、結像し/ズ412、チ
ョッパー414.2久元受光素子416t−配置する。
ルiり+94、投影レンズ4o・、纂/ハ艷バラー40
口及び#!コハーフミラー4141tX82ハーフミラ
−410の反射光軸上に配置する。さらに、II/ハー
フミラ−40暮の反射光軸上に、結像し/ズ412、チ
ョッパー414.2久元受光素子416t−配置する。
さらに、チョッパー414の一万〇@rcは基準信号用
発光素子4111友他方の@VCは基準信号用受光素子
42Gが配置さnる。チE :、/ /4’ −414
は、#I3図に示すように、複数の扇形スリット42!
を有する円盤に工つ工構成さILz円盤中心42辱を中
心に回転運動する。光軸425は扇形スリット422の
中lL?を通過する5ま^絞042魯は受光素子41−
に入射する光量に−ji!にするkめのものであり、扇
形スリット42!IIF)コ倍の開口を有する絞りであ
る。扇形スリット番22における光束480は、前記絞
9◆2Iの開口部の路外接円である。
発光素子4111友他方の@VCは基準信号用受光素子
42Gが配置さnる。チE :、/ /4’ −414
は、#I3図に示すように、複数の扇形スリット42!
を有する円盤に工つ工構成さILz円盤中心42辱を中
心に回転運動する。光軸425は扇形スリット422の
中lL?を通過する5ま^絞042魯は受光素子41−
に入射する光量に−ji!にするkめのものであり、扇
形スリット42!IIF)コ倍の開口を有する絞りであ
る。扇形スリット番22における光束480は、前記絞
9◆2Iの開口部の路外接円である。
以上の構成において、適正作動電層の時は、ピンホール
絞り404の像が投影レンズ40@[!す、第7ハーフ
ミラー4G1 纂=ハーフミラー4101ダイクロイ
ックミラー10It介して、被検11EI7)前眼部へ
結像され、被検眼Eの角膜向で反射さnる。この反射光
束は、ダイクロイツクイラ−109,1g2バー7ミ5
410% 尾”’−7ミラー401結像レンズ41!
、チョッパー4冨4を介して二次元受光素子41−上に
結像される。
絞り404の像が投影レンズ40@[!す、第7ハーフ
ミラー4G1 纂=ハーフミラー4101ダイクロイ
ックミラー10It介して、被検11EI7)前眼部へ
結像され、被検眼Eの角膜向で反射さnる。この反射光
束は、ダイクロイツクイラ−109,1g2バー7ミ5
410% 尾”’−7ミラー401結像レンズ41!
、チョッパー4冨4を介して二次元受光素子41−上に
結像される。
上記構成における被検眼位置検出系400の検出原理は
、以下の通りである。結像レンズ412及び角膜反射に
よるピンホールev像の結像点42−が受光素千尋11
LOvk万(M像レンズ412と反′R四)にある場合
において、チョッパように、扇形スリット422が徐々
に結像レンズ412の光束内を通過することに19、受
yt、X子416上には纂jQA、B、Cに示すような
光束が入射する。票!f図において、Xは光−の通過位
置を示し、○は入射光束の断面の重心位at示す。
、以下の通りである。結像レンズ412及び角膜反射に
よるピンホールev像の結像点42−が受光素千尋11
LOvk万(M像レンズ412と反′R四)にある場合
において、チョッパように、扇形スリット422が徐々
に結像レンズ412の光束内を通過することに19、受
yt、X子416上には纂jQA、B、Cに示すような
光束が入射する。票!f図において、Xは光−の通過位
置を示し、○は入射光束の断面の重心位at示す。
この時の受光素子416の検出信号は、jlK6図の夷
−で示す如くである。纂6図において、横軸はチヨツ・
!−の位置を示し、縦軸はY軸方向の座俸値を示す。な
お、第9図及びm5図においては、絞り辱2Iを省略し
である。
−で示す如くである。纂6図において、横軸はチヨツ・
!−の位置を示し、縦軸はY軸方向の座俸値を示す。な
お、第9図及びm5図においては、絞り辱2Iを省略し
である。
また、iiI像レンし辱11Vcよる結像点428が受
光素子41−工f)前方(Wi像レしズ辱12の鏝Jに
ある場合は、チョツ”−414が回転すると、纂り図、
jINg8&C示す工うになる。第7図、第3図は県弘
園、纂5図にそnぞn対応する。この時の受光素子41
−の検出信号は、JIIA図の点線で示す如くである。
光素子41−工f)前方(Wi像レしズ辱12の鏝Jに
ある場合は、チョツ”−414が回転すると、纂り図、
jINg8&C示す工うになる。第7図、第3図は県弘
園、纂5図にそnぞn対応する。この時の受光素子41
−の検出信号は、JIIA図の点線で示す如くである。
さらにまた、WI像レンズ412による結1象点が受光
素子41−土である場合には、受光素子416の検出信
号は、講6図の一点鎖線で示す如く横軸と平行なIx縁
となる。
素子41−土である場合には、受光素子416の検出信
号は、講6図の一点鎖線で示す如く横軸と平行なIx縁
となる。
すなわち、上記受光索子41@の樵娼信号により、M像
点が受光素子のm後方向のどこにある力N言い換え扛ば
、被検眼の角膜頂点位置が所足位置から#後方向におい
てどの向l!にどnだけずれているかを検知することが
できる。同時に、受光素子41@上の平均的入射位置の
座標を検出することにより、被検眼の角膜頂点位置が所
5jL遍歯位置に対し上下及び左右方向においてどの崗
きにどれたけずnているかt検出することができる。な
お、本来m例では、仮構[Eが適正位置にある時、ピン
ホール絞0404が被検IREの角膜yA点と共役な位
置@係になるように配置したが、被検眼Eり角膜頂点と
角膜曲率中、L?との中点あるいは角膜曲率中Iuと共
役な位置に配置し工もよい。
点が受光素子のm後方向のどこにある力N言い換え扛ば
、被検眼の角膜頂点位置が所足位置から#後方向におい
てどの向l!にどnだけずれているかを検知することが
できる。同時に、受光素子41@上の平均的入射位置の
座標を検出することにより、被検眼の角膜頂点位置が所
5jL遍歯位置に対し上下及び左右方向においてどの崗
きにどれたけずnているかt検出することができる。な
お、本来m例では、仮構[Eが適正位置にある時、ピン
ホール絞0404が被検IREの角膜yA点と共役な位
置@係になるように配置したが、被検眼Eり角膜頂点と
角膜曲率中、L?との中点あるいは角膜曲率中Iuと共
役な位置に配置し工もよい。
久に、被検眼検出系409の二次元受光素子41’/4
によって、被検眼Eとオートフラクトメータとの相応的
位tIll@係を検出する電気回路を、票9図にもとづ
いて説明する。受光素子+11は、第1O図に示すよう
に、光束450が入射すると、そ)入射位置の座標vc
gkる距111x、、Xl、yl、y、と入射光量に対
応じた電圧X、 、X1% Yl % Ylを出力する
。光束451が受光素子426の中央に入射すると、X
、 = X、、Y、 = Y、となる。なお、本実M例
では、チヨツ”−414の回転によって光束はY方向に
走査される。
によって、被検眼Eとオートフラクトメータとの相応的
位tIll@係を検出する電気回路を、票9図にもとづ
いて説明する。受光素子+11は、第1O図に示すよう
に、光束450が入射すると、そ)入射位置の座標vc
gkる距111x、、Xl、yl、y、と入射光量に対
応じた電圧X、 、X1% Yl % Ylを出力する
。光束451が受光素子426の中央に入射すると、X
、 = X、、Y、 = Y、となる。なお、本実M例
では、チヨツ”−414の回転によって光束はY方向に
走査される。
最初に、X方向すなわちオートレフラクトメータ光軸に
対する被検眼光軸の五石方向のすnt−検出する回路に
ついて説明する。
対する被検眼光軸の五石方向のすnt−検出する回路に
ついて説明する。
チョッパー辱14VCよる走査がY方向についてなされ
ている九め、被検眼のずれ量の如何にかかわらず、光束
450の平均的位#を示す信号XI%X! は、受光素
子416への入射光量が変化しない@9、一定レベルで
出力さnる。受光素子416tr) 出力信号X8、X
xfl、そn−t’n増幅回路452.454によって
増幅され、減算回路458及び加j!囲路4Bsでそれ
ぞれの演算(X+ Xt ) 及び(X、 + X
、 ) がなさnる。減算回路456及び加算回路+
5817)出力は、l@/ill算回路4111Cよつ
て(X+ −X* )/ (X+ +x倉)が演算され
るが、こ八は、受光素子416への入射光量が変動して
も、入射座標位rItVc対厄した一定レベルの電圧信
号を得ることができるようにするためである。纂1割算
回路+SOの出方である( X+ Xxン/(X4
+Xt ) = X 値の絶対値は被検眼のX方向のす
nlを示し、その符号はずれの方向を示す。この謳/割
算回路460の出力は、第1比lIR器462及び第一
比較器辱64へ入力される0票/十基準設定器番66は
基準となる許容設足信号十#全発生するもので、Jll
l/比較器462において纂/割算回路+60の出力信
号と基準信号+書との比較がなされる。l@/比較器4
62は、第1十基準設定器466からの許容設定信号+
8よ0講/割算回路+60の出力が小の場合[は17”
信号を発生し、大の場合には1θ”信号を発生する。同
様に、纂コ比較器464は纂/−基準設足器468から
の許容設定信号−Cより纂/割算回路46゜の出力が大
の場合には@71信号を発生し、小の場合には”θ″信
号発生する。ここで票/十基準設定器466及び纂/−
基準設定器468の出力信号+1及び−afj、、眼科
機械を被検1iEに対【−設定する時の設定誤差の許容
範囲を示す。また、第1比較4’!1)462の出力信
号raXl!、2比較器464の出力信号′t−bとす
ると、被検11Eの光軸がオートレフラクトメータの元
軸に対し所定許容範囲よりも右方向にずnている場合、
信号aは信号10”とな9、信号すは信号″′/mとな
る。同様に、左方向にずれている場合には、信号aは信
号“/″となり、信号すは信号”θ″ となる。さらに
、所定許容ll1i囲に入っている場合には、信号a及
び信号すの双方が信号“7″ となる、この纂/比較器
462及び纂コ比較器464の出力信号a及びbは表示
制御回路+79に入力される。
ている九め、被検眼のずれ量の如何にかかわらず、光束
450の平均的位#を示す信号XI%X! は、受光素
子416への入射光量が変化しない@9、一定レベルで
出力さnる。受光素子416tr) 出力信号X8、X
xfl、そn−t’n増幅回路452.454によって
増幅され、減算回路458及び加j!囲路4Bsでそれ
ぞれの演算(X+ Xt ) 及び(X、 + X
、 ) がなさnる。減算回路456及び加算回路+
5817)出力は、l@/ill算回路4111Cよつ
て(X+ −X* )/ (X+ +x倉)が演算され
るが、こ八は、受光素子416への入射光量が変動して
も、入射座標位rItVc対厄した一定レベルの電圧信
号を得ることができるようにするためである。纂1割算
回路+SOの出方である( X+ Xxン/(X4
+Xt ) = X 値の絶対値は被検眼のX方向のす
nlを示し、その符号はずれの方向を示す。この謳/割
算回路460の出力は、第1比lIR器462及び第一
比較器辱64へ入力される0票/十基準設定器番66は
基準となる許容設足信号十#全発生するもので、Jll
l/比較器462において纂/割算回路+60の出力信
号と基準信号+書との比較がなされる。l@/比較器4
62は、第1十基準設定器466からの許容設定信号+
8よ0講/割算回路+60の出力が小の場合[は17”
信号を発生し、大の場合には1θ”信号を発生する。同
様に、纂コ比較器464は纂/−基準設足器468から
の許容設定信号−Cより纂/割算回路46゜の出力が大
の場合には@71信号を発生し、小の場合には”θ″信
号発生する。ここで票/十基準設定器466及び纂/−
基準設定器468の出力信号+1及び−afj、、眼科
機械を被検1iEに対【−設定する時の設定誤差の許容
範囲を示す。また、第1比較4’!1)462の出力信
号raXl!、2比較器464の出力信号′t−bとす
ると、被検11Eの光軸がオートレフラクトメータの元
軸に対し所定許容範囲よりも右方向にずnている場合、
信号aは信号10”とな9、信号すは信号″′/mとな
る。同様に、左方向にずれている場合には、信号aは信
号“/″となり、信号すは信号”θ″ となる。さらに
、所定許容ll1i囲に入っている場合には、信号a及
び信号すの双方が信号“7″ となる、この纂/比較器
462及び纂コ比較器464の出力信号a及びbは表示
制御回路+79に入力される。
久に、Y方向すなわちオートレフラクトメータ光軸に対
する被検II E O)光軸の上下方向のずれを検出す
る回路について説明する。チョッパー414による走査
はY方向につぃ1:なさnているから、え□+4.6o
カカ第4 tffE−M4jj Yl 、’vtu、
# ’走査に対応し比変調信号となる。ここで、電
圧信号Y、、Y、は、上記被検眼位置検出糸40 G
(J)製塩の説明で示し′fcように、2方向すなわち
レフラクトメータの前後方向(光軸方向2の位置の情報
も含んでいるから、以後、信号Y+ (Z+ )、Yl
(Zt )で示すものとする。受光素子416のYl
(Z+ )、Y!(z!)の出力は、増幅回路472
.414で増幅され、減算回路476及び加算回路41
暮に人力サレる。減算回路41−の出力はローノ4 ス
フイルター(ロ)路480を経て第2i14I算回路4
82に人力される。加算回路418の出方は直接篇二割
算回路4$2に人力さnる。ローフ9スフイルター回路
480は、減算回路476の出方信号から七のKgQ1
部分すなわち信号z1.2.の影響を散除いtl一定レ
ベルの電圧信号とする九めの−のである。
する被検II E O)光軸の上下方向のずれを検出す
る回路について説明する。チョッパー414による走査
はY方向につぃ1:なさnているから、え□+4.6o
カカ第4 tffE−M4jj Yl 、’vtu、
# ’走査に対応し比変調信号となる。ここで、電
圧信号Y、、Y、は、上記被検眼位置検出糸40 G
(J)製塩の説明で示し′fcように、2方向すなわち
レフラクトメータの前後方向(光軸方向2の位置の情報
も含んでいるから、以後、信号Y+ (Z+ )、Yl
(Zt )で示すものとする。受光素子416のYl
(Z+ )、Y!(z!)の出力は、増幅回路472
.414で増幅され、減算回路476及び加算回路41
暮に人力サレる。減算回路41−の出力はローノ4 ス
フイルター(ロ)路480を経て第2i14I算回路4
82に人力される。加算回路418の出方は直接篇二割
算回路4$2に人力さnる。ローフ9スフイルター回路
480は、減算回路476の出方信号から七のKgQ1
部分すなわち信号z1.2.の影響を散除いtl一定レ
ベルの電圧信号とする九めの−のである。
第ユ割算回路482はY値=(YlY茸) ’/ (Y
。
。
+Y、)の演算を行う。割算回路482の出力Yの絶対
W7Lは被検眼EのY方向のずれ量を示し、その符号は
ずれの方向を示す、纂コ割鼻回路482の出力は、累3
比較器484及びwLII比較器486により萬コ十本
準設定器488及びmニー基準設定器+eoの出力信号
との比較がなされる。a3比較器414及び菖グ比較器
辱8−の出力信号を夫々信号C及び信号dとすれば、オ
ートレフラクトメータの光軸に対し被検眼Eの光軸が所
定許容幅エリ上方向にずれている場合には、信号Cは信
号“θ″、信号dは信号“/” となる。逆に、Y方向
にずnている場合には、信号Cは信号“/″で、信号d
は信号”0″ となる。上下方向とも所定許容幅内に入
っている場合には、信号C及び信号dと4に信号″″/
2となる。講3比較器484及び纂ダ比較器486の出
力信号は表示制御回路470に入力さnる。
W7Lは被検眼EのY方向のずれ量を示し、その符号は
ずれの方向を示す、纂コ割鼻回路482の出力は、累3
比較器484及びwLII比較器486により萬コ十本
準設定器488及びmニー基準設定器+eoの出力信号
との比較がなされる。a3比較器414及び菖グ比較器
辱8−の出力信号を夫々信号C及び信号dとすれば、オ
ートレフラクトメータの光軸に対し被検眼Eの光軸が所
定許容幅エリ上方向にずれている場合には、信号Cは信
号“θ″、信号dは信号“/” となる。逆に、Y方向
にずnている場合には、信号Cは信号“/″で、信号d
は信号”0″ となる。上下方向とも所定許容幅内に入
っている場合には、信号C及び信号dと4に信号″″/
2となる。講3比較器484及び纂ダ比較器486の出
力信号は表示制御回路470に入力さnる。
久に、2方向のずれすなわちオートレフラクトメータ一
本体と被検眼との適世距離からのすnlを検出する回路
に関して説明する。上記Y方向に関する回路における減
算回路416お工び加算回路478は直接票3割鼻回路
492に接続さnる。
本体と被検眼との適世距離からのすnlを検出する回路
に関して説明する。上記Y方向に関する回路における減
算回路416お工び加算回路478は直接票3割鼻回路
492に接続さnる。
! 、? Ill算回路492は、・マント・々スフイ
ルター回路494、同期整流回路496を経てローパス
フィルター回路498へ接続さnる。1次、基準信号受
光素子4!Oは、増幅回路soztmて同期!1流回路
496に接続されている。上記回路において、纂3割算
回路492は、信号YZ = Y+ tz、ノー Y、
(Z、J / Y、 (Zll + Y、 (Z、J
の演算tなし、バンドパスフィルター回路494に
入力さnる。
ルター回路494、同期整流回路496を経てローパス
フィルター回路498へ接続さnる。1次、基準信号受
光素子4!Oは、増幅回路soztmて同期!1流回路
496に接続されている。上記回路において、纂3割算
回路492は、信号YZ = Y+ tz、ノー Y、
(Z、J / Y、 (Zll + Y、 (Z、J
の演算tなし、バンドパスフィルター回路494に
入力さnる。
バンドパスフィルター回路494からの出力は、2方向
のずれ量に比例した振幅t−有する変#at出力する。
のずれ量に比例した振幅t−有する変#at出力する。
この変調aは、第1 /aOA及び日の工うに、ずnの
方向1cよって位相の異なる信号となる。他方、幕準信
号受光素子+20の出力は、増幅回路502によッテ増
幅さA”(、aK//図ciC示す矩形波のリファレン
ス信号として同期螢訛回路’791.VC入力する。同
期整11(ロ)路496は、このリファレンス信号で上
記パフドパスフイルター回路494からの出力′に同期
IE5tしτ、ずれの方向によって纂//図DiたはE
の信号を出力する。
方向1cよって位相の異なる信号となる。他方、幕準信
号受光素子+20の出力は、増幅回路502によッテ増
幅さA”(、aK//図ciC示す矩形波のリファレン
ス信号として同期螢訛回路’791.VC入力する。同
期整11(ロ)路496は、このリファレンス信号で上
記パフドパスフイルター回路494からの出力′に同期
IE5tしτ、ずれの方向によって纂//図DiたはE
の信号を出力する。
同期整流回路49藝からの出力は、ロー・母スフイルタ
ー回路491によ0尾l1図Fま九はGの信号に変換さ
nる。すなわち、ローパスフィルター回路498の出力
の絶対値は2方向のずれ量を示し、その符号はずれの方
向を示すものであり、その出力信号は纂S比較器504
及び!116比較沙506へ入力される。3$15比較
器5Q+、第1.比較650・、纂3+基準設定器50
8、纂3−基準設定!51・は、X方向及びY方向の検
出で述べ次各比較器及び基準設定器と四槽の機能t−有
するものである。すなわち、85比較器504及び纂6
比収器50・の出力信号を夫々信号e及び信Wfとする
。オートレフラクトメータと被検眼Eとの距離量が所定
許容量より小の場合には、信号eは信号“0#、信号f
は信号“/″となり、所定許容範囲よりも大の場合1c
は、信号eは信号゛/″ 、信号fが信号”0″ とな
る。該距離量が所定許容量内にあると@は信号e及びf
が“/”となる。信号e及びfは表示回路410に入力
される。ま九、光量設定器510と加算回路478とに
gjk続され次纂7比較器512は被検眼位置検出用の
光束の角膜反射による投影像が受光素子416上に投影
さnているか否かを検出するものであり、受光素子41
6に入射する光量レベルが光量設定器51(Iの設定値
以上の場合には信号″″l# 倉、tた光量基準器51
Gの設定値以下の場合には信号@0# を発生するもの
であり、この出力を信号gと呼ぶ0以上述べた信号8〜
I!はAND回路514に入力’1JfL4゜ANDI
回路514は、信号a−fが”l#の場合、すなわち被
検眼Eがオートレフラクトメータ本体[対し所定許容範
囲内に入った場合(アライメント−整が完了した場合〕
にのみ信号″″/1t−/1t−発生ある。
ー回路491によ0尾l1図Fま九はGの信号に変換さ
nる。すなわち、ローパスフィルター回路498の出力
の絶対値は2方向のずれ量を示し、その符号はずれの方
向を示すものであり、その出力信号は纂S比較器504
及び!116比較沙506へ入力される。3$15比較
器5Q+、第1.比較650・、纂3+基準設定器50
8、纂3−基準設定!51・は、X方向及びY方向の検
出で述べ次各比較器及び基準設定器と四槽の機能t−有
するものである。すなわち、85比較器504及び纂6
比収器50・の出力信号を夫々信号e及び信Wfとする
。オートレフラクトメータと被検眼Eとの距離量が所定
許容量より小の場合には、信号eは信号“0#、信号f
は信号“/″となり、所定許容範囲よりも大の場合1c
は、信号eは信号゛/″ 、信号fが信号”0″ とな
る。該距離量が所定許容量内にあると@は信号e及びf
が“/”となる。信号e及びfは表示回路410に入力
される。ま九、光量設定器510と加算回路478とに
gjk続され次纂7比較器512は被検眼位置検出用の
光束の角膜反射による投影像が受光素子416上に投影
さnているか否かを検出するものであり、受光素子41
6に入射する光量レベルが光量設定器51(Iの設定値
以上の場合には信号″″l# 倉、tた光量基準器51
Gの設定値以下の場合には信号@0# を発生するもの
であり、この出力を信号gと呼ぶ0以上述べた信号8〜
I!はAND回路514に入力’1JfL4゜ANDI
回路514は、信号a−fが”l#の場合、すなわち被
検眼Eがオートレフラクトメータ本体[対し所定許容範
囲内に入った場合(アライメント−整が完了した場合〕
にのみ信号″″/1t−/1t−発生ある。
C0)AND回路514の出力信号は、テレビモニタ3
1 @ic表示さnる基準指標の光源3070制御回路
51i1iC人力さnXANDLgl路51417)l
it力信号が”/” [なつ7を場合には、基準指標光
源307が点滅状態になるように構成される。0のよう
に構成するCとにより、後述するようにテレビモニタ3
16上の表示に従いアライメント調整を行い、そのMI
Eが完了した場合には、被検眼Eの儂と重ねて表示され
る基準指標像が点滅することになり、極めて容易Vci
ll整完了を知ることができる。
1 @ic表示さnる基準指標の光源3070制御回路
51i1iC人力さnXANDLgl路51417)l
it力信号が”/” [なつ7を場合には、基準指標光
源307が点滅状態になるように構成される。0のよう
に構成するCとにより、後述するようにテレビモニタ3
16上の表示に従いアライメント調整を行い、そのMI
Eが完了した場合には、被検眼Eの儂と重ねて表示され
る基準指標像が点滅することになり、極めて容易Vci
ll整完了を知ることができる。
次に、信号a −gが人力さnている表示制御回路+7
0に関して述べる。表示制御回路+7(iは、撮壕管3
0−を介して被検1111壕が表示さnているテレビモ
ニタ316の画面上に信号a〜gvコよってfi検眼E
の位置情報を表示するものである。以下、オートレフラ
クトメータのアライメント64整手順に従って、テレビ
モニタ316上の表示Vこついて説明する。まず纂/に
、オートレフラクトメータの被検者固定装置に被検者を
固定する。この時には、被検眼Eの位置はオートレフラ
クトメータ本体に対する適正位置より大きくずnている
場合が多く、テレビモニタ上には第1.2図Aに示すよ
うに表示さnる。講/2図A4おいて、530は被検眼
像であり、532は基準指標311の像であり、534
は後述する被検眼位置検出情報指標である。この場合、
仮構眼位#L慣出用VC被検眼角膜に投影される光束は
角膜に投影さnてぃないため、受光素子416よKは反
射投影像が投影されていない。また、信号gは信号“0
#であり、この信号10″により、表示制御回路47(
lユテレビモニタ上の下部に被検眼位置検出情報指礒5
J4に表示するが、萬lコIIAの状態では被検眼位置
検出系40Gの電気回路は作動していない。
0に関して述べる。表示制御回路+7(iは、撮壕管3
0−を介して被検1111壕が表示さnているテレビモ
ニタ316の画面上に信号a〜gvコよってfi検眼E
の位置情報を表示するものである。以下、オートレフラ
クトメータのアライメント64整手順に従って、テレビ
モニタ316上の表示Vこついて説明する。まず纂/に
、オートレフラクトメータの被検者固定装置に被検者を
固定する。この時には、被検眼Eの位置はオートレフラ
クトメータ本体に対する適正位置より大きくずnている
場合が多く、テレビモニタ上には第1.2図Aに示すよ
うに表示さnる。講/2図A4おいて、530は被検眼
像であり、532は基準指標311の像であり、534
は後述する被検眼位置検出情報指標である。この場合、
仮構眼位#L慣出用VC被検眼角膜に投影される光束は
角膜に投影さnてぃないため、受光素子416よKは反
射投影像が投影されていない。また、信号gは信号“0
#であり、この信号10″により、表示制御回路47(
lユテレビモニタ上の下部に被検眼位置検出情報指礒5
J4に表示するが、萬lコIIAの状態では被検眼位置
検出系40Gの電気回路は作動していない。
検者は、基準指標532に被検眼像5s・が合歓するよ
うにオートレフラクトメータ本体を公知のsr/IJi
iiI整機構(図示せず」により右方向及び上方向に概
略5III!J勇整する。ま次、作動距−調整に関して
は、被検眼像53(Iが概略ピントり合っ友状!aiC
なるまでオートレフラクトメータ本体t−WIJ後方向
に移動調整する。この概略II!1が終わると、被41
1[眼位置検出用の光束が被検眼Eの角膜で反射さnて
受光素子416に該反射光束が入射する。
うにオートレフラクトメータ本体を公知のsr/IJi
iiI整機構(図示せず」により右方向及び上方向に概
略5III!J勇整する。ま次、作動距−調整に関して
は、被検眼像53(Iが概略ピントり合っ友状!aiC
なるまでオートレフラクトメータ本体t−WIJ後方向
に移動調整する。この概略II!1が終わると、被41
1[眼位置検出用の光束が被検眼Eの角膜で反射さnて
受光素子416に該反射光束が入射する。
その結果、第7比較1S512の出力信号は“l”とな
り、表示制御回路410は入力されている信号a −f
により被検眼位置検出情報指l1534の表示を制御す
るようになる。また、上記概略調整が完了すると、被検
眼位置検出用の投影光源に被検眼角J[へ投影され、テ
レビモニタ31・よテハ被検眼像の角膜上にピンホール
絞e)+04の像が観察さnるLうになる。
り、表示制御回路410は入力されている信号a −f
により被検眼位置検出情報指l1534の表示を制御す
るようになる。また、上記概略調整が完了すると、被検
眼位置検出用の投影光源に被検眼角J[へ投影され、テ
レビモニタ31・よテハ被検眼像の角膜上にピンホール
絞e)+04の像が観察さnるLうになる。
以上の概略調整が終了すると、被検眼位置検出系が機能
する0表示制御回路470に入力されている信号a1
bは、オートレフラクトメータの光軸に対する被検眼の
左右方向の光軸ずれ量を示すものであり、表示制御回路
470は信号aが′″l”信号すが10′の時には矢印
534aをテレビモニタ316上に表示し、信号aが″
0#、信号すが″/” の1#には矢印53番すをテレ
ビモニタ316上に表示する。すなわち、テレビモニタ
316土VCハオートレ7ククトメータ本体を移111
1411f;b方向が表示されることKなり、検者はこ
の表示に従ってオートレフラクトメータ本体を左あるい
は右方向に移wJ調整すnばよい。この左右方向の調整
より被検眼Eが所定範囲内に入ったFI#には、信号8
1信号すとも 1/# となり、この場合表示制御回路
辱1・はテレビモニタ314F上の矢印534as53
4bを消滅させる。
する0表示制御回路470に入力されている信号a1
bは、オートレフラクトメータの光軸に対する被検眼の
左右方向の光軸ずれ量を示すものであり、表示制御回路
470は信号aが′″l”信号すが10′の時には矢印
534aをテレビモニタ316上に表示し、信号aが″
0#、信号すが″/” の1#には矢印53番すをテレ
ビモニタ316上に表示する。すなわち、テレビモニタ
316土VCハオートレ7ククトメータ本体を移111
1411f;b方向が表示されることKなり、検者はこ
の表示に従ってオートレフラクトメータ本体を左あるい
は右方向に移wJ調整すnばよい。この左右方向の調整
より被検眼Eが所定範囲内に入ったFI#には、信号8
1信号すとも 1/# となり、この場合表示制御回路
辱1・はテレビモニタ314F上の矢印534as53
4bを消滅させる。
同411に、表示制御回ji3470は上下方向の光軸
fnlkを示す信号C1dによりテレビモニタ3I6に
矢印534c及び534dを表示し、調整方向を示すよ
うに構成する。
fnlkを示す信号C1dによりテレビモニタ3I6に
矢印534c及び534dを表示し、調整方向を示すよ
うに構成する。
なお、本wanでは矢印534a、 5g4b、 13
4c。
4c。
534d t−一定の長さの矢印で構成して9るが、許
容量からのずれ量の値を矢印の長手方向の長さに変換し
て表示するように構成しτもよ−0この場8−は、矢印
の長さにより許容量からのすn4を即座に判断すること
ができる。名らに、本実M%4では、概略調整が完了し
ないで、かつ受光素子41@上に反射投影像が投影され
1いない場合、テレビモニタ316上部に被検眼位置検
出情報534が表示されないが、この場合に前記情報と
は^なつ次特別の指*ti示するように構成してtよい
。
容量からのずれ量の値を矢印の長手方向の長さに変換し
て表示するように構成しτもよ−0この場8−は、矢印
の長さにより許容量からのすn4を即座に判断すること
ができる。名らに、本実M%4では、概略調整が完了し
ないで、かつ受光素子41@上に反射投影像が投影され
1いない場合、テレビモニタ316上部に被検眼位置検
出情報534が表示されないが、この場合に前記情報と
は^なつ次特別の指*ti示するように構成してtよい
。
ま九、表示制御回路47・は、前後方向の作動距離のず
れ量を示す信号e、fK工Q1テレビモニタ316の矢
印5348−5146 の表示装置の中心に文字B又は
Ft−表示するよう#′c構成する。
れ量を示す信号e、fK工Q1テレビモニタ316の矢
印5348−5146 の表示装置の中心に文字B又は
Ft−表示するよう#′c構成する。
すなわち、オートレフラクトメータと被検眼の距#ll
(作動距離)が所定許容範囲より小名く信号θが“θ′
、信号fが″l”の場合[は、被検IREに対してオー
トレフラクトメータt″後方向VC移動調整すべき旨を
示す文字@B#が表示される。逆に、該作動距離が所定
許容範囲より大の場合には文字”F′が表示さnる。該
作動距離が所定許容範囲内に入った場合には、文字”B
’、”F″とも表示さn、zい。第7.2図Bは、概略
調整が終了し、被検11EK対しオートレフラクトメー
タ元軸が少量であるが左方向及びF方向にずれ、しかも
作動距離が小さ過ぎる場合のテレビモニタ31・上の表
示省を示すものである。検者は、このテレピモニj1a
te上の表示に従つτ、オートレフラクトメータを左右
、上下、及び前後方向に移動調整する。そして、3方向
のすべてにおいて許容範吐内に入り、すなわち信号a−
fがすべて“/#になり、しかもgが“/“になつ定時
、矢印534a〜5a4d及び文字B、Fのすベニが消
えると同時に、前述のように被検眼像と東なって表示さ
れる基準指標像632の点滅が始める。すなわら、この
基準指標像532の点滅によりすべての方向のアライメ
ント調整すなわち光軸ずれ11整、作動距I@調整が完
了したことが極めて容易に認識できることになる。
(作動距離)が所定許容範囲より小名く信号θが“θ′
、信号fが″l”の場合[は、被検IREに対してオー
トレフラクトメータt″後方向VC移動調整すべき旨を
示す文字@B#が表示される。逆に、該作動距離が所定
許容範囲より大の場合には文字”F′が表示さnる。該
作動距離が所定許容範囲内に入った場合には、文字”B
’、”F″とも表示さn、zい。第7.2図Bは、概略
調整が終了し、被検11EK対しオートレフラクトメー
タ元軸が少量であるが左方向及びF方向にずれ、しかも
作動距離が小さ過ぎる場合のテレビモニタ31・上の表
示省を示すものである。検者は、このテレピモニj1a
te上の表示に従つτ、オートレフラクトメータを左右
、上下、及び前後方向に移動調整する。そして、3方向
のすべてにおいて許容範吐内に入り、すなわち信号a−
fがすべて“/#になり、しかもgが“/“になつ定時
、矢印534a〜5a4d及び文字B、Fのすベニが消
えると同時に、前述のように被検眼像と東なって表示さ
れる基準指標像632の点滅が始める。すなわら、この
基準指標像532の点滅によりすべての方向のアライメ
ント調整すなわち光軸ずれ11整、作動距I@調整が完
了したことが極めて容易に認識できることになる。
上記アライメント調整が終了し次後、オートレフラクト
メータの測定が開始されるが、肯定中に被検眼のまばた
き等を観察し、同時に被検11Eが適正位置からずれる
ようになっ次歪かtg繊することができる。なお、オー
トレフ演1ssueは、2次元検出器21番からの測定
信号から被検眼の屈折度を算出する九めの演算部である
。オートレフ演算部540で算出さf’L皮仮検仮構屈
折度に対応した電気信号は表示制御回路470に人力さ
nる。紡述のアライメント調整が完了し7を後、オート
レフラクトメータの測定系に工V被検級の屈折度測定を
行い、オートレフ演算部54Gからの電気信号によりテ
レビモニタ316の下5tIc欄足結果を表示させ得る
ように@成する。すなわち、テレビモニタには、被検i
a*、被検眼位置情報及び被検眼の屈折度測定結果のす
べてが表示される。
メータの測定が開始されるが、肯定中に被検眼のまばた
き等を観察し、同時に被検11Eが適正位置からずれる
ようになっ次歪かtg繊することができる。なお、オー
トレフ演1ssueは、2次元検出器21番からの測定
信号から被検眼の屈折度を算出する九めの演算部である
。オートレフ演算部540で算出さf’L皮仮検仮構屈
折度に対応した電気信号は表示制御回路470に人力さ
nる。紡述のアライメント調整が完了し7を後、オート
レフラクトメータの測定系に工V被検級の屈折度測定を
行い、オートレフ演算部54Gからの電気信号によりテ
レビモニタ316の下5tIc欄足結果を表示させ得る
ように@成する。すなわち、テレビモニタには、被検i
a*、被検眼位置情報及び被検眼の屈折度測定結果のす
べてが表示される。
本実mf11では、被検眼がオートレフラクトメータに
対し適正許容範囲内に入った時、基準N111532を
点滅状態になるよう構成したが、基準指束の光gA40
2を点滅状Mにしてもよい。すなわち、概略絢整が終了
すると、テレビモニタ316上の被検眼の角m面には光
源402からの光束により明るいピンホール絞1:14
Q4像が叡iすることができるが、この被検眼[投影す
る光束の光源402を点滅さぜることによりピンホール
MD◆04の像が点滅するように構成すれは、上述と同
様に也めて容易にアライメント調整が児了し九ことを1
織することができる。
対し適正許容範囲内に入った時、基準N111532を
点滅状態になるよう構成したが、基準指束の光gA40
2を点滅状Mにしてもよい。すなわち、概略絢整が終了
すると、テレビモニタ316上の被検眼の角m面には光
源402からの光束により明るいピンホール絞1:14
Q4像が叡iすることができるが、この被検眼[投影す
る光束の光源402を点滅さぜることによりピンホール
MD◆04の像が点滅するように構成すれは、上述と同
様に也めて容易にアライメント調整が児了し九ことを1
織することができる。
なお、上記アライメント完了信号は、基準指標の光源、
あるい扛ピンホール?X9404の光源492に兼用し
ているが、cnvこ限らず、特別の指標を表示し得るよ
うに構成し王もよいことはいうまで鴫ない。
あるい扛ピンホール?X9404の光源492に兼用し
ているが、cnvこ限らず、特別の指標を表示し得るよ
うに構成し王もよいことはいうまで鴫ない。
以上詳細に説明した逼りX不発#!Aは被検眼前眼部を
直接観察しながら光軸合わぜ調整及び作鯛距ff1D4
整を行うことができ、しかもこの位置関係がすべて適正
範囲内に人Ov@贅が児rし九ことt極めて容易に識別
することかで@るから、適正位置嶋整の作業能率上及び
調整精度上極めて願誓な効果を有するものである。を次
、適正1lIl!I内に入ったか否かは、電気的に検出
して表示するため、横書によりa***果にばらつきが
ないという効果を有する−のである。
直接観察しながら光軸合わぜ調整及び作鯛距ff1D4
整を行うことができ、しかもこの位置関係がすべて適正
範囲内に人Ov@贅が児rし九ことt極めて容易に識別
することかで@るから、適正位置嶋整の作業能率上及び
調整精度上極めて願誓な効果を有するものである。を次
、適正1lIl!I内に入ったか否かは、電気的に検出
して表示するため、横書によりa***果にばらつきが
ないという効果を有する−のである。
図mに本発明をし7ラクトメータに過用した実施例【示
し、IILl@rX元学図、藁コ図は照準光学系の規準
板の正面図、累3aQはチョッパと元来との11%の説
94m、纂弘図は被検眼とレフラクトメータとの距離が
適正値より小さめ時のチョッノ平通・過元来のa明図、
纂S−に纂参図に示す状態における光束と受光素子との
関係の説明−11I46図は受光素子の検出信号図、#
17wJは被検眼とレフラクトメータとの距臨が適正値
より大きい時のチョッパ通過光束のils!明図、纂を
図は纂7図に示す状−における光束と受光素子との関係
の説181I図、纂デ1ilOは電気回路のフローチャ
ート、纂IO図は受光素子の機能説明図、講/1図は第
を図のフローチャートにおける波形図、17112図は
テレビモニタの表示説明図である。 10(i ターグツを投影光学系 101 赤外線光源 105 醐足ターゲット 200 ターゲット受光光学系 212 角膜反射光遮断絞り 214 −次元検出器 300 照準光学系 302 投影レンズ 314 テレビモニタ +00 被検眼位置検出系 404 ピンホール絞り 414 チョッノや− 420基準信号用受光素子 特許出願人 東京元学機械株式会社 @7図 第8図
し、IILl@rX元学図、藁コ図は照準光学系の規準
板の正面図、累3aQはチョッパと元来との11%の説
94m、纂弘図は被検眼とレフラクトメータとの距離が
適正値より小さめ時のチョッノ平通・過元来のa明図、
纂S−に纂参図に示す状態における光束と受光素子との
関係の説明−11I46図は受光素子の検出信号図、#
17wJは被検眼とレフラクトメータとの距臨が適正値
より大きい時のチョッパ通過光束のils!明図、纂を
図は纂7図に示す状−における光束と受光素子との関係
の説181I図、纂デ1ilOは電気回路のフローチャ
ート、纂IO図は受光素子の機能説明図、講/1図は第
を図のフローチャートにおける波形図、17112図は
テレビモニタの表示説明図である。 10(i ターグツを投影光学系 101 赤外線光源 105 醐足ターゲット 200 ターゲット受光光学系 212 角膜反射光遮断絞り 214 −次元検出器 300 照準光学系 302 投影レンズ 314 テレビモニタ +00 被検眼位置検出系 404 ピンホール絞り 414 チョッノや− 420基準信号用受光素子 特許出願人 東京元学機械株式会社 @7図 第8図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 V)被検眼前@S像を基準ル標と重ねて観察するための
被検@観察系と、被検眼の適正位置からのすrtlを電
気的に検出するための被検眼位置検出部と、前記被検眼
位を検出部からの電気信号によo11!記すn量が所定
許容量円に入ったことt−表示する表示部とからなり、
前記値検鑞観察系の観察像と前記表示部の表示とが同−
視野内に観察できる工うに構成し皮Cと【特徴とする眼
科機械の被検眼位置検出装置。 −上記被検1泣置観察Sは被検銀像を結像させるための
光学系と被検眼像を可視像として表示するためのテレビ
モニタとからなり、また上記表示部の表示は上記テレビ
モニタ画面上になされるように構成された特許請求の1
iIlllJlll/JJ記載の眼科機械の被検眼位置
検出装置。 口) 上記債検限位置検assは被検llK遍正位置検
出用絞9像を投影する指礁投影糸を有し、該絞り像を点
滅・非点滅によ0表示部の表示上行う特許請求の範N纂
ユ項記載の眼科機械の被検限位置検出at。 V)上記表示部の表示が上記基準ル標の点灯状層によっ
て行わnる特許請求の範囲112項記載の眼科機械の被
検眼位置検出装置。 δ)上記テレビモニタは、上記被検眼位置検出部からの
電気信号によOil科機械の適正位置からのずれ方向も
表示する特#FF請求の範囲第二項記載の眼科機械の被
検限位置検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57043415A JPS58159723A (ja) | 1982-03-18 | 1982-03-18 | 眼科機械の被検眼位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57043415A JPS58159723A (ja) | 1982-03-18 | 1982-03-18 | 眼科機械の被検眼位置検出装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5273649A Division JP2759413B2 (ja) | 1993-11-01 | 1993-11-01 | 被検眼位置検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58159723A true JPS58159723A (ja) | 1983-09-22 |
JPH035810B2 JPH035810B2 (ja) | 1991-01-28 |
Family
ID=12663081
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57043415A Granted JPS58159723A (ja) | 1982-03-18 | 1982-03-18 | 眼科機械の被検眼位置検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58159723A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61206424A (ja) * | 1985-03-12 | 1986-09-12 | キヤノン株式会社 | 眼検査装置 |
JPS62281922A (ja) * | 1986-05-30 | 1987-12-07 | キヤノン株式会社 | 眼科装置 |
JPS63194634A (ja) * | 1987-02-07 | 1988-08-11 | キヤノン株式会社 | 眼科機器のアライメント装置 |
JPS63212318A (ja) * | 1987-02-28 | 1988-09-05 | キヤノン株式会社 | 眼測定装置 |
JPS63283620A (ja) * | 1987-05-18 | 1988-11-21 | Canon Inc | 眼科装置 |
JPH0288038A (ja) * | 1988-09-22 | 1990-03-28 | Canon Inc | 眼科装置 |
JPH0567281B2 (ja) * | 1989-06-13 | 1993-09-24 | Canon Kk | |
JP2013212426A (ja) * | 2006-11-17 | 2013-10-17 | Carl Zeiss Meditec Ag | 眼科用検査装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5212194A (en) * | 1975-07-17 | 1977-01-29 | Unitika Ltd | Process for preparing 2,7,1,3,6,8- dithiatetraaza-as-indacene |
JPS5412194A (en) * | 1977-06-29 | 1979-01-29 | Canon Kk | Ophthalmologic instrument |
-
1982
- 1982-03-18 JP JP57043415A patent/JPS58159723A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5212194A (en) * | 1975-07-17 | 1977-01-29 | Unitika Ltd | Process for preparing 2,7,1,3,6,8- dithiatetraaza-as-indacene |
JPS5412194A (en) * | 1977-06-29 | 1979-01-29 | Canon Kk | Ophthalmologic instrument |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61206424A (ja) * | 1985-03-12 | 1986-09-12 | キヤノン株式会社 | 眼検査装置 |
JPH069542B2 (ja) * | 1985-03-12 | 1994-02-09 | キヤノン株式会社 | 眼検査装置 |
JPH0360259B2 (ja) * | 1986-05-30 | 1991-09-13 | Canon Kk | |
JPS62281922A (ja) * | 1986-05-30 | 1987-12-07 | キヤノン株式会社 | 眼科装置 |
JPS63194634A (ja) * | 1987-02-07 | 1988-08-11 | キヤノン株式会社 | 眼科機器のアライメント装置 |
JPH0430854B2 (ja) * | 1987-02-07 | 1992-05-22 | ||
JPS63212318A (ja) * | 1987-02-28 | 1988-09-05 | キヤノン株式会社 | 眼測定装置 |
JPH0430855B2 (ja) * | 1987-02-28 | 1992-05-22 | ||
JPH0360489B2 (ja) * | 1987-05-18 | 1991-09-13 | Canon Kk | |
JPS63283620A (ja) * | 1987-05-18 | 1988-11-21 | Canon Inc | 眼科装置 |
JPH0288038A (ja) * | 1988-09-22 | 1990-03-28 | Canon Inc | 眼科装置 |
JPH0642868B2 (ja) * | 1988-09-22 | 1994-06-08 | キヤノン株式会社 | 眼科装置 |
JPH0567281B2 (ja) * | 1989-06-13 | 1993-09-24 | Canon Kk | |
JP2013212426A (ja) * | 2006-11-17 | 2013-10-17 | Carl Zeiss Meditec Ag | 眼科用検査装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH035810B2 (ja) | 1991-01-28 |
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