JP2758285B2 - 導波路形光結合器 - Google Patents

導波路形光結合器

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JP2758285B2
JP2758285B2 JP3158693A JP15869391A JP2758285B2 JP 2758285 B2 JP2758285 B2 JP 2758285B2 JP 3158693 A JP3158693 A JP 3158693A JP 15869391 A JP15869391 A JP 15869391A JP 2758285 B2 JP2758285 B2 JP 2758285B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光線路中に試験光を導
入するための光結合器に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、光ファイバの導入拡大に伴う光線
路の建設・保守試験稼働の増大が予想されており、これ
を効率よく行うための図11に示すような方法が提案さ
れている(例えば、富田他、「光線路試験・管理システ
ムの構成法」、1990年電子通信情報学会春季全国大
会論文集、B−888)。
【0003】図11において、1は伝送装置、2は通信
光の発光部、3は通信光の受光部、4は光カプラ、5は
光ファイバ伝送路、6a,6bはそれぞれ局内側、局外
側(加入者側)に置かれた試験光除去用の光フィルタ、
7は試験装置、8は試験装置が任意の光ファイバ伝送路
にアクセスするための光スイッチである。ここで、通信
は、伝送装置間を結ぶ上り、下りの光ファイバ対の間
で、例えば1.3μm の波長を用いて行われる。そして、
光ファイバ伝送路5の試験は、通信波長とは別の波長、
例えば波長1.55μm のパネル列を用いたOTDR法
(オプティカル・タイム・ドメイン・リフレクトメトリ
イ法)等によって行う。即ち、通信中の光ファイバ伝送
路5に光カプラ4を介して局内側より試験光を導入し、
光ファイバ伝送路を伝搬中に生ずる試験光の後方散乱光
や接続点での反射戻り光を、再度、光ファイバ4を介し
て試験装置7に取り込み、正常・異常の判断、破断点位
置の検出等を行う。また、光ファイバ伝送路の終端付近
に置かれる光フィルタ6bに試験光のみを反射させる機
能を付加して、試験光が光ファイバの終端まで到達して
いるか、否かを判別して光ファイバ伝送路の故障の有無
を検知する方法も提案されている(富田他、「光線路の
自動故障切分け法」、1990年電子通信情報学会春季
全国大会論文集、B−890)。
【0004】このような方法で、光フィルタ6a,6b
には、例えば、通信光には通信光1.3μm のみを伝搬さ
せて試験光1.55μm を伝搬させないものが用いられ、
この光フィルタによって通信品質に影響を与えない試験
ができる。また、光線路の建設時の導通試験等において
は、通信が行われていないので任意波長の試験光を用い
ることが出来る。すなわち、図11に示す方法によっ
て、局内側からの操作で随時にかつ短時間で光線路の状
態を把握でき、効率的な光線路の試験・管理ができる。
【0005】ところで、上記構成の光ファイバ伝送路5
の試験を行うには、試験光を光ファイバ伝送路5に導入
するための光カプラ4、光ファイバ伝送路5を伝搬する
試験光が加入者側の伝送装置に混入するのを防止する光
フィルタ6b、さらに光ファイバ伝送路を逆方向に戻る
試験光が局内側の伝送装置に混入するのを防止する光フ
ィルタ6aが不可欠な構成要素であり、しかもこれらは
試験する光ファイバ伝送路5すべてに必要である。特
に、光カプラ4と光フィルタ6aは光ファイバ伝送路5
を収容する局舎内に設置する必要がある。
【0006】従来、光カプラと光フィルタは、図12に
示すように1つの匡体内に収容され(上記引用文献、富
田他、「光線路試験・管理システムの構成法」、199
0年電子通信情報学会春季全国大会論文集、B−888
中における光分岐モジュール)、これが架に搭載されて
いた。なお、図2において、9は2本の光ファイバを
融着後、延伸させてコア部を近接させ光結合部を形成し
たいわゆる光ファイバカプラ、10は光ファイバ中に誘
導体多層膜フィルタを配設した光フィルタ、11は光カ
プラと光フィルタの接続部分、12は光ファイバ、13
はこれらを収容する匡体である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、図12に示す
形態には次のような欠点がある。第1には、光カプラ9
と光フィルタ10とを同時に製造はできないので、両者
を別々に製造してその後に両者を接続する必要があるこ
とである。このため、結続部の損失が増え、接続のため
の工程が増える。第2には、通常、光ファイバ12の各
部の長さは長めに設定されるが、その余長処理を行う際
に損失を増やさないために、ある程度以上の曲げ半径が
必要となり、匡体13全体が大きくなってしまうことで
ある。このため、多数の光ファイバが集中する局内にお
いて、匡体13を収容する膨大な容積が必要となってし
まう。
【0008】本発明はこのような事情に鑑み、通信中の
光ファイバ伝送路の障害検出を行う試験光を該光ファイ
バ伝送路に導入するための小形の光結合器を提供するこ
とを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成する本発
明に係る[請求項1]の発明は、通信中の光ファイバ伝
送路の障害検出を行う試験光を該光ファイバに導入する
ために該光ファイバ伝送路の途中に挿入される光結合器
であって、第一及び第二の入力端及び少なくとも一つ出
力端を有して該第二の入力端からの光を該出力端に選択
的に結合すると共に該出力端からの光を該第二の入力端
に選択的に結合する複数の導波路形光結合部と、この導
波路形光結合部の上記第一の入力端及び上記出力端にそ
れぞれ一端が結合されると共に他端が上記光ファイバ伝
送路の光ファイバと結合される信号光入力用光導波路及
び信号光出力用光導波路と、上記導波路形光結合部の第
二の入力端に結合される試験光導入用光導波路と、上記
信号光入力用光導波路と上記試験光導入用光導波路と
横断する溝と、上記溝内に配設されて上記信号光入力用
光導波路と一致する位置に多層干渉膜が形成された光フ
ィルタとを同一基板上に具備することを特徴とする。[請求項2]の発明は、通信中の光ファイバ伝送路の障
害検出を行う試験光を該光ファイバに導入するために該
光ファイバ伝送路の途中に挿入される光結合器であっ
て、第一及び第二の入力端及び少なくとも一つ出力端を
有して該第二の入力端からの光を該出力端に選択的に結
合すると共に該出力端からの光を該第二の入力端に選択
的に結合する複数の導波路形光結合部と、この導波路形
光結合部の上記第一の入力端及び上記出力端にそれぞれ
一端が結合されると共に他端が上記光ファイバ伝送路の
光ファイバと結合される信号光入力用光導波路及び信号
光出力用光導波路と、上記導波路形光結合部の第二の入
力端に結合される試験光導入用光導波路と、上記信号光
入力用光導波路の端面部分に直接固着された多層干渉膜
とを同一基板上に具備することを特徴とする。 [請求項3]の発明は、請求項1又は2において、導波
路形光結合部が、方向性結合回路からなることを特徴と
する。 [請求項4]の発明は、請求項1又は2において、導波
路形光結合部が、2つのアーム間に微小光路差を付与し
たマッハ・ツェンダー回路からなることを特徴とする。 [請求項5]の発明は、請求項1又は2において、導波
路形光結合部が、Y字形結合回路からなることを特徴と
する。
【0010】
【作用】前記構成の導波路形光結合器は、光カプラであ
る光結合部が光導波路で構成されると共に該導波路形光
結合部に結合される信号光入力用光導波路の途中若しく
は端面部に光フィルタを含む構成であるので、従来のよ
うな光カプラと光フィルタとの接続部が排除される。ま
た、この構成では、光カプラと光フィルタとを同時に製
造できるので、製造工程、コストの削減となる。
【0011】
【実施例】以下、本発明を一実施例に基づいて説明す
る。
【0012】図1には第1実施例に係る導波路形光結合
器の平面図及び断面図を示す。両図に示すようにこの光
結合器20は、Si 基板21上に光カプラである光結合
部22及び光フィルタ部23がそれぞれ4組ずつ搭載さ
れたものである。また、図中、24a〜24d、25a
〜25d、26a〜26d、27a〜27dは比屈折率
差△=0.3%、8μm×8μmの石英ガラス光導波路、
28はクラッド、29は溝を示す。
【0013】ここで、石英ガラス光導波路24a〜24
d、25a〜25d、26a〜26d、27a〜27d
は、Si基板21の上にスート堆積、ガラス化処理、ド
ライエッチングによるパターン化によって作製される
(河内:“導波路型光回路素子”、オプトロニクス、vo
l.80.p85(1989.9)。この光導波路にはSiO2 ガラスに
TiO2 が数%添加されており、このTiO2 の添加量
によって光導波路の屈折率が制御される。そして光導波
路24a〜24dと光導波路25a〜25dとは光ファ
イバ伝送路に接続される信号光入力用光導波路及び信号
光出力用光導波路であり、光導波路26a〜26dは試
験光導入用の光ファイバに接続される試験光導入用光導
波路であり、光導波路27a〜27dはモニタ等の目的
に用いられる。なお、光導波路の入出力端子は250μ
m間隔に配置されている。
【0014】また、光結合部22としては、例えば図2
に示すような方向性結合回路22Aを用いる。この方向
性結合回路22Aは、入力端子X,Y、出力端子V,W
を有する2入力2出力のものであり、端子22A−Xか
ら入力された波長1.3μmの光は端子22A−Vに出力
され、端子22A−Yに入力された波長1.55μmの光
は端子22A−Vから出力される。そして、端子22A
−Yに入力される光が端子22A−Vに出力される割合
を結合率として表わせば図3に示す特性となる。
【0015】光フィルタ部23は、波長1.3μmの光を
透過すると共に波長1.55μmの光を反射する干渉膜2
3aを厚さ約20μmの透明基板23bに、幅約250
μmの間隔縞状に付着したものである。この光フィル
タ部23は、信号光入力用光導波路24a〜24d、試
験光導入用光導波路26a〜26dの光軸と4〜8度程
度傾いてこれらを横断する幅30μmの溝29の中に設
置されたもので、干渉膜23aの部分が各信号光入力用
光導波路24a〜24dの光路と一致する位置に接着剤
で固定されている。なお、縞状の光フィルタ部23は、
多層干渉膜を蒸着後エッチング等で不要部分を除去する
か、または蒸着面を縞状のマスクで覆い、多層干渉膜を
選択蒸着することによって作製できる。
【0016】以上の構成において、信号光入力用光導波
路24a〜24dの入力端子から入力する波長1.3μm
の通信光は光フィルタ部23と光カプラである光結合部
22を透過後、信号光出力用光導波路25a〜25dの
出力端子から光ファイバ伝送路に出力される。また、試
験光導入用光導波路26a〜26dの入力端子より入力
される波長1.55μmの試験光は、光フィルタ部23の
透明基板23bをそのまま透過し、光結合部22におい
て信号光出力用光導波路25a〜25dにそれぞれ結合
した後、光ファイバ伝送路に出力される。一方、試験光
の反射光、散乱光は光ファイバを逆方向に戻り、信号光
出力用光導波路25a〜25dに入力後、光結合部22
で試験光導入用光導波路26a〜26dに結合し、試験
装置に戻る。なお、光結合部22で結合しない一部の試
験光は光フィルタ部23の干渉膜23aによってクラッ
ド部28内に反射されるため、光送信器には戻らない。
この光結合器20では、通信波長1.3±0.03μmに対す
る挿入損失は約1dBであり、また試験波長1.55±0.
03μmの試験光を1dBの損失で光ファイバ伝送路に
導入することができる。また、試験光の伝送装置への混
入量は−50dB以下である。なお、光結合器20の大
きさは光導波路を保持するハウジング部を含めても、7
mm×30mm×5mmと小形である。
【0017】本発明の第2の実施例は、図1における光
結合部22の構成が第1の実施例の場合と異なり図4に
示す構成のものを用いたものである。この光結合部22
Bは結合部の光導波路幅が異なる非対称構造を有してお
り、この構造のものは、図5に結合率と波長との関係の
一例を示すように、1.4μm近傍で結合率が増加から減
少に転じ、波長特性の平坦化が生じる。この結果、1.2
〜1.4μmの波長域で結合率30±10%、1.55±0.
03μmで25±10%の平坦な特性が得られる(高木
他、「石英系導波路形広帯域カプラ」、1990年電子
通信情報学会春季全国大会論文集、C−189 )。即ち、
端子22B−Xから入力する波長域1.2〜1.4μmの信
号光の70±10%を端子22B−Vに透過させ、端子
22B−Yから入力する1.55±0.03μmの試験光の
25±10%を端子22B−Vへ結合できる。最大結合
率とこれを与える波長は結合領域における光導波路の
幅、結合領域の長さ等のパラメータを選ぶことにより、
任意に設定ができる。なおこの光結合部22Bでは、端
子22B−Xから端子22B−Vにいたる通信光、及び
端子22B−Yから端子22B−Vにいたる試験光に損
失を生じるが、通信光の波長帯域を十分に確保したい場
合に有効である。
【0018】本発明の第3の実施例では、図1における
結合部22の構成が第1、第2の実施例と異なり、図6
に示す構成のものを用いるのである。この光結合部23
Cは、2つの3dB方向性結合器で構成したマッハ・ツ
ェンダー干渉計の2つのアーム間に微小な光路差を与え
たものである。(K.Jinguji.'Mach-Zehnder interferome
ter type optical waveguide coupler with wavelength
-flattened couplingratio', Electronics Letters, Vo
l.26, P.1326(1990 )) 。この構成の光結合部22C
は、図7の特性例のように、第2の実施例の場合より更
に平坦で広帯域な特性を示し、1.25〜1.65μmの波
長に対する結合率は20±2%である。即ち、1.25〜
1.65μmの波長のどの波長の信号光も80±2%が端
子23C−Xから端子23C−Vに透過し、1.25〜1.
65μmの波長のどの波長の試験光も20±2%の光が
端子23C−Yから端子23C−Vへ結合する。最大結
合率とこれを与える波長が光導波路のパラメータによっ
て設定出来るのは、第2の実施例の場合と同様である。
しかし、この実施例の場合には、結合率の波長依存性が
小さいので、通信波長や試験波長が変動しても損失変動
の少ない光結合器を得ることが出来る。また、結合率の
平坦領域が広いので、広い通信波長域を確保したい場
合、例えば通信波長域を1.3〜1.55μmに設定して、
この波長域において1.3μmと1.55μmの2波長多重
伝送を行い、試験波長を別の波長、例えば1.6μmに設
定するような場合に効果的である。
【0019】図8は本発明の第4の実施例に係る光結合
器30を示すものであり、図中、32は光結合部、33
は光フィルタ部、33aは干渉膜、33bは透明基板、
34a〜34dは信号光入力用光導波路、35a〜35
dは信号光出力用光導波路、36a〜36dは試験光導
入用光導波路、38はクラッド、39は溝を示す。本実
施例の光結合部32は図に示すように2入力1出力のい
わゆるY分岐形のものであり、2つの入力端の一方及び
出力端には光ファイバ伝送路に接続される信号光入力用
光導波路34a〜34d及び信号光出力用光導波路35
a〜35dが結合され、入力端の残りの一方に試験光導
入用の光ファイバに接続される試験光導入用光導波路2
6a〜26dが結合されている。なお、光フィルタ部3
3の構成は図1のものと同様である。かかる光結合器3
0の光結合部32においては通信光と試験光が3dBの
損失を受けるが、波長依存性がほとんどないことが特徴
となる。
【0020】図9は本発明の第5の実施例に係る光結合
器40を示すものであり、図中、42は光結合部、43
は光フィルタ部、43aは干渉膜、43bは透明基板、
44a〜44dは信号光入力用光導波路、45a〜45
dは信号光出力用光導波路、46a〜46dは試験光導
入用光導波路、47a〜47dはモニタ用光導波路、4
8はクラッド、49は溝を示す。本実施例の光結合器4
0は、光ファイバ伝送路に接続される信号光入力用光導
波路44a〜44dの光導波路端子、及び試験光導入用
の光ファイバに接続される試験光導入用光導波路46a
〜46dの光導波路端子をそれぞれ並べたものである。
したがって、この構成では光フィルタ部43において特
に微細なピッチの縞状の干渉膜を必要としない点で有利
である。但し、この構成では光導波路同志が交差するこ
とになるが、交差により生じる損失は、一交差部当り0.
1dB以下と小さいので問題はない。なお、光結合部4
2及び光フィルタ部43の基本的構成は第1〜第3の実
施例と同様である。
【0021】図10は本発明の第6の実施例に係る光結
合器50を示すものであり、図中、52は光結合部、5
3は光フィルタ部、54a〜54dは信号光入力用光導
波路、55a〜55dは信号光出力用光導波路、56a
〜56dは試験光導入用光導波路、57a〜57dはモ
ニタ用光導波路、58はクラッドである。本実施例の光
結合器50では、光導波路端面に光フィルタを接着した
り、干渉膜を直接導波路端面に蒸着する等することによ
り光フィルタ部53を設けたものである。なお、図で
は、光導波路端面を斜めに研磨した面に干渉膜を直接蒸
着したものを示す。なお、光結合部52の基本的構成は
第1〜第3の実施例と同様である。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、光
線路中に試験光を導入して線路試験を行う場合に必要と
なる光カプラと光フィルタとを内蔵した小形かつ経済性
の高い導波路形光結合器を提供でき、これによって、加
入者光線路網等の光線路の効果的な保守、管理に多大な
効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施例に係る光結合器の平面図及び断面
図である。
【図2】光結合部の一例を示す説明図である。
【図3】図2の光結合部の結合率と波長との関係を示す
図である。
【図4】光結合部の他の例を示す説明図である。
【図5】図4の光結合部の結合率と波長との関係を示す
図である。
【図6】光結合部の他の例を示す説明図である。
【図7】図6の光結合部の結合率と波長との関係を示す
図である。
【図8】第4の実施例に係る光結合器を示す平面図であ
る。
【図9】第5の実施例に係る光結合器を示す平面図であ
る。
【図10】第6の実施例に係る光結合器を示す平面図で
ある。
【図11】従来技術における試験光の光ファイバ伝送路
への導入を示す説明図である。
【図12】従来技術に係る光結合器の一例を示す説明図
である。
【符号の説明】
20,30,40,50 光結合器 21 基板 22,32,42,52 光結合部 23,33,43,53 光フィルタ部 23a,33a,43a 干渉膜 23b,33b,43b 透明基板 24a〜24d,34a〜34d,44a〜44d,5
4a〜54d 信号光入力用光導波路 25a〜25d,35a〜35d,45a〜45d,5
5a〜55d 信号光出力用光導波路 26a〜26d,36a〜36d,46a〜46d,5
6a〜56d 試験光導入用光導波路 27a〜27d,47a〜47d,57a〜57d モ
ニタ用光導波路 28,38,48,58 クラッド 29,39,49 溝
フロントページの続き (72)発明者 富田 信夫 東京都千代田区内幸町一丁目1番6号 日本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 昭62−273428(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G02B 6/12

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 通信中の光ファイバ伝送路の障害検出を
    行う試験光を該光ファイバに導入するために該光ファイ
    バ伝送路の途中に挿入される光結合器であって、第一及
    び第二の入力端及び少なくとも一つ出力端を有して該第
    二の入力端からの光を該出力端に選択的に結合すると共
    に該出力端からの光を該第二の入力端に選択的に結合す
    複数の導波路形光結合部と、 この導波路形光結合部の上記第一の入力端及び上記出力
    端にそれぞれ一端が結合されると共に他端が上記光ファ
    イバ伝送路の光ファイバと結合される信号光入力用光導
    波路及び信号光出力用光導波路と、 上記導波路形光結合部の第二の入力端に結合される試験
    光導入用光導波路と、上記信号 光入力用光導波路と上記試験光導入用光導波路
    を横断する溝と、 上記溝内に配設されて上記信号光入力用光導波路と一致
    する位置に多層干渉膜が形成された光フィルタとを 同一
    基板上に 具備することを特徴とする導波路形光結合器。
  2. 【請求項2】通信中の光ファイバ伝送路の障害検出を行
    う試験光を該光ファイバに導入するために該光ファイバ
    伝送路の途中に挿入される光結合器であって、第一及び
    第二の入力端及び少なくとも一つ出力端を有して該第二
    の入力端からの光を該出力端に選択的に結合すると共に
    該出力端からの光を該第二の入力端に選択的に結合する
    複数の導波路形光結合部と、 この導波路形光結合部の上記第一の入力端及び上記出力
    端にそれぞれ一端が結合されると共に他端が上記光ファ
    イバ伝送路の光ファイバと結合される信号光入力用光導
    波路及び信号光出力用光導波路と、 上記導波路形光結合部の第二の入力端に結合される試験
    光導入用光導波路と、 上記信号光入力用光導波路の端面部分に直接固着された
    多層干渉膜とを 同一基板上に 具備することを特徴とする
    導波路形光結合器。
  3. 【請求項3】請求項1又は2において、導波路形光結合
    部が、方向性結合回路からなることを特徴とする導波路
    形光結合器。
  4. 【請求項4】請求項1又は2において、導波路形光結合
    部が、2つのアーム間に微小光路差を付与したマッハ・
    ツェンダー回路からなることを特徴とする導波路形光結
    合器。
  5. 【請求項5】請求項1又は2において、導波路形光結合
    部が、Y字形結合回路からなることを特徴とする導波路
    形光結合器。
JP3158693A 1991-06-28 1991-06-28 導波路形光結合器 Expired - Lifetime JP2758285B2 (ja)

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