JPH0618293A - 記録計における測定データの記録方法 - Google Patents

記録計における測定データの記録方法

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JPH0618293A
JPH0618293A JP19923992A JP19923992A JPH0618293A JP H0618293 A JPH0618293 A JP H0618293A JP 19923992 A JP19923992 A JP 19923992A JP 19923992 A JP19923992 A JP 19923992A JP H0618293 A JPH0618293 A JP H0618293A
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JP
Japan
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measurement data
trigger
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measurement
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JP19923992A
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Atsushi Mizuno
厚 水野
Tadashi Iijima
匡史 飯島
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Hioki EE Corp
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Hioki EE Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 通常は測定データを間引いて記録し、トリガ
発生後は測定データを蜜に記録する場合、トリガ発生前
からでも測定データを密に記録し得るようにする。 【構成】 測定データを順次リングバッファメモリに記
憶させるとともに、各測定データを順次設定値と比較
し、トリガが発生された場合には、同トリガ発生時の測
定データよりも所定時間前(n回測定前)に同リングバ
ッファメモリに記憶された測定データおよびそれに後続
する測定データを間引くことなく順次記録手段に転送す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は記録計における測定デ
ータの記録方法に関し、さらに詳しく言えば、所定時間
ごとに測定値をメモリやプリンタなどの記録手段に記録
する際の測定データの記録方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】被測定対象が比較的安定しているような
場合、毎回のサンプリングごとにその測定データを保存
することは、例えばメモリなどの容量増大を招き好まし
くはない。
【0003】そこで、このような場合、測定データの記
録(記憶)間隔をnサンプリング回ごととし、その間の
測定データを間引くようにしている。図4にはその装置
の概略が例示されており、また、図5にはその動作のタ
イムチャートが示されている。
【0004】これによると、A/D変換回路1にてアナ
ログ入力信号が所定の測定間隔(サンプリング間隔)で
デジタルの測定データに変換される。CPU2はこの測
定データのうち、n回の測定ごとにその測定データをメ
モリやプリンタなどの記録手段3に与える。ここで、測
定間隔をt、測定値記録間隔をTとすると、この例では
T=3×tとされ、中間の2つの測定データが間引かれ
るようになっている。
【0005】この記録動作と平行して、CPU2は毎回
得られる測定データと、操作部4により設定された比較
値とを比較し、測定値がその設定範囲から外れた場合に
はトリガを発生するとともに、それ以後は毎回の測定デ
ータをすべて記録手段3に記録する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】これによれば、測定デ
ータにあまり変化がない場合には記録密度が粗くなり、
所定の過渡現象が発生した場合にはそれ以後の記録密度
が高められる、という点では合理的である。
【0007】しかしながら、記録密度が高められるのは
あくまでトリガが発生した後のことであって、トリガ発
生前については記録間隔を短くすることができなかっ
た。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明は上記従来の事
情に鑑みなされたもので、その構成上の特徴は、アナロ
グ測定信号をデジタルの測定データに変換するA/D変
換回路と、そのA/D変換された測定データを記録する
メモリやプリンタなどの記録手段と、測定データと予め
設定されている任意の比較値とを比較し、所定の条件で
トリガを発生するCPU(中央演算処理ユニット)とを
含み、トリガ発生以前には測定間隔の2倍以上の記録間
隔をもって測定データを間引いて上記記録手段に与え、
トリガ発生後においては記録間隔を測定間隔と同じにし
てすべての測定データを上記記録手段に与えるようにし
た記録計における測定データの記録方法において、リン
グバッファメモリを備え、上記A/D変換回路からの測
定データを順次同リングバッファメモリに記憶させると
ともに、各測定データを順次上記設定値と比較し、トリ
ガが発生された場合には、同トリガ発生時の測定データ
よりも所定時間前(n回測定前)に同リングバッファメ
モリに記憶された測定データおよびそれに後続する測定
データを間引くことなく順次上記記録手段に転送するよ
うにしたことにある。
【0009】
【作用】上記構成によれば、トリガ発生時にはそれより
も所定時間前に記憶されている測定データおよびそれに
後続する測定データが間引かれることなく順次記録手段
に転送される。したがって、トリガ発生前の状態から記
録密度が高められる。
【0010】
【実施例】以下、この発明の実施例について説明する。
図1には同実施例に適用される装置の概略的なブロック
線図が示されている。同装置の基本的な構成は先に図4
で説明した従来例とほぼ同じであるが、同装置において
は測定データを先入れ、先出し方式で一時的に記憶する
リングバッファメモリとしてのRAM5を備えている。
【0011】図2にはこの発明の動作フローチャートが
示されており、また、図3にはリングバッファメモリ5
に対する測定データの転送状態を説明するための摸式図
が例示されている。
【0012】測定に先だって、操作部4より測定データ
に対する比較基準値としての設定値、トリガが発生しな
いときの測定データ記録間隔、およびトリガ発生時にそ
の発生時点から測定データを何回分さかのぼって記録す
るかの指示をCPU2に与える。
【0013】この例では、トリガが発生しないときの測
定データの記録間隔は5回おきとされ、その間の4回分
の測定データは間引かれる。また、トリガ発生時にはそ
の発生時点の3回前の測定データからそれに後続する3
回分の測定データが順次記録手段3に転送されるものと
する。
【0014】図3に示されているD1〜D11の11個
の測定データを例にして図3のフローチャートにしたが
って説明すると、まず最初の測定値がA/D変換回路1
に入力されると(ステップST1)、デジタル変換され
たその測定データD1がリングバッファメモリ5に転送
される(ステップST2)。
【0015】ステップST3でCPU2からすでにトリ
ガが発生しているかが判定される。この場合、最初のデ
ータであるから「NO」であり、次ぎのステップST4
に進み測定データD1と設定値とが比較され、ステップ
ST5でトリガ発生の有無が判定される。
【0016】説明の便宜上、測定データD1が設定範囲
内で同ステップST5の結果が「NO」、すなわちトリ
ガ発生なしとして説明を続けると、次ぎのステップST
6で記録が必要かが判断される。
【0017】この実施例では、最初のデータは記録する
と予めプログラムされているため、次段のステップST
7でリングバッファメモリ5から測定データD1の記録
手段3への転送指示が出される。なお、同測定データD
1を記録手段3へ転送する際には、トリガ発生前の測定
データの記録範囲に応じて時間的にその転送が遅らされ
る。
【0018】このようにして、引き続き各測定データD
2〜D11がリングバッファメモリ5に書き込まれるの
であるが、そのいずれもが設定範囲内でステップST5
でトリガ発生なしとされた場合には、予め設定された記
録間隔にしたがってステップST6で記録が必要かが判
断され、この例では図3の時間軸上に黒丸で示す測定デ
ータD1,D6およびD11の3つがリングバッファメ
モリ5から記録手段3に転送される。
【0019】これに対して、ステップST4で比較した
結果、その測定データが設定範囲外で、次ぎのステップ
ST5でトリガ発生と判断された場合には、ステップS
T5aに移行し、記録手段3に対する記録間隔を測定間
隔と同じにして同トリガ発生前の測定データを記録手段
へ転送する。
【0020】例えば、測定データD6が設定範囲外であ
るとすると、この例ではそれよりも3回前に測定された
測定データD3からそれに後続の3つの測定データD4
〜D6が記録手段3に転送されるようになっている。
【0021】このように、一旦トリガが発生するとステ
ップST3で「YES」と判断され、ステップST3a
に移行し、図3のリングバッファメモリ5において黒丸
で示されているように、測定データD7以降のすべての
測定データがリングバッファメモリ5から記録手段3に
転送される。
【0022】なお、上記実施例ではCPU2に比較基準
としての設定値を設定してトリガを発生させるようにし
ているが、例えば外部からの入力信号を基準として測定
データを比較するようにしても良い。
【0023】トリガ発生時点からどれくらいさかのぼっ
て測定データを記録手段へ転送するかについては任意に
設定することができる。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、測定データを順次リングバッファメモリに記憶させ
るとともに、各測定データを順次設定値と比較し、トリ
ガが発生された場合には、同トリガ発生時の測定データ
よりも所定時間前(n回測定前)に同リングバッファメ
モリに記憶された測定データおよびそれに後続する測定
データを間引くことなく順次記録手段に転送するように
したことにより、トリガ発生前の状態から記録密度が高
められ、特に過渡現象などを解析するうえで、好都合で
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明を実施するのに好適な装置の概略的な
ブロック線図。
【図2】この発明の動作を説明するためのフローチャー
ト。
【図3】リングバッファメモリに対する測定データの転
送状態を説明するための摸式図。
【図4】従来例を説明するための概略的なブロック線
図。
【図5】従来例を説明するためのタイムチャート。
【符号の説明】
1 A/D変換回路 2 CPU 3 記録手段 4 操作部 5 リングバッファメモリ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 アナログ測定信号をデジタルの測定デー
    タに変換するA/D変換回路と、そのA/D変換された
    測定データを記録するメモリやプリンタなどの記録手段
    と、各測定データと予め設定されている任意の設定値と
    を比較し、所定の条件でトリガを発生するCPU(中央
    演算処理ユニット)とを含み、トリガ発生以前には測定
    間隔の2倍以上の記録間隔をもって測定データを間引い
    て上記記録手段に与え、トリガ発生後においては記録間
    隔を測定間隔と同じにしてすべての測定データを上記記
    録手段に与えるようにした記録計における測定データの
    記録方法において、リングバッファメモリを備え、上記
    A/D変換回路からの測定データを順次同リングバッフ
    ァメモリに記憶させるとともに、各測定データを順次上
    記設定値と比較し、トリガが発生された場合には、同ト
    リガ発生時の測定データよりも所定時間前(n回測定
    前)に同リングバッファメモリに記憶された測定データ
    およびそれに後続する測定データを間引くことなく順次
    上記記録手段に転送するようにしたことを特徴とする記
    録計における測定データの記録方法。
JP19923992A 1992-07-02 1992-07-02 記録計における測定データの記録方法 Pending JPH0618293A (ja)

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Effective date: 20020227