JPH01111281A - 部品認識方法 - Google Patents
部品認識方法Info
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- JPH01111281A JPH01111281A JP62268618A JP26861887A JPH01111281A JP H01111281 A JPH01111281 A JP H01111281A JP 62268618 A JP62268618 A JP 62268618A JP 26861887 A JP26861887 A JP 26861887A JP H01111281 A JPH01111281 A JP H01111281A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 24
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 4
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/20—Image preprocessing
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/20—Image preprocessing
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- G—PHYSICS
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- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
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- G—PHYSICS
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- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/40—Extraction of image or video features
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- Image Analysis (AREA)
- Image Processing (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は部品認識方法に関し、特に四方にリードを有す
るＩＣ部品の位置を認識する場合などに好適に適用でき
る部品認識方法に関するものである。
るＩＣ部品の位置を認識する場合などに好適に適用でき
る部品認識方法に関するものである。
従来の技術
従来、周囲にリードを有するＩＣ部品の位置を認識する
際には、第１５図に示すように、部品１１の形状を投影
した画面上で、その座標軸Ｘ、 Ｙに平行な直ＭＬ、
、Ｌ２にてすべてのり−ド１２を切断し、各リード１２
の切断線から各リード１２の中心線上の位置１３を検出
し、ＩＩ＆横に互いに対向する任意のり−ド１２の中心
線上の位置１３を結ぶ直線Ｌ３、Ｌ、の交点Ｑを求めて
部品１１の位置を認識するとともに、この直線り、 、
Ｌ。
際には、第１５図に示すように、部品１１の形状を投影
した画面上で、その座標軸Ｘ、 Ｙに平行な直ＭＬ、
、Ｌ２にてすべてのり−ド１２を切断し、各リード１２
の切断線から各リード１２の中心線上の位置１３を検出
し、ＩＩ＆横に互いに対向する任意のり−ド１２の中心
線上の位置１３を結ぶ直線Ｌ３、Ｌ、の交点Ｑを求めて
部品１１の位置を認識するとともに、この直線り、 、
Ｌ。
の座標軸ＸＳＹに対する傾きから部品１１の回転位置を
認識していた。
認識していた。
発明が解決しようとする問題点
ところが、上記のような方法では部品形状を投影する画
面の座標軸Ｘ、Ｙに対して部品１１が回転した姿勢とな
っていた場合には、第１６図に示すように、座標軸Ｘ、
Ｙに平行な直＃ＸＬ１、Ｌ２で切断したのではすべての
リード１２を切断することができず、部品位置やリード
位置の認識が不可能となるという問題があった。また、
リード１２の切断位置にごみ等が付着していた場合には
、検出した位置に大きな誤差を生ずるという問題があり
だ。
面の座標軸Ｘ、Ｙに対して部品１１が回転した姿勢とな
っていた場合には、第１６図に示すように、座標軸Ｘ、
Ｙに平行な直＃ＸＬ１、Ｌ２で切断したのではすべての
リード１２を切断することができず、部品位置やリード
位置の認識が不可能となるという問題があった。また、
リード１２の切断位置にごみ等が付着していた場合には
、検出した位置に大きな誤差を生ずるという問題があり
だ。
本発明は上記従来の問題点を解消し、部品が画面の座標
軸に対して回転して位置しても認識可能でかつリードに
ごみ等が付着していても認識誤差が大きくない部品認識
方法を提供することを目的とする。
軸に対して回転して位置しても認識可能でかつリードに
ごみ等が付着していても認識誤差が大きくない部品認識
方法を提供することを目的とする。
問題点を解決するための手段
本発明は上記目的を達成するため、認識画面における部
品形状のパターンの境界を検出して特徴部の先端位置を
検出し、検出した先端位置に基づいて所望の特徴部の先
端部を含む探索領域を設定し、この探索領域内でｍ横に
複数の探索線を走査し、特徴部の境界と探索領域の境界
に接する探索線に基づいて特徴部の突出方向を検出し、
特徴部をその横断方向に複数個所で切断して特徴部の切
断線の位置から特徴部の中心線上の位置を検出すること
を特徴とする。
品形状のパターンの境界を検出して特徴部の先端位置を
検出し、検出した先端位置に基づいて所望の特徴部の先
端部を含む探索領域を設定し、この探索領域内でｍ横に
複数の探索線を走査し、特徴部の境界と探索領域の境界
に接する探索線に基づいて特徴部の突出方向を検出し、
特徴部をその横断方向に複数個所で切断して特徴部の切
断線の位置から特徴部の中心線上の位置を検出すること
を特徴とする。
作用
本発明は上記構成を有するので、境界検出法によって比
較的少ないデータ処理で短時間に特徴部の先端位置を検
出できるとともにその際に粗い位置検出を行うことによ
ってさらに短時間で処理が可能であり、こうして検出し
た先端位置に基づいて設定した特徴部の先端部を含む探
索領域内で探索線を用いることによって簡単に特徴部の
突出方向を検出できるとともに、それによって特定した
横断方向の切断線によって特徴部の中心線上の位置を検
出でき、さらに複数個所を切断することによって切断位
置にごみ等が付着していても検出誤差を小さく抑えるこ
とができる。かくして、部品が回転していても、また特
徴部にごみが付着している場合でも正確に部品認識を行
うことができる。
較的少ないデータ処理で短時間に特徴部の先端位置を検
出できるとともにその際に粗い位置検出を行うことによ
ってさらに短時間で処理が可能であり、こうして検出し
た先端位置に基づいて設定した特徴部の先端部を含む探
索領域内で探索線を用いることによって簡単に特徴部の
突出方向を検出できるとともに、それによって特定した
横断方向の切断線によって特徴部の中心線上の位置を検
出でき、さらに複数個所を切断することによって切断位
置にごみ等が付着していても検出誤差を小さく抑えるこ
とができる。かくして、部品が回転していても、また特
徴部にごみが付着している場合でも正確に部品認識を行
うことができる。
実施例
以下、本発明の一実施例を第１図〜第１３図を参照しな
がら説明する。
がら説明する。
第１図は部品位置を認識する全過程の概略を示すフ四−
チヤードであり、その詳細を第２図〜第１３図を参照し
ながら順次説明する。
チヤードであり、その詳細を第２図〜第１３図を参照し
ながら順次説明する。
第２図において、１は四方に多数のリードを有するＩＣ
部品を認識カメラにて映した画像を２値化して認識画面
上に表した部品形状のパターンであり、リードに対応す
るリード部２が四方に突出している。前記認識画面はＸ
、Ｙ方向に多数の画素に分割されて各画素の位置をＸ−
Ｙ座標で認識できるように構成されている。
部品を認識カメラにて映した画像を２値化して認識画面
上に表した部品形状のパターンであり、リードに対応す
るリード部２が四方に突出している。前記認識画面はＸ
、Ｙ方向に多数の画素に分割されて各画素の位置をＸ−
Ｙ座標で認識できるように構成されている。
まず、この認識画面上に表示された部品形状のパターン
１の境界を検出する。その方法は、まず認識画面の中央
から左方向に検出位置Ｎを移動させて境界を検出し、以
降時計方向にパターン１の境界を検出して行くことによ
ってパターン１の外形状をたどって行くものであり、具
体的には、第３図に示すように、検出位置Ｎの画素の周
囲８方に位置する画素の”０”と”１″を識別し、次に
進む方向を識別することによって境界をたどることがで
きる。
１の境界を検出する。その方法は、まず認識画面の中央
から左方向に検出位置Ｎを移動させて境界を検出し、以
降時計方向にパターン１の境界を検出して行くことによ
ってパターン１の外形状をたどって行くものであり、具
体的には、第３図に示すように、検出位置Ｎの画素の周
囲８方に位置する画素の”０”と”１″を識別し、次に
進む方向を識別することによって境界をたどることがで
きる。
次に、上記境界検出の結果に基づいて、第４図に示すよ
うに、各リード部２の先端位置Ｓを検出する。その方法
は、第５図に示すように、境界線上に位置するｎ番目の
画素に対してその前後に適当数づつ離れた２つの画素を
結ぶ直線「ｎを仮定し、この直＃ＩイとＸ軸との成す角
度をθｎとし、次の検出位置Ｎであるｎ十ａ番目の画素
における同様の角度θｎ＋ａとの変化をΔθとすると、
このΔθは第６図に示すように、境界線が曲がるコーナ
ー部分では＋側又は−側に突出する波形を描くことにな
る。すなわち、時計方向に９０°曲がるコーナーを＋９
０°コーナーとすると、Δθｎは＋側に突出する波形を
描き、逆に反時計方向に９０゛曲がる一９０°コーナー
では一側に突出する波形を描くことになる。したがって
、各突出波形の中心線上に位置するｎ番目の画素の位置
を各コーナーの位置として認識することができる。又、
リード部２の先端位置Ｓは、第７図に示すように、並列
する２つの＋９０°コーナーの中点の位置として検出で
きる。さらに、検出精度は低下するけれると、第６図に
破線で示すように＋１８０°コーナーで１つの突出波形
を形成するので、その中心線にてリード部２の先端位置
Ｓを簡単に検出することができる。また、本発明ではリ
ード部２の先端位置Ｓ１．ｔｌｌｌ＜認識すればよいの
で、検出点の間隔、即ちａを大きく設定してもよく、そ
うすると−層少ないデータ処理でリード部２の先端位置
Ｓを検出できる。
うに、各リード部２の先端位置Ｓを検出する。その方法
は、第５図に示すように、境界線上に位置するｎ番目の
画素に対してその前後に適当数づつ離れた２つの画素を
結ぶ直線「ｎを仮定し、この直＃ＩイとＸ軸との成す角
度をθｎとし、次の検出位置Ｎであるｎ十ａ番目の画素
における同様の角度θｎ＋ａとの変化をΔθとすると、
このΔθは第６図に示すように、境界線が曲がるコーナ
ー部分では＋側又は−側に突出する波形を描くことにな
る。すなわち、時計方向に９０°曲がるコーナーを＋９
０°コーナーとすると、Δθｎは＋側に突出する波形を
描き、逆に反時計方向に９０゛曲がる一９０°コーナー
では一側に突出する波形を描くことになる。したがって
、各突出波形の中心線上に位置するｎ番目の画素の位置
を各コーナーの位置として認識することができる。又、
リード部２の先端位置Ｓは、第７図に示すように、並列
する２つの＋９０°コーナーの中点の位置として検出で
きる。さらに、検出精度は低下するけれると、第６図に
破線で示すように＋１８０°コーナーで１つの突出波形
を形成するので、その中心線にてリード部２の先端位置
Ｓを簡単に検出することができる。また、本発明ではリ
ード部２の先端位置Ｓ１．ｔｌｌｌ＜認識すればよいの
で、検出点の間隔、即ちａを大きく設定してもよく、そ
うすると−層少ないデータ処理でリード部２の先端位置
Ｓを検出できる。
次に、第８図に示すように、リード部２の先端位置Ｓを
中心にして探索領域（以下、ウィンドと称す）Ｗを設定
する。このウィンドＷの大きさは、第９図に示すように
、はぼリード部２の配置ピッチ田を一辺とする正方形に
設定することにより、このウィンドＷ内に１つのリード
部２の先端部だけを取り込むことができ、データ処理が
簡単になる。
中心にして探索領域（以下、ウィンドと称す）Ｗを設定
する。このウィンドＷの大きさは、第９図に示すように
、はぼリード部２の配置ピッチ田を一辺とする正方形に
設定することにより、このウィンドＷ内に１つのリード
部２の先端部だけを取り込むことができ、データ処理が
簡単になる。
なお、リード２の先端にごみ等が付着していた場合、上
記境界検出法でリード部２の先端位置Ｓを検出すると、
第１４図に示すように、検出位置に大きな誤差を生じ、
そのためウィンドＷ内に隣接するリード部２を取り込む
虞れがある。これを回避するために、−旦リード部２の
先端位置Ｓを中心にしてウィンドＷを設定した後、この
ウィンドＷ内のリード部２の重心位置を中心にウィンド
Ｗを再設定するようにしてもよい。
記境界検出法でリード部２の先端位置Ｓを検出すると、
第１４図に示すように、検出位置に大きな誤差を生じ、
そのためウィンドＷ内に隣接するリード部２を取り込む
虞れがある。これを回避するために、−旦リード部２の
先端位置Ｓを中心にしてウィンドＷを設定した後、この
ウィンドＷ内のリード部２の重心位置を中心にウィンド
Ｗを再設定するようにしてもよい。
次いで、第１０図に示すように、ウィンドＷ内を適当間
隔おきに探索＃Ｘ ＲＩ 〜Ｒ６でｍ横に走査し、リー
ド部２に重なった線分子１、ｒ２、ｒ３、ｒ５及びｒ６
に関してその始点と終点の位置などのデータ（以下ラン
データと称す）を抽出し、次に第１１図に示すように、
上記線分の内、始点または終点がウィンドＷの緑に接し
ている線分子ｌ、ｒ２、ｒ３を抽出し、さらに第１２図
に示すように、その中で最大長の線分子２をランデータ
から求め、この線分子２のウィンドＷの縁に接している
一端から他端に向かう方向をリードの向きとする。
隔おきに探索＃Ｘ ＲＩ 〜Ｒ６でｍ横に走査し、リー
ド部２に重なった線分子１、ｒ２、ｒ３、ｒ５及びｒ６
に関してその始点と終点の位置などのデータ（以下ラン
データと称す）を抽出し、次に第１１図に示すように、
上記線分の内、始点または終点がウィンドＷの緑に接し
ている線分子ｌ、ｒ２、ｒ３を抽出し、さらに第１２図
に示すように、その中で最大長の線分子２をランデータ
から求め、この線分子２のウィンドＷの縁に接している
一端から他端に向かう方向をリードの向きとする。
なお、部品が大きく回転した姿勢になっていると、第１
０図〜第１２図における左右方向の線分の一端がウィン
ドＷの縁に接し、さらにその長さが最大となることがあ
り得る場合には、ウィンドＷの縁に接している線分の数
の多い方の線分の方向をリードの向きとしてもよい。
０図〜第１２図における左右方向の線分の一端がウィン
ドＷの縁に接し、さらにその長さが最大となることがあ
り得る場合には、ウィンドＷの縁に接している線分の数
の多い方の線分の方向をリードの向きとしてもよい。
こうしてリードの向きが分かると、次に第１３図に示す
ように、リード部２の先端位置Ｓからリード部２の根元
側に適当に離れた位置を、リード部２を横断する方向の
複数本の切断線Ｃ１、Ｃ２でリード部２を切断し、これ
ら切断線の中点の平均をとることによってリード部２の
中心線上の位置Ｐを検出する。Ｐ点の座標（Ｘｌ）ｙＹ
ｐ）は、切断線Ｃ１の両端の座標を（ｘ、、、ｙ、、）
、 （Ｘ＋□、Ｙ１２） 、切断線Ｃ２の両端の座標を
（Ｘ２． 、’Ｙ２、）、 （Ｘ２□、Ｙ２２）とする
と、Ｘｐ ”（Ｘｚ十Ｘ、□＋Ｘ ２１ ＋Ｘ ２□）
／４Ｙ１１ ＝（Ｙｚ ＋ Ｙ１２＋Ｙ２１＋Ｙ２２）
／ ４で与えられる。
ように、リード部２の先端位置Ｓからリード部２の根元
側に適当に離れた位置を、リード部２を横断する方向の
複数本の切断線Ｃ１、Ｃ２でリード部２を切断し、これ
ら切断線の中点の平均をとることによってリード部２の
中心線上の位置Ｐを検出する。Ｐ点の座標（Ｘｌ）ｙＹ
ｐ）は、切断線Ｃ１の両端の座標を（ｘ、、、ｙ、、）
、 （Ｘ＋□、Ｙ１２） 、切断線Ｃ２の両端の座標を
（Ｘ２． 、’Ｙ２、）、 （Ｘ２□、Ｙ２２）とする
と、Ｘｐ ”（Ｘｚ十Ｘ、□＋Ｘ ２１ ＋Ｘ ２□）
／４Ｙ１１ ＝（Ｙｚ ＋ Ｙ１２＋Ｙ２１＋Ｙ２２）
／ ４で与えられる。
こうして、Ｘ方向とＸ方向に互いに対向する２対のリー
ド部２の中心線上の位置を検出すると、第１５図に基づ
いて従来例で説明したように、対向するリード部２の中
心線上の位置を結ぶ直線の交点の座標とこれら直線のＸ
−Ｙ座標に対する傾きを求めることによってパターン１
、即ち部品の位置と傾きを認識することができる。
ド部２の中心線上の位置を検出すると、第１５図に基づ
いて従来例で説明したように、対向するリード部２の中
心線上の位置を結ぶ直線の交点の座標とこれら直線のＸ
−Ｙ座標に対する傾きを求めることによってパターン１
、即ち部品の位置と傾きを認識することができる。
このように、境界検出法にて検出したリード部２の先端
位置Ｓをそのまま用いずに、それに基づいてウィンドＷ
を設定し、リード部２を横断する複数の切断線Ｃ，，Ｃ
２にてリード部２の中心線上の位置を求めることによっ
て、第１４図に示すように、リード部２の先端部にごみ
等が付着しているために検出した先端位置Ｓに誤差を生
じても、検出結果に対する影響を無くすことかでト、ま
た複数の切断線Ｃ，、Ｃ２によって位置検出しているの
で、いずれかの切断位置にごみ等が付着していてもその
影響を小さく抑えることができ、正確な位置認識が可能
となる。
位置Ｓをそのまま用いずに、それに基づいてウィンドＷ
を設定し、リード部２を横断する複数の切断線Ｃ，，Ｃ
２にてリード部２の中心線上の位置を求めることによっ
て、第１４図に示すように、リード部２の先端部にごみ
等が付着しているために検出した先端位置Ｓに誤差を生
じても、検出結果に対する影響を無くすことかでト、ま
た複数の切断線Ｃ，、Ｃ２によって位置検出しているの
で、いずれかの切断位置にごみ等が付着していてもその
影響を小さく抑えることができ、正確な位置認識が可能
となる。
尚、以上の説明では部品の位置を認識する例を説明した
が、各リード部２の中心線上の位置を認識することによ
って、ＩＣ部品の各リードの傾きやリード間隔を認識す
ることもでき、さらに各リードの長さやその先端位置の
認識等にも利用することができる。
が、各リード部２の中心線上の位置を認識することによ
って、ＩＣ部品の各リードの傾きやリード間隔を認識す
ることもでき、さらに各リードの長さやその先端位置の
認識等にも利用することができる。
上記実施例では本発明をリードを有するＩＣ部品の認識
に適用した例を示したが、本発明はその他任意の部品の
種々の特徴部の位置や形状等を認識する場合にも適用可
能である。
に適用した例を示したが、本発明はその他任意の部品の
種々の特徴部の位置や形状等を認識する場合にも適用可
能である。
発明の効果
本発明の部品認識方法によれば、以上のように境界検出
法によって比較的少ないデータ処理で短時間に特徴部の
先端位置を検出でとるとともにその際に粗い位置検出を
行うことによってさらに短時間で処理でき、こうして検
出した先端位置に基づいて設定した探索領域内で探索線
を用いて簡単に特徴部の突出方向を検出でき、それに基
づいて特徴部を横断する切断線にて特徴部の中心線上の
位置を検出できるととともに、複数の切断線を用いるこ
とによって切断位置にごみ等が付着していても検出誤差
を小さく抑えて検出することができる。従って、部品が
回転していても、また特徴部にごみが付着している場合
でも容易かつ速やかに正確な認識が可能となるという効
果がある。
法によって比較的少ないデータ処理で短時間に特徴部の
先端位置を検出でとるとともにその際に粗い位置検出を
行うことによってさらに短時間で処理でき、こうして検
出した先端位置に基づいて設定した探索領域内で探索線
を用いて簡単に特徴部の突出方向を検出でき、それに基
づいて特徴部を横断する切断線にて特徴部の中心線上の
位置を検出できるととともに、複数の切断線を用いるこ
とによって切断位置にごみ等が付着していても検出誤差
を小さく抑えて検出することができる。従って、部品が
回転していても、また特徴部にごみが付着している場合
でも容易かつ速やかに正確な認識が可能となるという効
果がある。
第１図〜第１３図は本発明の一実施例を示し、第１図は
部品位置の認識方法の概略を示す７０−チャート、第２
図は境界検出過程の説明図、第３図は同検出点の移動方
向の説明図、第４図はリード部先端検出過程の説明図、
第５図〜第７図は同詳細説明図、第８図は探索領域の設
定過程の説明図、第９図は同探索領域の大きさ設定の説
明図、第１０図〜第１２図はリード方向検出過程の説明
図、第１３図はリード部の中心線上の位置の検出過程の
説明図、第１４図は境界検出法による検出誤差の発生状
態の説明図、第１５図は従来の部品位置認識方法の説明
図、第１６図は同適用不可能な状態の説明図である。 １・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・部品形
状のパターン２・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・リード部（特徴部）Ｓ・・−・・・・・・・・・
・・・・・・・・・リード部の先端位置Ｗ・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・ウィンド（探索領域）
Ｒ２−Ｒ６・・・・・・・・・探索線 ＣｌＳＣ２・・・・・・・・・切断線 Ｐ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・中心線
上の位置。 代理人ａｐ弁理士 中尾敏男 はか１名し１ シ２−−
− ｔ／Ｊ晴豚 Ｐ−一−−中心＊ｈｃｖ位置 第１５図 第１６図
部品位置の認識方法の概略を示す７０−チャート、第２
図は境界検出過程の説明図、第３図は同検出点の移動方
向の説明図、第４図はリード部先端検出過程の説明図、
第５図〜第７図は同詳細説明図、第８図は探索領域の設
定過程の説明図、第９図は同探索領域の大きさ設定の説
明図、第１０図〜第１２図はリード方向検出過程の説明
図、第１３図はリード部の中心線上の位置の検出過程の
説明図、第１４図は境界検出法による検出誤差の発生状
態の説明図、第１５図は従来の部品位置認識方法の説明
図、第１６図は同適用不可能な状態の説明図である。 １・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・部品形
状のパターン２・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・リード部（特徴部）Ｓ・・−・・・・・・・・・
・・・・・・・・・リード部の先端位置Ｗ・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・ウィンド（探索領域）
Ｒ２−Ｒ６・・・・・・・・・探索線 ＣｌＳＣ２・・・・・・・・・切断線 Ｐ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・中心線
上の位置。 代理人ａｐ弁理士 中尾敏男 はか１名し１ シ２−−
− ｔ／Ｊ晴豚 Ｐ−一−−中心＊ｈｃｖ位置 第１５図 第１６図
Claims (1)
- 部品の周囲に突出した特徴部の位置を検出して部品の位
置、形状等を認識する部品認識方法であって、認識画面
における部品形状のパターンの境界を検出して特徴部の
先端位置を検出し、検出した先端位置に基づいて所望の
特徴部の先端部を含む探索領域を設定し、この探索領域
内で縦横に複数の探索線を走査し、特徴部の境界と探索
領域の境界に接する探索線に基づいて特徴部の突出方向
を検出し、特徴部をその横断方向に複数個所で切断して
特徴部の切断線の位置から特徴部の中心線上の位置を検
出することを特徴とする部品認識方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62268618A JPH01111281A (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 | 部品認識方法 |
| KR1019880013629A KR920003912B1 (ko) | 1987-10-23 | 1988-10-19 | 부품인식방법 |
| US07/260,998 US4981372A (en) | 1987-10-23 | 1988-10-21 | Component shape recognition method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62268618A JPH01111281A (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 | 部品認識方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01111281A true JPH01111281A (ja) | 1989-04-27 |
Family
ID=17461047
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62268618A Pending JPH01111281A (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 | 部品認識方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4981372A (ja) |
| JP (1) | JPH01111281A (ja) |
| KR (1) | KR920003912B1 (ja) |
Families Citing this family (23)
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1987
- 1987-10-23 JP JP62268618A patent/JPH01111281A/ja active Pending
-
1988
- 1988-10-19 KR KR1019880013629A patent/KR920003912B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1988-10-21 US US07/260,998 patent/US4981372A/en not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR890007186A (ko) | 1989-06-19 |
| KR920003912B1 (ko) | 1992-05-18 |
| US4981372A (en) | 1991-01-01 |
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