JPH06160444A - 低周波信号測定装置 - Google Patents
低周波信号測定装置Info
- Publication number
- JPH06160444A JPH06160444A JP31308192A JP31308192A JPH06160444A JP H06160444 A JPH06160444 A JP H06160444A JP 31308192 A JP31308192 A JP 31308192A JP 31308192 A JP31308192 A JP 31308192A JP H06160444 A JPH06160444 A JP H06160444A
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- measurement data
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 先の測定データに続いて測定した新たな測定
データ及び過去の測定データと、続いて測定した種類の
異なる測定条件での今回の新たな測定データとを容易か
つ確実に比較できるようにする。 【構成】 表示回路１、表示データ変換回路２、主記憶
部３、測定部４、制御部５、外部記憶制御部６、表示装
置７、プリンタ制御部８、外部記憶装置９、操作部１
０、プリンタ１１を有する。外部記憶装置９に記憶され
た測定条件と異なる種類の測定条件での新たな測定を実
行し、この新たな測定条件で得られた新たな測定データ
を、外部記憶装置９で記憶した先の測定データとともに
表示装置７で重ね合わせて表示し、さらにプリンタ１１
で印字した記録用紙を出力する。
データ及び過去の測定データと、続いて測定した種類の
異なる測定条件での今回の新たな測定データとを容易か
つ確実に比較できるようにする。 【構成】 表示回路１、表示データ変換回路２、主記憶
部３、測定部４、制御部５、外部記憶制御部６、表示装
置７、プリンタ制御部８、外部記憶装置９、操作部１
０、プリンタ１１を有する。外部記憶装置９に記憶され
た測定条件と異なる種類の測定条件での新たな測定を実
行し、この新たな測定条件で得られた新たな測定データ
を、外部記憶装置９で記憶した先の測定データとともに
表示装置７で重ね合わせて表示し、さらにプリンタ１１
で印字した記録用紙を出力する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、数百キロヘルツ以下な
どの低周波の交流信号のひずみ率、レベル周波数、スペ
クトラム等を測定する低周波信号測定装置に関する。
どの低周波の交流信号のひずみ率、レベル周波数、スペ
クトラム等を測定する低周波信号測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図５は、測定結果を保存する従来の低周
波信号測定装置と測定データ記録用紙を示している。図
５において、４１は低周波信号測定装置であり、測定条
件を変更しながらひずみ率、レベル周波数、スペクトラ
ム等の諸特性を測定する。４２はＧＰ−ＩＢなどの低周
波信号測定装置４１に接続される外部出力信号線、４３
はプロッタであり、外部出力信号線４２と接続されてい
る。４４は被測定物（機器）、４５はグラフ軸に測定デ
ータをプロットした記録用紙であり、プロッタ４３から
出力される。
波信号測定装置と測定データ記録用紙を示している。図
５において、４１は低周波信号測定装置であり、測定条
件を変更しながらひずみ率、レベル周波数、スペクトラ
ム等の諸特性を測定する。４２はＧＰ−ＩＢなどの低周
波信号測定装置４１に接続される外部出力信号線、４３
はプロッタであり、外部出力信号線４２と接続されてい
る。４４は被測定物（機器）、４５はグラフ軸に測定デ
ータをプロットした記録用紙であり、プロッタ４３から
出力される。
【０００３】次に、この従来例の構成における動作につ
いて説明する。測定を開始すると、まず外部出力信号線
４２を通じてプロッタ４３を制御し、記録用紙４５にグ
ラフ軸をプロットする。その後、低周波信号測定装置４
１が予め設定された測定ポイントデータに基づいて測定
を開始する。低周波信号測定装置４１で測定結果が得ら
れるごとに外部出力信号線４２からプロット４３へ信号
を出力して図５中の記録用紙４５にグラフ軸と測定デー
タを順次プロットする。これによって複数の測定データ
が記録用紙４５に記録される。
いて説明する。測定を開始すると、まず外部出力信号線
４２を通じてプロッタ４３を制御し、記録用紙４５にグ
ラフ軸をプロットする。その後、低周波信号測定装置４
１が予め設定された測定ポイントデータに基づいて測定
を開始する。低周波信号測定装置４１で測定結果が得ら
れるごとに外部出力信号線４２からプロット４３へ信号
を出力して図５中の記録用紙４５にグラフ軸と測定デー
タを順次プロットする。これによって複数の測定データ
が記録用紙４５に記録される。
【０００４】この記録後に測定条件を変更して測定を再
度行う場合は、記録用紙４５にプロットされたグラフ軸
のモードで再度測定を実行する。すなわち、再度設定さ
れた測定ポイントに基づいて順次測定し、前回のグラフ
軸に重ねて新しい測定データをプロットする。このよう
にして、従来の低周波信号測定装置でも複数の測定デー
タを１枚の記録用紙上に記録して、二つの測定データを
比較することが出来る。
度行う場合は、記録用紙４５にプロットされたグラフ軸
のモードで再度測定を実行する。すなわち、再度設定さ
れた測定ポイントに基づいて順次測定し、前回のグラフ
軸に重ねて新しい測定データをプロットする。このよう
にして、従来の低周波信号測定装置でも複数の測定デー
タを１枚の記録用紙上に記録して、二つの測定データを
比較することが出来る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来例
の低周波信号測定装置では、プロッタ４３に外部出力信
号線４２を通じてデータを送出してプロッタ４３を通じ
て記録用紙４５上に記録する。この場合、レベルと位相
のような２種類の異なる測定データを記録用紙４５に重
ね書き出来ないという問題があった。さらに、記憶かつ
読み出した過去の測定データとともに、新たに測定した
測定データをプロッタ４３で重ね書きして比較できない
という問題があった。
の低周波信号測定装置では、プロッタ４３に外部出力信
号線４２を通じてデータを送出してプロッタ４３を通じ
て記録用紙４５上に記録する。この場合、レベルと位相
のような２種類の異なる測定データを記録用紙４５に重
ね書き出来ないという問題があった。さらに、記憶かつ
読み出した過去の測定データとともに、新たに測定した
測定データをプロッタ４３で重ね書きして比較できない
という問題があった。
【０００６】本発明はこのような、従来の問題を解決す
るものであり、第１の目的として、先の測定データと、
続いて測定した種類の異なる測定条件での新たな測定デ
ータとを容易に比較できる優れた低周波信号測定装置を
提供する。
るものであり、第１の目的として、先の測定データと、
続いて測定した種類の異なる測定条件での新たな測定デ
ータとを容易に比較できる優れた低周波信号測定装置を
提供する。
【０００７】第２の目的として、過去の測定データと、
続いて任意の時に測定した種類の異なる測定条件での今
回の新たな測定データとを容易に比較できる優れた低周
波信号測定装置を提供する。
続いて任意の時に測定した種類の異なる測定条件での今
回の新たな測定データとを容易に比較できる優れた低周
波信号測定装置を提供する。
【０００８】第３の目的として、連続して測定した測定
データ及び過去と今回の種類の異なる新たな測定条件で
測定した測定データを保存できるとともに、これらの測
定データを容易かつ確実に比較できる優れた低周波信号
測定装置を提供する。
データ及び過去と今回の種類の異なる新たな測定条件で
測定した測定データを保存できるとともに、これらの測
定データを容易かつ確実に比較できる優れた低周波信号
測定装置を提供する。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、低周波信号を測定した測定データを得る測定手段
と、測定した一連の複数のデータ及び測定条件を一時的
に記憶する記憶手段と、記憶手段で記憶した複数のデー
タ及び測定条件を表示する表示手段とを備え、記憶手段
に記憶された測定条件と異なる測定条件での測定を実行
し、この新たな測定条件で得られた新たな測定データ
を、記憶手段で記憶した先の測定データとともに表示手
段で重ね合わせて表示するようにしたものである。
に、低周波信号を測定した測定データを得る測定手段
と、測定した一連の複数のデータ及び測定条件を一時的
に記憶する記憶手段と、記憶手段で記憶した複数のデー
タ及び測定条件を表示する表示手段とを備え、記憶手段
に記憶された測定条件と異なる測定条件での測定を実行
し、この新たな測定条件で得られた新たな測定データ
を、記憶手段で記憶した先の測定データとともに表示手
段で重ね合わせて表示するようにしたものである。
【００１０】さらに、上記構成に加え、新たな複数のデ
ータ及び測定条件を一時的に記憶する他の記憶手段と、
他の記憶手段から複数のデータ及び測定条件を読み出す
読み出し手段と、他の記憶手段から読み出し手段で読み
出した測定データ及び測定条件と異なる測定条件で測定
手段を通じて測定した複数のデータ及び測定条件を表示
手段で表示するとともに、他の記憶手段で記憶するよう
にしたものである。
ータ及び測定条件を一時的に記憶する他の記憶手段と、
他の記憶手段から複数のデータ及び測定条件を読み出す
読み出し手段と、他の記憶手段から読み出し手段で読み
出した測定データ及び測定条件と異なる測定条件で測定
手段を通じて測定した複数のデータ及び測定条件を表示
手段で表示するとともに、他の記憶手段で記憶するよう
にしたものである。
【００１１】また、上記構成に加え、新たな測定データ
と先の測定データとを重ね合わせて印字した印字用紙を
出力する印字手段とを備えるようにしたものである。
と先の測定データとを重ね合わせて印字した印字用紙を
出力する印字手段とを備えるようにしたものである。
【００１２】
【作用】したがって、上記構成では、一時的に記憶され
た測定条件と関連した異なる測定条件での測定を続いて
実行し、この新たな測定条件で得られた新たな測定デー
タを先の測定データとともに重ね合わせて表示している
ので、先の測定データと、続いて測定した種類の異なる
測定条件での新たな測定データとを容易に比較できる。
た測定条件と関連した異なる測定条件での測定を続いて
実行し、この新たな測定条件で得られた新たな測定デー
タを先の測定データとともに重ね合わせて表示している
ので、先の測定データと、続いて測定した種類の異なる
測定条件での新たな測定データとを容易に比較できる。
【００１３】さらに、過去の測定データと、続いて任意
時に測定した種類の異なる測定条件での今回の新たな測
定データとを容易に比較できる。
時に測定した種類の異なる測定条件での今回の新たな測
定データとを容易に比較できる。
【００１４】さらに、測定した測定データとを重ね合わ
せて印字した印字用紙を出力しているので、先の測定デ
ータに続いて測定した新たな測定データ及び過去の測定
データと、続いて測定した種類の異なる測定条件での今
回の新たな測定データを保存できるとともに、これらの
測定データを容易かつ確実に比較できる。
せて印字した印字用紙を出力しているので、先の測定デ
ータに続いて測定した新たな測定データ及び過去の測定
データと、続いて測定した種類の異なる測定条件での今
回の新たな測定データを保存できるとともに、これらの
測定データを容易かつ確実に比較できる。
【００１５】
【実施例】以下、本発明の低周波信号測定装置の実施例
を図面を参照して詳細に説明する。図１は、本発明の低
周波信号測定装置における実施例の構成を示している。
図１において、１は表示回路、２は表示データ変換回
路、３は主記憶部、４は測定部、５はこの装置の各部を
制御する制御部である。６は外部記憶制御部、７はＣＲ
Ｔなどの表示装置、８はプリンタ制御部、９はフロッピ
ーディスクやハードディスクなどに記憶を行う外部記憶
装置、１０はパネルキーなどを備えた操作部、１１はプ
リンタである。
を図面を参照して詳細に説明する。図１は、本発明の低
周波信号測定装置における実施例の構成を示している。
図１において、１は表示回路、２は表示データ変換回
路、３は主記憶部、４は測定部、５はこの装置の各部を
制御する制御部である。６は外部記憶制御部、７はＣＲ
Ｔなどの表示装置、８はプリンタ制御部、９はフロッピ
ーディスクやハードディスクなどに記憶を行う外部記憶
装置、１０はパネルキーなどを備えた操作部、１１はプ
リンタである。
【００１６】表示回路１では、表示データ変換回路２で
変換されたデータを表示装置７で表示する形式に変換す
る。表示データ変換回路２は、主記憶部３のデータを設
定条件に基づいてグラフ軸データの形式に変換する。主
記憶部３では、測定部４からの測定データ、測定条件及
び制御部５からの制御情報及び外部記憶制御部６からの
一連のデータを一時的に保存する。測定部４は、制御部
５の制御指定に従って測定条件を変更しながら測定を行
い、その測定データを主記憶３へ送出する。制御部５
は、外部記憶装置９、主記憶部３、測定部４の制御を行
う。外部記憶制御部６は、外部記憶装置９での測定デー
タの記憶、保存又は記憶した測定データの再生の制御を
行う。
変換されたデータを表示装置７で表示する形式に変換す
る。表示データ変換回路２は、主記憶部３のデータを設
定条件に基づいてグラフ軸データの形式に変換する。主
記憶部３では、測定部４からの測定データ、測定条件及
び制御部５からの制御情報及び外部記憶制御部６からの
一連のデータを一時的に保存する。測定部４は、制御部
５の制御指定に従って測定条件を変更しながら測定を行
い、その測定データを主記憶３へ送出する。制御部５
は、外部記憶装置９、主記憶部３、測定部４の制御を行
う。外部記憶制御部６は、外部記憶装置９での測定デー
タの記憶、保存又は記憶した測定データの再生の制御を
行う。
【００１７】次に、この実施例の構成における動作につ
いて説明する。まず測定データの表示動作について説明
する。測定指示信号Ｓａが操作部１０を通じて制御部５
に入力される。制御部５は、この測定指示信号Ｓａに基
づいて測定部４に測定開始信号Ｓｂを送出する。制御部
５は、グラフ軸の表示が初回である場合、主記憶部３に
対してグラフ軸の情報などを表示データ変換回路２に送
出するための制御指示信号Ｓｃを送出する。表示データ
変換回路２から変換したグラフ軸情報信号Ｓｄなどが表
示回路１に送出される。表示回路１から表示信号Ｓｅが
表示装置７に送出され、この表示装置７でグラフ軸など
が表示される。
いて説明する。まず測定データの表示動作について説明
する。測定指示信号Ｓａが操作部１０を通じて制御部５
に入力される。制御部５は、この測定指示信号Ｓａに基
づいて測定部４に測定開始信号Ｓｂを送出する。制御部
５は、グラフ軸の表示が初回である場合、主記憶部３に
対してグラフ軸の情報などを表示データ変換回路２に送
出するための制御指示信号Ｓｃを送出する。表示データ
変換回路２から変換したグラフ軸情報信号Ｓｄなどが表
示回路１に送出される。表示回路１から表示信号Ｓｅが
表示装置７に送出され、この表示装置７でグラフ軸など
が表示される。
【００１８】測定部４は、測定を行い、この測定データ
を順次主記憶部３へ送出する。主記憶部３は、送られて
きた測定データを順次測定データ領域に記憶する。測定
部４からの測定データが表示データ変換回路２へ送出さ
れる。表示データ変換回路２で変換した測定データが表
示装置７に送出され、グラフ軸として表示される。
を順次主記憶部３へ送出する。主記憶部３は、送られて
きた測定データを順次測定データ領域に記憶する。測定
部４からの測定データが表示データ変換回路２へ送出さ
れる。表示データ変換回路２で変換した測定データが表
示装置７に送出され、グラフ軸として表示される。
【００１９】図２は、この実施例における表示装置７で
表示されたグラフ軸及び測定データを示す図である。図
２において、Ｘ軸は周波数（FREQUENCY）、Ｙ軸はレス
ポンス（RESP,dB）のグラフ軸が表示され、このグラフ
軸中に測定データをプロットした測定カーブ（ｆ）が表
示されている。この表示の後、測定部４から測定終了信
号Ｓｇによって制御部５が表示された測定データ及び測
定条件を外部記憶装置９のフロッピーディスクなどに記
憶させるとともに、測定を終了する制御を行う。
表示されたグラフ軸及び測定データを示す図である。図
２において、Ｘ軸は周波数（FREQUENCY）、Ｙ軸はレス
ポンス（RESP,dB）のグラフ軸が表示され、このグラフ
軸中に測定データをプロットした測定カーブ（ｆ）が表
示されている。この表示の後、測定部４から測定終了信
号Ｓｇによって制御部５が表示された測定データ及び測
定条件を外部記憶装置９のフロッピーディスクなどに記
憶させるとともに、測定を終了する制御を行う。
【００２０】次に、重ね書きを行う場合の動作について
説明する。図３は、この重ね書きの主記憶部３における
処理状態を示している。図４は、表示装置７での重ね書
きで処理した測定データとグラフ軸を示している。
説明する。図３は、この重ね書きの主記憶部３における
処理状態を示している。図４は、表示装置７での重ね書
きで処理した測定データとグラフ軸を示している。
【００２１】図１，図２，図３，図４において、図２を
もって説明した測定条件１、測定データ１（図２中の測
定カーブ（ｆ））が外部記憶装置９野フロッピーディス
クから読み出されて主記憶部３の測定データ領域にそれ
ぞれ記憶される。操作部１０から重ね書きを指示する測
定指示信号Ｓａが制御部５に入力される。この測定指示
信号Ｓａによって制御部５は、主記憶部３に記憶された
測定条件１、測定データ１を主記憶部３内の他の測定デ
ータ領域に移動させる。この後主記憶部３で移動した他
の測定データ領域の測定条件１を表示データ変換回路２
で変換して表示装置７に送出する。表示装置７では、グ
ラフ軸の縦軸の目盛り表示が左端から右端へ移動する。
測定データは、Ｘ軸データ、Ｙ軸データがそれぞれ電圧
等の直接データとして一対で保存されており、この測定
データ１が図４に示すように新しく表示された表示装置
７上のグラフ軸、すなわち、Ｘ軸が周波数（FREQUENC
Y）、Ｙ軸はレスポンス（RESP,dB）のグラフ軸上に再プ
ロット（ｆ）される。次に制御部５は、新しい測定条件
２と前回の測定条件１との整合性を調べる。これによっ
て設定された測定条件に基づいて表示データ変換回路２
を通じて表示装置７にグラフ軸中の縦軸の左端に新しい
測定条件２に基づいた目盛りである位相（phase（de
g））を表示する。この測定条件１、測定条件２の目盛
り、すなわち、Ｘ軸に周波数（FREQUENCY）、またＹ軸
にレスポンス（RESP,dB）及び位相（phase（deg））が
表示された表示装置７のグラフ軸に、測定データ１のプ
ロットが表示されるとともに、続いて測定した測定デー
タ２が新規の測定条件に基づいてプロットされ、この測
定カーブ（ｓ）が表示される。
もって説明した測定条件１、測定データ１（図２中の測
定カーブ（ｆ））が外部記憶装置９野フロッピーディス
クから読み出されて主記憶部３の測定データ領域にそれ
ぞれ記憶される。操作部１０から重ね書きを指示する測
定指示信号Ｓａが制御部５に入力される。この測定指示
信号Ｓａによって制御部５は、主記憶部３に記憶された
測定条件１、測定データ１を主記憶部３内の他の測定デ
ータ領域に移動させる。この後主記憶部３で移動した他
の測定データ領域の測定条件１を表示データ変換回路２
で変換して表示装置７に送出する。表示装置７では、グ
ラフ軸の縦軸の目盛り表示が左端から右端へ移動する。
測定データは、Ｘ軸データ、Ｙ軸データがそれぞれ電圧
等の直接データとして一対で保存されており、この測定
データ１が図４に示すように新しく表示された表示装置
７上のグラフ軸、すなわち、Ｘ軸が周波数（FREQUENC
Y）、Ｙ軸はレスポンス（RESP,dB）のグラフ軸上に再プ
ロット（ｆ）される。次に制御部５は、新しい測定条件
２と前回の測定条件１との整合性を調べる。これによっ
て設定された測定条件に基づいて表示データ変換回路２
を通じて表示装置７にグラフ軸中の縦軸の左端に新しい
測定条件２に基づいた目盛りである位相（phase（de
g））を表示する。この測定条件１、測定条件２の目盛
り、すなわち、Ｘ軸に周波数（FREQUENCY）、またＹ軸
にレスポンス（RESP,dB）及び位相（phase（deg））が
表示された表示装置７のグラフ軸に、測定データ１のプ
ロットが表示されるとともに、続いて測定した測定デー
タ２が新規の測定条件に基づいてプロットされ、この測
定カーブ（ｓ）が表示される。
【００２２】次に、測定データ１，２及び測定条件１，
２の保存について説明する。図２に示すように、測定デ
ータ１，２及び測定条件１，２のデータは、外部記憶制
御部６を通じて外部記憶装置９に送出される。この外部
記憶装置９では、フロッピーディスクなどの記憶媒体に
測定データ１，２及び測定条件１，２のデータを記憶し
て保存する。そして保存した測定データ１，２及び測定
条件１，２のデータは、操作部１０の操作及び制御部５
の制御で読み出して主記憶部３に一時的に記憶する。そ
して表示装置７で再度の測定による新たな測定データ及
び測定条件とが重ね書きして表示される。さらに再度、
外部記憶装置９のフロッピーディスクなどに記憶して保
存する。
２の保存について説明する。図２に示すように、測定デ
ータ１，２及び測定条件１，２のデータは、外部記憶制
御部６を通じて外部記憶装置９に送出される。この外部
記憶装置９では、フロッピーディスクなどの記憶媒体に
測定データ１，２及び測定条件１，２のデータを記憶し
て保存する。そして保存した測定データ１，２及び測定
条件１，２のデータは、操作部１０の操作及び制御部５
の制御で読み出して主記憶部３に一時的に記憶する。そ
して表示装置７で再度の測定による新たな測定データ及
び測定条件とが重ね書きして表示される。さらに再度、
外部記憶装置９のフロッピーディスクなどに記憶して保
存する。
【００２３】また、表示し又は記憶して保存する測定デ
ータ及び測定条件は、プリンタ制御部８を通じてプリン
タ１１記録用紙に印字して出力する。
ータ及び測定条件は、プリンタ制御部８を通じてプリン
タ１１記録用紙に印字して出力する。
【００２４】このように上記実施例では、先の測定デー
タに続いて測定した種類の異なる測定条件での新たな測
定データを表示できる。さらに過去の測定データに続い
て任意時に測定した今回の種類の異なる測定条件での新
たな測定データを容易に比較できることになる。
タに続いて測定した種類の異なる測定条件での新たな測
定データを表示できる。さらに過去の測定データに続い
て任意時に測定した今回の種類の異なる測定条件での新
たな測定データを容易に比較できることになる。
【００２５】なお、上記実施例中の外部記憶装置９に代
えてバックアップメモリなどの不揮発性メモリなどを使
用しても良い。
えてバックアップメモリなどの不揮発性メモリなどを使
用しても良い。
【００２６】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、一時的
に記憶された測定条件と、関連した異なる測定条件での
測定とを続いて実行し、この新たな測定条件で得られた
新たな測定データを先の測定データとともに重ね合わせ
て表示しているため、先の測定データと、続いて測定し
た種類の異なる測定条件での新たな測定データとを容易
に比較できるという効果を有する。
に記憶された測定条件と、関連した異なる測定条件での
測定とを続いて実行し、この新たな測定条件で得られた
新たな測定データを先の測定データとともに重ね合わせ
て表示しているため、先の測定データと、続いて測定し
た種類の異なる測定条件での新たな測定データとを容易
に比較できるという効果を有する。
【００２７】さらに、過去の測定データと、続いて任意
時に測定した今回の種類の異なる測定条件での新たな測
定データとを容易に比較できるという効果を有する。
時に測定した今回の種類の異なる測定条件での新たな測
定データとを容易に比較できるという効果を有する。
【００２８】さらに、測定した測定データとを重ね合わ
せて印字した印字用紙を出力しているため、先の測定デ
ータに続いて測定した新たな測定データ及び過去の測定
データと、続いて測定した種類の異なる測定条件での今
回の新たな測定データを保存できるとともに、コレラの
測定データを容易かつ確実に比較できるという効果を有
する。
せて印字した印字用紙を出力しているため、先の測定デ
ータに続いて測定した新たな測定データ及び過去の測定
データと、続いて測定した種類の異なる測定条件での今
回の新たな測定データを保存できるとともに、コレラの
測定データを容易かつ確実に比較できるという効果を有
する。
【図１】本発明の低周波信号測定装置における実施例の
構成を示すブロック図
構成を示すブロック図
【図２】実施例における表示部で表示された測定データ
を示すグラフ
を示すグラフ
【図３】実施例における重ね書きの主記憶部における処
理状態を示すデータ流れ図
理状態を示すデータ流れ図
【図４】実施例における表示部での重ね書きで処理した
測定データを示すグラフ
測定データを示すグラフ
【図５】従来の測定結果を保存する低周波信号測定装置
と測定データ記録用紙を示す説明図
と測定データ記録用紙を示す説明図
１ 表示回路 ２ 表示データ変換回路 ３ 主記憶部 ４ 測定部 ５ 制御部 ６ 外部記憶制御部 ７ 表示装置 ８ プリンタ制御部 ９ 外部記憶装置 １０ 操作部 １１ プリンタ Ｓａ 測定指示信号 Ｓｂ 測定開始信号 Ｓｃ 制御指示信号 Ｓｄ グラフ軸情報信号 Ｓｅ 表示信号 Ｓｇ 測定終了信号
Claims (3)
- 【請求項１】 低周波信号を測定した測定データを得る
測定手段と、測定した一連の複数のデータ及び測定条件
を一時的に記憶する記憶手段と、上記記憶手段で記憶し
た複数のデータ及び測定条件を表示する表示手段とを備
え、上記記憶手段に記憶された測定条件と異なる測定条
件での測定を実行し、この新たな測定条件で得られた新
たな測定データを、上記記憶手段で記憶した先の測定デ
ータとともに上記表示手段で重ね合わせて表示すること
を特徴とする低周波信号測定装置。 - 【請求項２】 新たな複数のデータ及び測定条件を一時
的に記憶する他の記憶手段と、上記他の記憶手段から複
数のデータ及び測定条件を読み出す読み出し手段と、上
記他の記憶手段から読み出し手段で読み出した測定デー
タ及び測定条件と異なる測定条件で測定手段を通じて測
定した複数のデータ及び測定条件を表示手段で表示する
とともに上記他の記憶手段で記憶することを特徴とする
請求項１記載の低周波信号測定装置。 - 【請求項３】 新たな測定データと先の測定データとを
重ね合わせて印字した印字用紙を出力する印字手段とを
備えることを特徴とする請求項１または請求項２記載の
低周波信号測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31308192A JPH06160444A (ja) | 1992-11-24 | 1992-11-24 | 低周波信号測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31308192A JPH06160444A (ja) | 1992-11-24 | 1992-11-24 | 低周波信号測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06160444A true JPH06160444A (ja) | 1994-06-07 |
Family
ID=18036959
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31308192A Pending JPH06160444A (ja) | 1992-11-24 | 1992-11-24 | 低周波信号測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06160444A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0217456A (ja) * | 1988-07-06 | 1990-01-22 | Hioki Ee Corp | 測定装置の波形表示方法 |
-
1992
- 1992-11-24 JP JP31308192A patent/JPH06160444A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0217456A (ja) * | 1988-07-06 | 1990-01-22 | Hioki Ee Corp | 測定装置の波形表示方法 |
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