JPH11326334A - 自動分析装置 - Google Patents

自動分析装置

Info

Publication number
JPH11326334A
JPH11326334A JP7672799A JP7672799A JPH11326334A JP H11326334 A JPH11326334 A JP H11326334A JP 7672799 A JP7672799 A JP 7672799A JP 7672799 A JP7672799 A JP 7672799A JP H11326334 A JPH11326334 A JP H11326334A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
change
transmitted light
reaction
separation
amount
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP7672799A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4043132B2 (ja
Inventor
Kikue Sato
紀久江 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP07672799A priority Critical patent/JP4043132B2/ja
Publication of JPH11326334A publication Critical patent/JPH11326334A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4043132B2 publication Critical patent/JP4043132B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 定量分析過程におけるBF分離後の攪拌性能
を確実に検証できる方法を実現する自動分析装置の提
供。 【解決手段】 所望の試料と試薬を反応容器中で反応さ
せこの反応過程中の複数測光ポイントでその容器に対し
透過光測光し、磁性粒子を不溶性担体として固相化され
た抗体又は抗原と試料中の特定成分とを反応させ、固相
化された抗体又は抗原と反応していない試料中の特定成
分以外の物質を「BF分離」する時、BF分離後の攪拌
後に特定の測光ポイント間における懸濁度変化量(例え
ば透過光量の差)を算出し、該懸濁度変化量と予め設定
された所定の変化設定値(即ち設定値2)とを比較する(S
18)。該懸濁度変化量が該変化設定値を超えた場合に
は、その分析過程に何らかの異常、例えば「攪拌不良」
又は「磁性粒子流出」が発生したと判断すると共にこれ
を記録、又はオペレータに告知するように自動分析装置
を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は血清等の試料を分析
するための分析装置に係わり、例えば試料中に磁性粒子
を混ぜて定量分析を行う自動分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に医療分野において、血液や尿等に
極微量にしか含まれていない特定成分の定量を行う方法
としては、例えば抗原抗体反応を利用した免疫学的測定
方法が用いられている。免疫学的測定方法の場合、例え
ばガラスビーズや所定の磁性粒子を不溶性担体として用
いて試料中の特定成分に対する抗体または抗原を固相化
した試薬を用いる方法がある。その測定手順はおよそ次
のように行う。最初に試料と抗原または抗体を固相化し
た不溶性担体を所定の容器中で混合させ、所定時間反応
させる(第一次反応)。この第一次反応の後、反応液を
吸引し、これによって固相体と結合しているもの(即ち
Bound)と結合していないもの(即ちFree)のうち、固
相化された抗体または抗原と反応していない物質(Free
成分)が除去されて、反応した物質(Bound成分)のみ
が容器中に残される。この様な動作は所謂「BF分離」
と呼ばれ、固相体と結合しているBoundと結合していな
いFreeとを分離することを意味している。
【0003】不溶性担体に磁性粒子を用いる場合は、図
7(a)〜(h)に示す手順で行われる。図示の如く反応容
器の両側には磁性試薬粒子を吸着する手段としての磁石
を配し(図7(a))、この磁石によって反応容器内に磁
力を与え磁性粒子をその反応容器の所定の場所に集めて
BF分離を行うが、このとき磁性粒子等が反応容器から
流出しないように注意する(図7(b))。次に、試料中
の特定成分に対する抗体または抗原に酵素、蛍光物質ま
たは化学発光物質を標識した物質を反応溶液に加えて攪
拌動作の後、一定時間反応させる(第二次反応)(図7
(c))。そして第二次反応が終了後、BF分離を行って
試料中の特定成分と結合していない物質を除去する(図
7(d)〜(e))。その後、発色性物質、蛍光物質または
化学発光物質などのそれぞれの標識物質に応じた検出系
により特定成分の検出を行う(図7(f)〜(h)以降)。
【0004】このような測定手法において不溶性担体に
磁性粒子を用いた場合は、その担体が極く小さいために
その担体表面積と反応液量の接触面積が大きくなるの
で、短時間の分析が可能になる。しかしながら、従来こ
のBF分離を行う際には、初期に加えた磁性粒子等が反
応容器外に一部流出したり、BF分離後の攪拌が不充分
である等に起因する「攪拌不良」の発生により、磁性粒
子が反応溶液中に均一に分散されていないという状態が
起こり、その結果として、正確な分析測定データを得る
ことができない可能性があった。
【0005】BF分離後の攪拌性能を確認する一方法と
しては例えば、測定以前に反応容器に磁性粒子を分注し
たものと分注していないものを両方または一方を予め透
過光測光しておき、BF分離後の攪拌過程が終了したら
再び透過光測光過程を行う。そしてBF分離前に測定し
ておいた吸光度とBF分離後の吸光度を相互比較して、
もしその吸光度に著しい差が見られた場合には「攪拌不
良」であると判断してオペレータにアラームで知らせる
という従来技術があった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】このように従来技術で
は、BF分離後の攪拌性能の確認において、BF分離過
程の前後に得られた吸光度を相互に比較して判定してい
た。しかし実際の分析過程ではBF分離時に例えば磁性
粒子の流出等も発生する可能性もある。すなわちこの従
来の手法では得られた分析測定結果が、「磁性粒子流
出」に起因する如くの攪拌性能以外の影響を受けること
もあるので、従来の分析装置が攪拌不良のアラームを発
しても、当該オペレータにはそれが本当に攪拌不良の発
生であるかの特定はできなかった。そこで本発明の目的
は、定量分析過程におけるBF分離後の攪拌性能を確実
に検証できる方法を実現する自動分析装置を提供するこ
とにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決し目的
を達成するために、請求項に係わる本発明は次のような
手段を講じている。すなわち、例えば血液、尿等の所望
する試料と試薬を反応容器の中で反応させ、この反応過
程中の時系列上の複数の測光ポイントにおいてこの反応
容器に対し透過光測光できる機能を有し、磁性粒子を不
溶性担体として固相化された抗体または抗原と該試料中
の特定成分とを反応させ、固相化された抗体または抗原
と反応していない該試料中の特定成分以外の物質を分離
する機能(以下「BF分離」と称す)を有する自動分析
装置において、そのBF分離後の攪拌後に予め設定され
た特定の測光ポイント間における懸濁度変化量を透過光
量に基づいて算出する機能を更に備え、その懸濁度変化
量と予め設定された変化に関する所定の変化設定値とを
比較する。もしその懸濁度変化量がこの変化設定値を超
過した場合には、当該分析過程に何らかの異常が発生し
たと判断してこの異常を記録し、又はオペレータに告知
するように自動分析装置を構成する。
【0008】上記の透過光測光においては、BF分離後
の攪拌後に光源から反応容器に光を照射し、この反応容
器を透過した光を受光素子によって検出したときの第1
の測光ポイントにおける受光素子の出力値を第1透過光
量として求め、所定時間後の第2の測光ポイントにおけ
る受光素子の出力値を第2透過光量として求める。ま
た、上記の懸濁度変化量は、第2透過光量と第1透過光
量との差として算出するように自動分析装置を構成す
る。
【0009】また、上記の分析過程に何らかの異常が発
生した場合には、第2透過光量を得るために再度、透過
光量の検出をさらに所定回数繰り返した後、第1透過光
量とこの第2透過光量との差を算出し、所定の第2設定
値と比較する機能を更に有し、上記の差が第2設定値以
下の場合には「攪拌不良」と判定し、一方、上記の差が
第2設定値より大きい場合には「磁性粒子流出」と判定
してそれぞれに対応する警告情報等を出力するように本
自動分析装置を構成する。さらには、上記の懸濁度変化
量を比較する機能は、BF分離後の攪拌後に得られた第
1透過光量差が第1設定値と比較したときに、予め設定
された変化設定値と懸濁度変化量を比較して、この変化
設定値を超過した場合には、当該測定ポイントにおいて
何らかの異常が発生したと判断し、対応する測定値に付
随して所定マークを付加する機能またはアラームを出力
する機能を更に有するように自動分析装置を構成する。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら複数の
実施形態例について説明する。 (第1実施形態例)図1には、本発明に係わる第1実施
形態例としての自動分析装置の構成を概略的に示してい
る。この自動分析装置の本体1は平面図で示され、この
本体1の基台は上方から観たとき図示の如く矩形を成し
ている。すなわち、本発明の自動分析装置は、この分析
装置本体1と、この本体の動作の制御手段として所定の
制御プログラム等をメモリ21内に有する制御部20
と、これに接続して分析情報及びメッセージ等を表示出
力する表示部25、オペレータが入力指令を行うための
キー入力部26、および分析結果等をプリントアウトす
る帳表出力部27から構成されている。
【0011】詳しくは、分析装置本体1の基台上の中央
近傍を中心にして回転自在な反応テーブル2が設けら
れ、モータ4の駆動力を反時計回りに1回転−1容器分
の所定ピッチで回転駆動されるように構成されている。
また、反応テーブル2の周縁には矩形を成す多数の殆ん
ど透明な反応容器(キュベット)3が、等間隔に配設さ
れた反応容器保持孔(図示せず)に挿脱可能に保持され
ている。
【0012】一方、反応テーブル2の円周近傍の所定の
位置には数種の機構が保持された各反応容器3に対して
アクセス可能に配設されている。例えば、この反応容器
3に試料を分注するための試料分注機構7、同じく反応
容器3に試料中の被分析成分と免疫反応を起こす抗原又
は抗体が固相化された所要量の懸濁性微粒子である磁性
粒子を含む溶液を第1試薬として分注するための粒子試
薬分注機構8、同じく反応容器3に試料中の被分析成分
と免疫反応を起こすとともに発色反応を生じる標識物質
としての発色試薬を第2試薬として分注するための発色
試薬分注機構9、また被分析成分と反応していない液体
を反応容器3から除去するための洗浄部としての吸引/
吐出部10(検液吸引機構10a、洗浄液分注機構10
b、洗浄液吸引機構10c)および、反応容器3中の液
体を光学的に検出するための測光部11等が、それぞれ
所定位置に設けられている。また、磁性試薬粒子の吸着
手段としての磁石2aを有する磁力発生部12を、吸引
/吐出部10に沿って回転テーブル2の近傍に配置して
いる。
【0013】なお、測光部11には、反応容器3中の対
象物に所定の光を照射する光源部11aと、これに対峙
する位置に設けられ、その照射透過光を受ける受光部1
1bが設けられており、これによって、反応容器3内の
磁性粒子の分散や発色試薬による発色を測定するもので
ある。さらに、反応容器3内の液体を攪拌するための攪
拌機構13,14を図示の位置に配設している。
【0014】なお、制御部20を構成するCPUは、メ
モリ21内に予め格納されている制御プログラムに従っ
てこの分析装置本体1を駆動制御するが、後述の制御、
攪拌性能の確認時に用いる測光ポイントおよび、その攪
拌性能を判断する基準となる閾値等の値は、パラメータ
としてオペレータが任意にキー入力部26から選択的に
入力するか、又は適宜な値に設定することができる。ま
た、表示部25には例えば検査・分析経過やその結果を
表示出力したり、又は異常状態の発生をオペレータに音
と共に告知するためのCRT等で成る。更に、キー入力
部26からは当該自動分析装置のオペレーション等に関
する指令をキー入力するため、例えばキーボード等から
成る入力端末で構成されている。
【0015】次に、上述のメモリ21内に格納されCP
Uで起動する制御プログラムについて説明する。図2〜
図3に例示されたフローチャートに従って本第1実施形
態例の自動分析装置は次のように動作する。すなわち、
自動分析装置を起動した後にまず、サンプル分注機構7
により反応容器3に所定の分析対象であるサンプルを分
注する(S1)。粒子試薬分注機構8によって反応容器
3に所定の磁性粒子試薬を分注する(S2)。そして攪
拌機構13によってこの反応容器内の試薬と上記サンプ
ルを充分に攪拌する(S3)。
【0016】反応容器3内の透過状態を検出するため、
測光部11の光源部11aからその反応容器に所定の光
を照射する(S4)。この反応容器3を透過してきた透
過光を受光部11bで受けて検出する(S5)。
【0017】この反応容器3を磁力発生部12の位置に
搬送して、図7(a)のように磁性粒子を反応容器3の
側面に吸着させる(S6)。この吸着中に、検液を取り
出すため反応液吸引機構10aにより、図7(b)のよ
うに反応容器3から検液吸引を行う(S7)。引続きこ
の吸着中に、反応していない物質を除去するため洗浄液
分注機構10bによって反応容器に洗浄液を分注する
(S8)。この吸着の最後に、残留洗浄液の除去のため
洗浄液吸引機構10cによって洗浄に用いた洗浄液を吸
引して洗浄を終了する(S9)。ここで、洗浄を充分に
行うために、洗浄液分注機構10bに対して複数回(例
えば3〜6回)反応容器3を戻す(反応テーブル2を1
回転−2容器分移動させる)のが好ましい。
【0018】磁力発生部12を通過することで、反応容
器3への磁力吸着が解除される(S10)。次に、発色
試薬分注機構9により標識試薬を反応容器3に分注する
(S11)。そして再び、反応容器3内を攪拌機構14
により充分に攪拌する(S12)。測光部11の光源部
11aから反応容器3に光を照射する(S13)。
【0019】この反応容器3を透過してきた透過光を受
光部11bで検出して透過光量を判定用データとして
得る(S14)。ここで、この透過光量と所定の設定
値1とを比較し(S15)、仮にこの透過光量が設定値
1以下であれば、「正常」に推移していると判定して、
ステップ20(参照:図3)に移行して続く反応ステッ
プの分析を行う。
【0020】一方、この透過光量が設定値1よりも大
きければ、「何らかの異常がある」と判定して、次のス
テップS16およびS17を所定回数だけ繰り返した
後、その異常の詳しい判定を行う。すなわち、再び光源
から反応容器に光を照射し(S16)、この反応容器を
透過してきた透過光を受光素子で検出して透過光量を
判定用データとして得る(S17)という2つのステッ
プを所定回数(例えば20回)だけ繰り返す。通常、吸
引/吐出部10までの歩進の間に所定回数のデータが得
られるが、好ましくは、1回転−容器分の歩進を2周以
上行わせたり、1ヶ所又は複数ヵ所の停止位置で1回転
以上余分に回転させることにより、充分数のデータを得
るようにする。これら透過光量と透過光量の差を、
所定の設定値2と比較し(S18)、もし、この透過光
量差が設定値2よりも大きければ、「磁性粒子流出」と
判定する。
【0021】一方、この透過光量差が設定値2以下であ
れば、「攪拌不良」と判定する。そして、その異常な状
態をオペレータに告知警告のため、その状況を表わすメ
ッセージを表示部に表示出力すると共に、所望によりア
ラームを発音する(S19)。
【0022】続いて図3に示すステップS20〜S28
に進む。すなわち、ステップS20においては、続く次
の反応ステップへ移行するために、まず前述と同様に、
磁力発生部12により反応容器3に磁性粒子を吸着させ
る(S20)。
【0023】また前述と同様にして、反応容器3から液
体を吸引し(S21)、洗浄液を分注し(S22)、洗
浄後にはこの洗浄液を吸引する(S23)。そして再
び、光源部11aから反応容器3に光を照射し(S2
4)、この反応容器3を透過してきた透過光を受光部1
1bで検出する(S25)。そしてここで、この透過光
量と所定の設定値1とを比較し(S26)、仮にこの透
過光量が設定値1以下であれば、「正常」と判定して
(S26)、標識物質の種類に応じた公知の方法によっ
て被検体検知を行い(S27)、一連の処理ステップを
正常終了することができる。
【0024】一方、上記ステップS26の判定で、この
透過光量が設定値1よりも大きければ、「BF異常」と
判定して、その異常な状態を告知警告のため表示部に表
示出力と共に所望によりアラームを発音し(S28)、
そして異常終了する。最後に、反応容器3内の反応を測
光部11で測定した反応容器3は、反応容器交換機構5
により保持孔より抜き取られ、代わりに未使用の反応容
器3がその保持孔に挿入保持されて、次の分析へと続
く。
【0025】本発明の分析装置を使い不溶性担体に磁性
粒子を用いる反応においては、反応容器保持孔に挿入セ
ットされた反応容器3中の磁性粒子が反応溶液中に分散
しているところを光源部11aから光を当てて受光部1
1bを用いて透過光測光する。このとき磁性粒子が分散
している懸濁液では光が磁性粒子に吸収されたり乱反射
されたりするため、吸光度は通常高くなる。また、BF
分離時に反応容器に隣接してセットされた磁石などによ
り適当な磁力を与えることで磁性粒子をその反応容器の
一定の場所に集めて磁性粒子が分散しているときの吸光
度と比較すると、通常このときの吸光度は低くなる。こ
のことを利用して、試料中の特定成分を測定しようとす
る一連の反応過程においてその反応期間中に所定の測光
ポイントを決めて、その反応溶液を一定時間間隔毎に複
数ポイントの透過光測光を行う。
【0026】BF分離後の攪拌が正常にしかも充分に行
われて磁性粒子が分散されている場合は、BF分離後の
反応を行っている期間はその吸光度は安定している。し
かしBF分離後の攪拌が不充分な場合、磁力が加えてい
ないことから時間の経過と共に磁性粒子が分散されて吸
光度は時間経過に伴なって増大する。よって、攪拌過程
後の一定時間の吸光度の変化に注目してこれを確認す
る。攪拌後の一定時間当たりの吸光度変化量に関する所
定の閾値(設定値)を予めキー入力部26から入力して
おき、この閾値を満足しない場合はBF分離後の攪拌が
不充分(攪拌不良)であると判断する。また、メモリ2
1に一時記憶しておく測定値には「攪拌不良」を意味す
る記号等を付けておき、帳票出力部27からのリスト上
にも印字する。さらに所望によれば、表示部25にメッ
セージを表示するかアラームを発音してもよい。
【0027】このように、アラームまたは表示部のメッ
セージ表示に基づいて分析作業を担当するオペレータは
適宜な対応をすることができる。例えば、この自動分析
装置の運用・操作上の不具合の場合は、適宜にその不具
合状態を知らせ、再度正しい適切な操作を促す。その
他、当該装置自体の不具合(故障等)の場合には随時サ
ービスマン等を呼ぶことになる。
【0028】ここで図4〜図6のグラフを示し、吸光度
の時間経過に伴なう変化を基に説明する。これらのグラ
フは、反応経過について反応過程中に反応容器3が測光
部11を通過する毎に測光した吸光度の値を時系列にお
ける測定タイミングに対応する測光ポイントに添ってそ
の吸光度の変化をプロットした帳票の一例である。なお
ここで言う「測光ポイント」の1ポイントとは、約15
Sec. のオーダーの時間であると仮定する。
【0029】最初に磁性粒子を担体として試料を加えて
攪拌した後から吸光度のレベルを測定してプロットする
と、磁力吸着工程(S6)の直前付近で測定した測光ポ
イント1で吸光度1.4であることが解る。一定時間反
応させてからBF分離を行うが、図4のグラフの変化に
よれば、測光ポイント4近傍からBF分離のために反応
容器に対して磁石で磁力をかけて、この反応容器の一定
の場所に磁性粒子を集めている。なお、実際にBF分離
を行うのは、磁性粒子が反応容器の一定の場所に集ま
り、吸光度がほぼ0付近に低下し(即ち、反応容器内が
殆んど透明になった)場合である。
【0030】次に、グラフ中の測光ポイント17〜18
では吸光度が急激に増大してほぼ最初の攪拌時直後の吸
光度レベル(1.4)まで戻っているが、これはBF分
離後の標識試薬の分注とその直後の再攪拌によって磁性
粒子が再び容器内に急速に分散されたことに起因する。
このような状態変化を「正常」な反応過程とみなし、再
攪拌が正常に行われて磁性粒子が最初と同じ量で且つ同
じ分散状態に戻ったことを意味する。よって、この直後
からは続く第二次反応のステップへと進むことになる。
詳しくは、図4のグラフが示す如く攪拌に不具合が発生
していない通常(正常)の場合には、分散開始直後である
測光ポイント18と攪拌後の所要時間経過後である測光
ポイント50の吸光度差はおよそ0.0334である。
【0031】また図5のグラフには、BF分離後の再攪
拌に不具合が生じた場合の吸光度変化を例示している。
このグラフから解るように、BF分離後の所謂「攪拌不
良」が発生している場合、測光ポイント17〜18で吸
光度は上昇していくが、最初のレベル(1.4)までは
直ちには戻らず、測光ポイント19〜50以上の時間を
かけて徐々にその最初の吸光度レベルに近づく。またこ
の例の場合、詳しくは、測光ポイント18と測光ポイン
ト50の吸光度差はおよそ0.2943である。
【0032】本発明の第1実施形態例が、攪拌性能を間
違いなく判断するだけでよい場合としたときの判断基準
となる第2設定値のための閾値は、「攪拌不良」の無い
場合(図4)の吸光度差と、攪拌不良が発生した場合
(図5)の吸光度差の間に設定すればよい。測定中の試
料において、測光ポイント18と測光ポイント50の吸
光度差がその閾値以上である場合にはBF分離後の「攪
拌不良が発生した」と判断して、その旨を表わすメッセ
ージを表示すると共に所望によりアラームを鳴らしてそ
の状況を告知する。
【0033】(作用効果1)このように本第1実施形態
例によれば、BF分離後の攪拌性能の確認(即ち攪拌不
良の発生の有無の確認)を確実に行うことができる。そ
して分析作業を担当するオペレータは、その所定のアラ
ームの音または表示部のメッセージ表示に基づき、適宜
な対応をすることができる。その発生は表示出力やアラ
ーム発音によりリアルタイムに知ることが可能となるの
で、運用上の分析作業の効率化も図られる。
【0034】また、攪拌性能の確認時に用いる測光ポイ
ントおよび、攪拌性能を判断するための閾値はパラメー
タとしてオペレータが任意に設定可能なので、分析対象
およびその分析形態に対応する広い自由度を提供でき
る。
【0035】(第2実施形態例)次に、本発明に係わる
第2実施形態例について説明する。ただし本実施形態例
の自動分析装置は、第1実施形態例で詳説した構成のも
のと実質的に同じであるので説明は省略する。第2実施
形態例の特徴は、その制御部20の制御方法とこれに関
連する設定値にも特徴がある。すなわち、制御部のメモ
リ中に格納された制御プログラムの制御手順において次
のような動作上の特徴を有している。この特徴について
は図4〜図6のグラフを参照しながら以下に説明する。
【0036】図6に示すグラフは、BF分離時に磁性粒
子流出が発生したときの吸光度変化量の推移を表わして
いる。測光ポイント1の吸光度と測光ポイント18の吸
光度差を比較すると、前述した如く通常の反応の場合
(図4)の測光ポイント1と測光ポイント18の吸光度
差は0.0326である。一方、BF分離後の攪拌に不
具合が発生した場合(図5)の測光ポイント1と測光ポ
イント18の吸光度差は0.4856であることが解
る。
【0037】本第2実施形態例ではさらに、BF分離時
に磁性粒子流出が発生した場合(図6)を判定できる
が、このグラフ上では測光ポイント1と測光ポイント1
8の吸光度差は0.3995である。本発明の第2実施
形態例においては、測光ポイント1と測光ポイント18
の吸光度差と比較する第1設定値のための閾値を、「通
常の反応とBF分離後の攪拌に不具合が生じた場合」ま
たは「BF分離時に磁性粒子流出が発生した場合」のそ
れぞれの吸光度差の間に設定している。そして測光ポイ
ント1と測光ポイント18の吸光度差が閾値から外れた
場合には、分析過程における「BF分離に何らかの不具
合が発生した」と判断する。
【0038】次に、BF分離時に「何らかの」不具合が
発生したと判断した場合のみ、測光ポイント18と測光
ポイント50の吸光度差を比較する(参照、図2のS1
5〜S19)。なお、磁性粒子流出の発生は前述した図
2中のステップS18における第1透過光量()と第
2透過光量()の差(即ち透過光量差)と、予め設定
されていた設定値2との大小比較により行うが、透過光
量差が閾値として設定された第2設定値(設定値2)よ
り大きい場合を「磁性粒子流出」とみなすように制御プ
ログラムが作られている。
【0039】また図6のグラフからも解るように、BF
分離時に「磁性粒子流出」が発生した場合にはBF分離
前と比較しBF分離後の吸光度は下がり、その後の時間
経過によっても初期のレベルよりも下がったレベル(約
1.0)のままである故に、測光ポイント18と測光ポ
イント50の吸光度差はほぼ0.0125であることが
解る。
【0040】BF分離後の攪拌に不具合が発生した場合
(図5)の測光ポイント18と測光ポイント50の吸光
度差は0.2943であるので、BF分離時に磁性粒子
が流出した場合(図6)の吸光度差とBF分離後の「攪
拌不良」が発生した場合(図5)の吸光度差のそれぞれ
の値の間に第2設定値のための閾値を設定している。よ
って本第2実施形態例においては、測光ポイント18と
測光ポイント50の吸光度差がその閾値以上の場合は、
BF分離後の「攪拌不良」が発生したと判断し、また測
光ポイント18と測光ポイント50の吸光度差が閾値よ
り小さい場合はBF分離時に「磁性粒子流出」が発生し
たと判断している。その際、逐次プロットした測定結果
には所定記号(マーク)を付記して記録しておきオペレー
タのための分析過程の記録データとする。
【0041】(作用効果2)このように本第2実施形態
例によれば、BF分離後の攪拌性能の確認(例えば攪拌
不良の有無の確認)のみならず、BF分離時の磁性粒子
の流出の確認をも正確に行うことができる。なお、その
他にも前述の第1実施形態例と同様な作用効果が得られ
る。また、BF分離後の攪拌性能、特に「磁性粒子流
出」に関する閾値、即ち第2設定値(設定値2)等の設
定は、この自動分析装置を用いるオペレータが任意にキ
ー入力部から選択的または任意な値を設定することがで
きるので、様々な分析対象および分析形態にも適宜に対
応できること言うまでもない。
【0042】(その他の変形例)なお、本発明は前述し
た各実施形態例の他にも、本発明の要旨を逸脱しない範
囲で種々の変形実施が可能である。例えば、第1実施形
態例において「攪拌不良」の判定またはアラーム発生の
回数をカウントし、連続的に複数回カウントされたとき
には自動的に装置を停止するか、異なる音色、音量等の
アラームを発生するようにして対処を促すようにするの
が好ましい。
【0043】また、第2実施形態において、「磁性粒子
流出」は、サンプルや試薬の組合せによって不規則に発
生し得るので、「磁性粒子流出」と判定されても分析を
継続し、対応する測定データに対して判定表示を付与し
て、適宜、再検査実行するように自動分析装置を制御し
たり、オペレータに注意を促すのが好ましい。また、上
記実施形態において、3個以上の吸光度差を用いて、閾
値及び/又は判定用データを得てもよく、吸光度差の代
わりに変化率を求めてもよい。また、第2実施形態にお
いて、攪拌不良と磁性粒子の流出の両方が発生する場合
を考慮して、複数の吸光度差を総合的に判断したり、吸
光度の絶対値を加味するようにしてもよい。
【0044】また、例示した自動分析装置本体に係わる
各部位の形状・寸法ならびに測定ポイントや吸光度差に
関する閾値(設定値)等は、使用する反応容器、試薬、磁
性粒子、サンプル等の種類や温度および反応速度等に応
じて種々の変更と設定が可能である。また、抗原抗体反
応による免疫学的測定方法以外にも、磁性粒子に核酸や
酵素等の生体物質と固相化した遺伝学的測定ないし生化
学測定にも応用可能である。
【0045】また、本発明における自動分析装置(例え
ば、反応テーブルの駆動方式や磁力発生部の構成、各処
理部のポジション等)とその他の関連装置との組合せ
や、使用する制御部およびその周辺端末装置の構成およ
び機能は、例示したものに限らず運用形態および必要に
応じて任意に変形することで更に運用上便利に実施でき
る(特開昭61−76957、特開昭62−11946
0、特開昭62−148858、特開平6−16040
1、特開平8−178931、特開平9−325148
等参照)。更に、本発明の要旨を他の分野(例えば、生
化学、遺伝学)の分析装置へ応用することも可能であ
る。
【0046】
【発明の効果】以上、複数の実施形態例および変形例に
基づく説明の如く、本発明の自動分析装置によれば次の
ような効果が得られる。不溶性担体に磁性粒子を用いて
いる反応系において、BF分離後の攪拌性能を確実に検
証できることによって、測定データ自身の信頼性を向上
させることができる。つまり、従来、攪拌後の吸光度の
値の1つを反応パラメータに使うことではBF分離時の
「磁性粒子流出」と「攪拌不良」を区別できなかった
が、本発明により例えば吸光度変化量(吸光度差)を判
断のパラメータに使うことによって確実にBF分離時の
磁性粒子流出と攪拌不良を区別できる。以上述べたよう
に、本発明によれば定量分析過程におけるBF分離後の
攪拌性能を確実な検証ができる方法を実現する自動分析
装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は、本発明の実施形態例としての自動分
析装置の概要構成を示す構成図。
【図2】 図2は、本発明の自動分析装置の動作制御を
示すフローチャート。
【図3】 図3は、図2のフローチャートの続きを示す
フローチャート。
【図4】 図4は、反応過程における吸光度変化を示す
グラフ。
【図5】 図5は、BF分離後の攪拌に不具合のある場
合の吸光度変化を示すグラフ。
【図6】 図6は、BF分離時に磁性粒子流出が発生し
たときの吸光度変化を示すグラフ。
【図7】 図7(a)〜(h)は、分析に係わる分注過程を
概略的に示す説明図。
【符号の説明】
1…自動分析装置本体、 2…反応テーブル、 3…反応容器、 4…モータ、 5…反応容器交換機構、 7…試料分注機構、 8…磁性粒子試薬分注機構、 9…標識試薬分注機構、 10…吸引/吐出部 10a…検液吸引機構、 10b…洗浄液分注機構、 10c…洗浄液吸引機構 11…測光部、 11a…光源部、 11b…受光部、 12…磁力発生部、 12a…磁石、 13,14…攪拌機構、 20…制御部(CPU、メモリ等)、 25…表示部(CRT)、 26…キー入力部(キーボード)、 27…帳表出力部(プリンタ)、 28…攪拌機構。 S1〜S28…分析過程の処理ステップ。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所望する試料と試薬を反応容器の中で反
    応させ、この反応過程中の時系列上の複数の測光ポイン
    トにおいて前記反応容器に対し透過光測光する機能を有
    し、磁性粒子を不溶性担体として固相化された抗体また
    は抗原と該試料中の特定成分とを反応させ、固相化され
    た抗体または抗原と反応していない該試料中の特定成分
    以外の物質を分離する(即ちBF分離)機能を有する自
    動分析装置において、 前記BF分離後の攪拌後に予め設定された特定の測光ポ
    イント間における懸濁度変化量を透過光量に基づいて算
    出する機能を更に有し、 前記懸濁度変化量と予め設定された変化に関する所定の
    変化設定値とを比較したとき、前記懸濁度変化量がこの
    変化設定値を超過した場合には、当該分析過程に何らか
    の異常が発生したと判断してこのことを記録または告知
    することを特徴とする自動分析装置。
  2. 【請求項2】 前記透過光測光において、BF分離後の
    攪拌後に光源から前記反応容器に光を照射し、前記反応
    容器を透過した光を受光素子によって検出したときの第
    1の測光ポイントにおける前記受光素子の出力値を第1
    透過光量として求め、所定時間後の第2の測光ポイント
    の前記受光素子の出力値を第2透過光量として求め、 前記懸濁度変化量は、前記第2透過光量と前記第1透過
    光量との差であることを特徴とする、請求項1に記載の
    自動分析装置。
  3. 【請求項3】 前記分析過程に何らかの異常が発生した
    場合、前記第2透過光量を得るために再度、透過光量の
    検出をさらに所定回数繰り返した後、前記第1透過光量
    と前記第2透過光量との差を算出し、所定の第2設定値
    と比較する機能を有し、 前記差が前記第2設定値以下の場合には攪拌不良と判定
    し、前記差が前記第2設定値より大きい場合には磁性粒
    子流出と判定して、それぞれに対応する警告情報を出力
    することを特徴とする、請求項2に記載の自動分析装
    置。
  4. 【請求項4】 前記懸濁度変化量を比較する機能は、 BF分離後の攪拌後に得られた第1透過光量差が前記第
    1設定値と比較したとき、予め設定された変化設定値と
    前記懸濁度変化量を比較し、この変化設定値を超過した
    場合には、当該測定ポイントにおいて何らかの異常が発
    生したと判断して、当該測定値に付随して所定マークを
    付加する機能またはアラームを出力する機能を更に有す
    ることを特徴とする、請求項2に記載の自動分析装置。
JP07672799A 1998-03-19 1999-03-19 自動分析装置 Expired - Fee Related JP4043132B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP07672799A JP4043132B2 (ja) 1998-03-19 1999-03-19 自動分析装置

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7083998 1998-03-19
JP10-70839 1998-03-19
JP07672799A JP4043132B2 (ja) 1998-03-19 1999-03-19 自動分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11326334A true JPH11326334A (ja) 1999-11-26
JP4043132B2 JP4043132B2 (ja) 2008-02-06

Family

ID=26411966

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP07672799A Expired - Fee Related JP4043132B2 (ja) 1998-03-19 1999-03-19 自動分析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4043132B2 (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008501980A (ja) * 2004-06-08 2008-01-24 バイオキット, エセ.アー. 磁性粒子を収集するためのテーパー状のキュベットおよび方法
JP2009168636A (ja) * 2008-01-16 2009-07-30 Ortho Clinical Diagnostics Kk 検査装置
EP2103946A2 (en) 2008-03-17 2009-09-23 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer
JP2009247355A (ja) * 2008-04-08 2009-10-29 F Hoffmann-La Roche Ag 分析処理および検出装置
WO2010086942A1 (ja) * 2009-01-29 2010-08-05 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP2013032992A (ja) * 2011-08-02 2013-02-14 Eiken Chemical Co Ltd 免疫測定装置、免疫測定法、免疫測定プログラム
CN103765214A (zh) * 2012-08-31 2014-04-30 株式会社东芝 检测体检查装置
JP2014122826A (ja) * 2012-12-21 2014-07-03 Hitachi High-Technologies Corp 磁性粒子の分離方法および当該方法を使用する自動分析装置
US20150010435A1 (en) * 2013-07-05 2015-01-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Automatic analyzer
JP2016136155A (ja) * 2010-06-15 2016-07-28 エフ.ホフマン−ラ ロシュ アーゲーF. Hoffmann−La Roche Aktiengesellschaft 混合段階及び分離段階の光学的な監視方法
JP2019148558A (ja) * 2018-02-28 2019-09-05 シスメックス株式会社 免疫測定装置の状態確認方法および免疫測定装置
JP2021117191A (ja) * 2020-01-29 2021-08-10 日本電子株式会社 自動分析装置及び反応異常判定方法
WO2023013344A1 (ja) * 2021-08-03 2023-02-09 株式会社日立ハイテク 化学分析装置

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008501980A (ja) * 2004-06-08 2008-01-24 バイオキット, エセ.アー. 磁性粒子を収集するためのテーパー状のキュベットおよび方法
JP2009168636A (ja) * 2008-01-16 2009-07-30 Ortho Clinical Diagnostics Kk 検査装置
EP2103946A2 (en) 2008-03-17 2009-09-23 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer
JP2009247355A (ja) * 2008-04-08 2009-10-29 F Hoffmann-La Roche Ag 分析処理および検出装置
WO2010086942A1 (ja) * 2009-01-29 2010-08-05 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
US8741218B2 (en) 2009-01-29 2014-06-03 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer
JP2016136155A (ja) * 2010-06-15 2016-07-28 エフ.ホフマン−ラ ロシュ アーゲーF. Hoffmann−La Roche Aktiengesellschaft 混合段階及び分離段階の光学的な監視方法
JP2013032992A (ja) * 2011-08-02 2013-02-14 Eiken Chemical Co Ltd 免疫測定装置、免疫測定法、免疫測定プログラム
US9470700B2 (en) 2012-08-31 2016-10-18 Toshiba Medical Systems Corporation Automatic analyzer
CN103765214A (zh) * 2012-08-31 2014-04-30 株式会社东芝 检测体检查装置
JP2014122826A (ja) * 2012-12-21 2014-07-03 Hitachi High-Technologies Corp 磁性粒子の分離方法および当該方法を使用する自動分析装置
US20150010435A1 (en) * 2013-07-05 2015-01-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Automatic analyzer
CN104280562A (zh) * 2013-07-05 2015-01-14 株式会社东芝 自动分析装置
US9945880B2 (en) * 2013-07-05 2018-04-17 Toshiba Medical Systems Corporation Automatic analyzer
JP2019148558A (ja) * 2018-02-28 2019-09-05 シスメックス株式会社 免疫測定装置の状態確認方法および免疫測定装置
JP2021117191A (ja) * 2020-01-29 2021-08-10 日本電子株式会社 自動分析装置及び反応異常判定方法
WO2023013344A1 (ja) * 2021-08-03 2023-02-09 株式会社日立ハイテク 化学分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP4043132B2 (ja) 2008-02-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2040081B1 (en) Sample analyzer and error information displaying method
JP2656564B2 (ja) 免疫分析方法
JP5329293B2 (ja) 遠心分離サイクル中の凝集評価を事前に提供するための少なくとも1つのイメージャーを有する免疫診断検査装置
JP4349893B2 (ja) 自動分析装置及び自動分析装置の分析方法
JP4043132B2 (ja) 自動分析装置
JP5183457B2 (ja) 自動分析装置、その支援システム
JP6636047B2 (ja) 自動分析装置及びその制御方法
EP2667182B1 (en) Automatic analysis device taking into account thermal drift
US9213037B2 (en) Sample analyzer and sample analyzing method
US6635488B1 (en) Automated analyzer and automated analysis
JPH04130248A (ja) 自動分析装置
US8900876B2 (en) Abnormality-identifying method and analyzer
EP2530469A1 (en) Automatic analyzer
JPH0580059A (ja) 自動分析装置
EP3149475B1 (en) Method and apparatus for reducing carryover of reagents and samples in analytical testing
WO2014077219A1 (ja) 自動分析装置
JP3670383B2 (ja) 分析装置および分析方法
JP2002311034A (ja) 免疫分析装置及び免疫分析方法
JP5271929B2 (ja) 自動分析装置
JPH06265554A (ja) 血液生化学成分の分析方法およびその装置
JP2009281802A (ja) 自動分析装置および検体検索システム
EP3892999B1 (en) Automatic analysis device
JPH0886784A (ja) 自動分析装置
JPS63200066A (ja) 自動化学分析装置
JP3920448B2 (ja) プロゾーン現象判定方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060317

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070727

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070807

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071005

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20071106

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20071113

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101122

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101122

Year of fee payment: 3

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101122

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111122

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121122

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131122

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees