JPS59196438A

JPS59196438A - 光伝送路の障害探索方法

Info

Publication number: JPS59196438A
Application number: JP58071089A
Authority: JP
Inventors: Kenji Okada; 賢治岡田; Junichiro Minowa; 箕輪　純一郎; Kenichi Sato; 健一佐藤
Original assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp
Current assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date: 1983-04-22
Filing date: 1983-04-22
Publication date: 1984-11-07
Also published as: JPH04214B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔発明の属する分野〕本発明は、光フアイバ通信に用いられる光伝送路の障害
位置切り分けを精度よく行う方法および装置に関するも
のである。特に、加入者系の光伝送路の障害位置をセン
タ側（局側）から試験して切り分ける方法として適する
障害位置切り分は方法および装置に関するものである。

〔従来技術の説明〕

公衆電気通信網は加入者伝送系、交換機、中継伝送系な
どから成り、運用中に障害が発生した場合には、障害箇
所を速やかに標定するため、障害位置切り分けを行わな
ければならない。障害が加入者伝送系にあることがわか
ったときには、センタ側からその障害が線路にあるのか
、加入者の装置にあるのかを折返し試験によって９ｊり
分けることになる。加入者線が金属の平衡２線伝送の場
合には、２線の直流抵抗測定によって線路が正常か否か
を判断することができた。

加入者系伝送路に光ファイバが適用されると障害位置が
光伝送路であるか、加入者装置であるかを切り分けるた
めに、それぞれの折返し試験を行う必要がある。これは
センタから試験を行う場合には遠端折返し操作になる。

一方半導体レーザを使用する伝送方式では、その動作性
能を維持するために光伝送路等から装置への反射を極力
減らずことが必要であって、障害位置検索のための反射
光および伝送信号用の光が定常的Ｇこ半導体レーザに反
射することは好ましいことではない。

従来の遠端折返し操作として、障害切り分けを行うとき
だけ被試験光伝送路の遠端に全反射か起こるように、被
試験伝送路の近端から電気信号で遠端にある反射率の高
い鏡を移動させ、上記被試験光伝送路の近端から送出し
た光をこれに反射させ、その反射光を検知する方法か考
えられていた。

第１図および第２図にその一例を示す。第１図は、通常
時に光通信を行っている状態を示し、１は光送信回路、
２は光伝送路、３ば光受信回路、４は制御信号送信回路
、５ば制御信号受信回路、６ば制御信号受信回路５によ
って制御される反射鏡である。通常時は、光送信回路１
から光伝送路２を介して光受信回路３へ光信号を伝送す
る。

第２図は、反射率と反射点までの距離を求める方法によ
る障害切り分は試験状態に設定したとぎを示す。７は光
パルス送信回路、８は光力向性結合器、９ば光パルス受
信回路である。障害切り分は試験時は、送信側にある制
御信号送信回路４より折り返し指令を出し、制御信号受
信回路５でこれを受信し、反射鏡６を光伝送路２に接続
するとともに、光送信回路１に代えて、光パルス送信回
路７、光方向性結合器８および光パルス受信回路９を光
伝送路２に接続する。光パルス送信回路７からの光パル
スは、光方向性結合器８を介して光伝送路２に入射する
。入射された光パルスは光伝送路２を伝ｉ！し、受信側
にある反射鏡６て反射され、再び光伝送路２を伝搬し、
光方向性結合器８を介して、光パルス受信回路９で受信
される。このとき、光パルスを送信してから、その光パ
ルスが反射鏡６で反射され光パルス受信回路９に受信さ
れるまでの時間と、その反射光の反射率を測定すると第
３図に示す結果が得られる。すなわら、光伝送路２の往
復時間に相当する位置で、１００％の反射率に近い反射
量が見られる。

一方、光伝送路２が途中で切断されると、その切断点で
反射が生じるが、その切断面での反射はガラスと空気の
屈折率差によって生しるフレネル反射であるから、切断
面が平らでかつ光伝送路の伝１般軸に直角になる最良の
条件になったとしても、その反射率は約４％であり、一
般の破断障害では反射率は必ずそれ以下となる。従って
、反射量を測定すれば反射鏡６による反射が伝送路途中
の破断面での反射であるか否かを区別することができ、
これか反射鏡６による反射であれば、光伝送路２は正常
であることが分る。

しかし、この方法では、被試験光伝送路の遠端で反射鏡
を挿脱する操作が必要である。これを遠隔操作にするに
は、反射鏡を制御する制御信号線が必要である。また遠
端に機械的な可動部分を設けることになるために、装置
の信頼性が悪くなる欠点があった。

さらに、従来知られている他の方法として、後方散乱光
を利用する障害探索法がある。この測定系の一例を第４
図に示す。第４図において７は高出力の光パルスを出力
する光パルス送信回路、８は光方向性結合器、９ば高感
度の光パルス受信回路である。光パルス送信回路７から
光方向性結合器８を介して高出力光パルスを送出すると
、光フアイバ内で一様にレイリー散乱が発生ずる。この
レイリー散乱光のうち、送信側に戻るものを後方散乱光
と呼び、この後方散乱光は逆方向に光伝送路２を通−リ
、光方向性結合器８を介して光パルス受信回路９で受信
される。このとき、光パルスを送信してから後方散乱光
を受信するまでの時間と受信された後方散乱光の光量を
測定すると、第５図に示すような測定結果が得られる。

第５図では、Ａ点より遠方からは後方散乱光が到来しな
いことを示し一１Ａ点までは光ファイバが正常であるこ
とが分る。ここで、Ａ点までの距離を求めるために、往
復時間を光フアイバ中の光の速度から求めることができ
るが、光フアイバ中での光の速度■は、■−□　　　　
　　　　　　　　　・・・・・・・・・（１）ε ただし、Ｃ：真空中での光の速度 ε：光ファイバの群圧折率となり、ここで、定数Ｃは十分精密な値が測定されてい
るが、定数εについては、個々の光ファイバによって異
なるものでこの測定をそれぞれ精密に行うことは難しい
。−例として、その測定精度はたかだか０．１％程度で
ある。言いかえれは、Ａ点までの往復時間から距離を求
めるとき上記精度を２倍して、約０．２％の誤差が出る
。さらに、後方散乱光を測定するだめの光パルスの半値
幅に相当する時間だけは、必然的にあいまいさを持って
いる。例えば、１００ｎＳｅｃのパルス幅であれは、こ
の半値幅に相当する距離は約１０ｍとなる。その結果３
０００ｍの光伝送路では、生じる誤差が３０００Ｘ　Ｏ
，００２＋　１０＝　１６ｍとなり、Ａ点までの標定は
１６ｍの不確定さが出ることになる。これは、後方散乱
光測定を利用する限り本質的に発生するものである。

従って第４図において、光受信回路３の接続されている
端面から数ｍ手前、例えば宅内配線で破断が生じていて
も、その破断を本来の光転送路終端部と区別して測定す
ることができず、光伝送路が正常状態であるか否かをを
確実に判断できない。

従って後方散乱光による障害切り分は法は実用上は不完
全なものになる。

〔発明の目的〕

本発明は、これらの欠点を改良するもので、識別能力の
高い障害切り分り方法および装置を提供することを目的
とする。本発明は装置が簡単であり、信頼性が高く、加
入者系光伝送路に適する障害切り分は方法および装置を
提供することを目的とする。

〔発明の特徴〕

本発明では、被試験光伝送路の遠θｌ：’！　（例えは
加入者＠）にフィルタを定常的に挿入しておく。このフ
ィルタで被試験光伝送路の信号伝送に用いる波長の光と
、この波長以外の監視用の波長の光を分離し、信号伝送
に用いる波長の光は本来の信号通路に導き、監視用の波
長の光はこの被試験光伝送路に反射させるように構成す
る。被試験光伝送路の近端（例えば試験センタ）からは
遠端に向けてこの被試験光伝送路に監視用の波長の光を
入射させ、その光かこの被試験光伝送路に戻ってくる反
射光の光量を検出することを特徴とする。

この反射光の光量を検出するには、各反射光θ総和を求
める方法と、時間軸上で反射光を測定する方法とがある
。時間軸上で反射光を測定すると、反射点までの距離の
概算を求めることかできる。

反射光の光量を検出する方法には、被試験光伝送路の近
端から、監視に用いる波長の光の他に信号伝送に用いる
波長の光を被試験光伝送路に送信し、その二つの光の反
射光の光量を比較する方法をとるとよい。このときには
、監視に用いる波長の光および信号伝送に用いる波長の
光を時系列的に被試験光伝送路に送信することにより区
別してもよい。あるいは、監視に用いる波長の光および
信号伝送に用いる波長の光を同時に被試験光伝送路に送
信し、近端にフィルタを設置してこれにより区別しても
よい。

１本の被試験光伝送路上の終端のみに切り分けのための
遠端を設けるのではなく、その途中に、距離の異なる複
数の遠端を設定し、その複数の遠端のそれぞれにフィル
タを定常的に挿入して切り分けを行うことができる。こ
のとき、監視に用いる波長の光として複数の異なる波長
の光を設定し、複数の遠端のフィルタがそれぞれこの複
数の異なる波長の光を分離するように構成することがで
きる。

本発明の第二の発明は上記方法を用いた装置であって、
被試験光伝送路の遠端には、この被試験光伝送路に到来
する光から信号伝送に用いる波長の光と監視に用いる波
長の光とを分離するフィルタと、このフィルタにより分離された信号伝送に用いる波長の
光を本来の光信号通路に導（手段と、上記フィルタによ
り分離された監視に用いる波長の光を高い反射率で反射
させて上記被試験光伝送路に逆に伝送させる手段とが上記被試験光伝送路に定常的に挿入され、上記被試験
光伝送路の近端には、上記監視に用いる波長の光をその被試験光伝送路に送信
する手段と、この被試験光伝送路に反射光として戻る上記監視に用い
る波長の光の光量を検出する手段とを備えたことを特徴
とする。

上記フィルタは信号伝送用の波長の光に対して無反射で
あるように構成することか望ましい。

〔実施例による説明〕

第６図および第７図は、本発明実施例方式の基本的構成
を示す構成図である。第６図において光伝送路２の遠端
（加入者端）に、信号伝送用の波長の光と監視用の波長
の光とを分離するフィルタ１０を設ける。このフィルタ
１０は監視状態のときに限らす、通常の通信時にも定常
的に挿入しておく。

このフィルタ１０では分離された監視用の波長の光につ
いてのみ反射鏡１１に導き、高い反射率で反射させる。

通常の信号伝送時は、近端（センタ）から信号伝送用の
光送信回路１から光信号を送信すると、光信号は光伝送
路２を介してフィルタ１０に達する。

このフィルタ１０では、信号伝送用の波長の光はう）離
され、本来の通信信号の通路である光受信回路３に導か
れて受信される。

第７図は障害切り分は試験時の構成を示す。障害切り分
は試験時には、近端でシよ光送信回路１に代えて、監視
用の波長の光を出力する光パルス送信回路７を接続する
。この光パルス送信回路７がら送信される光パルスは、
光方向性結合器８を介して被試験光伝送路２に入射し、
遠端にあるフィルタ１０に達する。このフィルタ１０で
は、監視用の波長の光は分離され、反射鏡１１で反射し
て再び被試験光伝送路２に入射した後に、光方向性結合
器８を介して、光パルス受信回路９で受信される。

このとき、監視用の波長の光パルスを受信しζから、そ
の反射光を受信するまでの時間と反射量を測定すると、
第３図に示すような結果が得られる。ここで、フィルタ
１０における反射鏡１１０反射率をきわめて高く、例え
は１００％近くに設定して」６くと、光伝送路２の往復
時間に当たる位置で、１００％近くの反射率に相当する
反射量が見られる。

一方、光伝送路２が途中で切断されＣいる場合を考える
と、切断面での反射はガラスと空気の屈折率差によって
生じるフレネル反射であり、切断面が平らで、かつ光伝
送路の伝搬軸に直角である最良の条件にあっても、その
反射量は約４％である。一般にはその反射量はさらに小
さい。従って、反射量を測定すれば、フィルタ１０を透
過した光の反射鏡１１による反射であるか、途中の破１
１ｉ面による反射であるかを区別することができる。こ
れが反射鏡１１による反射であれば、この遠端までの光
伝送路２が圧密であることが分る。破断面による反射で
あれば、光の伝搬時間から破断面までのおおよその距離
を標定することができる。

このようにすれば、加入者宅内の障害切り分けに優れた
効果がある。すなわち、加入者宅内の配線伝送線路で障
害が発生した場合を考えると、従来のフィルタおよび反
射鏡を用いない方法では、障害点から反射する光が、障
害点からのものであるか伝送路の終端からのものである
かは、距離により識別するほかはなかった。しかし、前
述のように距離の識別精度は十数ｍ以下を区別すること
は不可能であるので、障害点からの反射であるか　　　
　　　　　１伝送路の終端からの反射であるかを区別す
ることはできなかった。本発明の方法では、終端には反
射量の大きい鏡を設置するので、終端からの反射は光量
が大きく、伝送路の障害と明確に区別することができる
ことになる。

本発明の方法では制御信号線が不要である。また遠端に
機械的な可動部がない。従って（？ａ頼性の高い障害切
り分けが可能となる。

第８図は本発明の別の実施例方式の構成図を示す。第８
図の構成では、光伝送路２の近端にも信号伝送用の波長
の光と監視用の波長の光を分離結合するフィルタ１２を
設ける。信号伝送用の光送信回路ｌからの光信号は、フ
ィルタ１２によって光伝送路２に結合されて入射し、光
伝送路２を伝搬する。これは、遠端のフィルタ１０によ
って分離されて光受信回路３で受信される。一方、近端
の光パルス送信回路７からは監視用の波長の光を出力し
、送信された光パルスは光方向性結合器８を介してフィ
ルタ１２によって光伝送路２に結合され入射する。この
監視用の波長の光は光伝送路２を伝搬し、遠端ではフィ
ルタ１０により選別され、反射鏡１１で反射され、再び
光伝送路２を逆方向に伝１般する。

これは近端でフィルタ１２により監視用の波長として分
離され、光方向性結合器８を介して光パルス受信回路９
で受信される。この実施例によれば、信号伝送時でも同
時に障害監視および切り分りを行うことができるなどの
利点がある。

フィルタ１０および反射鏡１１の構成の一例を第９図に
示す。第９図において、１２ば多層干渉膜フィルタで、
信号伝送用の波長の光１３は反射し、監視用の汲置の光
１４は透過させる。信号伝送用の波長の光１３は、多層
干渉膜フィルタ１２で反射され、監視用の波長の光Ｉ４
は多層干渉膜フィルタ１２を透過し、反射鏡１１で反射
され、再び多層干渉膜フィルタ１２を透過して、入射し
た光路へ戻って行く。

多層干渉膜フィルタ１２の特性例を第１０図に示す。

第１０図において、横軸は波長、縦軸は光の反射率ある
いは透過率を表わす。第９図により説明した動作を行う
ために、波長λ１を監視用の波長に、波長λ２を信号伝
送用に選択する。ここで第１０図において、信号伝送用
の波長λ２の透過率をμ２、反射鏡１１における波長λ
２の反射率をγ２とすると、この波長λ２の光が、波長
分離フィルタ１２を通過して反射鏡１１で反射され、再
び元の光伝送路２に戻る割合Ｒ２ば、Ｒ２°μ２×γ２×μ２一μ２２×γ２　　　　　　　・・・・・・・・・（２
＋と表わされる。すなわち、透過率μ２を小さくしてお
けば、戻る光の割合Ｒ２ばμ２の２乗で表わされるため
、反射率γ２が１であっても、波長λ２の光が光伝送路
２に戻る割合Ｒ２は非常に小ざくなる。さらに、反射鏡
１１を波長選択性の反射とし、監視用の波長λ１に対す
る反射率γ１を大きく信号伝送用の波長λ２に対する反
射率Ｔ２を小さくすれば、監視用の波長λ］の光か光伝
送路に戻る割合Ｒ１を小さくすることなく、波１並λ２
の光が伝送路に戻る割合Ｒ２は一層小さくなる。

この結果、第９図において、信号伝送用の波長λ２の光
１３が波長フィルタ１２で反射された後に、さらにこれ
を減衰させるために、無反射コートを施すなとして反射
しないようにしておけば、光伝送路２を伝搬して来た信
号伝送用の波長λ２の光が、光伝送路２に戻る割合は上
記（２）式で表わされる量だけとなる。

フィルタ１０および反射鏡１１の他の構成例を第１１図
に示す。第１１図で、１５は波長によって異なる反射角
を有する回折格子である。信号伝送用の波長の光１３が
回折格子１５に入射すると、第１１図に示す角度θ１で
回折される。一方、監視用の波長の光１４か回折格子１
５に入射すると、別の角度θ２で回折され、これは反射
鏡１１で反射されて、再び回折格子１５で回折されて入
射光路へ戻って行く。

第６図あるいは第８図の構成で、光送信回路１と光受信
回路３が入れ替わっても、本発明を実施することができ
る。このとき、第９図および第１１図のフィルタの構成
では、信号伝送用の波長の光１３の方向が逆になる。こ
のときでも、波長分離フィルタ１２あるいは回折格子１
５から、光源のある光送信回路１の方向に信号伝送用の
光１３が戻ることはない。

これまで、片方向伝送を例に挙げたが、信号伝送に用い
る波長を０．８μｍ〜１．５μ「ｎの中から２以上選び
、片方向波長多重伝送あるいは、双方向波長多重伝送の
光伝送方式にも本発明を適用することができる。

第１２図は、４波長双方向波長多市伝送の光伝送方式に
本発明を実施した例である。信号伝送用の波長には、０
．８１μｍ　、　０．８９μｍ、１．２μｍ’、　１．
３μｍの４種類を選び、監視用の波長には０．７６μｍ
を選ぶ。

現在、容易に入手できる石英系の光ファイバは０．８μ
ｍから１．６μ「ｎの波長で光損失が小さく、それ以上
およびそれ以下の波長では光損失が大きくなる。従って
、信号伝送用の波長として、０．８〜１．６μｍを選択
する。一方監視試験では、帯域を狭くしたりあるいは平
均化処理を施すなどによって信号対雑音比を改善できる
ので、監視用の波長としては、光損失か大きい波長でも
十分使用できる。ここでは、信号伝送用の波長として、
０．８１μｍ　、０．８９μｍ、１．２μｍ、１．３μ
ｍを選んだので、これらの波長より光損失の大きい波長
０．７６μｍを監視用に選択した。

第１２図において、１６は干渉膜フィルタで、１μＭ以
上の波長を反射し、１μｍ以下の波長を透過する。この
フィルタ１６として実際に用いた干？Ｄ　ＩＩＱフィル
タの特性を第１３図に示す。１７は干渉膜フィルタで、
１μｍ以上の波長を透過し、１μｍ以下の波長を反射さ
せる。フィルタ１７として実際に用いたものの特性を第
１４図に示す。１８は１．２μｍ近傍の波長を透過し、
それ以外の波長は反射する干渉膜フィルタである。フィ
ルタ１８として実際に用いた干渉膜フィルタの特性を第
１５図に示す。１９は１．３μｍ近傍の波長を透過させ
、それ以外の波長は反射する干渉膜フィルタである。フ
ィルタ１９として実際に用いた干渉膜フィルタの特性を
第１６図に示す。２０は０．８９μｍ近傍の波長を透過
させ、それ以外の波長は反射する干渉膜フィルタである
。フィルタ２０として実際用いた干渉膜フィルタの特性
を第１７図に示す。２１は０．８１μｍ近傍の波長を連
通させ、それ以外の波長は反射する干渉膜フィルタてあ
る。フィルタ２１として実際に用いた干渉膜フィルタの
特性を第１８図に示す。第１３図〜第１８図に特性を示
す各干渉膜フィルタは、いずれも酸化チタン二酸化硅素
の蒸着膜で構成した。

第１２図に戻って、２２は波長１．２μｍの信号光、２
３は波長１．３μｍの信号光、２４は波長０．８９μＭ
の信号光、２５は波長０．８１μｍの信号光、２６は波
長０．７６μ「ｎの監視用の光である。２７は光ソアイ
％Ｊｐらの光を平行光にしたり、平行光を光ファイン＼
に収光するためのレンズ、２８および２８′　は光ファ
イン＼やレンズの屈折率に近似する屈折率を有するカラ
スブロック、２９はレンズ２７に光を入出力する光ファ
イバである。

第１２図で波長Ｌ２１ｔｍの信号光２２は、干渉膜フィ
ルタ１８を透過し、干渉膜フィルタ１６て反射され、光
伝送路２に入射する。波長０．８１μｍの信号光２５は
干渉）模フィルタ２１を透過し、干渉膜フィルタ２０．
１７て反射した後に、干渉膜フ４ルタ１６を透過して光
伝送路２に入射する。

一方、光伝送路２を伝搬して来た波１ｉ１．３μｍの信
号光は、干渉膜フィルタ１６．１８で反射され、干渉膜
フィルタ１９を透過して信号光２３として受信される。

さらに、光伝送路２を伝搬して来た波長０．８９ｔＪｍ
の信号光は、干渉膜フィルタ］６を透過し、干渉膜フィ
ルタ１７で反射した後に、干渉膜フイ／ｌ／夕２０を透
過して信号光２４として受信される。また、光伝送路２
を伝１般して来た波長０．７６μｍの監視用の光ｉｌｌ
、干は、）模フィルタ１６を透過し、十汎、１１史フイ
ルタ１７．２０．２１でそれぞれ反則し、監視用の光２
６としてさらに反射鏡１１で反射して、その逆の経路を
経て再び光伝送路２に入射する。

第１９図に、４波長双方向波長多重に本発明を実施した
他の構成例を示す。３０は０．８９μｍと０．８１μｍ
の波長の光を反射し、それ以外の波長の光を透過する干
渉膜フィルタである。その他の構成は第１２図で説明し
た例と同様である。フィルタ３０の特性を第２０図に示
す。この例は、信号伝送用の波長には、０．８１μｍ　
、　０．８９μｍ、１．２μｍ、１．３．ｕｍを選ひ、
監視用の波長δこ０．７６μｍを選んたものである。

波長１．２μｍの信号光２２は、干渉膜フィルタ１８を
透過し、干渉膜フィルタ１６で反射され、光伝送路２に
入射する。波長０．８１μｍの信号光２５は干渉膜フィ
ルタ２１を透過し、干渉膜フィルタ２０．３０て反射し
た後に、干渉膜フィルタ１７を透過して光伝送路２に入
射する。

一方、光伝送路２を伝搬して来た波長１．３μｍの信号
光は、干渉膜フィルタ１６．１８で反射され、干渉膜フ
ィルタ１９を透過して信号光２３として受信される。さ
らに、光伝送路２を伝搬して来た波長０．８９μｍの信
号光は、干渉膜フィルタ１６を透過し、干渉）ＩＱフィ
ルタ３０で反射した後に、干渉１模フイルり２０を透過
して信号光２４として受信される。また光伝送路２を伝
搬して来た波長０．７６μＩｎの監視用の光２６は、干
渉１挨フイルタ１６．３０を透過し、反射鏡１１で反射
して、元の経路を逆に伝わって再び光伝送路２に入射す
る。

なお、ここて説明した第１２図および第１９図の構成は
あくまでも一例であり、フィルタ、反射鏡等の組合わせ
、光路の設計はこのほかにさまざまに行うことかでき、
これらにより同様に本発明を実施することができる。

次に、監視用の波長の反射光の光量を信号伝送用の波長
の光の反則光と比較する実施例について説明する。その
構成は第８図と同様である。光伝送路が破断した場合に
、破断点からの反射率は原則として波長Ｇこ依存しない
。そこで、第８図のフィルタ１０て分離され、反射鏡１
１で反射する監視用の波長の光を近端から光伝送路２に
入射し、反射量を測定した後に、フィルタ１０により、
反射鏡１１に達しない波長の光、例えば、信号伝送用の
光をフィルタ１０に向かって光伝送路２に入射さゼでそ
の反射量を測定する。次に、両波長での反射量からそれ
ぞれの反射率を求めると、反射鏡１１で反射する監視用
の波長では反射率が高く、信何伝送用の波長では反射率
が低くなれば、その状態では反射鏡１８こよる反射が観
測されたものとして、光伝送路２ばこの遠端までは圧密
であると判断できる。

このときの反射率を第２１図に示す。第２１図において
、波長λ１ば監視用、波長λ２ば信号伝送用である。一
方、両波長での反射率が同程度であれば、これは破断点
からの反射であり、光伝送路２に酸１折があると判断で
きる。

ここで、第８図の構成で信号伝送に用いる波長の光に対
して、無反射になるような処理をフィルタ１０または反
射鏡１１に施せば、フィルタ１０または反射鏡１１では
信号伝送用の波長の光に対して無反射となるため、両波
長の反射率の差か−ｒｆｆｌ顕著となり、光伝送路の障
害検知が容易になる。これは例えば、フィルタ１０の信
号伝送用の波長の光の出射口に無反射コーティングを施
すとか、出射口か光ファイバであれば、光フアイバ出射
端面に無反射コーティングを施すか、出射端面を光１ｉ
ｔｌ＋に斜めになる処理を施す。このようにすることに
より信号伝送用の波長に対してはほとんど無反射Ｇこす
ることができる。

ここては、信号伝送用の波長での反射率を監視用の波長
の反射率と比較したが、信号伝送用の波長に限らずフィ
ルタ１０および反射鏡１１の反射率か監視用の波長の反
射率より低（なる波長であれは、どの波長でもよい。

なお、反射率の求め方は、反射ｉ（ｄＢｍ表示）にその
波長での光伝送路２の往復伝搬損失（ｔｊＢ表示）を加
算すればよい。

上記各個は′、いずれも反射光を時間軸上で測定するも
のであるが、反射光は必ずしも時間軸−にで測定する必
要はなく、反射光の総量を求めることにより観測するこ
とができる。ずなわら、−Ｌ述のように光伝送路に遠端
までの障害がない場合には、遠端から大きい反射率で反
射光が戻り、光伝送路に障害があれば小さい反射率で反
射光が戻る。したがって、この反射光の光量を観測すれ
ば、障害の有無を識別することかできる。

この構成は、近端の装置ではパルス発生およびパルス測
定を必要としないので、その構成が筒中である利点があ
るが、障害があると判定されたときに、その障害点まで
のおおよその距離を測定することができない欠点は免れ
られない。

次に、複数の遠端を設ける場合の実施例を説明する。第
２２図において、λ０、λ□は監視用の波長、λ２は信
号伝送用の波長である。光伝送路の途中に、少なくとも
前記フィルタ１０を透過して反射鏡１１により反射する
波長λ１の光および信号伝送に用いる波長λ２の光は透
過させ、これらの波長以外の一部の波長λ０の光を反射
するようなフィルタ３１を設り、前述した方法で、波長
λ０、波長λ１、波長λ２での反射率を求める。このと
きの結果を第２３図に示す。すなわち、光伝送路２が正
常であると、フィルタ３１を設けた位置に相当する時間
の点で波長λ０の反射率が大きく、フィルタ１０の位置
に相当する時間の点では、波長λ１の反射率が大きく、
波長λ２では反射率が低い。光パルス送信回路７とフィ
ルタ３Ｉの間の光伝送路で破断ずれば、破断点に相当す
る時間の点において、波長λ０、λ工、λ２でそれぞれ
の反射率のほとんど等しい反射が観測される。一方、フ
ィルタ３１とフィルタ１０の間の光伝送路で破断すれば
、フィルタ３】の位置に相当する時間の点では波長λ０
て反射率の大きい反射が観測され、他の波長では反射が
ない。しかし、フィルタ３Ｉとフィルタ１０の間の破断
点の位置に相当する時間では、波長λ１と波長λ２で同
程度の反射率の反射が観測される。

このようにすれば、障害区間の切り分けを細かくするこ
とができる。さらに、多くの光伝送路２を細分化するフ
ィルタを光伝送路２に設置すれは、切り分けの細分化が
可能になる。ここで、フィルタ３１に使用する干渉膜フ
ィルタの特性例を第２４図に示す。第２４図は、波長λ
０に０．６５μｍを選んた例である。

上記各個は、フィルタは監視用の波長を分離し、これを
反射板により反射させる構成のものであるが、フィルタ
に伝送信号用の波長を透過し監視用の波長を反射する特
性のものを用いて、監視用の波長をフィルタから直接反
射させる構造にすることができる。この場合には、反射
率か必すしも１００％近くにすることができない場合が
あるが、構成が簡単になる利点がある。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明によれば、伝送路に障害が
あるか、装置に障害があるかを、反射光の光量により明
確に切り分けることができる。試験に光パルスを用いれ
ば、その伝搬時間により障害位置を標定することもでき
る。本発明の装置では、試験に際して遠端に操作を施す
必要がなく、全て近端の操作で切り分は試験を実行する
ことかで−きる。また、遠端には機械的な可動部分を設
ける必要がなく、装置は簡単であり信頼性か高い。

本発明はアナログ伝送路およびディジタル伝送路の区別
な〈実施することができる。本発明の装置は、光伝送路
による加入者系の切り分は試験の方法および装置として
きわめて有効である。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来例方式の構成図。第２図は従来例方式の構成図。第３図は従来例方式による測定データの説明図。第４図は従来例方式の構成図。第５図は従来例方式による測定データの説明図。第６図は本発明実施例方式の構成図。第７図は本発明実施例方式の構成図。第８図を才本発明実施例方式の構成図。第９図はフィルタおよび反射鏡の構成例を示す図。第１Ｏ図はフィルタの特性例を示す図。第１１図はフィルタおよび反射鏡の構成例を示す図。第１２図は本発明実施例遠端Ｖ部構成図。第１３図はフィルタ１６の特性図。第１４図はフィルタ１７の特性図。第１５図はフィルタ１８の特性図。第１６図はフィルタ１９の特性図。第１７図はフィルタ２０の特性図。第１８図はフィルタ２１の特性図。第１９図は本発明実施例遠端要部構成図。第２０図はフィルタ３０の特性図。第２１図は本発明実施例方式による測定データの説明図
。第２２図は本発明実施例方式の構成図。第２３図は本発明実施例方式による測定データの説明図
。　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　１第２４図はフィルタ３１の特性図。１・・・光送信回路（信号伝送用）、２・・・被試験光
伝送路、３・・・光受信回路（本来の信号伝送通路）、
７・・・光パルス送信回路（監視用）、８・・・光方向
性結合器、９・・・光パルス受信回路（監視用）、１０
・・・フィルタ、１１・・・反射鏡、１２・・・フィル
タ。特許出願人　　　　日本電信電話公社代理人　弁理士　井　出　直　孝ソＭ　２　図（９Ｍ　４　ロ第　６　ロ（９８１ｆｆ１ＭＩＯ図波長（刀ｍ）Ｍ’１３関ム反長（〃ｍ）第１５図工１６０襄長（刃ｍ）ｙ１１７図　　′ Ｍ１８図兜　１９　口　　　　２９２５シＬ＆　（、ス」ｍ）

Claims

【特許請求の範囲】

（１）被試験光伝送路の遠端にフィルタを定常的に挿入
しておき、上記遠端では、上記被試験光伝送路から到来する光をこ
のフィルタに導いて信号伝送に用いる波長の光とこの波
長とは別の波長の光で監視に用いる波長の光とを分離し
、信号伝送に用いる波長の光は本来の光信号通路に導き
、監視に用いる波長の光を高い反射率で反射させて上記
被試験光伝送路に逆方向に伝送させ、上記被試験光伝送路の近端では、上記監視に用いる波長
の光を上記被試験光伝送路に上記遠端に向けて送信し、
その光のその被試験光伝送路の上記遠端の方向からの反
射光の光量を検出する方法により、上記被試験光伝送路の上記近端から上記遠端までの間の
障害の有無を検出することを特徴とする光伝送路の障害
位置切り分は方法。
（２）反射光の光量を検出する方法には、被試験光伝送
路の近端から、監視に用いる波長の光の他に信号伝送に
用いる波長の光を上記被試験光伝送路に送信し、その二
つの光の反射光の光量を比較する方法を含む特許請求の
範囲第（１）項に記載の光伝送路の障害位置切り分は方
法。
（３）監視に用いる波長の光と信号伝送に用いる波長の
光を時系列的に被試験光伝送路に送信する特許請求の範
囲第（２）項に記載の光伝送路の障害位置切り分は方法
。
（４）監視に用いる波長の光と信号伝送に用いる波長の
光を同時に被試験光伝送路に送信する特許請求の範囲第
（２）項に記載の光伝送路の障害位置切り分は方法。
（５）１本の被試験光伝送路上に距離の異なる複数の遠
端を設定し、その複数の遠端のそれぞれにフィルタを定常的に挿入し
ておき、」二記各遠端では、上記被試験光伝送路から到来する光
をこのフィルタに導いて信号伝送に用いる波長の光とこ
の波長とは別の波長の光で監視に用いる波長の光とを分
離し、信号伝送に用いる波長の光は本来の光信号通路に
導き、監視に用いる波長の光を高い反射率で反射させて
上記被試験光伝送路に逆方向に伝送させた特許請求の範囲第（１）項ないし第（４）項のいずれか
に記載の光伝送路の障害位置切り分は方法。
（６）監視に用いる波長の光か複数の異なる波長の光で
あり、複数の遠端のフィルタかそれぞれこの複数の異な
る波長の光を分離するように構成された特許請求の範囲
第（５）項に記載の光伝送路の障害位置切り分は方法。
（７）被試験光伝送路の遠端には、この被試験光伝送路に到来する光から信号伝送に用いる
波長の光と監視に用いる波長の光とを分離するフィルタ
と、このフィルタにより分離された信号伝送に用いる波長の
光を本来の光信号通路に導く手段と、上記フィルタによ
り分離された監視に用いる波長の光を高い反射率で反射
させて上記被試験光伝送路に逆に伝送させる手段とが上記被試験光伝送路に定常的に挿入され、上記被試験
光伝送路の近端には、上記監視に用いる波長の光をその被試験光伝送路に送信
する手段と、この被試験光伝送路に反射光として戻る上記監視に用い
る波長の光の光量を検出する手段とを備えたことを特徴
とする光伝送路の障害位置切り分は装置。
（８）フィルタが信号伝送に用いる波長に対して無反射
であるように構成された特許請求の範囲第（７）項に記
載の光伝送路の障害位置切り分は装置。