JPH05126878A - 低周波信号測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】 低周波の信号測定において、特別な他の装置
を用いることなく、過去の測定データとの直接的な比較
測定を簡単に行える機能を持った測定装置を実現。 【構成】 測定装置にフロッピーディスクなどの外部記
憶装置８とその外部記憶装置８にデータを保存・再生す
る手段(外部記憶制御部６)と測定した一連の複数のデー
タを一時記憶する主記憶部３とそのデータを表示装置７
にグラフデータとして表示する手段(表示データ変換回
路２および表示回路１)および表示装置に設け、過去の
測定データとその測定条件を測定器上に再生表示し、そ
の条件下で新たなる測定を行うことができ、その測定し
た新しい測定データを再生したデータに重ねて表示する
ことによって、直接過去のデータを比較することができ
るようにする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、数百キロヘルツ以下の
低周波の交流信号のひずみ率やレベルの周波数特性やス
ペクトラム測定などの諸特性を測定する低周波信号測定
装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図６は従来のこの種の測定結果を保存す
る機能をもつ低周波信号測定装置の構成を示したもので
ある。図６において、31は従来の測定装置であり、測定
条件を変更しながらデータを測定する機能を有してい
る。32は測定装置の外部出力信号でありプロッタ33に接
続されている。34は被測定物である。測定を開始する
と、まず外部出力信号32によりプロッタ33を制御し、グ
ラフ軸をプロットし、その後測定装置31にあらかじめ設
定された測定ポイントデータに基づいて測定装置31は測
定を開始する。測定結果が得られる毎に外部出力信号32
からプロッタ33を制御する信号を出力してプロッタ上の
用紙にグラフと測定結果を順次プロットする。これによ
って複数の測定データを用紙上に記録することができ
る。条件を変更して続けて測定を行う場合は、グラフ軸
を記述しないモードで再度測定を実行することで、設定
されたポイントに基づいて順次測定し、前回のグラフデ
ータに重ねて新しいデータを記録することができる。こ
のようにして、何種類かの測定データを１枚の記録紙上
に記録し、各測定データを比較することができる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の測定装置では、記録する装置が直接プロッタ等の印
字装置にデータを送って記録するために、一度測定を記
録した用紙に時間をおいて重ね書きすることは、グラフ
座標の原点を合わせることが困難でありできないという
問題があった。このため、過去に測定したデータと新し
く測定したデータを直接比較し、またその結果を残すこ
とが大変難しいという問題があった。本発明はこのよう
な、従来の問題を解決するものであり、一連の複数の測
定結果をその測定条件と同時に記憶装置に保存する機能
とそれを再生する機能を持つことにより比較したい過去
の測定結果と測定条件を再生し、その再生された測定条
件に基づいてあるいは一部の条件を変更して新たな測定
を行いその測定結果を再生した過去のデータに重ねて表
示する機能を持ち、さらにその重ね書きした測定結果を
新しいデータとして保存できる機能を有し、別の装置を
用いることなく過去のデータとの直接的な比較を簡単に
行える機能を有する優れた低周波信号測定装置を提供す
ることを目的とするものである。

【０００４】

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、測定装置にフロッピーディスクなどの記憶
装置と、その記憶装置にデータを保存・再生する手段
と、測定した一連の複数のデータを一時記憶するメモリ
とそのデータを表示装置にグラフデータと表示する手段
および表示装置を設け、過去の測定データとその測定条
件を再生表示し、そのデータに重ねて新しい測定データ
を表示し、直接過去のデータと比較することができるよ
うにしたものである。

【０００５】

【作用】したがって本発明によれば、測定装置に設定さ
れた測定条件により一連の測定を行いその結果を表示装
置にその測定結果である被測定物の特性を見やすい形式
で表示し、簡単な操作でそのデータと測定条件を記憶装
置に登録することができ、これを再生する機能により、
いつでもそのデータと測定条件を再現することができ
る。これらの機能によって、いつでも過去の測定データ
と測定条件を再現し、この測定条件下で、別の被測定物
などを同じ条件であるいは一部の条件を変更しての測定
が可能であり、その新たな測定結果を再現されたグラフ
データ上に重ねて表示することができ、過去のデータと
の比較が非常に容易にできる。さらに、この新しいデー
タ上に読み出しマーカを設定、移動することにより測定
データの差を簡単に表示することが可能であり、これら
のデータをまったく新しいデータとして、記憶装置に保
存することができるので過去のデータを失うことなく何
度でも利用することが可能でありまた、新たなデータフ
ァイルもまた再度再生して、同様に利用することできる
という作用を有する。

【０００６】

【実施例】図１は本発明の一実施例における低周波数信
号測定装置の全体の構成を示すものである。図１におい
て、１は表示装置へ表示する形式に変換する表示回路、
２は設定条件に基づきフラグデータの形式に変換する表
示データ変換回路、３は測定データの主記憶部、４は全
体制御部の指定に従って測定条件を変更しながら測定を
行う測定部、５は装置全体の制御を行う全体制御部、６
は外部記憶への保存やデータの再生を行う外部記憶制御
部、７はＣＲＴなどの表示装置、８はフロッピディスク
やハードディスクなどの外部記憶装置である。図２は本
発明の一実施例における外部記憶制御部のブロック構成
を示したものである。図２において、21は外部記憶装置
の駆動回路とバッファ回路などの制御を行う外部記憶装
置制御回路、22は測定データバッファ24と測定条件デー
タバッファ25のデータを合成し記憶条件にフォーマット
するデータ合成回路、23は記憶装置から読み出したデー
タの誤りチェックとデータを測定データと測定条件デー
タに分離するデーダ確認およびデータ分離回路、26は外
部記憶装置である。

【０００７】次に上記実施例の動作について説明する。
まずデータの測定表示動作について説明する。上記実施
例図１の全体制御部５にパネル入力などの測定指示があ
ると、全体制御部５は測定指示に基づいて測定部４に測
定開始信号11をおくる。また同時に主記憶部３に対しグ
ラフ軸の情報などを記録し、測定グラフ表示初回の時は
表示データ変換部２によって変換され表示装置７にグラ
フ軸などのデータが表示される。測定部４は測定を行い
順次測定データを主記憶部３へ送る。主記憶部３は送ら
れてきたデータを順次新規測定データ領域に設定する。
これと同時にデータを表示データ変換部２へ送ることに
より測定データが表示装置７にグラフ化されて表示され
る。この例を図３に示す。図３のＡ，Ｂはそれぞれ重ね
書きを通常測定で行ったデータとなっている。測定部４
から測定終了信号12により全体制御部５は一連のデータ
測定を終了する。次にこのデータの外部記憶への保存に
ついて説明する。全体制御部５がパネルなどの入力装置
からデータ保存の指示を受けると、主記憶部３へ指示信
号を発生する。主記憶部３では新規測定データ領域のデ
ータを保存領域に転送する。もしすでに保存領域にデー
タがあった場合には、そのデータを続けてデータを保存
する。各測定データの最後のデータには最終データを示
すコードがつけてありこれで、各測定の区切りを検出す
ることが可能である。全体制御部５は保存指示信号14を
外部記憶制御部６に送る。外部記憶制御部６は、図２の
測定データバッファ24と測定条件データバッファ25のデ
ータを図１の主記憶部３から取り出し図２のデータ合成
回路22により測定データを合成し記憶装置に適合するフ
ォーマットに変換して外部記憶装置制御回路21へデータ
を送ってフロッピーなどの外部記憶装置26にファイルと
してデータを保存する。同じくデータ再生の指示を図１
の全体制御部５が受けると、データ保存と同じように保
存指示信号14が外部記憶制御部６に指示を与える。図２
の外部記憶装置制御回路21によりフロッピーなどから指
定されたファイルを読み出しデータ確認およびデータ分
離回路23のデータチェック部でデータの不良を検出し確
認後データを測定データと測定条件データに分離してそ
れぞれに設定する。図１の読み出し完了信号10により、
全体制御部５は主記憶部３に指示を与える。主記憶部３
はバス９を通じて測定データを外部記憶制御部６から取
り出し保存データ領域に転送する。また全体制御部５は
主記憶部３を通じて測定条件を読み出し、測定部４にそ
の条件を設定する。これにより測定部は保存されていた
測定条件になる。再生されたデータは、表示データ変換
部２で変換され表示回路１を通して表示装置７の上に表
示される。この表示画面は、図３と同じである。この状
態での測定の実施は通常の測定動作と同様であり、測定
データは、主記憶部３の新規データ領域にデータが保存
されるので外部記憶から読み出したデータに重ね書きさ
れたデータが表示装置７に表示される。この時の例を図
４に示す。図４において、ＡとＢは再生されたデータで
ありＣが重ね書きされたデータである。この重ね書きさ
れたデータとの比較は読み出しマーカの設定などにより
データ差を容易に求めることができる。また、こうして
表示された測定データは、本装置に用意されているハー
ドコピー機能により、プリンタまたはプロッタを接続し
て紙面上に記録することも可能である。さらにこうして
作成された表示データは主記憶部３にデータとして存在
しているので、通常のデータの外部記憶装置への登録と
同様に新たなファイルとして登録が可能である。主記憶
部３でのデータの流れを図５に示す。このように、上記
実施例によれば、過去の記録されたデータの上に同一の
測定条件によって新たな測定データを重ねて表示するこ
とができるために、過去の測定との比較を非常に容易に
行えるという利点を有する。上記回路は、一実施例であ
り、外部記憶装置としては通常のバックアップメモリな
どの不揮発性メモりなども使用が可能である。

【０００８】

【発明の効果】本発明は上記実施例より明らかなよう
に、過去の測定データを再現した状態の上に新しい測定
を行いそのデータを測定装置の上で重ね書きできるよう
にしたものであり、新たなデータが過去の測定条件と同
じく測定され、過去のデータと容易に比較できるように
表示されるため、過去に測定したデータと新たに測定し
たデータの特性の差をホストコンピュータなどの別の装
置を用いることなく容易に検出することができるという
効果を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例における低周波信号測定装置
の概略のブロック図である。

【図２】本発明の一実施例における外部記憶制御部のブ
ロック図である。

【図３】本発明の一実施例における通常測定での表示グ
ラフを示す図である。

【図４】本発明の一実施例における再生表示と重ね書き
表示グラフを示す図である。

【図５】本発明の一実施例における主記憶部のデータの
流れを示す図である。

【図６】従来の低周波信号測定装置の概略のブロック図
である。

【符号の説明】

１…表示回路、 ２…表示データ変換回路、 ３…主記
憶部、 ４…測定部、５…全体制御部、 ６…外部記憶
制御部、 ７…表示装置、 ８…外部記憶装置、 ９…
バス、 10…読みだし完了信号、 11…測定開始信号、
12…測定終了信号、 13…測定データ、 14…保存指
示信号、21…外部記憶装置制御回路、22…データ合成回
路、 23…データ確認およびデータ分離回路、 24…測
定データバッファ、 25…測定条件データバッファ、
26…外部記憶装置、 31…測定装置、 32…外部出力信
号、 33…プロッタ、 34…被測定物。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 低周波の信号を測定する手段と、測定し
   た一連の複数のデータを一時記憶するメモリと、前記信
   号の測定データを表示装置に表示する手段および表示装
   置と、前記測定データと測定条件データを登録・再生す
   る手段および記憶装置を具備し、前記記憶装置から前記
   メモリへ測定データおよび測定条件を読み出して、前記
   表示装置に表示するとともに新規測定データを前記表示
   装置に重畳表示することを特徴とする低周波信号測定装
   置。
2. 【請求項２】 メモリへ読み出した測定データおよび測
   定条件と、新規測定データを重畳表示するとともに前記
   重畳表示した測定データをメモリに記憶し、記憶データ
   を記憶装置に登録することを特徴とする請求項１記載の
   低周波信号測定装置。