JPH0617919B2 - 液体試料分析装置 - Google Patents
液体試料分析装置Info
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- JPH0617919B2 JPH0617919B2 JP63245380A JP24538088A JPH0617919B2 JP H0617919 B2 JPH0617919 B2 JP H0617919B2 JP 63245380 A JP63245380 A JP 63245380A JP 24538088 A JP24538088 A JP 24538088A JP H0617919 B2 JPH0617919 B2 JP H0617919B2
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- JP
- Japan
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- reaction
- measurement
- reaction cuvette
- cuvette
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- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、液体試料分析装置、特に、試料と試薬とに基
づく反応液が入れられた反応管を直接測光して、反応液
の光学的変化を検出する液体試料分析装置に関する。
づく反応液が入れられた反応管を直接測光して、反応液
の光学的変化を検出する液体試料分析装置に関する。
従来、例えば、血液等の液体試料における酵素、蛋白、
糖等の濃度を測定する自動分析装置として、一円周上に
多数配置された反応キュベットを備え回動可能な反応デ
ィスクと、キュベットの配置と同心に回動可能な分光器
と、キュベットへ試料を注入するサンプラーと、キュベ
ットへ試薬を注入するディスペンサーと、測定後のキュ
ベントを洗浄する洗浄機構と、分光器による測定結果を
演算処理するマイクロコンピュータとを備えたものが知
られている。
糖等の濃度を測定する自動分析装置として、一円周上に
多数配置された反応キュベットを備え回動可能な反応デ
ィスクと、キュベットの配置と同心に回動可能な分光器
と、キュベットへ試料を注入するサンプラーと、キュベ
ットへ試薬を注入するディスペンサーと、測定後のキュ
ベントを洗浄する洗浄機構と、分光器による測定結果を
演算処理するマイクロコンピュータとを備えたものが知
られている。
その従来の自動分析装置では、洗浄機構において洗浄さ
れたキュベットについて、まず分光器によりブランク値
が測定される。この場合には、これから行おうとしてい
る測定項目に必要な波長のみに関するブランク値が記憶
される。次に、当該キュベットがサンプリング位置に配
置されたときに、サンプラーによって試料が注入され
る。また、当該キュベットが試薬注入位置に配置された
ときに、ディスペンサーによって試薬が注入される。そ
して、キュベット内に反応液が分光器によって測光さ
れ、その結果とブランク値とに基づいて濃度の演算処理
が行われる。
れたキュベットについて、まず分光器によりブランク値
が測定される。この場合には、これから行おうとしてい
る測定項目に必要な波長のみに関するブランク値が記憶
される。次に、当該キュベットがサンプリング位置に配
置されたときに、サンプラーによって試料が注入され
る。また、当該キュベットが試薬注入位置に配置された
ときに、ディスペンサーによって試薬が注入される。そ
して、キュベット内に反応液が分光器によって測光さ
れ、その結果とブランク値とに基づいて濃度の演算処理
が行われる。
前記従来の自動分析装置では、ブランク値を測定した際
に、これから行おうとしている測定項目に必要な波長の
みに関するブランク値が記憶される。このため、次のよ
うな不具合が発生する。
に、これから行おうとしている測定項目に必要な波長の
みに関するブランク値が記憶される。このため、次のよ
うな不具合が発生する。
(1)或る測定項目の測定をしている途中で別の測定項目
を割り込ませる必要が生じた場合に、後方に配置された
別のキュベットにつき新たなブランク値の測定を行って
記憶し、当該キュベットがサンプリング位置及び試薬注
入位置に配置されるのを待って、当該別の測定項目に応
じた処理をする必要がある。この場合には、新たなブラ
ンク値が記憶されたキュベットのサンプリング位置及び
試薬注入位置への到着を待つ必要があることから、割り
込ませたい測定項目の測定を迅速に行うことができな
い。
を割り込ませる必要が生じた場合に、後方に配置された
別のキュベットにつき新たなブランク値の測定を行って
記憶し、当該キュベットがサンプリング位置及び試薬注
入位置に配置されるのを待って、当該別の測定項目に応
じた処理をする必要がある。この場合には、新たなブラ
ンク値が記憶されたキュベットのサンプリング位置及び
試薬注入位置への到着を待つ必要があることから、割り
込ませたい測定項目の測定を迅速に行うことができな
い。
(2)測定項目を順次変えて測定を行っている場合におい
て、ブランク値を記憶した後にその測定に異常が発見さ
れたときには、次のキュベットに測定項目をずらせて後
続の処理を行うことができない。
て、ブランク値を記憶した後にその測定に異常が発見さ
れたときには、次のキュベットに測定項目をずらせて後
続の処理を行うことができない。
(3)キュベット内の反応液を所定の波長を用いて分光器
により測定した結果、測定値に異常が発見された場合
に、別の波長を用いて演算をしなおすことができない。
により測定した結果、測定値に異常が発見された場合
に、別の波長を用いて演算をしなおすことができない。
本発明の目的は、測定項目の割り込みが生じても迅速に
対応することができ、ブランク値に異常が発見されたと
きでも次の反応管に測定項目をずらせて迅速に後続の処
理を行うことができ、しかも、反応液の測定値に異常が
発見されたときでも適宜別の波長を用いて迅速に演算を
しなおすことのできる液体試料分析装置を提供すること
にある。
対応することができ、ブランク値に異常が発見されたと
きでも次の反応管に測定項目をずらせて迅速に後続の処
理を行うことができ、しかも、反応液の測定値に異常が
発見されたときでも適宜別の波長を用いて迅速に演算を
しなおすことのできる液体試料分析装置を提供すること
にある。
本発明に係る液体試料分析装置は、基本的には、試料と
試薬とに基づく反応液が入れられた反応管を直接測光し
て、反応液の光学的変化を検出する液体試料分析装置で
ある。この液体試料分析装置は、ブランク値記憶手段
と、測光手段と、演算手段とを備えている。
試薬とに基づく反応液が入れられた反応管を直接測光し
て、反応液の光学的変化を検出する液体試料分析装置で
ある。この液体試料分析装置は、ブランク値記憶手段
と、測光手段と、演算手段とを備えている。
前記ブランク値記憶手段は、洗浄後所定位置に逐次搬送
されてくる反応管に関し、測定予定の波長も含めて測定
の可能性のある複数種の測定波長で測光し複数種のブラ
ンク値を測定するとともに、得られた複数種のブランク
値を記憶するものである。前記測光手段は、試料と試薬
とに基づく反応液が入れられた反応管を、測光して測定
値を得るものである。前記演算手段は、複数種のブラン
ク値のうち測定値の波長に対応するブランク値および測
定値に基づいて、反応液の光学的変化を演算するもので
ある。
されてくる反応管に関し、測定予定の波長も含めて測定
の可能性のある複数種の測定波長で測光し複数種のブラ
ンク値を測定するとともに、得られた複数種のブランク
値を記憶するものである。前記測光手段は、試料と試薬
とに基づく反応液が入れられた反応管を、測光して測定
値を得るものである。前記演算手段は、複数種のブラン
ク値のうち測定値の波長に対応するブランク値および測
定値に基づいて、反応液の光学的変化を演算するもので
ある。
本発明に係る液体試料分析装置では、まず、ブランク値
記憶手段が、洗浄後所定位置に逐次搬送されてくる反応
管に関し、測定予定の波長も含めて測定の可能性のある
複数種の測定波長に対応する複数種のブランク値を測定
するとともに、得られた複数種のブランク値を記憶す
る。次に、測光手段が、反応液が入れられた反応管を測
光して測定値を得る。そして、演算手段が、複数種のブ
ランク値のうち測定値の波長に対応するブランク値およ
び測定値に基づいて、反応液の光学的変化を演算する。
記憶手段が、洗浄後所定位置に逐次搬送されてくる反応
管に関し、測定予定の波長も含めて測定の可能性のある
複数種の測定波長に対応する複数種のブランク値を測定
するとともに、得られた複数種のブランク値を記憶す
る。次に、測光手段が、反応液が入れられた反応管を測
光して測定値を得る。そして、演算手段が、複数種のブ
ランク値のうち測定値の波長に対応するブランク値およ
び測定値に基づいて、反応液の光学的変化を演算する。
前記測定動作において、或る測定項目の測定をしている
途中で別の測定項目を割り込ませる必要が生じたとして
も、ブランク値記憶手段が各反応管に関して測定の可能
性のある複数種の測定波長に対応する複数種のブランク
値を記憶していることから、新たなブランク値が記憶さ
れた反応管のサンプリング位置及び試薬注入位置への到
着を待つことなく、割り込ませたい測定項目の測定を即
座に行うことができる。
途中で別の測定項目を割り込ませる必要が生じたとして
も、ブランク値記憶手段が各反応管に関して測定の可能
性のある複数種の測定波長に対応する複数種のブランク
値を記憶していることから、新たなブランク値が記憶さ
れた反応管のサンプリング位置及び試薬注入位置への到
着を待つことなく、割り込ませたい測定項目の測定を即
座に行うことができる。
また、測定項目を順次変えて測定を行っている場合にお
いて、ブランク値を記憶した後にその測定に異常が発見
されたときでも、ブランク値記憶手段が各反応管に関し
て測定の可能性のある複数種の測定波長に対応する複数
種のブランク値を記憶していることから、次の反応管に
測定項目をずらせて迅速に後続の処理を行うことができ
る。
いて、ブランク値を記憶した後にその測定に異常が発見
されたときでも、ブランク値記憶手段が各反応管に関し
て測定の可能性のある複数種の測定波長に対応する複数
種のブランク値を記憶していることから、次の反応管に
測定項目をずらせて迅速に後続の処理を行うことができ
る。
さらに、反応管内の反応液を分光器により測定した結
果、測定値に異常が発見された場合でも、ブランク値記
憶手段が各反応管に関して測定の可能性のある複数種の
測定波長に対応する複数種のブランク値を記憶している
ことから、別の波長を用いて迅速に演算をしなおすこと
ができる。
果、測定値に異常が発見された場合でも、ブランク値記
憶手段が各反応管に関して測定の可能性のある複数種の
測定波長に対応する複数種のブランク値を記憶している
ことから、別の波長を用いて迅速に演算をしなおすこと
ができる。
本発明の一実施例を示す第１図において、液体試料分析
装置は、一円周上に多数配置された反応キュベット１１
を備え回動可能な反応ディスク１２と、反応キュベット
１１の配置と同心に回動可能な分光器１３と、反応キュ
ベット１１へ試料を注入するサンプリング装置１４と、
反応キュベット１１へ試薬を注入する試薬注入装置１５
と、反応キュベット１１内を攪拌するための攪拌機構１
８と、測定後の反応キュベット１１を洗浄する洗浄装置
１６と、廃液を貯留するリザーバ１９と、この装置の作
動を制御する制御装置１７とを備えている。
装置は、一円周上に多数配置された反応キュベット１１
を備え回動可能な反応ディスク１２と、反応キュベット
１１の配置と同心に回動可能な分光器１３と、反応キュ
ベット１１へ試料を注入するサンプリング装置１４と、
反応キュベット１１へ試薬を注入する試薬注入装置１５
と、反応キュベット１１内を攪拌するための攪拌機構１
８と、測定後の反応キュベット１１を洗浄する洗浄装置
１６と、廃液を貯留するリザーバ１９と、この装置の作
動を制御する制御装置１７とを備えている。
前記反応ディスク１２は、図示しない駆動源によって第
２図の矢印Ｘ方向に、反応キュベット１１のピッチ毎に
駆動されるようになっている。反応ディスク１２の概略
を示す第２図において、点Ｏは反応ディスク１２の回転
中心であり、１点鎖線Ａは反応キュベット１１が配置さ
れた円周を示している。反応キュベット１１の配置円周
上には、サンプリングステージ２０と、サンプリングス
テージ２０よりも回転方向上手側に配置された洗浄ステ
ージ２１と、サンプリングステージ２０よりも回転方向
下手側に配置された試薬注入ステージ２２とを有してい
る。サンプリングステージ２０は、前記サンプリング装
置１４により反応キュベット１１へ試料が注入される箇
所である。洗浄ステージ２１は、前記洗浄装置１６によ
り反応キュベット１１が洗浄される箇所である。また、
試薬注入ステージ２２は、前記試薬注入装置１５により
反応キュベット１１に試薬が注入される箇所である。
２図の矢印Ｘ方向に、反応キュベット１１のピッチ毎に
駆動されるようになっている。反応ディスク１２の概略
を示す第２図において、点Ｏは反応ディスク１２の回転
中心であり、１点鎖線Ａは反応キュベット１１が配置さ
れた円周を示している。反応キュベット１１の配置円周
上には、サンプリングステージ２０と、サンプリングス
テージ２０よりも回転方向上手側に配置された洗浄ステ
ージ２１と、サンプリングステージ２０よりも回転方向
下手側に配置された試薬注入ステージ２２とを有してい
る。サンプリングステージ２０は、前記サンプリング装
置１４により反応キュベット１１へ試料が注入される箇
所である。洗浄ステージ２１は、前記洗浄装置１６によ
り反応キュベット１１が洗浄される箇所である。また、
試薬注入ステージ２２は、前記試薬注入装置１５により
反応キュベット１１に試薬が注入される箇所である。
一方、前記分光器１３は、図示しない駆動源によって第
２図の矢印Ｙ方向に、略３６０°の範囲で駆動されるよ
うになっている。分光器１３の発光側部分２３は円周Ａ
よりも内側に配置され、受光側部分２４は外側に配置さ
れている。これによって、分光器１３は、反応ディスク
１２の各反応キュベット１１に対して光を透過させ、透
過光を検出し得るようになっている。第３図に示すよう
に、分光器１３は、受光側部分２４の分光用グレーティ
グで分光された光を受光する複数の受光素子２５を有し
ている。受光素子２５は、測定に使用される可能性のあ
る波長に対応する位置に配置されており、例えば１２個
設けられている。
２図の矢印Ｙ方向に、略３６０°の範囲で駆動されるよ
うになっている。分光器１３の発光側部分２３は円周Ａ
よりも内側に配置され、受光側部分２４は外側に配置さ
れている。これによって、分光器１３は、反応ディスク
１２の各反応キュベット１１に対して光を透過させ、透
過光を検出し得るようになっている。第３図に示すよう
に、分光器１３は、受光側部分２４の分光用グレーティ
グで分光された光を受光する複数の受光素子２５を有し
ている。受光素子２５は、測定に使用される可能性のあ
る波長に対応する位置に配置されており、例えば１２個
設けられている。
第１図において、前記サンプリング装置１４は、多数の
試料瓶が円周方向に並べられて配置されるターンテーブ
ル２６と、ターンテーブル２６に配置された所定の試料
瓶から所定量の試料を取り出して反応キュベット１１に
注入するサンプラー２７とを有している。サンプラー２
７は、先端部に設けられた液面センサー付きプローブ２
８と、吸引動作を行うためのポンプ部２９とを有してお
り、これによって試料の反応キュベット１１へのサンプ
リングを行うようになっている。
試料瓶が円周方向に並べられて配置されるターンテーブ
ル２６と、ターンテーブル２６に配置された所定の試料
瓶から所定量の試料を取り出して反応キュベット１１に
注入するサンプラー２７とを有している。サンプラー２
７は、先端部に設けられた液面センサー付きプローブ２
８と、吸引動作を行うためのポンプ部２９とを有してお
り、これによって試料の反応キュベット１１へのサンプ
リングを行うようになっている。
前記試薬注入装置１５は、多種類の試薬が収納された試
薬庫３０と、試薬庫３０から所定の試薬を反応キュベッ
ト１１に注入するためのディスペンサー３１とを有して
いる。ディスペンサー３１は、液面センサー付きのプロ
ーブ３２と、プローブ３２に接続された吸引動作を行う
ためのディスペンサポンプ３３とを有している。
薬庫３０と、試薬庫３０から所定の試薬を反応キュベッ
ト１１に注入するためのディスペンサー３１とを有して
いる。ディスペンサー３１は、液面センサー付きのプロ
ーブ３２と、プローブ３２に接続された吸引動作を行う
ためのディスペンサポンプ３３とを有している。
前記洗浄装置１６は、測定後の反応キュベット１１内を
洗浄するための洗浄ユニット３４と、洗浄ユニット３４
に蒸留水や洗剤を供給して洗浄動作を行わせるための洗
浄ポンプ３５とを有している。
洗浄するための洗浄ユニット３４と、洗浄ユニット３４
に蒸留水や洗剤を供給して洗浄動作を行わせるための洗
浄ポンプ３５とを有している。
前記制御装置１７は、マイクロコンピュータ４０を有し
ている。マイクロコンピュータ４０には、インターフェ
ース４１を介して、測定結果を印刷するためのプリンタ
４２と、測定条件等をオペレータが入力するためのキー
ボード４３と、表示用のＣＲＴ４４と、測定条件や測定
結果を記憶するためのフロッピディスク装置４５とが接
続されている。さらに、マイクロコンピュータ４０と分
析装置本体とを連絡付けるために、インターフェース４
１には、反応部制御コンピュータ４７と、変換回路４８
と、サンプリング装置制御コンピュータ４９と、試薬注
入装置制御コンピュータ５０とが接続されている。反応
部制御コンピュータ４７は、反応ディスク１２の回転を
制御するために反応ディスク１２に接続され、分光器１
３の回転を制御するために分光器１３に接続され、洗浄
装置１６と攪拌機構１８の動作を制御するために両者に
接続されている。変換回路４８は、第３図に示すよう
に、分光器１３の各受光素子２５にそれぞれ接続された
Ｌｏｇアンプ５２とＡ／Ｄ変換器５３とを有している。
各Ａ／Ｄ変換器５３は、制御装置１７のインターフェー
ス４１に接続されている。サンプリング装置制御コンピ
ュータ４９は、ターンテーブル２６の回転と、ポンプ部
２９の動作とを制御するために両者に接続されている。
試薬注入装置制御コンピュータ５０は、ディスペンサー
３１とディスペンサポンプ３３の動作を制御するために
両者に接続れている。
ている。マイクロコンピュータ４０には、インターフェ
ース４１を介して、測定結果を印刷するためのプリンタ
４２と、測定条件等をオペレータが入力するためのキー
ボード４３と、表示用のＣＲＴ４４と、測定条件や測定
結果を記憶するためのフロッピディスク装置４５とが接
続されている。さらに、マイクロコンピュータ４０と分
析装置本体とを連絡付けるために、インターフェース４
１には、反応部制御コンピュータ４７と、変換回路４８
と、サンプリング装置制御コンピュータ４９と、試薬注
入装置制御コンピュータ５０とが接続されている。反応
部制御コンピュータ４７は、反応ディスク１２の回転を
制御するために反応ディスク１２に接続され、分光器１
３の回転を制御するために分光器１３に接続され、洗浄
装置１６と攪拌機構１８の動作を制御するために両者に
接続されている。変換回路４８は、第３図に示すよう
に、分光器１３の各受光素子２５にそれぞれ接続された
Ｌｏｇアンプ５２とＡ／Ｄ変換器５３とを有している。
各Ａ／Ｄ変換器５３は、制御装置１７のインターフェー
ス４１に接続されている。サンプリング装置制御コンピ
ュータ４９は、ターンテーブル２６の回転と、ポンプ部
２９の動作とを制御するために両者に接続されている。
試薬注入装置制御コンピュータ５０は、ディスペンサー
３１とディスペンサポンプ３３の動作を制御するために
両者に接続れている。
次に、前記実施例に係る分析装置の作用を、第４図〜第
７図に示すフローチャートに従って説明する。なお、第
４図〜第７図では、上から下の方向が時間の流れに相当
している。
７図に示すフローチャートに従って説明する。なお、第
４図〜第７図では、上から下の方向が時間の流れに相当
している。
通常の動作 通常の状態では、第４図のチャートに従って作用する。
或る反応キュベット１１をｎ番目とすると、ステップＳ
１ではｎ番目の反応キュベット１１が洗浄装置１６によ
って洗浄される。次に、ステップＳ２では、ｎ番目の反
応キュベット１１に対して分光器１３がブランク値の測
定を行う。それと平行して、ｎ＋１番目の反応キュベッ
ト１１が洗浄装置１６によって洗浄される。ステップＳ
３では、ｎ番目の反応キュベット１１に関して、全ての
受光素子２５で検知したブランク値に相当する吸光度を
記憶する。それと平行して、ｎ＋１番目の反応キュベッ
ト１１に対して分光器１３がブランク値の測定を行う。
ステップＳ４では、ｎ番目の反応キュベット１１に関し
て予め設定されていた測定項目Ｘを認識する。それと平
行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に関して、全
ての受光素子２５で検知したブランク値に相当する吸光
度Ｂを記憶する。ステップＳ５では、ｎ番目の反応キュ
ベット１１に対し測定項目Ｘに応じた分析動作（サンプ
リング，試薬注入等）を行う。それと平行して、ｎ＋１
番目の反応キュベット１１に関して予め設定されていた
測定項目Ｙを認識する。ステップＳ６では、ｎ番目の反
応キュベット１１に関して分光器１３により反応液の吸
光度を測定し、各受光素子２５に係る全ての値を記憶す
る。それと平行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１
に対し測定項目Ｙに応じた分析動作を行う。ステップＳ
７では、ｎ番目の反応キュベット１１に関して測定項目
Ｘにおける測定波長λxを認識する。それと平行して、
ｎ＋１番目の反応キュベット１１に関して分光器１３に
より反応液の吸光度を測定し、各受光素子２５に係る全
ての値を記憶する。ステップＳ８では、ｎ番目の反応キ
ュベット１１に関し、波長λxでの吸光度Ｂx，Ａxを取
り出す。それと平行して、ｎ＋１番目の反応キュベット
１１に関して測定項目Ｙにおける測定波長λyを認識す
る。ステップＳ９では、ｎ番目の反応キュベット１１に
関し、吸光度Ｂx，Ａxにより濃度を計算する。それと平
行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に関し、波長
λyでの吸光度Ｂy，Ａyを取り出す。
或る反応キュベット１１をｎ番目とすると、ステップＳ
１ではｎ番目の反応キュベット１１が洗浄装置１６によ
って洗浄される。次に、ステップＳ２では、ｎ番目の反
応キュベット１１に対して分光器１３がブランク値の測
定を行う。それと平行して、ｎ＋１番目の反応キュベッ
ト１１が洗浄装置１６によって洗浄される。ステップＳ
３では、ｎ番目の反応キュベット１１に関して、全ての
受光素子２５で検知したブランク値に相当する吸光度を
記憶する。それと平行して、ｎ＋１番目の反応キュベッ
ト１１に対して分光器１３がブランク値の測定を行う。
ステップＳ４では、ｎ番目の反応キュベット１１に関し
て予め設定されていた測定項目Ｘを認識する。それと平
行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に関して、全
ての受光素子２５で検知したブランク値に相当する吸光
度Ｂを記憶する。ステップＳ５では、ｎ番目の反応キュ
ベット１１に対し測定項目Ｘに応じた分析動作（サンプ
リング，試薬注入等）を行う。それと平行して、ｎ＋１
番目の反応キュベット１１に関して予め設定されていた
測定項目Ｙを認識する。ステップＳ６では、ｎ番目の反
応キュベット１１に関して分光器１３により反応液の吸
光度を測定し、各受光素子２５に係る全ての値を記憶す
る。それと平行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１
に対し測定項目Ｙに応じた分析動作を行う。ステップＳ
７では、ｎ番目の反応キュベット１１に関して測定項目
Ｘにおける測定波長λxを認識する。それと平行して、
ｎ＋１番目の反応キュベット１１に関して分光器１３に
より反応液の吸光度を測定し、各受光素子２５に係る全
ての値を記憶する。ステップＳ８では、ｎ番目の反応キ
ュベット１１に関し、波長λxでの吸光度Ｂx，Ａxを取
り出す。それと平行して、ｎ＋１番目の反応キュベット
１１に関して測定項目Ｙにおける測定波長λyを認識す
る。ステップＳ９では、ｎ番目の反応キュベット１１に
関し、吸光度Ｂx，Ａxにより濃度を計算する。それと平
行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に関し、波長
λyでの吸光度Ｂy，Ａyを取り出す。
これでプログラムは一巡し、再びステップＳ１に戻る。
なお、ステップＳ１では、ｎ番目の反応キュベット１１
の洗浄と平行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に
関し、吸光度Ｂy，Ａyにより濃度が計算される。得られ
た濃度は、必要に応じて、ＣＲＴ４４に表示され、フロ
ッピディスク装置４５に記憶され、プリンタ４２に印刷
される。
なお、ステップＳ１では、ｎ番目の反応キュベット１１
の洗浄と平行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に
関し、吸光度Ｂy，Ａyにより濃度が計算される。得られ
た濃度は、必要に応じて、ＣＲＴ４４に表示され、フロ
ッピディスク装置４５に記憶され、プリンタ４２に印刷
される。
割り込み時の動作 ここでは、前記通常状態での作用において、ｎ番目の反
応キュベット１１に対する測定動作中に、測定項目Ｚの
割り込みが入った場合を説明する。
応キュベット１１に対する測定動作中に、測定項目Ｚの
割り込みが入った場合を説明する。
第５図において、ステップＳ１１ではｎ番目の反応キュ
ベット１１が洗浄装置１６によって洗浄される。次に、
ステップＳ１２では、ｎ番目の反応キュベット１１に対
して分光器１３がブランク値の測定を行う。それと平行
して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１が洗浄装置１６
によって洗浄される。ステップＳ１３では、ｎ番目の反
応キュベット１１に関して、全ての受光素子２５で検知
したブランク値に相当する吸光度Ａを記憶する。それと
平行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に対して分
光器１３がブランク値の測定を行い、ｎ＋２番目の反応
キュベット１１が洗浄装置１６によって洗浄される。ス
テップＳ１４では、ｎ番目の反応キュベット１１に関し
て予め設定されていた測定項目Ｘを認識する。それと平
行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に関して全て
の受光素子２５で検知したブランク値に相当する吸光度
を記憶し、ｎ＋２番目の反応キュベット１１に対して分
光器１３がブランク値の測定を行う。
ベット１１が洗浄装置１６によって洗浄される。次に、
ステップＳ１２では、ｎ番目の反応キュベット１１に対
して分光器１３がブランク値の測定を行う。それと平行
して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１が洗浄装置１６
によって洗浄される。ステップＳ１３では、ｎ番目の反
応キュベット１１に関して、全ての受光素子２５で検知
したブランク値に相当する吸光度Ａを記憶する。それと
平行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に対して分
光器１３がブランク値の測定を行い、ｎ＋２番目の反応
キュベット１１が洗浄装置１６によって洗浄される。ス
テップＳ１４では、ｎ番目の反応キュベット１１に関し
て予め設定されていた測定項目Ｘを認識する。それと平
行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に関して全て
の受光素子２５で検知したブランク値に相当する吸光度
を記憶し、ｎ＋２番目の反応キュベット１１に対して分
光器１３がブランク値の測定を行う。
ここで、測定項目Ｚの割り込みが入ったとすると、次の
ように処理される。ステップＳ１５では、ｎ番目の反応
キュベット１１に対し測定項目Ｘに応じた分析動作を行
う。それと平行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１
に関して、割り込んできた測定項目Ｚを認識する。ま
た、ｎ＋２番目の反応キュベット１１に関して全ての受
光素子２５で検知したブランク値に相当する吸光度を記
憶する。ステップＳ１６では、ｎ番目の反応キュベット
１１に関して分光器１３により反応液の吸光度を測定
し、各受光素子２５に係る全ての値を記憶する。それと
平行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に対し測定
項目Ｚに応じた分析動作を行う。また、ｎ＋２番目の反
応キュベット１１に関し、予め設定されていた測定項目
Ｙを認識する。なお、この測定項目Ｙは、測定項目Ｚの
割り込みがなかったならばｎ＋１番目の反応キュベット
１１で処理される予定となっていた項目である。ステッ
プＳ１７では、ｎ番目の反応キュベット１１に関して測
定項目Ｘにおける測定波長λxを認識する。それと平行
して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に関して分光器
１３により反応液の吸光度Ｂを測定し、各受光素子２５
に係る全ての値を記憶する。また、ｎ＋２番目の反応キ
ュベット１１に対し測定項目Ｙに応じた分析動作を行
う。ステップＳ１８では、ｎ番目の反応キュベット１１
に関し、波長λxでの吸光度Ｂx，Ａxを取り出す。それ
と平行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に関して
測定項目Ｚにおける測定波長λzを認識するとともに、
ｎ＋２番目の反応キュベット１１に関して分光器１３に
より反応液の吸光度Ｂを測定し、各受光素子２５に係る
全ての値を記憶する。ステップＳ１９では、ｎ番目の反
応キュベット１１に関し、吸光度Ｂx，Ａxにより濃度を
計算する。それと平行して、ｎ＋１番目の反応キュベッ
ト１１に関し、波長λzでの吸光度Ｂz，Ａzを取り出
す。また、ｎ＋２番目の反応キュベット１１に関して測
定項目Ｙにおける測定波長λyを認識する。
ように処理される。ステップＳ１５では、ｎ番目の反応
キュベット１１に対し測定項目Ｘに応じた分析動作を行
う。それと平行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１
に関して、割り込んできた測定項目Ｚを認識する。ま
た、ｎ＋２番目の反応キュベット１１に関して全ての受
光素子２５で検知したブランク値に相当する吸光度を記
憶する。ステップＳ１６では、ｎ番目の反応キュベット
１１に関して分光器１３により反応液の吸光度を測定
し、各受光素子２５に係る全ての値を記憶する。それと
平行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に対し測定
項目Ｚに応じた分析動作を行う。また、ｎ＋２番目の反
応キュベット１１に関し、予め設定されていた測定項目
Ｙを認識する。なお、この測定項目Ｙは、測定項目Ｚの
割り込みがなかったならばｎ＋１番目の反応キュベット
１１で処理される予定となっていた項目である。ステッ
プＳ１７では、ｎ番目の反応キュベット１１に関して測
定項目Ｘにおける測定波長λxを認識する。それと平行
して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に関して分光器
１３により反応液の吸光度Ｂを測定し、各受光素子２５
に係る全ての値を記憶する。また、ｎ＋２番目の反応キ
ュベット１１に対し測定項目Ｙに応じた分析動作を行
う。ステップＳ１８では、ｎ番目の反応キュベット１１
に関し、波長λxでの吸光度Ｂx，Ａxを取り出す。それ
と平行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に関して
測定項目Ｚにおける測定波長λzを認識するとともに、
ｎ＋２番目の反応キュベット１１に関して分光器１３に
より反応液の吸光度Ｂを測定し、各受光素子２５に係る
全ての値を記憶する。ステップＳ１９では、ｎ番目の反
応キュベット１１に関し、吸光度Ｂx，Ａxにより濃度を
計算する。それと平行して、ｎ＋１番目の反応キュベッ
ト１１に関し、波長λzでの吸光度Ｂz，Ａzを取り出
す。また、ｎ＋２番目の反応キュベット１１に関して測
定項目Ｙにおける測定波長λyを認識する。
これでプログラムは一巡し、再びステップＳ１１に戻
る。なお、ステップＳ１１では、ｎ番目の反応キュベッ
ト１１の洗浄と平行して、ｎ＋１番目の反応キュベット
１１に関し吸光度Ｂz，Ａzにより濃度が計算される。ま
た、ｎ＋２番目の反応キュベット１１に関し、波長λy
での吸光度Ｂy，Ａyを取り出す。ステップＳ１２では、
ｎ＋１番目の反応キュベット１１の洗浄と平行して、ｎ
＋２番目の反応キュベット１１に関し吸光度Ｂy，Ａyに
より濃度が計算される。得られた濃度は、必要に応じ
て、ＣＲＴ４４に表示され、フロッピディスク装置４５
に記憶され、プリンタ４２に印刷される。
る。なお、ステップＳ１１では、ｎ番目の反応キュベッ
ト１１の洗浄と平行して、ｎ＋１番目の反応キュベット
１１に関し吸光度Ｂz，Ａzにより濃度が計算される。ま
た、ｎ＋２番目の反応キュベット１１に関し、波長λy
での吸光度Ｂy，Ａyを取り出す。ステップＳ１２では、
ｎ＋１番目の反応キュベット１１の洗浄と平行して、ｎ
＋２番目の反応キュベット１１に関し吸光度Ｂy，Ａyに
より濃度が計算される。得られた濃度は、必要に応じ
て、ＣＲＴ４４に表示され、フロッピディスク装置４５
に記憶され、プリンタ４２に印刷される。
このように、この実施例では、或る測定項目の測定をし
ている途中で別の測定項目を割り込ませる必要が生じた
としても、新たなブランク値が記憶された反応キュベッ
ト１１のサンプリング位置及び試薬注入位置への到着を
待つことなく、割り込ませたい測定項目の測定を即座に
行うことができる。
ている途中で別の測定項目を割り込ませる必要が生じた
としても、新たなブランク値が記憶された反応キュベッ
ト１１のサンプリング位置及び試薬注入位置への到着を
待つことなく、割り込ませたい測定項目の測定を即座に
行うことができる。
測定データ異常時の動作 前記通常状態での作用において、ｎ番目の反応キュベッ
ト１１の吸光度の測定データや計算結果に異常が発見さ
れた場合の動作を説明する。この場合には、第６図のチ
ャートに従って作用する。なお、第６図において、ステ
ップＳ２１からステップＳ２９までの処理は、通常の場
合を示す第４図のステップＳ１からステップＳ９までの
処理と同様である。
ト１１の吸光度の測定データや計算結果に異常が発見さ
れた場合の動作を説明する。この場合には、第６図のチ
ャートに従って作用する。なお、第６図において、ステ
ップＳ２１からステップＳ２９までの処理は、通常の場
合を示す第４図のステップＳ１からステップＳ９までの
処理と同様である。
ここでは、仮に、第６図のステップＳ２９において、ｎ
番目の反応キュベット１１に関して吸光度Ｂx，Ａxによ
り濃度が計算されたところ、異常値であると判断された
とする。この場合にはステップＳ２９ａに移行する。ス
テップＳ２９ａでは、測定項目Ｘに使用され得る他の波
長λxxを認識する。次に、ステップＳ２９ｂでは、ｎ番
目の反応キュベット１１に関し、波長λxxでの吸光度Ｂ
xx，Ａxxを取り出す。ステップＳ２９ｃでは、ｎ番目の
反応キュベット１１に関し、吸光度Ｂxx，Ａxxにより濃
度を計算する。これによって得られた濃度が異常値でな
ければ、これでプログラムは一巡し、再びステップＳ２
１に戻る、なお、得られた濃度は、必要に応じて、ＣＲ
Ｔ４４に表示され、フロッピディスク装置４５に記憶さ
れ、プリンタ４２に印刷される。
番目の反応キュベット１１に関して吸光度Ｂx，Ａxによ
り濃度が計算されたところ、異常値であると判断された
とする。この場合にはステップＳ２９ａに移行する。ス
テップＳ２９ａでは、測定項目Ｘに使用され得る他の波
長λxxを認識する。次に、ステップＳ２９ｂでは、ｎ番
目の反応キュベット１１に関し、波長λxxでの吸光度Ｂ
xx，Ａxxを取り出す。ステップＳ２９ｃでは、ｎ番目の
反応キュベット１１に関し、吸光度Ｂxx，Ａxxにより濃
度を計算する。これによって得られた濃度が異常値でな
ければ、これでプログラムは一巡し、再びステップＳ２
１に戻る、なお、得られた濃度は、必要に応じて、ＣＲ
Ｔ４４に表示され、フロッピディスク装置４５に記憶さ
れ、プリンタ４２に印刷される。
このように、この実施例では、各反応キュベット１１に
関して測定の可能性のある複数種の測定波長に対応する
複数種のブランク値が記憶されていることから、反応キ
ュベット１１内の反応液を所定の波長を用いて分光器１
３により測定した結果、測定値に異常が発見された場合
でも、即座に別の波長を用いて演算をしなおすことがで
きる。
関して測定の可能性のある複数種の測定波長に対応する
複数種のブランク値が記憶されていることから、反応キ
ュベット１１内の反応液を所定の波長を用いて分光器１
３により測定した結果、測定値に異常が発見された場合
でも、即座に別の波長を用いて演算をしなおすことがで
きる。
ブランク値異常時の動作 前記通常状態での作用において、ｎ番目の反応キュベッ
ト１１のブランク値の測定結果に異常が発見され、当該
反応キュベット１１が使用できないと判断された場合の
動作を説明する。この場合には、第７図のチャートに従
って作用する。
ト１１のブランク値の測定結果に異常が発見され、当該
反応キュベット１１が使用できないと判断された場合の
動作を説明する。この場合には、第７図のチャートに従
って作用する。
第７図において、ステップＳ３１ではｎ番目の反応キュ
ベット１１が洗浄装置１６によって洗浄される。次に、
ステップＳ３２では、ｎ番目の反応キュベット１１に対
して分光器１３がブランク値の測定を行う。それと平行
して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１が洗浄装置１６
によって洗浄される。ステップＳ３３では、ｎ番目の反
応キュベット１１に関して、全ての受光素子２５で検知
したブランク値に相当する吸光度を記憶する。それと平
行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に対して分光
器１３がブランク値の測定を行い、ｎ＋２番目の反応キ
ュベット１１が洗浄装置１６によって洗浄される。
ベット１１が洗浄装置１６によって洗浄される。次に、
ステップＳ３２では、ｎ番目の反応キュベット１１に対
して分光器１３がブランク値の測定を行う。それと平行
して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１が洗浄装置１６
によって洗浄される。ステップＳ３３では、ｎ番目の反
応キュベット１１に関して、全ての受光素子２５で検知
したブランク値に相当する吸光度を記憶する。それと平
行して、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に対して分光
器１３がブランク値の測定を行い、ｎ＋２番目の反応キ
ュベット１１が洗浄装置１６によって洗浄される。
ここで、仮に、ｎ番目の反応キュベット１１のブランク
値が異常であったと判断されたものとする。ステップＳ
３４では、ｎ番目の反応キュベット１１に対する測定を
中止する。それと平行して、ｎ＋１番目の反応キュベッ
ト１１に関して全ての受光素子２５で検知したブランク
値に相当する吸光度Ａを記憶し、ｎ＋２番目の反応キュ
ベット１１に対して分光器１３がブランク値の測定を行
う。以後、ｎ番目の反応キュベット１１に関しては、前
記ステップＳ４からステップＳ９に相当する、ステップ
Ｓ３５からステップＳ３９までの処理は行われない。そ
して、ｎ番目の反応キュベット１１を使用して測定する
予定であった測定項目Ｘについては、ｎ＋１番目の反応
キュベット１１を使用して測定が行われる。以後、測定
項目が順に次の反応キュベット１１に振り替えられる。
値が異常であったと判断されたものとする。ステップＳ
３４では、ｎ番目の反応キュベット１１に対する測定を
中止する。それと平行して、ｎ＋１番目の反応キュベッ
ト１１に関して全ての受光素子２５で検知したブランク
値に相当する吸光度Ａを記憶し、ｎ＋２番目の反応キュ
ベット１１に対して分光器１３がブランク値の測定を行
う。以後、ｎ番目の反応キュベット１１に関しては、前
記ステップＳ４からステップＳ９に相当する、ステップ
Ｓ３５からステップＳ３９までの処理は行われない。そ
して、ｎ番目の反応キュベット１１を使用して測定する
予定であった測定項目Ｘについては、ｎ＋１番目の反応
キュベット１１を使用して測定が行われる。以後、測定
項目が順に次の反応キュベット１１に振り替えられる。
ステップＳ３５では、ｎ＋１番目の反応キュベット１１
に関して、変更された測定項目Ｘを認識する。また、ｎ
＋２番目の反応キュベット１１に関して全ての受光素子
２５で検知したブランク値に相当する吸光度を記憶す
る。ステップＳ３６では、ｎ＋１番目の反応キュベット
１１に対し測定項目Ｘに応じた分析動作を行う。また、
ｎ＋２番目の反応キュベット１１に関し、変更された測
定項目Ｙを認識する。ステップＳ３７では、ｎ＋！番目
の反応キュベット１１に関して分光器１３により反応液
の吸光度を測定し、各受光素子２５に係る全ての値を記
憶する。また、ｎ＋２番目の反応キュベット１１に対し
測定項目Ｙに応じた分析動作を行う。ステップＳ３８で
は、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に関して測定項目
Ｘにおける測定波長λxを認識するとともに、ｎ＋２番
目の反応キュベット１１に関して分光器１３により反応
液の吸光度Ｂを測定し、各受光素子２５に係る全ての値
を記憶する。ステップＳ３９では、ｎ＋１番目の反応キ
ュベット１１に関し、波長λxでの吸光度Ｂx，Ａxを取
り出す。また、ｎ＋２番目の反応キュベット１１に関し
て測定項目Ｙにおける測定波長λyを認識する。
に関して、変更された測定項目Ｘを認識する。また、ｎ
＋２番目の反応キュベット１１に関して全ての受光素子
２５で検知したブランク値に相当する吸光度を記憶す
る。ステップＳ３６では、ｎ＋１番目の反応キュベット
１１に対し測定項目Ｘに応じた分析動作を行う。また、
ｎ＋２番目の反応キュベット１１に関し、変更された測
定項目Ｙを認識する。ステップＳ３７では、ｎ＋！番目
の反応キュベット１１に関して分光器１３により反応液
の吸光度を測定し、各受光素子２５に係る全ての値を記
憶する。また、ｎ＋２番目の反応キュベット１１に対し
測定項目Ｙに応じた分析動作を行う。ステップＳ３８で
は、ｎ＋１番目の反応キュベット１１に関して測定項目
Ｘにおける測定波長λxを認識するとともに、ｎ＋２番
目の反応キュベット１１に関して分光器１３により反応
液の吸光度Ｂを測定し、各受光素子２５に係る全ての値
を記憶する。ステップＳ３９では、ｎ＋１番目の反応キ
ュベット１１に関し、波長λxでの吸光度Ｂx，Ａxを取
り出す。また、ｎ＋２番目の反応キュベット１１に関し
て測定項目Ｙにおける測定波長λyを認識する。
これでプログラムは一巡し、再びステップＳ３１に戻
る。なお、ステップＳ３１では、ｎ番目の反応キュベッ
ト１１の洗浄と平行して、ｎ＋１番目の反応キュベット
１１に関し、吸光度Ｂx，Ａxにより濃度が計算される。
また、ｎ＋２番目の反応キュベット１１に関し、波長λ
yでの吸光度Ｂy，Ａyを取り出す。ステップＳ３２で
は、ｎ＋１番目の反応キュベット１１の洗浄と平行し
て、ｎ＋２番目の反応キュベット１１に関し、吸光度Ｂ
y，Ａyにより濃度が計算される。得られた濃度は、必要
に応じて、ＣＲＴ４４に表示され、フロッピディスク装
置４５に記憶され、プリンタ４２に印刷される。
る。なお、ステップＳ３１では、ｎ番目の反応キュベッ
ト１１の洗浄と平行して、ｎ＋１番目の反応キュベット
１１に関し、吸光度Ｂx，Ａxにより濃度が計算される。
また、ｎ＋２番目の反応キュベット１１に関し、波長λ
yでの吸光度Ｂy，Ａyを取り出す。ステップＳ３２で
は、ｎ＋１番目の反応キュベット１１の洗浄と平行し
て、ｎ＋２番目の反応キュベット１１に関し、吸光度Ｂ
y，Ａyにより濃度が計算される。得られた濃度は、必要
に応じて、ＣＲＴ４４に表示され、フロッピディスク装
置４５に記憶され、プリンタ４２に印刷される。
このように、この実施例では、各反応キュベット１１に
関して測定の可能性のある複数種の測定波長に対応する
複数種のブランク値が記憶されていることから、ブラン
ク値を記憶した後にその測定に異常が発見されたときで
も、直ちに次の反応キュベット１１に測定項目をずらせ
て後続の処理を行うことができる。
関して測定の可能性のある複数種の測定波長に対応する
複数種のブランク値が記憶されていることから、ブラン
ク値を記憶した後にその測定に異常が発見されたときで
も、直ちに次の反応キュベット１１に測定項目をずらせ
て後続の処理を行うことができる。
前記実施例における変換回路４８では、各受光素子２５
毎にＬｏｇアンプ５２とＡ／Ｄ変換器５３とを設けた
が、それに代えて、受光素子２５とＬｏｇアンプ５２と
の間、或いはＬｏｇアンプ５２の後にサンプルホールド
回路を設け、マルチプレクサによってスキャンする構成
を採用することもできる。
毎にＬｏｇアンプ５２とＡ／Ｄ変換器５３とを設けた
が、それに代えて、受光素子２５とＬｏｇアンプ５２と
の間、或いはＬｏｇアンプ５２の後にサンプルホールド
回路を設け、マルチプレクサによってスキャンする構成
を採用することもできる。
これにより、Ｌｏｇアンプ５２を１つにしたりＡ／Ｄ変
換器５３を１つにできるようになって、回路の簡素化が
図れるようになる。但し、この例は、マルチプレクサに
よるスキャンの時間を確保する必要があることから、測
光間隔に充分時間が有る場合に限られ、測光速度が制限
される。
換器５３を１つにできるようになって、回路の簡素化が
図れるようになる。但し、この例は、マルチプレクサに
よるスキャンの時間を確保する必要があることから、測
光間隔に充分時間が有る場合に限られ、測光速度が制限
される。
本発明に係る液体試料分析装置によれば、各反応管に関
して測定の可能性のある複数種の測定波長に対応する複
数種のブランク値が記憶されていることから、測定項目
の割り込みが生じても迅速に対応することができ、ブラ
ンク値に異常が発見されたときでも次の反応管に測定項
目をずらせて迅速に後続の処理を行うことができ、しか
も、反応液の測定値に異常が発見されたときでも適宜別
の波長を用いて迅速に演算をしなおすことのできる液体
試料分析装置が得られるようになる。
して測定の可能性のある複数種の測定波長に対応する複
数種のブランク値が記憶されていることから、測定項目
の割り込みが生じても迅速に対応することができ、ブラ
ンク値に異常が発見されたときでも次の反応管に測定項
目をずらせて迅速に後続の処理を行うことができ、しか
も、反応液の測定値に異常が発見されたときでも適宜別
の波長を用いて迅速に演算をしなおすことのできる液体
試料分析装置が得られるようになる。
第１図は、本発明に係る一実施例の概略ブロック図、第
２図はその平面概略部分図、第３図は分光器近傍の概略
図、第４図、第５図、第６図、第７図は第１図の実施例
の作用の流れを示すフローチャートである。 １１……反応キュベット、１３……分光器、１７……制
御装置、４０……マイクロコンピュータ、４７……反応
部制御コンピュータ、４８……変換回路。
２図はその平面概略部分図、第３図は分光器近傍の概略
図、第４図、第５図、第６図、第７図は第１図の実施例
の作用の流れを示すフローチャートである。 １１……反応キュベット、１３……分光器、１７……制
御装置、４０……マイクロコンピュータ、４７……反応
部制御コンピュータ、４８……変換回路。
フロントページの続き (72)発明者 谷水 弘治 京都府京都市中京区西ノ京桑原町１番地 株式会社島津製作所三条工場内 (56)参考文献 特開 昭62−98264（ＪＰ，Ａ) 実開 昭55−125529（ＪＰ，Ｕ)
Claims (1)
- 【請求項１】試料と試薬とに基づく反応液が入れられた
反応管を直接測光して、反応液の光学的変化を検出する
液体試料分析装置であって、 洗浄後所定位置に逐次搬送されてくる反応管を測定予定
の波長も含めて測定の可能性のある複数種の測定波長で
測光し複数種のブランク値を測定するとともに、得られ
た複数種のブランク値を記憶するブランク値記憶手段
と、 試料と試薬とに基づく反応液が入れられた反応管を、測
光して測定値を得る測光手段と、 前記複数種のブランク値のうち前記測定値の波長に対応
するブランク値および前記測定値に基づいて、反応液の
光学的変化を演算する演算手段と、を備えた液体試料分
析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63245380A JPH0617919B2 (ja) | 1988-09-29 | 1988-09-29 | 液体試料分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63245380A JPH0617919B2 (ja) | 1988-09-29 | 1988-09-29 | 液体試料分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0291573A JPH0291573A (ja) | 1990-03-30 |
| JPH0617919B2 true JPH0617919B2 (ja) | 1994-03-09 |
Family
ID=17132800
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63245380A Expired - Fee Related JPH0617919B2 (ja) | 1988-09-29 | 1988-09-29 | 液体試料分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0617919B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020527705A (ja) * | 2017-07-12 | 2020-09-10 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理における空間分解発光分光法（ｏｅｓ） |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2590382B2 (ja) * | 1990-04-26 | 1997-03-12 | 株式会社日立製作所 | 自動分析装置の測定方法 |
| JPH0572213A (ja) * | 1991-01-24 | 1993-03-23 | Hitachi Ltd | 自動分析装置の測定方法 |
| CN113640256A (zh) * | 2021-08-27 | 2021-11-12 | 重庆中元汇吉生物技术有限公司 | 水空白检测方法、装置、设备及存储介质 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5630650A (en) * | 1979-08-22 | 1981-03-27 | Hitachi Ltd | Automatic chemical analyzer |
| JPS6298264A (ja) * | 1985-10-25 | 1987-05-07 | Hitachi Ltd | 自動分析装置 |
-
1988
- 1988-09-29 JP JP63245380A patent/JPH0617919B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020527705A (ja) * | 2017-07-12 | 2020-09-10 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理における空間分解発光分光法（ｏｅｓ） |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0291573A (ja) | 1990-03-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |