JPH06117961A - 光線路監視方法 - Google Patents
光線路監視方法Info
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- JPH06117961A JPH06117961A JP4265795A JP26579592A JPH06117961A JP H06117961 A JPH06117961 A JP H06117961A JP 4265795 A JP4265795 A JP 4265795A JP 26579592 A JP26579592 A JP 26579592A JP H06117961 A JPH06117961 A JP H06117961A
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
- H04B10/071—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using a reflected signal, e.g. using optical time domain reflectometers [OTDR]
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3136—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR for testing of multiple fibers
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 多数の光ファイバ線路から構成される光通信
システムにおいて、複数の光ファイバ線路における障害
点の探索が可能な光線路監視方法を提供する。 【構成】 本発明の光線路監視方法は、出射する検査光
の波長を変化自在なＯＴＤＲ１０から検査光を、入射ポ
ートの出射端側が複数の分岐路に分岐し、各分岐路端に
光ファイバ線路１６が光接続された分岐結合器１５を介
して複数の光ファイバ線路に出射すると共に、分岐結合
器の分岐路或いは複数の光ファイバ線路に所定の波長域
通過型の誘電体多層膜フィルタを配置し、複数の光ファ
イバ線路の各光ファイバ線路から反射してくる検査光を
ＯＴＤＲで順次受光し、受光した検査光の夫々の反射光
レベルを検査光の波長毎に記憶し、記憶した各波長での
反射光レベル相互の演算結果に基づいて各光ファイバ線
路を監視する。
システムにおいて、複数の光ファイバ線路における障害
点の探索が可能な光線路監視方法を提供する。 【構成】 本発明の光線路監視方法は、出射する検査光
の波長を変化自在なＯＴＤＲ１０から検査光を、入射ポ
ートの出射端側が複数の分岐路に分岐し、各分岐路端に
光ファイバ線路１６が光接続された分岐結合器１５を介
して複数の光ファイバ線路に出射すると共に、分岐結合
器の分岐路或いは複数の光ファイバ線路に所定の波長域
通過型の誘電体多層膜フィルタを配置し、複数の光ファ
イバ線路の各光ファイバ線路から反射してくる検査光を
ＯＴＤＲで順次受光し、受光した検査光の夫々の反射光
レベルを検査光の波長毎に記憶し、記憶した各波長での
反射光レベル相互の演算結果に基づいて各光ファイバ線
路を監視する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバを用いた光
通信システムや光センサシステムにおいて、ＯＴＤＲ(o
ptical time domain reflectometer) を用いて光線路を
監視する光線路監視方法に関する。
通信システムや光センサシステムにおいて、ＯＴＤＲ(o
ptical time domain reflectometer) を用いて光線路を
監視する光線路監視方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】光通信システムにおいては、例えば、図
５に示すように、局１と各加入者２間を多数の光ファイ
バ線路３で結ぶ場合、１×Ｎ分岐の機能を有する分岐結
合器４を介して局１と各加入者局２間を配置している。
これは、従来のように、局と各加入者局間を光ファイバ
線路で直接結ぶ場合に比べ、局１と分岐結合器４との間
が１本の光ファイバ線路５となるうえ、加入者局２側が
分岐結合器４との間の光ファイバ線路３のコストを負担
しているため、光通信システムの経済化を図ることがで
きるという利点がある。
５に示すように、局１と各加入者２間を多数の光ファイ
バ線路３で結ぶ場合、１×Ｎ分岐の機能を有する分岐結
合器４を介して局１と各加入者局２間を配置している。
これは、従来のように、局と各加入者局間を光ファイバ
線路で直接結ぶ場合に比べ、局１と分岐結合器４との間
が１本の光ファイバ線路５となるうえ、加入者局２側が
分岐結合器４との間の光ファイバ線路３のコストを負担
しているため、光通信システムの経済化を図ることがで
きるという利点がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記光通信
システムにおいて、ＯＴＤＲを用い、単一波長の検査光
を出射することにより各光ファイバ線路を監視すると
き、障害のある光ファイバ線路が特定されている場合
に、その光ファイバ線路内における障害点の位置を特定
することは可能である。
システムにおいて、ＯＴＤＲを用い、単一波長の検査光
を出射することにより各光ファイバ線路を監視すると
き、障害のある光ファイバ線路が特定されている場合
に、その光ファイバ線路内における障害点の位置を特定
することは可能である。
【０００４】しかし、光ファイバ線路が複数あることか
ら、障害を生じた特定の光ファイバ線路を特定すること
ができないという問題があった。このため、多数の光フ
ァイバ線路からなる光通信システムにおいては、障害点
の探索が可能な光線路監視方法の提供が求められてい
た。本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、多数の
光ファイバ線路から構成される光通信システムにおい
て、複数の光ファイバ線路における障害点の探索が可能
な光線路監視方法を提供することを目的とする。
ら、障害を生じた特定の光ファイバ線路を特定すること
ができないという問題があった。このため、多数の光フ
ァイバ線路からなる光通信システムにおいては、障害点
の探索が可能な光線路監視方法の提供が求められてい
た。本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、多数の
光ファイバ線路から構成される光通信システムにおい
て、複数の光ファイバ線路における障害点の探索が可能
な光線路監視方法を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明によれば上記目的
を達成するため、出射する検査光の波長を変化自在なＯ
ＴＤＲから検査光を、入射ポートの出射端側が複数の分
岐路に分岐し、各分岐路端に光ファイバ線路が光接続さ
れた分岐結合器を介して前記複数の光ファイバ線路に出
射すると共に、前記分岐結合器の分岐路或いは前記複数
の光ファイバ線路に所定の波長域通過型の誘電体多層膜
フィルタを配置し、前記複数の光ファイバ線路の各光フ
ァイバ線路から反射してくる検査光を前記ＯＴＤＲで受
光し、受光した前記検査光の夫々の反射光レベルを検査
光の波長毎に記憶し、記憶した各波長での反射光レベル
相互の演算結果に基づいて前記各光ファイバ線路を監視
する構成としたものである。
を達成するため、出射する検査光の波長を変化自在なＯ
ＴＤＲから検査光を、入射ポートの出射端側が複数の分
岐路に分岐し、各分岐路端に光ファイバ線路が光接続さ
れた分岐結合器を介して前記複数の光ファイバ線路に出
射すると共に、前記分岐結合器の分岐路或いは前記複数
の光ファイバ線路に所定の波長域通過型の誘電体多層膜
フィルタを配置し、前記複数の光ファイバ線路の各光フ
ァイバ線路から反射してくる検査光を前記ＯＴＤＲで受
光し、受光した前記検査光の夫々の反射光レベルを検査
光の波長毎に記憶し、記憶した各波長での反射光レベル
相互の演算結果に基づいて前記各光ファイバ線路を監視
する構成としたものである。
【０００６】
【作用】検査光をＯＴＤＲから分岐結合器の入射ポート
に出射すると、検査光は複数の分岐路の夫々に入射し、
誘電体多層膜フィルタへの入射角度に応じて検査光の透
過波長が僅かに短波長側あるいは長波長側へシフトし、
異なる波長の複数の検査光が光ファイバ線路へと出射さ
れる。
に出射すると、検査光は複数の分岐路の夫々に入射し、
誘電体多層膜フィルタへの入射角度に応じて検査光の透
過波長が僅かに短波長側あるいは長波長側へシフトし、
異なる波長の複数の検査光が光ファイバ線路へと出射さ
れる。
【０００７】各々の光ファイバ線路では、波長のシフト
した検査光が光ファイバ線路内を伝搬してゆく。この検
査光の伝搬と並行して、各光ファイバ線路内では、レー
レー散乱及び断線等のある故障点における反射によっ
て、検査光が分岐結合器を通ってＯＴＤＲに戻ってく
る。ＯＴＤＲは、戻ってくる各検査光の反射光レベルに
基づいて線形演算を行い、前記複数の光ファイバ線路に
おける障害点を探索して障害点のある光ファイバ線路を
特定する。
した検査光が光ファイバ線路内を伝搬してゆく。この検
査光の伝搬と並行して、各光ファイバ線路内では、レー
レー散乱及び断線等のある故障点における反射によっ
て、検査光が分岐結合器を通ってＯＴＤＲに戻ってく
る。ＯＴＤＲは、戻ってくる各検査光の反射光レベルに
基づいて線形演算を行い、前記複数の光ファイバ線路に
おける障害点を探索して障害点のある光ファイバ線路を
特定する。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図１乃至図４に基
づいて詳細に説明する。本発明の光線路監視方法は、図
１に示す監視システムによって実行され、このシステム
は、ＯＴＤＲ１０、ＯＴＤＲ１０と監視対象である複数
の光ファイバ線路１６との間を光接続する分岐結合器１
５とを有しており、ＯＴＤＲ１０と分岐結合器１５との
間は光ファイバ線路１７で光接続され、各光ファイバ線
路１６の端部に加入者局１８が配置されている。
づいて詳細に説明する。本発明の光線路監視方法は、図
１に示す監視システムによって実行され、このシステム
は、ＯＴＤＲ１０、ＯＴＤＲ１０と監視対象である複数
の光ファイバ線路１６との間を光接続する分岐結合器１
５とを有しており、ＯＴＤＲ１０と分岐結合器１５との
間は光ファイバ線路１７で光接続され、各光ファイバ線
路１６の端部に加入者局１８が配置されている。
【０００９】ＯＴＤＲ１０は、可変波長光源１１、光方
向性結合器１２、受光器１３及び演算・制御回路部１４
を備えており、光方向性結合器１２には光ファイバ線路
となる光ファイバ２０が接続される。ここで、図１にお
いて、夫々実線は各部材間における光学的接続を、点線
は電気的接続を示す。可変波長光源１１は、前記複数の
光ファイバに異なる種々の波長の検査光を順次出射する
もので、通常、レーザダイオードの外部に回折格子等の
共振回路を設け、出射する検査光の波長範囲として５０
ｎｍ程度の波長範囲をカバーするものを使用する。ま
た、可変波長光源１１は、白色光源から一部の波長成分
の検査光をモノクロメータで選択的に走査して出射する
ものでもよい。
向性結合器１２、受光器１３及び演算・制御回路部１４
を備えており、光方向性結合器１２には光ファイバ線路
となる光ファイバ２０が接続される。ここで、図１にお
いて、夫々実線は各部材間における光学的接続を、点線
は電気的接続を示す。可変波長光源１１は、前記複数の
光ファイバに異なる種々の波長の検査光を順次出射する
もので、通常、レーザダイオードの外部に回折格子等の
共振回路を設け、出射する検査光の波長範囲として５０
ｎｍ程度の波長範囲をカバーするものを使用する。ま
た、可変波長光源１１は、白色光源から一部の波長成分
の検査光をモノクロメータで選択的に走査して出射する
ものでもよい。
【００１０】検査光の波長は、情報通信波長と後述する
分岐結合器１５の誘電体多層膜フィルタＦのフィルタ特
性との兼ね合いから決定するが、情報通信が波長1.３μ
ｍの光で行われており分岐結合器１５の誘電体多層膜フ
ィルタから出射される検査光の波長を３５ｎｍ程度シフ
トさせることは容易に行うことができるので、例えば、
１５２５ｎｍから１５６０ｎｍまでを５ｎｍ間隔で８波
長（λ1 ＞λ2 ……λ 8)選択する。
分岐結合器１５の誘電体多層膜フィルタＦのフィルタ特
性との兼ね合いから決定するが、情報通信が波長1.３μ
ｍの光で行われており分岐結合器１５の誘電体多層膜フ
ィルタから出射される検査光の波長を３５ｎｍ程度シフ
トさせることは容易に行うことができるので、例えば、
１５２５ｎｍから１５６０ｎｍまでを５ｎｍ間隔で８波
長（λ1 ＞λ2 ……λ 8)選択する。
【００１１】光方向性結合器１２は、２×１の３端子を
有する通過形スターカップラで、可変波長光源１１から
出射された検査光を分岐結合器１５へ出射し、複数の光
ファイバ線路１９から反射してくる検査光を、受光器１
３へと出射する。受光器１３は、例えば、光パワーメー
タを使用し、可変波長光源１１から複数の光ファイバ線
路に順次出射され、各光ファイバ線路からレーレー散乱
によって戻ってくる検査光を分岐結合器１２を介して順
次受光し、１５２５ｎｍから１５６０ｎｍまでの５ｎｍ
間隔の８波長の各検査光の反射光レベルをＷ単位で受光
する。
有する通過形スターカップラで、可変波長光源１１から
出射された検査光を分岐結合器１５へ出射し、複数の光
ファイバ線路１９から反射してくる検査光を、受光器１
３へと出射する。受光器１３は、例えば、光パワーメー
タを使用し、可変波長光源１１から複数の光ファイバ線
路に順次出射され、各光ファイバ線路からレーレー散乱
によって戻ってくる検査光を分岐結合器１２を介して順
次受光し、１５２５ｎｍから１５６０ｎｍまでの５ｎｍ
間隔の８波長の各検査光の反射光レベルをＷ単位で受光
する。
【００１２】演算・制御回路部１４は、分岐結合器１５
及び光方向性結合器１２を経て戻ってくる各反射光レベ
ルを記憶し、可変波長光源１１から出射される各検査光
の出射光レベルと、受光器１３で受光した反射光レベル
とから、各波長における反射損失を線形演算により算出
する演算回路１４ａと、ＯＴＤＲ１０全体の作動を制御
し、可変波長光源１１から出射される検査光の発振波長
と線形演算の制御を行う制御回路１４ｂとを備えてい
る。
及び光方向性結合器１２を経て戻ってくる各反射光レベ
ルを記憶し、可変波長光源１１から出射される各検査光
の出射光レベルと、受光器１３で受光した反射光レベル
とから、各波長における反射損失を線形演算により算出
する演算回路１４ａと、ＯＴＤＲ１０全体の作動を制御
し、可変波長光源１１から出射される検査光の発振波長
と線形演算の制御を行う制御回路１４ｂとを備えてい
る。
【００１３】分岐結合器１５は、図２に示すように、１
本の光ポート１５ａと、光ポート１５ａから二又に３回
分岐し、最後のポートが複数の光ファイバ線路の夫々に
光接続される８本の分岐ポートＰ1 〜Ｐ8 とを有する１
×８ツリースプリッタで、分岐ポートＰ1 〜Ｐ8 には、
夫々の分岐ポートＰ1 〜Ｐ8 と僅かに異なる交差角度θ
1 〜θ8 （θ1 ＜θ2 ＜……＜θ7 ＜θ8)で交差する単
一の誘電体多層膜フィルタＦが配置されている。
本の光ポート１５ａと、光ポート１５ａから二又に３回
分岐し、最後のポートが複数の光ファイバ線路の夫々に
光接続される８本の分岐ポートＰ1 〜Ｐ8 とを有する１
×８ツリースプリッタで、分岐ポートＰ1 〜Ｐ8 には、
夫々の分岐ポートＰ1 〜Ｐ8 と僅かに異なる交差角度θ
1 〜θ8 （θ1 ＜θ2 ＜……＜θ7 ＜θ8)で交差する単
一の誘電体多層膜フィルタＦが配置されている。
【００１４】この分岐結合器１５は、例えば、シリコン
基板上に火炎堆積法により石英微粒子を層状に堆積させ
た後、石英微粒子をガラス化し、更に、ガラス化した石
英にドライエッチングを施すことで、光ポート１５ａと
８本の分岐ポートＰ1 〜Ｐ8とが形成される。誘電体多
層膜フィルタＦは、例えば、厚さ２０μｍのガラス基板
上にＴｉＯ2とＳｉＯ2 とからなる誘電体層を交互に積
層したフィルタで、シリコン基板上の光ポート１５ａと
８本の分岐ポートＰ1 〜Ｐ8 と交差する所定の位置に、
斜に食刻したスリットを設け、このスリット内に誘電体
多層膜フィルタＦを収納し、光学接着剤等で固定すれば
よい。このフィルタＦは、異なる交差角度θ1 〜θ8 に
応じ、例えば、１５２５ｎｍから１５６０ｎｍまでの５
ｎｍ間隔の８種類の波長（λ1 ＞λ2 ……＞λ8)に対
し、各波長より僅かに波長の短い検査光を選択的に透過
させる短波長域通過型のフィルタである。
基板上に火炎堆積法により石英微粒子を層状に堆積させ
た後、石英微粒子をガラス化し、更に、ガラス化した石
英にドライエッチングを施すことで、光ポート１５ａと
８本の分岐ポートＰ1 〜Ｐ8とが形成される。誘電体多
層膜フィルタＦは、例えば、厚さ２０μｍのガラス基板
上にＴｉＯ2とＳｉＯ2 とからなる誘電体層を交互に積
層したフィルタで、シリコン基板上の光ポート１５ａと
８本の分岐ポートＰ1 〜Ｐ8 と交差する所定の位置に、
斜に食刻したスリットを設け、このスリット内に誘電体
多層膜フィルタＦを収納し、光学接着剤等で固定すれば
よい。このフィルタＦは、異なる交差角度θ1 〜θ8 に
応じ、例えば、１５２５ｎｍから１５６０ｎｍまでの５
ｎｍ間隔の８種類の波長（λ1 ＞λ2 ……＞λ8)に対
し、各波長より僅かに波長の短い検査光を選択的に透過
させる短波長域通過型のフィルタである。
【００１５】本発明の光線路監視方法は、上記監視シス
テムを用いて分岐結合器１５に接続された複数の光ファ
イバ線路１６を、以下のようにして監視する。先ず、可
変波長光源１１から検査光を光方向性結合器１２を経て
分岐結合器１５に出射すると、８本の分岐ポートＰ1 〜
Ｐ8 とフィルタＦとの各交差角度θ1〜θ8 に応じ、１
５２５ｎｍから１５６０ｎｍまでの５ｎｍ間隔の８種類
の遮断波長（λ1 ＞λ2 ……λ8)を有する検査光が複数
の光ファイバ線路１６に出射される。
テムを用いて分岐結合器１５に接続された複数の光ファ
イバ線路１６を、以下のようにして監視する。先ず、可
変波長光源１１から検査光を光方向性結合器１２を経て
分岐結合器１５に出射すると、８本の分岐ポートＰ1 〜
Ｐ8 とフィルタＦとの各交差角度θ1〜θ8 に応じ、１
５２５ｎｍから１５６０ｎｍまでの５ｎｍ間隔の８種類
の遮断波長（λ1 ＞λ2 ……λ8)を有する検査光が複数
の光ファイバ線路１６に出射される。
【００１６】このとき、各分岐ポートＰ1 〜Ｐ8 を通っ
て誘電体多層膜フィルタＦを透過する検査光の波長特性
は、モデル的に図３に示す特性となる。従って、可変波
長光源１１から出射される検査光に基づいて複数の光フ
ァイバ線路１６の監視を行うと、受光器１３では各波長
毎に、以下の各反射光λ12（λ1 ＞λ12＞λ2), λ
23（λ2 ＞λ23＞λ3), ………λN(N+1)（λN ＞λ
N(N+1)＞λ(N+1) ）を受光することになる。
て誘電体多層膜フィルタＦを透過する検査光の波長特性
は、モデル的に図３に示す特性となる。従って、可変波
長光源１１から出射される検査光に基づいて複数の光フ
ァイバ線路１６の監視を行うと、受光器１３では各波長
毎に、以下の各反射光λ12（λ1 ＞λ12＞λ2), λ
23（λ2 ＞λ23＞λ3), ………λN(N+1)（λN ＞λ
N(N+1)＞λ(N+1) ）を受光することになる。
【００１７】 波長λ12 ： 分岐ポートＰ1 からの反射光 波長λ23 ： 分岐ポートＰ1,Ｐ2 からの反射光 ： ： ： 波長λ(N-1)N： 分岐ポートＰ1,…Ｐ(N-1) からの反射
光 波長λN(N+1)： 分岐ポートＰ1,…Ｐ(N-1) , ＰN から
の反射光 従って、これらの反射光の強度レベルＬ12〜Ｌ
N(N+1)（Ｗ）に基づき、演算・制御回路部１４で各波長
毎の反射損失について線形演算を行えば、各分岐ポート
相互間の反射光の差から、各分岐ポートＰ1 〜ＰN 及び
これらに光接続された光ファイバにおける障害点を独立
して検出することができる。ここで、本実施例の分岐結
合器１５では８つの分岐ポートＰ1 〜Ｐ8 を有すること
から、上記各添え字はＮ＝８となる。
光 波長λN(N+1)： 分岐ポートＰ1,…Ｐ(N-1) , ＰN から
の反射光 従って、これらの反射光の強度レベルＬ12〜Ｌ
N(N+1)（Ｗ）に基づき、演算・制御回路部１４で各波長
毎の反射損失について線形演算を行えば、各分岐ポート
相互間の反射光の差から、各分岐ポートＰ1 〜ＰN 及び
これらに光接続された光ファイバにおける障害点を独立
して検出することができる。ここで、本実施例の分岐結
合器１５では８つの分岐ポートＰ1 〜Ｐ8 を有すること
から、上記各添え字はＮ＝８となる。
【００１８】ここで、上記ＯＴＤＲ１０を使用した現実
の測定においては、以下の項目を考慮する必要がある。
第一に、光ファイバ線路における検査光の損失は、波長
によって異なる波長依存性があるので、分岐結合器１５
の誘電体多層膜フィルタＦで反射される検査光は波長に
よって異なる減衰を受けること。
の測定においては、以下の項目を考慮する必要がある。
第一に、光ファイバ線路における検査光の損失は、波長
によって異なる波長依存性があるので、分岐結合器１５
の誘電体多層膜フィルタＦで反射される検査光は波長に
よって異なる減衰を受けること。
【００１９】第二に、短波長域通過型の誘電体多層膜フ
ィルタＦとして実現可能なフィルタは、図４に示すよう
に、長波長側において透過率が漸減する裾だれがあり、
各選択波長でのフィルタの透過率が、ゼロに近い非零の
値をとること。従って、実際の線形演算は次に示す演算
式で行うことになる。 Ｌi ＝ｋi1・Ｌ12＋ｋi2・Ｌ23＋…… ＋ｋi(N-1)・Ｌ(N-1)N＋ｋiN・ＬN(N+1) ここに、ｋij（ｉ,j＝１，２，……，Ｎ）は、光ファイ
バ線路における損失の波長依存性及び誘電体多層膜フィ
ルタＦの特性によって決まる係数である。
ィルタＦとして実現可能なフィルタは、図４に示すよう
に、長波長側において透過率が漸減する裾だれがあり、
各選択波長でのフィルタの透過率が、ゼロに近い非零の
値をとること。従って、実際の線形演算は次に示す演算
式で行うことになる。 Ｌi ＝ｋi1・Ｌ12＋ｋi2・Ｌ23＋…… ＋ｋi(N-1)・Ｌ(N-1)N＋ｋiN・ＬN(N+1) ここに、ｋij（ｉ,j＝１，２，……，Ｎ）は、光ファイ
バ線路における損失の波長依存性及び誘電体多層膜フィ
ルタＦの特性によって決まる係数である。
【００２０】尚、上記実施例では、分岐結合器として１
×８ツリースプリッタを使用したがこれに限定されるも
のではなく、より分岐ポートが多いものや、２×Ｎツリ
ースプリッタを使用してもよいことは言うまでもない。
また、誘電体多層膜フィルタは、分岐結合器の分岐路で
はなく、複数の光ファイバ線路に所定の角度で交差する
ように配置してもよい。
×８ツリースプリッタを使用したがこれに限定されるも
のではなく、より分岐ポートが多いものや、２×Ｎツリ
ースプリッタを使用してもよいことは言うまでもない。
また、誘電体多層膜フィルタは、分岐結合器の分岐路で
はなく、複数の光ファイバ線路に所定の角度で交差する
ように配置してもよい。
【００２１】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明の
光線路監視方法によれば、既存のフィルタを使用して、
複数の光ファイバ線路における障害点を、容易に探索す
ることができ、しかも監視システムも簡単に構成できる
等の優れた効果を奏する。
光線路監視方法によれば、既存のフィルタを使用して、
複数の光ファイバ線路における障害点を、容易に探索す
ることができ、しかも監視システムも簡単に構成できる
等の優れた効果を奏する。
【図１】本発明の光線路監視方法に用いる監視システム
を示す構成図である。
を示す構成図である。
【図２】図１の監視システムに用いる分岐結合器の構成
を示す平面図である。
を示す平面図である。
【図３】図２に示した分岐結合器の分岐ポートに配置し
た誘電体多層膜フィルタの検査光の透過率特性をモデル
的に示す特性図である。
た誘電体多層膜フィルタの検査光の透過率特性をモデル
的に示す特性図である。
【図４】誘電体多層膜フィルタＦの現実の透過率を示す
特性図である。
特性図である。
【図５】ＯＴＤＲと分岐結合器を使用して障害点を探索
する従来の技術を説明する光通信システムの一例を示す
構成図である。
する従来の技術を説明する光通信システムの一例を示す
構成図である。
１０ ＯＴＤＲ １１ 可変波長光源 １２ 光方向性結合器 １３ 受光器 １４ 演算・制御回路部 １４ａ 演算回路 １４ｂ 制御回路 １５ 分岐結合器 １５ａ 光ポート Ｐ1 〜Ｐ8 分岐ポート Ｆ 誘電体多層膜フィルタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中村 史朗 東京都千代田区丸の内２丁目６番１号 古 河電気工業株式会社内 (72)発明者 大山 功 東京都千代田区丸の内２丁目６番１号 古 河電気工業株式会社内 (72)発明者 三川 泉 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】 出射する検査光の波長を変化自在なＯＴ
ＤＲから検査光を、入射ポートの出射端側が複数の分岐
路に分岐し、各分岐路端に光ファイバ線路が光接続され
た分岐結合器を介して前記複数の光ファイバ線路に出射
すると共に、前記分岐結合器の分岐路或いは前記複数の
光ファイバ線路に所定の波長域通過型の誘電体多層膜フ
ィルタを配置し、前記複数の光ファイバ線路の各光ファ
イバ線路から反射してくる検査光を前記ＯＴＤＲで受光
し、受光した前記検査光の夫々の反射光レベルを検査光
の波長毎に記憶し、記憶した各波長での反射光レベル相
互の演算結果に基づいて前記各光ファイバ線路を監視す
ることを特徴とする光線路監視方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4265795A JPH06117961A (ja) | 1992-10-05 | 1992-10-05 | 光線路監視方法 |
| US08/130,354 US5396569A (en) | 1992-10-05 | 1993-10-01 | Optical line monitoring method and an apparatus permitting simultaneous line monitoring and information communication |
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| CA002107633A CA2107633A1 (en) | 1992-10-05 | 1993-10-04 | Optical line monitoring method and an apparatus therefor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4265795A JPH06117961A (ja) | 1992-10-05 | 1992-10-05 | 光線路監視方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06117961A true JPH06117961A (ja) | 1994-04-28 |
Family
ID=17422148
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4265795A Pending JPH06117961A (ja) | 1992-10-05 | 1992-10-05 | 光線路監視方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5396569A (ja) |
| JP (1) | JPH06117961A (ja) |
| CA (1) | CA2107633A1 (ja) |
| DE (1) | DE4333502A1 (ja) |
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1993
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- 1993-10-01 US US08/130,354 patent/US5396569A/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-10-04 CA CA002107633A patent/CA2107633A1/en not_active Abandoned
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