JPH0618243A - Ｉｃの傾き検査方法 - Google Patents

Ｉｃの傾き検査方法

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ＩＣの位置決めのための傾き検査を２値画像
に基づかずとも、高速かつ高精度に実行し得るＩＣの傾
き検査方法を提供することを目的とする。 【構成】 ＩＣピン先端を含む検査領域を設定し、各々
の検査領域の濃度投影図から各々のＩＣピンの両端と先
端を検出し、この先端に沿った直線上で各検査領域を代
表する点を求め、対辺に位置する検査領域を代表する点
の座標差に基づきＩＣの中心及び傾きを求める。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば、ＩＣをボー
ドにマウントするために位置決めを行う際のＩＣの傾き
検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＩＣをボード上の所定場所にマウントす
るにあたり、ＩＣの正確な位置決めが必要である。この
ＩＣの正確な位置決めのためには、ＩＣの中心とその傾
き角度の検査が不可欠である。このＩＣの中心と傾き角
度を画像処理に基づいて抽出する場合、処理速度を高め
るため２値画像に基づいて行なわれることが多い。しか
し、この２値画像は照明の照度変化に極めて影響を受け
易く、測定値の精度保証に問題を抱えている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この発明はこのような
従来の問題点を解消すべく創案されたもので、ＩＣの位
置決めのための傾き検査を、２値画像に基づかずとも、
高速かつ高精度に実行し得るＩＣの傾き検査方法を提供
することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決する手段】この発明に係るＩＣの傾き検査
方法は、ＩＣパッケイジの各辺においてＩＣピン先端を
含む検査領域を設定し、各々の検査領域の濃度投影から
各々のＩＣピンの両端と先端を検出し、この先端に沿っ
た直線上で各検査領域を代表する点を求め、対辺に位置
する検査領域を代表する点の座標差に基づきＩＣの傾き
を求めるものである。
【０００５】
【実施例】次に、この発明に係るＩＣの傾き検査方法の
１実施例を図面に基づいて説明する。図１は本発明の１
実施例を示すフローチャートである。まず、ステップ１
−１で、ＱＦＰ型等４辺にピンを有するＩＣの画像を取
り込む。なお、背景の輝度値とピン部の輝度値とは差が
あるものとする。
【０００６】ステップ１−２で、このＩＣ画像における
所定位置に検査領域を設定し、各々ＣＲ１・・ＣＲ４と
する（図２）。この検査領域はＩＣの各辺に一個設定
し、ＩＣピン先端を必ず含むものとする。
【０００７】ステップ１−３で、検査領域のＸ軸及びＹ
軸方向の濃度投影を生成する。図３に、例として挙げる
検査領域ＣＲ１の濃度投影図を示す。この濃度投影図
は、画像の濃淡、つまり多値情報を集積したデータであ
る。従って、情報圧縮を行なう際、情報が欠落してしま
う２値画像と比較し、はるかに信頼度の高い情報を有し
ているといえる。
【０００８】ステップ１−４では、ステップ１−３で生
成した濃度投影に一次微分を施す。その結果を図３中太
い実線で示す。これにより、ＩＣピンの両端に沿うライ
ン、すなわちＸ軸方向の境界部分並びにＩＣピン先端に
沿うライン、すなわちＹ軸方向の境界部分、（以下エッ
ジという）が強調されることになる。
【０００９】次に、ステップ１−５で、サブピクセル単
位で、エッジ位置を抽出する。図４は、Ｙ軸方向のエッ
ジ部分を画像のピクセル単位で表わしたものである。図
４のように、画像には凹凸があるのが通常である。この
ような画像データから、より正確なエッジ位、つまりＹ
座標を求めるにはサブピクセルの単位まで考慮する。こ
れにより、ただ単に、一次微分の最大値を有するピクセ
ル単位の座標に基づくより、更に正確で高精度のＹ座標
（その座標のＸ軸を図６中実線で示す）の確保が可能と
なる。Ｘ軸方向のエッジ座標も同様にサブピクセルの単
位で算出する。
【００１０】なお、エッジ部分の抽出にあたっては、経
験上判明している所定値を閾値として設定し、一次微分
値がこの閾値を上回る部分のみをエッジとみなす。ま
た、この閾値設定方法を統一するために、一次微分後正
規化処理をすることが望ましい。
【００１１】ステップ１−６では、各ＩＣピンに対応す
る点を抽出する。この点は各々のピン両端位置の中央点
を示す破線及び各々のピン先端位置を示す実線の交点と
し、図３においてＰ1・・Ｐnと表わす。次にステップ１
−７で、各々のピンに対応する点Ｐ1からＰnのＸ座標の
平均をピン先端を示すＸ軸上で求め、これを検査領域Ｃ
Ｒ１の代表点ＲＰ１とする。このように全ての検査領域
について各々の代表点を求める。図５においてＲＰ１・
・ＲＰ４と表わす。
【００１２】次にステップ１−８で、図５に示すよう
に、対辺に位置する代表点を結ぶ直線を求め、各々Ｌ
１、Ｌ２と表わす。そして、これらの直線の交点をＩＣ
の中心点とする。傾斜角は、ＲＰ１とＲＰ３のＸ座標の
差をΔＸとし、ＲＰ２とＲＰ４のＹ座標の差をΔＹと
し、ΔＹ／ΔＸに基づいて算出可能である。
【００１３】本発明では検査領域が所定位置の狭い領域
であるため処理時間を要せず、従って極めて高速に傾き
角度を算出可能である。このように求めたＩＣの中心を
中心にして、傾き角度分当該ＩＣを回転させて傾き補正
を行なう。
【００１４】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、２値画像
に基づかずとも、高速かつ高精度に実行し得るＩＣの傾
き検出が可能であり、その後の傾き補正が簡単に実現で
きる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の１実施例を示すフローチャートであ
る。
【図２】検査領域の設定を示す概念図である。
【図３】検査領域の濃度投影、一次微分、各ピンに対応
する点を示す概念図である。
【図４】サブピクセル単位のエッジ位置を説明するため
の図である。
【図５】ＩＣの中心を示す概念図である。
【符号の説明】
ＣＲ 検査領域 Ｐ 各々のピンに対応する点 ＲＰ 検査領域の代表点 Ｌ 対辺の代表点間の直線 ΔＹ ＲＰ２とＲＰ４のＹ座標の差 ΔＸ ＲＰ１とＲＰ３のＸ座標の差

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 各辺がＸ軸、Ｙ軸に略平行になるように
    配置されるＩＣの傾き検査方法において、ＩＣの画像を
    入力し、この画像における所定位置に、ＩＣピン先端を
    含む検査領域を設定し、各検査領域内の濃度投影を生成
    し、この濃度投影の１次微分における所定値以上の位置
    を各ＩＣピンの両端及び先端とみなし、この先端位置に
    ついて、前記各検査領域の所定位置における代表点を抽
    出し、対辺に位置する検査領域の代表点の座標の差に基
    づいてＩＣの傾きを算出することを特徴とするＩＣの傾
    き検査方法。
  2. 【請求項２】 代表点は個々のＩＣピン幅の中央点の平
    均であることを特徴とする請求項１記載のＩＣの傾き検
    査方法。
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