JPH08313537A - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
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- JPH08313537A JPH08313537A JP12166595A JP12166595A JPH08313537A JP H08313537 A JPH08313537 A JP H08313537A JP 12166595 A JP12166595 A JP 12166595A JP 12166595 A JP12166595 A JP 12166595A JP H08313537 A JPH08313537 A JP H08313537A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明の目的は反応容器に対する検体分注まで
の時間の短縮化、したがって全体としての測定時間の短
縮化を図るのに適した自動分析装置を提供することにあ
る。 【構成】分析に先立って、前回の分析が終了し、反応デ
ィスクの全動作が終了したときの容器位置とこの容器位
置に保持されている反応容器との対応関係はコンピュ−
タ１８に予め記憶されている。スタ−トスイッチがオン
にされると、容器位置と反応容器との対応関係が記憶さ
れているそれと一致するかどうか判断され、一致してい
る場合は、容器位置１〜６にある容器は洗浄されている
ものとしてそれらの反応容器について光学測定の場合は
ブランク測定が実施された上検体分注が実施され、ＩＳ
Ｅ測定の場合は直接検体分注が実施される。
の時間の短縮化、したがって全体としての測定時間の短
縮化を図るのに適した自動分析装置を提供することにあ
る。 【構成】分析に先立って、前回の分析が終了し、反応デ
ィスクの全動作が終了したときの容器位置とこの容器位
置に保持されている反応容器との対応関係はコンピュ−
タ１８に予め記憶されている。スタ−トスイッチがオン
にされると、容器位置と反応容器との対応関係が記憶さ
れているそれと一致するかどうか判断され、一致してい
る場合は、容器位置１〜６にある容器は洗浄されている
ものとしてそれらの反応容器について光学測定の場合は
ブランク測定が実施された上検体分注が実施され、ＩＳ
Ｅ測定の場合は直接検体分注が実施される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は自動分析装置、特に、ル
−プ状に配置された反応容器の列を複数の反応容器分ず
つ繰り返し回動し、その間に、それらの反応容器につい
て、洗浄、検体分注、試薬添加及び検体測定を行うよう
にした自動分析装置に関する。
−プ状に配置された反応容器の列を複数の反応容器分ず
つ繰り返し回動し、その間に、それらの反応容器につい
て、洗浄、検体分注、試薬添加及び検体測定を行うよう
にした自動分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ル−プ状に配置された反応容器の列を複
数の反応容器分ずつ繰り返し回動し、その間にその反応
容器についてその洗浄から分注された検体の測定までの
全部の仕事を効率的に行う自動分析装置が知られてい
る。その典型例はたとえば特公昭５９−２４３８０号公
報に記載されている。それによれば、多数の反応容器を
円上に等間隔に配置してなるタ−ンテ−ブルを１回転＋
１ピッチ（１反応容器分）ずつ繰り返し回転し、その間
に所定の仕事をすべて終了するようにしている。もちろ
ん、たとえばタ−ンテ−ブルを１回転−１ピッチずつ繰
り返し回転することでも、あるいは、たとえば１／２回
転＋（又は−）１ピッチずつ回転することでも同様の結
果を得ることが可能である。
数の反応容器分ずつ繰り返し回動し、その間にその反応
容器についてその洗浄から分注された検体の測定までの
全部の仕事を効率的に行う自動分析装置が知られてい
る。その典型例はたとえば特公昭５９−２４３８０号公
報に記載されている。それによれば、多数の反応容器を
円上に等間隔に配置してなるタ−ンテ−ブルを１回転＋
１ピッチ（１反応容器分）ずつ繰り返し回転し、その間
に所定の仕事をすべて終了するようにしている。もちろ
ん、たとえばタ−ンテ−ブルを１回転−１ピッチずつ繰
り返し回転することでも、あるいは、たとえば１／２回
転＋（又は−）１ピッチずつ回転することでも同様の結
果を得ることが可能である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】そのような自動分析装
置においては、測定時間の更なる短縮化が望まれてい
る。測定時間の短縮化はたとえば緊急検体の測定の場合
は非常に重要なことだからである。
置においては、測定時間の更なる短縮化が望まれてい
る。測定時間の短縮化はたとえば緊急検体の測定の場合
は非常に重要なことだからである。
【０００４】しかし、一般には、装置の作動が開始する
と、まず洗浄位置にある反応容器の洗浄が行われ、そし
てこの洗浄が終了した反応容器が検体分注位置に移動し
たときに初めて検体分注動作が行われる。すなわち、洗
浄位置以後の検体分注位置までの容器位置にある反応容
器は、洗浄済である場合でさえも、これに対する検体分
注が行われることなしに検体分注位置を通過してしま
う。したがって、装置の作動に基づいて洗浄位置で洗浄
された反応容器が検体分注位置に到るまでの時間が検体
分注までの時間として必要となるため、これが結果的に
全体としての測定時間の短縮化を妨げているという問題
がある。
と、まず洗浄位置にある反応容器の洗浄が行われ、そし
てこの洗浄が終了した反応容器が検体分注位置に移動し
たときに初めて検体分注動作が行われる。すなわち、洗
浄位置以後の検体分注位置までの容器位置にある反応容
器は、洗浄済である場合でさえも、これに対する検体分
注が行われることなしに検体分注位置を通過してしま
う。したがって、装置の作動に基づいて洗浄位置で洗浄
された反応容器が検体分注位置に到るまでの時間が検体
分注までの時間として必要となるため、これが結果的に
全体としての測定時間の短縮化を妨げているという問題
がある。
【０００５】本発明の目的は反応容器に対する検体分注
までの時間の短縮化、したがって全体としての測定時間
の短縮化を図るのに適した自動分析装置を提供すること
にある。
までの時間の短縮化、したがって全体としての測定時間
の短縮化を図るのに適した自動分析装置を提供すること
にある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の課題解決手段は
次の通りである。
次の通りである。
【０００７】１． ル−プ状に配置された反応容器の列
を複数の反応容器分ずつ繰り返し回動し、その間に、前
記複数の反応容器について、その反応容器がそれぞれ洗
浄位置、検体分注位置及び試薬添加位置に移動したとき
に洗浄、検体分注及び試薬添加をそれぞれ行い得ると共
に測定位置において検体測定を行い得るように構成した
自動分析装置であって、これは、前記検体分注に先立っ
て前記洗浄位置以降の検体分注位置までの容器位置にあ
る反応容器が洗浄済であるかどうかを判断し、洗浄済み
の場合は前記検体分注はその洗浄済の反応容器から開始
するように構成したことを特徴とする（請求項１）。
を複数の反応容器分ずつ繰り返し回動し、その間に、前
記複数の反応容器について、その反応容器がそれぞれ洗
浄位置、検体分注位置及び試薬添加位置に移動したとき
に洗浄、検体分注及び試薬添加をそれぞれ行い得ると共
に測定位置において検体測定を行い得るように構成した
自動分析装置であって、これは、前記検体分注に先立っ
て前記洗浄位置以降の検体分注位置までの容器位置にあ
る反応容器が洗浄済であるかどうかを判断し、洗浄済み
の場合は前記検体分注はその洗浄済の反応容器から開始
するように構成したことを特徴とする（請求項１）。
【０００８】２． ル−プ状に配置された反応容器の列
を複数の反応容器分ずつ繰り返し回動し、その間に、前
記複数の反応容器について、その反応容器がそれぞれ洗
浄位置、検体分注位置及び試薬添加位置に移動したとき
に洗浄、ブランク測定、検体分注及び試薬添加をそれぞ
れ行い得ると共に光学的測定位置においては光学的検体
測定を、イオン選択電極測定位置においてはイオン選択
電極測定のための検体吸引を行い得るように構成した自
動分析装置であって、これは、前記検体分注に先立って
前記洗浄位置以降の検体分注位置までの容器位置にある
反応容器が洗浄済であるかどうかを判断し、洗浄済みの
場合は、前記光学的測定のときは前記ブランク測定を、
前記イオン選択電極測定のときは前記検体分注をそれぞ
れ前記洗浄済の反応容器から開始するように構成したこ
とを特徴とする（請求項２）。
を複数の反応容器分ずつ繰り返し回動し、その間に、前
記複数の反応容器について、その反応容器がそれぞれ洗
浄位置、検体分注位置及び試薬添加位置に移動したとき
に洗浄、ブランク測定、検体分注及び試薬添加をそれぞ
れ行い得ると共に光学的測定位置においては光学的検体
測定を、イオン選択電極測定位置においてはイオン選択
電極測定のための検体吸引を行い得るように構成した自
動分析装置であって、これは、前記検体分注に先立って
前記洗浄位置以降の検体分注位置までの容器位置にある
反応容器が洗浄済であるかどうかを判断し、洗浄済みの
場合は、前記光学的測定のときは前記ブランク測定を、
前記イオン選択電極測定のときは前記検体分注をそれぞ
れ前記洗浄済の反応容器から開始するように構成したこ
とを特徴とする（請求項２）。
【０００９】３． 課題解決手段１又は２の自動分析装
置であって、これは、前記反応容器の列の全動作が終了
したときの、前記洗浄位置以降の前記検体分注位置まで
の容器位置とこの容器位置にある反応容器との対応関係
を記憶しておき、この記憶内容に基づいて前記反応容器
が洗浄済みかどうかの判断を行うように構成したことを
特徴とする（請求項３）。
置であって、これは、前記反応容器の列の全動作が終了
したときの、前記洗浄位置以降の前記検体分注位置まで
の容器位置とこの容器位置にある反応容器との対応関係
を記憶しておき、この記憶内容に基づいて前記反応容器
が洗浄済みかどうかの判断を行うように構成したことを
特徴とする（請求項３）。
【００１０】
【作用】検体分注に先立って洗浄位置以降の検体分注位
置までの容器位置にある反応容器が洗浄済であるかどう
かを判断し、洗浄済みの場合は検体分注はその洗浄済の
反応容器から開始される。したがって、装置が作動した
ときに洗浄位置で洗浄された反応容器が検体分注位置に
到るのを待つ必要がなくなるので、反応容器に対する検
体分注までの時間の短縮化が可能となり、その分だけ全
体としての測定時間の短縮化が図られる。
置までの容器位置にある反応容器が洗浄済であるかどう
かを判断し、洗浄済みの場合は検体分注はその洗浄済の
反応容器から開始される。したがって、装置が作動した
ときに洗浄位置で洗浄された反応容器が検体分注位置に
到るのを待つ必要がなくなるので、反応容器に対する検
体分注までの時間の短縮化が可能となり、その分だけ全
体としての測定時間の短縮化が図られる。
【００１１】
【実施例】図２は本発明に基づく一実施例を示す。反応
デイスク１は複数個の反応容器を、これらが円周上に等
間隔に配置されるように保持している。反応ディスク１
は駆動装置２により１回転＋１ピッチ（１反応容器分）
を１単位として間欠的に繰り返し回転され、したがって
反応ディスク１はその間欠回転ごとに１ピッチ（１反応
容器分）ずつ進む。
デイスク１は複数個の反応容器を、これらが円周上に等
間隔に配置されるように保持している。反応ディスク１
は駆動装置２により１回転＋１ピッチ（１反応容器分）
を１単位として間欠的に繰り返し回転され、したがって
反応ディスク１はその間欠回転ごとに１ピッチ（１反応
容器分）ずつ進む。
【００１２】検体ディスク３は複数の検体を保持してい
て、その複数の検体は円周上に等間隔で配置されてい
る。検体ディスク３は駆動装置４によって１ピッチ（１
検体分）ずつ回転される。検体ディスク３の検体は検体
用ピペッタ５によって検体分注器６を介して反応デイス
ク１の検体分注位置にある反応容器に分注される。
て、その複数の検体は円周上に等間隔で配置されてい
る。検体ディスク３は駆動装置４によって１ピッチ（１
検体分）ずつ回転される。検体ディスク３の検体は検体
用ピペッタ５によって検体分注器６を介して反応デイス
ク１の検体分注位置にある反応容器に分注される。
【００１３】試薬デイスク７は複数の試薬を、これらが
円周上に等間隔で配置されるように保持していて、駆動
装置８によって回転される。試薬ディスク７の試薬は試
薬用ピペッタ９によって試薬分注器１０を介して反応デ
ィスク１の試薬分注位置にある、検体分注済みの反応容
器に分注すなわち添加される。この反応容器内の検体及
び試薬は撹拌位置において撹拌され、反応する。
円周上に等間隔で配置されるように保持していて、駆動
装置８によって回転される。試薬ディスク７の試薬は試
薬用ピペッタ９によって試薬分注器１０を介して反応デ
ィスク１の試薬分注位置にある、検体分注済みの反応容
器に分注すなわち添加される。この反応容器内の検体及
び試薬は撹拌位置において撹拌され、反応する。
【００１４】検体と試薬との反応液については、光学的
測定位置１３において光度計１１によって予め定められ
た測定項目についての吸光度測定が複数波長で行われ
る。また、イオン選択電極を用いた測定（以下これを単
にＩＳＥ測定と呼ぶ。）が必要な場合は試薬が添加され
た検体はＩＳＥ測定用としての検体吸引位置において検
体吸引機構１２により吸引ノズル（図示省略）を介して
イオン選択電極測定装置１３に吸引され、ここで予め定
められた測定項目、たとえばナトリウム、カリウム及び
塩素についてイオン選択電極によって発生される起電力
が測定される。もちろん、ＩＳＥ測定が必要でない場合
は、この測定は行われない。なお、ＩＳＥ測定の場合
は、試薬は検体を希釈するために用いられるにすぎな
い。
測定位置１３において光度計１１によって予め定められ
た測定項目についての吸光度測定が複数波長で行われ
る。また、イオン選択電極を用いた測定（以下これを単
にＩＳＥ測定と呼ぶ。）が必要な場合は試薬が添加され
た検体はＩＳＥ測定用としての検体吸引位置において検
体吸引機構１２により吸引ノズル（図示省略）を介して
イオン選択電極測定装置１３に吸引され、ここで予め定
められた測定項目、たとえばナトリウム、カリウム及び
塩素についてイオン選択電極によって発生される起電力
が測定される。もちろん、ＩＳＥ測定が必要でない場合
は、この測定は行われない。なお、ＩＳＥ測定の場合
は、試薬は検体を希釈するために用いられるにすぎな
い。
【００１５】吸光度を表す信号はＡ／Ｄ変換器１６によ
ってＡ／Ｄ変換され、インタ−フエ−ス１７を介してコ
ンピュ−タ１８に取り込まれる。ＩＳＡ測定によって得
られた起電力を表す信号も同様にしてコンピュ−タ１８
に取り込まれる。コンピュ−タ１８に取り込まれた測定
結果はプリンタ１９によってプリントアウトされ、また
表示装置２０に表示される。表示装置２０には他に測定
条件や装置稼働状況等が表示される。キ−ボ−ド２１か
らはオペレ−タが表示装置２０を見ながら測定条件等の
情報を入力することができる。
ってＡ／Ｄ変換され、インタ−フエ−ス１７を介してコ
ンピュ−タ１８に取り込まれる。ＩＳＡ測定によって得
られた起電力を表す信号も同様にしてコンピュ−タ１８
に取り込まれる。コンピュ−タ１８に取り込まれた測定
結果はプリンタ１９によってプリントアウトされ、また
表示装置２０に表示される。表示装置２０には他に測定
条件や装置稼働状況等が表示される。キ−ボ−ド２１か
らはオペレ−タが表示装置２０を見ながら測定条件等の
情報を入力することができる。
【００１６】測定が終了した検体の反応容器は洗浄位置
において洗浄ポンプ１４によって洗浄機構１５を介して
洗浄される。洗浄が終了した反応容器にはブランク測定
用の純水が注入される。この純水の注入は洗浄機構１５
によって容器位置２において行ってもよいし、あるいは
容器位置３又は４においてブランク測定に先立って純水
注入機構（図示せず）によって行うようにしてもよい。
いずれにしても、純水が注入された反応容器がブランク
測定位置に移動されたときは、この反応容器について光
度計１１によってブランク測定が実行される。すなわ
ち、透過率ベ−スでは１００％合わせ（吸光度ベ−スで
はゼロ合わせ）が行われる。ただし、この１００％合わ
せは光度計１１を用いての光学的測定の場合に要求され
るもので、ＩＳＥ測定の場合は必要でない。
において洗浄ポンプ１４によって洗浄機構１５を介して
洗浄される。洗浄が終了した反応容器にはブランク測定
用の純水が注入される。この純水の注入は洗浄機構１５
によって容器位置２において行ってもよいし、あるいは
容器位置３又は４においてブランク測定に先立って純水
注入機構（図示せず）によって行うようにしてもよい。
いずれにしても、純水が注入された反応容器がブランク
測定位置に移動されたときは、この反応容器について光
度計１１によってブランク測定が実行される。すなわ
ち、透過率ベ−スでは１００％合わせ（吸光度ベ−スで
はゼロ合わせ）が行われる。ただし、この１００％合わ
せは光度計１１を用いての光学的測定の場合に要求され
るもので、ＩＳＥ測定の場合は必要でない。
【００１７】前述したように、反応ディスク１は１回転
＋１ピッチを１単位として繰り返し間欠的に回転する
が、洗浄、検体分注、撹拌、ＩＳＥ測定用としての検体
吸引は反応デイスク１の１単位ごとの間欠回転間の停止
期間中に実行される。また、反応液の光学的測定（吸光
度測定）は反応ディスク１の回転中に光学的測定いち１
３において行われると共に、ブランク測定位置にある反
応容器のブランク測定も反応ディスク１の回転中に同様
に行われる。一方、試薬の分注は、一般的には、反応デ
ィスク１の１単位分ずつの間欠回転間の停止期間中にと
いうよりはむしろ、各単位分の回転途中に一時停止期間
を設定してその一時停止期間中に行われる。
＋１ピッチを１単位として繰り返し間欠的に回転する
が、洗浄、検体分注、撹拌、ＩＳＥ測定用としての検体
吸引は反応デイスク１の１単位ごとの間欠回転間の停止
期間中に実行される。また、反応液の光学的測定（吸光
度測定）は反応ディスク１の回転中に光学的測定いち１
３において行われると共に、ブランク測定位置にある反
応容器のブランク測定も反応ディスク１の回転中に同様
に行われる。一方、試薬の分注は、一般的には、反応デ
ィスク１の１単位分ずつの間欠回転間の停止期間中にと
いうよりはむしろ、各単位分の回転途中に一時停止期間
を設定してその一時停止期間中に行われる。
【００１８】制御装置２２はコンピュ−タ１８の指令に
基づいて所定のプログラムにしたがって各部の制御を行
う。すなわち、反応容器について、これらの反応容器が
洗浄位置、ブランク測定位置、検体分注位置、試薬添加
位置に移動したときはそれぞれ洗浄、ブランク測定、検
体分注、試薬添加が行われると共に、光学的測定位置に
おいては光学的測定が、ＩＳＥ測定位置においてはＩＳ
Ｅ測定が行われるのであるが、こういった仕事を所定の
タイミングで行うために必要な各部の制御は制御装置２
２によって行われる。
基づいて所定のプログラムにしたがって各部の制御を行
う。すなわち、反応容器について、これらの反応容器が
洗浄位置、ブランク測定位置、検体分注位置、試薬添加
位置に移動したときはそれぞれ洗浄、ブランク測定、検
体分注、試薬添加が行われると共に、光学的測定位置に
おいては光学的測定が、ＩＳＥ測定位置においてはＩＳ
Ｅ測定が行われるのであるが、こういった仕事を所定の
タイミングで行うために必要な各部の制御は制御装置２
２によって行われる。
【００１９】図１は反応ディスク１の反応容器位置と仕
事位置との関係を示す。図１は簡単化のために反応容器
が１６個ある場合の例を示す。丸内の数字は反応容器位
置を表す番号で、これは反応ディスク１が回転しても変
化しない固定的なものである。
事位置との関係を示す。図１は簡単化のために反応容器
が１６個ある場合の例を示す。丸内の数字は反応容器位
置を表す番号で、これは反応ディスク１が回転しても変
化しない固定的なものである。
【００２０】容器位置１及び２は洗浄位置である。洗浄
は通常反応ディスク１が１単位（１回転＋１ピッチ）の
回転を行うごとに停止する期間を利用して容器位置１及
び２において行われる。したがって、１個の反応容器は
２回洗浄されることになる。
は通常反応ディスク１が１単位（１回転＋１ピッチ）の
回転を行うごとに停止する期間を利用して容器位置１及
び２において行われる。したがって、１個の反応容器は
２回洗浄されることになる。
【００２１】容器位置４及び５はブランク測定位置であ
る。容器位置４にある反応容器は反応ディスク１の１単
位の回転の間に光度計１１によってブランク測定されて
容器位置５に移動し、そして容器位置５に移動した反応
容器は更にもう１単位の回転の間にも光度計１１によっ
てブランク測定される。したがって、１個の反応容器の
ブランク測定は２回行われる。ただし、第１回目のブラ
ンク測定での測定波長と第２回目のブランク測定での測
定波長は異なるようにする。
る。容器位置４にある反応容器は反応ディスク１の１単
位の回転の間に光度計１１によってブランク測定されて
容器位置５に移動し、そして容器位置５に移動した反応
容器は更にもう１単位の回転の間にも光度計１１によっ
てブランク測定される。したがって、１個の反応容器の
ブランク測定は２回行われる。ただし、第１回目のブラ
ンク測定での測定波長と第２回目のブランク測定での測
定波長は異なるようにする。
【００２２】容器位置６は検体分注位置である。ここで
反応ディスク１の１単位ずつの回転ごとにその回転停止
期間中に検体分注が行われる。容器位置９は試薬分注位
置である。試薬の分注は、一般的には、反応ディスク１
の１単位分ずつの間欠回転間の停止期間中にというより
はむしろ、各単位分の回転途中に一時停止期間を設定し
てその一時停止期間中に行われる。容器位置１０は撹拌
位置である。この撹拌もタイミング的には試薬分注と同
様である。
反応ディスク１の１単位ずつの回転ごとにその回転停止
期間中に検体分注が行われる。容器位置９は試薬分注位
置である。試薬の分注は、一般的には、反応ディスク１
の１単位分ずつの間欠回転間の停止期間中にというより
はむしろ、各単位分の回転途中に一時停止期間を設定し
てその一時停止期間中に行われる。容器位置１０は撹拌
位置である。この撹拌もタイミング的には試薬分注と同
様である。
【００２３】容器位置１１はＩＳＥ測定用としての検体
吸引位置である。ＩＳＥ測定のための検体吸引は反応デ
ィスク１が１単位ずつ回転するごとに停止する期間を利
用して検体吸引位置において実行される。
吸引位置である。ＩＳＥ測定のための検体吸引は反応デ
ィスク１が１単位ずつ回転するごとに停止する期間を利
用して検体吸引位置において実行される。
【００２４】光学的な測定は測定位置１３において反応
ディスク１が１単位ずつ回転するごとにその回転期間中
に光度計１１によって行われる。
ディスク１が１単位ずつ回転するごとにその回転期間中
に光度計１１によって行われる。
【００２５】図３は本発明に基づく自動分析装置の一例
としての動作フロ−を示す。同図を参照するに、まず、
分析が終了し、反応デイスク１の全動作が終了したとき
は、その時点での容器位置１〜１６とこれらの容器位置
に保持されている反応容器との対応関係がコンピュ−タ
１８の記憶装置に予め記憶され（Ｓ１）、これによって
いつでも次の分析に入れる準備が完了する（スタンバイ
状態）（Ｓ２）。なお、一般に、容器位置には番号が付
けられてあり、また、反応容器にも番号が付けられてい
る。したがって、容器位置とこれらの容器位置にある反
応容器とはそれらの番号をもって容易に対応付けするこ
とができる。
としての動作フロ−を示す。同図を参照するに、まず、
分析が終了し、反応デイスク１の全動作が終了したとき
は、その時点での容器位置１〜１６とこれらの容器位置
に保持されている反応容器との対応関係がコンピュ−タ
１８の記憶装置に予め記憶され（Ｓ１）、これによって
いつでも次の分析に入れる準備が完了する（スタンバイ
状態）（Ｓ２）。なお、一般に、容器位置には番号が付
けられてあり、また、反応容器にも番号が付けられてい
る。したがって、容器位置とこれらの容器位置にある反
応容器とはそれらの番号をもって容易に対応付けするこ
とができる。
【００２６】スタンバイ状態において、スタ−トスイッ
チをオンにすることによって装置の動作がスタ−トする
と（Ｓ３）、装置の停止状態が正常かどうか、すなわ
ち、容器位置とこれらの容器位置に保持されている反応
容器との対応関係が記憶されているそれと一致している
かどうかの判断がなされる（Ｓ４）。実際は、この判断
及び前記の記憶は、洗浄位置以降の検体分注位置３〜６
までの容器位置とこれらの容器位置に保持されている反
応容器との対応関係についてなされるだけで十分であ
る。
チをオンにすることによって装置の動作がスタ−トする
と（Ｓ３）、装置の停止状態が正常かどうか、すなわ
ち、容器位置とこれらの容器位置に保持されている反応
容器との対応関係が記憶されているそれと一致している
かどうかの判断がなされる（Ｓ４）。実際は、この判断
及び前記の記憶は、洗浄位置以降の検体分注位置３〜６
までの容器位置とこれらの容器位置に保持されている反
応容器との対応関係についてなされるだけで十分であ
る。
【００２７】判断の結果がＹｅｓの場合は、これは容器
位置３〜６の容器位置にある反応容器が洗浄位置で洗浄
済みであり、したがって、再度洗浄する必要がないこと
を表している。よって、これらの反応容器については、
光学的測定（比色測定）の場合は、純水注入（Ｓ５）、
ブランク測定（Ｓ６）及び検体分注（Ｓ７）が行われ、
一方、ＩＳＥ測定の場合は、直ちに検体分注（Ｓ７）が
行われる。
位置３〜６の容器位置にある反応容器が洗浄位置で洗浄
済みであり、したがって、再度洗浄する必要がないこと
を表している。よって、これらの反応容器については、
光学的測定（比色測定）の場合は、純水注入（Ｓ５）、
ブランク測定（Ｓ６）及び検体分注（Ｓ７）が行われ、
一方、ＩＳＥ測定の場合は、直ちに検体分注（Ｓ７）が
行われる。
【００２８】検体分注後は、光学的測定の場合は、試薬
分注（Ｓ８）及び撹拌（Ｓ９）後光学的測定（１０）す
なわち吸光度測定が、一方、ＩＳＥ測定の場合は、試薬
分注（Ｓ８）及び撹拌（Ｓ９）後ＩＳＥ測定のための検
体吸引がそれぞれ行われる。もちろん、その吸引された
検体についてはＩＳＥ測定（Ｓ１０）が行われる。測定
終了後は洗浄（Ｓ１１）が行われる。
分注（Ｓ８）及び撹拌（Ｓ９）後光学的測定（１０）す
なわち吸光度測定が、一方、ＩＳＥ測定の場合は、試薬
分注（Ｓ８）及び撹拌（Ｓ９）後ＩＳＥ測定のための検
体吸引がそれぞれ行われる。もちろん、その吸引された
検体についてはＩＳＥ測定（Ｓ１０）が行われる。測定
終了後は洗浄（Ｓ１１）が行われる。
【００２９】容器位置とこれらの容器位置に保持されて
いる反応容器との対応関係が何らかの原因で記憶されて
いるそれと一致しない場合があり得る。例外的ではある
が、たとえば、装置の全動作終了後に反応容器を入れ替
えたような場合である。このような場合は、ステップＳ
４においてその判断結果がＮｏとされ、反応容器が容器
位置１及び２を通るときにその位置で順次洗浄される
（Ｓ１２）。そして、光学的測定（吸光度測定）の場合
は容器位置１の反応容器がこれに純水注入後容器位置４
及び５においてブランク測定され、更に容器位置６に到
達したとき初めてその反応容器に検体が分注される。一
方、ＩＳＥ測定の場合は容器位置１にある反応容器が容
器位置６に到達して初めてその反応容器に検体が分注さ
れる。
いる反応容器との対応関係が何らかの原因で記憶されて
いるそれと一致しない場合があり得る。例外的ではある
が、たとえば、装置の全動作終了後に反応容器を入れ替
えたような場合である。このような場合は、ステップＳ
４においてその判断結果がＮｏとされ、反応容器が容器
位置１及び２を通るときにその位置で順次洗浄される
（Ｓ１２）。そして、光学的測定（吸光度測定）の場合
は容器位置１の反応容器がこれに純水注入後容器位置４
及び５においてブランク測定され、更に容器位置６に到
達したとき初めてその反応容器に検体が分注される。一
方、ＩＳＥ測定の場合は容器位置１にある反応容器が容
器位置６に到達して初めてその反応容器に検体が分注さ
れる。
【００３０】なお、ブランク測定、検体分注、試薬分
注、撹拌、ＩＳＥ測定のための検体吸引、光学的測定及
び洗浄は具体的には図１及び２に関連して説明したそれ
らと全く同様である。
注、撹拌、ＩＳＥ測定のための検体吸引、光学的測定及
び洗浄は具体的には図１及び２に関連して説明したそれ
らと全く同様である。
【００３１】ここで、反応ディスク１の１単位分の回転
に要する時間を１８秒とすると、装置の動作が開始して
から検体分注までの時間は、従来例では常に５×１８＝
９０秒であるのに対して、本発明の実施例においてステ
ップＳ４における判断がＹｅｓの場合はＩＳＥ測定のと
き０秒、光学的測定（吸光度測定）のとき２×１８＝３
６秒となる。したがって、本発明の実施例における検体
分注までの時間は従来例におけるそれに比べて非常に短
縮されることが分かる。これは明らかに全体としての測
定時間の短縮化に帰着するものである。
に要する時間を１８秒とすると、装置の動作が開始して
から検体分注までの時間は、従来例では常に５×１８＝
９０秒であるのに対して、本発明の実施例においてステ
ップＳ４における判断がＹｅｓの場合はＩＳＥ測定のと
き０秒、光学的測定（吸光度測定）のとき２×１８＝３
６秒となる。したがって、本発明の実施例における検体
分注までの時間は従来例におけるそれに比べて非常に短
縮されることが分かる。これは明らかに全体としての測
定時間の短縮化に帰着するものである。
【００３２】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、反応容器に対する検体分注までの時間の短縮
化、したがって全体としての測定時間の短縮化を図るの
に適した自動分析装置が提供される。
によれば、反応容器に対する検体分注までの時間の短縮
化、したがって全体としての測定時間の短縮化を図るの
に適した自動分析装置が提供される。
【図１】反応ディスクの回転動作と各仕事位置との関係
を説明するための図。
を説明するための図。
【図２】本発明に基づく一実施例を示す自動分析装置の
全体構成概念図。
全体構成概念図。
【図３】本発明に基づく自動分析装置の一例としての動
作フロ−を示す図。
作フロ−を示す図。
１：反応ディスク、２、４、８：駆動装置、３：検体デ
イスク、５：検体用ピペッタ、６：検体分注器、７：試
薬ディスク、９：試薬用ピペッタ、１０：試薬分注器、
１１：光度計、１２：検体吸引機構、１３：イオン選択
電極測定装置、１４：洗浄ポンプ、１５：洗浄機構、１
６：Ａ／Ｄ変換器、１７：インタ−フェ−ス、１８：コ
ンピュ−タ、１９：プリンタ、２０：表示装置、２１：
キ−ボ−ド。
イスク、５：検体用ピペッタ、６：検体分注器、７：試
薬ディスク、９：試薬用ピペッタ、１０：試薬分注器、
１１：光度計、１２：検体吸引機構、１３：イオン選択
電極測定装置、１４：洗浄ポンプ、１５：洗浄機構、１
６：Ａ／Ｄ変換器、１７：インタ−フェ−ス、１８：コ
ンピュ−タ、１９：プリンタ、２０：表示装置、２１：
キ−ボ−ド。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 白石 嘉平 茨城県ひたちなか市市毛1040番地 株式会 社日立サイエンスシステムズ内
Claims (3)
- 【請求項１】ル−プ状に配置された反応容器の列を複数
の反応容器分ずつ繰り返し回動し、その間に、前記複数
の反応容器について、その反応容器がそれぞれ洗浄位
置、検体分注位置及び試薬添加位置に移動したときに洗
浄、検体分注及び試薬添加をそれぞれ行い得ると共に測
定位置において検体測定を行い得るように構成した自動
分析装置において、前記検体分注に先立って前記洗浄位
置以降の検体分注位置までの容器位置にある反応容器が
洗浄済であるかどうかを判断し、洗浄済みの場合は前記
検体分注はその洗浄済の反応容器から開始するように構
成したことを特徴とする自動分析装置。 - 【請求項２】ル−プ状に配置された反応容器の列を複数
の反応容器分ずつ繰り返し回動し、その間に、前記複数
の反応容器について、その反応容器がそれぞれ洗浄位
置、検体分注位置及び試薬添加位置に移動したときに洗
浄、ブランク測定、検体分注及び試薬添加をそれぞれ行
い得ると共に光学的測定位置においては光学的検体測定
を、イオン選択電極測定位置においてはイオン選択電極
測定のための検体吸引を行い得るように構成した自動分
析装置において、前記検体分注に先立って前記洗浄位置
以降の検体分注位置までの容器位置にある反応容器が洗
浄済であるかどうかを判断し、洗浄済みの場合は、前記
光学的測定のときは前記ブランク測定を、前記イオン選
択電極測定のときは前記検体分注をそれぞれ前記洗浄済
の反応容器から開始するように構成したことを特徴とす
る自動分析装置。 - 【請求項３】請求項１又は２に記載された自動分析装置
において、前記反応容器の列の全動作が終了したとき
の、前記洗浄位置以降の前記検体分注位置までの容器位
置とこの容器位置にある反応容器との対応関係を記憶し
ておき、この記憶内容に基づいて前記反応容器が洗浄済
みかどうかの判断を行うように構成したことを特徴とす
る自動分析装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12166595A JPH08313537A (ja) | 1995-05-19 | 1995-05-19 | 自動分析装置 |
| US08/645,075 US5741461A (en) | 1995-05-19 | 1996-05-13 | Automatic analyzer having cuvette cleaning control device |
| DE69609663T DE69609663T2 (de) | 1995-05-19 | 1996-05-17 | Automatische Analysevorrichtung |
| EP96107905A EP0743525B1 (en) | 1995-05-19 | 1996-05-17 | Automatic analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12166595A JPH08313537A (ja) | 1995-05-19 | 1995-05-19 | 自動分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08313537A true JPH08313537A (ja) | 1996-11-29 |
Family
ID=14816870
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12166595A Pending JPH08313537A (ja) | 1995-05-19 | 1995-05-19 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08313537A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009036723A (ja) * | 2007-08-03 | 2009-02-19 | Olympus Corp | 自動分析装置および動作環境設定方法 |
| JP2009068840A (ja) * | 2007-09-10 | 2009-04-02 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置、および自動分析装置の稼動方法 |
| JP2010025951A (ja) * | 2009-11-02 | 2010-02-04 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置、および自動分析装置の稼動方法 |
| WO2010117044A1 (ja) * | 2009-04-09 | 2010-10-14 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置および分注装置 |
| WO2010117045A1 (ja) * | 2009-04-09 | 2010-10-14 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| JP2011117755A (ja) * | 2009-12-01 | 2011-06-16 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| WO2017006476A1 (ja) * | 2015-07-09 | 2017-01-12 | 株式会社島津製作所 | 前処理装置及びこれを備えた分析システム |
| WO2019176296A1 (ja) | 2018-03-16 | 2019-09-19 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| US11971426B2 (en) | 2018-03-16 | 2024-04-30 | Hitachi High-Tech Corporation | Automatic analysis device |
-
1995
- 1995-05-19 JP JP12166595A patent/JPH08313537A/ja active Pending
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2009036723A (ja) * | 2007-08-03 | 2009-02-19 | Olympus Corp | 自動分析装置および動作環境設定方法 |
| JP4528814B2 (ja) * | 2007-09-10 | 2010-08-25 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置、および自動分析装置の稼動方法 |
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| JPWO2010117044A1 (ja) * | 2009-04-09 | 2012-10-18 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置および分注装置 |
| WO2010117044A1 (ja) * | 2009-04-09 | 2010-10-14 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置および分注装置 |
| WO2010117045A1 (ja) * | 2009-04-09 | 2010-10-14 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| JPWO2010117045A1 (ja) * | 2009-04-09 | 2012-10-18 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| JP5564037B2 (ja) * | 2009-04-09 | 2014-07-30 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| JP2010025951A (ja) * | 2009-11-02 | 2010-02-04 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置、および自動分析装置の稼動方法 |
| JP2011117755A (ja) * | 2009-12-01 | 2011-06-16 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| WO2017006476A1 (ja) * | 2015-07-09 | 2017-01-12 | 株式会社島津製作所 | 前処理装置及びこれを備えた分析システム |
| JPWO2017006476A1 (ja) * | 2015-07-09 | 2018-04-26 | 株式会社島津製作所 | 前処理装置及びこれを備えた分析システム |
| EP3336554A4 (en) * | 2015-07-09 | 2019-05-29 | Shimadzu Corporation | PRE-TREATMENT DEVICE AND ANALYSIS SYSTEM THEREWITH |
| US11092575B2 (en) | 2015-07-09 | 2021-08-17 | Shimadzu Corporation | Pretreatment device, and analysis system provided with same |
| WO2019176296A1 (ja) | 2018-03-16 | 2019-09-19 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| US11971426B2 (en) | 2018-03-16 | 2024-04-30 | Hitachi High-Tech Corporation | Automatic analysis device |
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