JPH06139567A - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents

磁気記録媒体の製造方法

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JPH06139567A
JPH06139567A JP4284521A JP28452192A JPH06139567A JP H06139567 A JPH06139567 A JP H06139567A JP 4284521 A JP4284521 A JP 4284521A JP 28452192 A JP28452192 A JP 28452192A JP H06139567 A JPH06139567 A JP H06139567A
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JP
Japan
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magnetic
disk
tracking
recess
magnetic head
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JP4284521A
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English (en)
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Mikio Kishimoto
幹雄 岸本
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Maxell Holdings Ltd
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Hitachi Maxell Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 正確な形状を有するトラツキング用凹部を生
産性よく製作する。 【構成】 磁性層10a上にレジスト膜40を形成し、
磁気ヘツドトラツキング用凹部23に対応したマスク4
1をレジスト膜40の上に重ね、光照射による現像、定
着処理を行い、マスク41を外し、エツチングによつて
磁性層10aの一部を除去して磁気ヘツドトラツキング
用凹部23を形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は磁気記録媒体の製造方法
に係わり、特にトラツキングサーボ用の凹部を磁性層表
面に形成させるための方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、磁性層にトラツキングサーボ用の
凹部を形成した磁気デイスクならびにそれを使用する記
録再生装置などが提案されている(例えば、特開平2−
14436号公報、特開平2−31387号公報)。
【0003】これらの磁気デイスクは、例えばポリエチ
レンテレフタレート(PET)などからなるベースフイ
ルムの両面に磁性層が設けられ、それの一方の磁性層に
はトラツキングサーボ用の凹部がデイスクの回転方向に
沿つて形成されている。
【0004】この凹部の形成方法としては、例えばトラ
ツクサーボパターンを刻印したスタンパをデイスクに重
ねて加圧することにより、磁性層にトラツクパターンを
エンボスする方法、あるいはレーザ加工機を用いて磁性
層を溶融、蒸発させて凹部を形成する方法等が知られて
いる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】これらの方法におい
て、前者の方法はスタンパを磁性層に押し付けて凹部を
形成するためスタンパが磨耗しやすく、従つてスタンプ
回数が増加すると、磁性層表面に形成される凹部の形状
が異なる問題点がある。
【0006】また、後者の方法では、デイスク1枚ごと
にデイスク全面にわたつてレーザ光を走査させて凹部を
形成させる必要があり、デイスク1枚作製するのに長時
間を要し、生産性が著しく低下する問題がある。さらに
このレーザカツテイングの方法では、熱や湿度によるデ
イスクの反りや収縮が凹部形成に極めて大きな影響を与
えるため、レーザカツテイング時の温湿度制御が必要に
なり、生産コストが高くなる問題がある。
【0007】この発明は、上記従来の製造方法が持つて
いた問題点を解決したもので、デイスク磁性層に正確な
形状の凹部を形成でき、かつ、生産性にも優れた磁気記
録媒体の製造方法を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、フオトリソグ
ラフイーの方法を用いて前記磁気デイスク表面に正確に
かつ高い生産性で凹部を形成することを特徴とする。
【0009】即ち、デイスクあるいは磁気シート表面に
レジスト膜を形成した後、予めサーボトラツクパターン
を形成したマスクを重ね合わせて露光、現像することに
よりサーボトラツク部分のレジスト膜のみを除去でき
る。次にこの磁性層が露出した部分をエツチングするこ
とにより磁性層に凹部を形成し、最後にレジスト膜を除
去することにより磁性層表面にサーボトラツクに対応す
る凹部を形成したものである。
【0010】
【作用】前述のように本発明は、フオトリソグラフイー
の方法で磁気ヘツドトラツキング用の凹部を形成するた
め、スタンパ方式のように歯部が磨耗したりすることが
なく、凹部の深さのコントロールも容易で、適正な形状
を有する凹部が形成される。
【0011】また凹部は同時に形成されるため、生産性
の向上が図れる。
【0012】
【実施例】次に本発明の実施例を図と共に説明する。
【0013】図1は実施例に係る磁気デイスクカートリ
ツジの一部を分解した斜視図、図2は磁気シートの拡大
断面図、図3は磁気デイスクの平面図である。
【0014】図1に示すように磁気デイスクカートリツ
ジは、カートリツジケース1と、その中に回転自在に収
納されたフレキシブルな磁気デイスク2と、カートリツ
ジケース1にスライド可能に取り付けられたシヤツタ3
と、カートリツジケース1の内面に溶着されたクリーニ
ングシート(図示せず)とから主に構成されている。前
記カートリツジケース1は、上ケース1aと下ケース1
bとから構成され、これらは例えば、ABS樹脂などの
硬質合成樹脂で射出成形されている。
【0015】下ケース1bの略中央部には、回転駆動軸
挿入用の開口4が形成され、その近くに長方形のヘツド
挿入口5が形成されている。図示していないが、上ケー
ス1aにも同様にヘツド挿入口5が形成されている。
【0016】上ケース1aと下ケース1bの前面付近に
は、前記シヤツタ3のスライド範囲を規制するために少
し低くなつた凹部6が形成され、この凹部6の中間位置
に前記ヘツド挿入口5が開口している。
【0017】前記磁気デイスク2は図3に示すように、
ドーナツ状のフレキシブルな磁気シート7と、その磁気
シート7の中央孔に挿入されて接着された金属製あるい
は合成樹脂製のセンターハブ8とから構成されている。
【0018】前記磁気シート7は、ベースフイルム9
と、そのベースフイルム9の両面に塗着、形成された磁
性層10a,10bとから構成されている。
【0019】前記ベースフイルム9は、例えば、ポリエ
チレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタ
レート(PEN)、あるいはポリイミドなどの合成樹脂
フイルムから構成されている。
【0020】前記磁性層10a,10bは、強磁性粉、
バインダ、研磨粉ならびに潤滑剤などの混合物から構成
されている。
【0021】前記強磁性粉としては、例えば、バリウム
フエライト、ストロンチウムフエライト、α−Fe、C
o−Ni、Co−P、γ−Fe2 3 、Fe3 4 、C
o含有γ−Fe2 3 、Co含有γ−Fe3 4 、Cr
2 、Co、Fe−Ni、などの微粉末が使用される。
【0022】前記バインダとしては、例えば、塩化ビニ
ル−酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル−酢酸ビニル−ビ
ニルアルコール共重合体、ウレタン樹脂、ポリイソシア
ネート化合物、放射線硬化性樹脂、などが使用される。
【0023】前記研磨粉としては、例えば、酸化アルミ
ニウム、酸化クロム、炭化ケイ素、窒化ケイ素、などが
用いられる。この研磨粉の添加率は、磁性粉に対して約
0.1〜25重量%が適当である。
【0024】前記潤滑剤としては、例えば、ステアリン
酸、オレイン酸、などの高級脂肪酸、これらの高級脂肪
酸エステル、流動パラフイン、スクアラン、フツ素樹
脂、フツ素オイルなどが使用可能である。この潤滑剤の
添加率は、磁性粉に対して約0.1〜25重量%が適当
である。
【0025】磁性塗料の具体的な組成例を示せば次の通
りである。
【0026】 磁性塗料組成例 バリウムフエライト 100重量部 (Hc:530〔Oe〕、飽和磁化量:57〔emu/g〕、 平均粒径:0.04〔μm〕) 塩化ビニル−酢酸ビニル−ビニルアルコール共重合体 11.0重量部 ウレタン樹脂 6.6重量部 三完納性イソシアネート化合物 4.4重量部 酸化アルミニウム粉末(平均粒径0.43〔μm〕) 15重量部 カーボンブラツク 2重量部 オレイン酸オレイル 7重量部 シクロヘキサノン 150重量部 トルエン 150重量部 前述の磁性塗料組成例の組成物をボールミル中でよく混
合分散して磁性塗料を調整し、これを62μmのポリエ
レチンテレフタレート(PET)のベースフイルムの両
面に、乾燥平均厚みが0.79μmとなるように塗布
し、乾燥した後、カレンダ処理を施して磁性層10a,
10bをそれぞれ形成する。
【0027】このようにして構成された磁気デイスク2
の磁性層10aの表面に図3に示すように、リフアレン
ストラツク11と、多数の磁気ヘツドトラツキング用光
学トラツク12が後述する光リソグラフイ法によつて形
成される。これらリフアレンストラツク11ならびに磁
気ヘツドトラツキング用光学トラツク12は、磁気デイ
スク2の回転中心13を中心にして同心円状に設けられ
ている。
【0028】1つの磁気ヘツドトラツキング用光学トラ
ツク12と隣の磁気ヘツドトラツキング用光学トラツク
12との間に、所望の情報が記録できるデータトラツク
14が形成される。
【0029】図3に示すように、磁気デイスク2上に設
けられる記録帯域15の最内周部に前記リフアレンスト
ラツク11が形成され、それより径方向外側、即ち磁気
ヘツドの走行方向と直交する方向外側に磁気ヘツドトラ
キング用光学トラツク12とデータトラツク14が交互
に多数形成される。
【0030】前記リフアレンストラツク11は図4に示
すように、磁気ヘツドの走行方向Xに沿つて延びてお
り、リフアレンストラツク11の中心線16上の任意の
点17を中心として点対称に長方形のリフアレンス凹部
領域18Aとリフアレンス凹部領域18Bが一対になつ
て形成されている。このリフアレンス凹部領域18Aの
隣(リフアレンス凹部領域18Bの前方)ならびにリフ
アレンス凹部領域18Bの隣(リフアレンス凹部領域1
8Aの後方)には、凹部のない平面部19Aと平面部1
9Bとがある。
【0031】これら一組のリフアレンス凹部領域18
A,18B、平面部19A,19Bが、磁気ヘツドの走
行方向Xに沿つて間欠的または連続的に多数形成される
ことによりリフアレンストラツク11を構成している。
【0032】この実施例において前記リフアレンス凹部
領域18A,18Bの磁気ヘツド走行方向の長さL1は
2.4mm、幅方向の長さL2は18μmである。
【0033】このリフアレンストラツク11上に所定の
信号が予め記録されており、磁気ヘツドでこのリフアレ
ンストラツク11上を走査し、その時の出力波形に基づ
いて磁気ヘツド(磁気ギヤツプ)の中心位置をリフアレ
ンストラツク11の中心線16上に導くことができる。
【0034】このようにして磁気ヘツド(磁気ギヤツ
プ)をリフアレンストラツク11の中心線16上、即ち
基準位置に合わせると同時に、その磁気ヘツドに連結さ
れている発光素子と受光素子群からなる光デイテクタ
(後述する)で、磁気ヘツドトラツキング用光学トラツ
ク12間の光デイテクタの現在位置を検知する。そして
この光学トラツク12に対する光デイテクタ位置的なず
れ量を演算し、そのずれ量に基づいて以下述べるように
磁気ヘツドのトラツキングサーボを行う。
【0035】その後、磁気ヘツドキヤリツジを移送する
モータを回転して、磁気ヘツドの中心位置を最内周にあ
るデータトラツクの中心線24近くまで移動させる(図
5参照)。
【0036】そして磁気ヘツドのトラツキングサーボ
は、磁気ヘツドトラツキング用光学トラツク12を利用
して各トラツクごとに行われる。
【0037】図5ないし図8は、磁気デイスク2のトラ
ツキングサーボを説明するための図である。図5に示す
ように、磁気ヘツドトラツキング用光学トラツク12に
もトラツキング用凹部23が、磁気ヘツドの走行方向X
に沿つて間欠的または連続的に形成されている。
【0038】この実施例の場合、トラツキング用凹部2
3は間欠的に形成され、トラツキング用凹部23の幅L
3は5μm、データトラツク14の幅L4は15μmで
ある。
【0039】記録再生時には図6に示すように、磁気デ
イスク2は磁気ヘツド30a,30bの間で挟持された
状態で回転する。前記磁気ヘツド30aの方には、トラ
ツキングサーボ用の光を出力する例えば、LEDなどか
らなる発光素子31と、磁性層10aからの反射光を受
光する受光素子群32とが一体に取り付けられている。
【0040】そしてこの磁気ヘツド30aの発光素子3
1ならびに受光素子群32が取り付けられている部分
は、磁気デイスク2側に向けて開口している。
【0041】受光素子群32は図7に示すように、4つ
の受光素子32a,32b,32c,32dから構成さ
れており、データトラツク14ならびにトラツキング用
凹部23上で反射する光をこの受光素子32a,32
b,32c,32dで受光して、各受光素子32a,3
2b,32c,32dの出力は図8に示すように、サー
ボ信号演算部33に入力される。そしてこのサーボ信号
演算部33で求められた位置修正信号がヘツド駆動制御
部34に入力され、それからの制御信号に基づいて磁気
ヘツド30のトラツキング制御がなされる。
【0042】次にトラツキング用凹部の形成順序につい
て、図9を用いて説明する。
【0043】(a)レジスト膜形成 磁性層表面にレジスト膜40を形成する。レジストとし
ては、ウエツトタイプとドライタイプのどちらでも使用
可能である。ウエツトタイプを使用する場合は、デイス
クに打ち抜いた後、スピンコーター等で塗布してもよい
し、またデイスクに打ち抜く前の磁気シートに連続塗布
でレジスト膜40を形成することもできる。またドライ
タイプを使用する場合は、通常は磁気シートにレジスト
を貼り合わせた後、デイスクと共に打ち抜いて使用す
る。
【0044】(b)マスキング トラツキングサーボ用のパターンを形成したマスク41
をデイスクに重ね合わせる。
【0045】(c)露光 このマスク41を重ねたデイスクに紫外線(UV)42
を照射する。UV源としてはハロゲンランプ、水銀ラン
プ等、レジストが感光する波長の光を含んでおれば、特
に光源を限定する必要はない。
【0046】(d)現像 この例では未露光部分が除去される。現像用の溶媒とし
ては有機溶剤タイプ、水溶性タイプがあるが、デイスク
に含まれている潤滑剤等に悪影響を及ぼさない水溶性タ
イプの方が好ましい。この現像で、レジスト膜40の硬
化部分40aが残る。この現像後、水洗、乾燥が行われ
る。
【0047】(e)エツチング レジストが除去された個所の磁性層10aがエツチング
される。エツチングの方法としてはプラズマエツチング
や溶剤によるエツチング法など種々の方法があるが、溶
剤によるエツチング法は真空プロセスを使う必要がない
ため、生産性に優れる特長がある。溶剤によるエツチン
グ法としては樹脂の溶解力の高い有機溶剤と低い有機溶
剤を適量混合した有機溶剤を予めデイスクに塗布し、レ
ジストの形成されていない磁性層を一部溶解した後、溶
解力の低い溶剤で洗浄したり、あるいはこの溶剤をロー
ラ等を用いて吸い取ることによりエツチングすることが
できる。
【0048】(f)レジスト除去 水溶性のレジストを使用する場合では、水酸化の希釈水
溶中に浸漬することにより剥離除去でき、磁気ヘツドト
ラツキング用凹部23を得る。
【0049】なお、これまで磁気デイスクを例にとつて
説明したが、本発明の方法は媒体の形状によらず、例え
ば、磁気カードや磁気テープにおいても適用できること
は言うまでもない。
【0050】次に凹部23の形成の具体例について説明
する。
【0051】(a)の工程のレジストとしては厚さ20
μmのドライタイプを使用し、デイスクに貼り合わせた
後、サーボトラツクパターンを形成したマスク41を重
ね(b)、UVランプを用いて5秒間露光した(c)。
次にマスク41を取りはずした後、デイスクを1%の炭
酸ナトリウム水溶液に約1分間浸漬して未露光部分のレ
ジストを溶解除した(d)。次に空気中60℃で加熱乾
燥した後、トルエンとシクロヘキサノンを重量比で1対
1に混合した溶剤をデイスク表面に塗布した。約20秒
間放置した後、エタノールで洗浄することにより溶解さ
れた磁性層を除去した(e)。最後にこのデイスクを2
%の水酸化カリウム水溶液中に約1分間浸漬して余分の
レジストを剥離除去した(f)。
【0052】本方法で凹部を形成したデイスクの表面を
走査型電子顕微鏡を用いて観察した結果、マスクに形成
されていたサーボトラツクのパターンが正確にデイスク
表面に形成されており、また凹部の深さは凹部の中央部
で約0.5μmであることが分かつた。
【0053】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では正確に
サーボトラツク用の凹部をデイスク表面に形成すること
ができ、かつ生産性に優れ、低コストで凹部が形成でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係る磁気デイスクカートリツ
ジの一部を分解した斜視図である。
【図2】磁気シートの拡大断面図である。
【図3】磁気デイスクの平面図である。
【図4】リフアレンストラツクの説明図である。
【図5】リフアレンストラツクと磁気ヘツドトラツキン
グ用光学トラツクの説明図である。
【図6】磁気デイスクによるトラツキングサーボを説明
するための図である。
【図7】受光素子の配置状態を示す図である。
【図8】磁気デイスクによるトラツキングサーボを説明
するための図である。
【図9】トラツキング用凹部の形成順序を説明するため
の図である。
【符号の説明】
2 磁気デイスク 7 磁気シート 9 ベースフイルム 10a,10b 磁性層 11 リフアレンストラツク 12 磁気ヘツドトラツキング用光学トラツク 14 データトラツク 23 トラツキング用凹部 40 レジスト膜 41 マスク 42 紫外線

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 非磁性基体と、その非磁性基体上に設け
    られて磁気ヘツドトラツキング用凹部を多数有する磁性
    層とを備えた磁気記録媒体の製造方法において、前記磁
    気ヘツドトラツキング用凹部を下記の順序で形成するこ
    とを特徴とする磁気記録媒体の製造方法。 (1)前記磁性層表面に光リソグラフイー用のレジスト
    膜を形成する。 (2)前記磁気ヘツドトラツキング用凹部に対応したパ
    ターンを有するマスクを前記レジスト膜上に重ねて、光
    照射による現像定着処理を行う。 (3)前記マスクを外し、磁性層表面を部分的にエツチ
    ングすることにより、磁気ヘツドトラツキング用凹部を
    形成する。
JP4284521A 1992-10-22 1992-10-22 磁気記録媒体の製造方法 Withdrawn JPH06139567A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7572528B2 (en) 2004-06-22 2009-08-11 Kabushiki Kaisha Toshiba Magnetic recording medium, method of manufacturing the same, and magnetic recording/reproduction apparatus
US7662264B2 (en) 2005-04-19 2010-02-16 Kabushiki Kaisha Toshiba Method for producing magnetic recording medium
US8257560B2 (en) 2006-03-16 2012-09-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Patterned media and method of manufacturing the same, and magnetic recording apparatus

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