JP3203240B2 - 光伝送システムの故障位置切分け方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、伝送装置の光送信器
と光受信器との間を、光ファイバからなる光線路によっ
て接続し、前記光送信器から前記光受信器へ通信光を伝
搬させて情報伝送を行う光伝送システム、または、伝送
装置の光送信器と、加入者毎に設けられた伝送装置の光
受信器と、前記光送信器からの通信光を前記各々の光受
信器へ分配する光分配器とを有し、前記光送信器と前記
光分配器の間、及び、前記光分配器と前記各々の光受信
器の間を、光ファイバからなる光線路によって接続し、
前記光送信器から前記各々の光受信器へ通信光を伝搬さ
せて情報伝送を行う光伝送システムにおいて、光線路の
故障であるか伝送装置の故障であるかを簡便に検知し得
ると共に、光線路の故障の場合には、故障位置をも決定
し得る光伝送システムの故障位置切分け方法に関するも
のである。

【０００２】

【従来の技術】光パルス試験器を用いて、光線路と伝送
装置とのいずれに故障原因があるかを検知する方法、即
ち、光線路と伝送装置との故障切分けを行う方法とし
て、従来、特願昭５８−７１０８９記載の方法が提供さ
れている。図１４は、上記従来の方法を説明するための
図であり、同図において、符号１は伝送装置の光送信
器、２は光線路を構成する光ファイバ、３は伝送装置の
光受信器、４ｂは、光受信器３側に設けられた光フィル
タであり、図１５に拡大して具体的に示すように、試験
光λｔを通過させ、通信光λ０を反射する構成になって
いる。４ａは、光送信器１側に設けられた光フィルタで
あり、光フィルタ４ｂと同様の構成のものである。又、
５は試験光λｔを全反射する反射鏡、６は光パルス試験
器であり、この光パルス試験器６は、試験光λｔを出力
する光パルス送信器７、合分波器８、及び反射鏡５に当
たって反射された試験光λｔを受光する光パルス受信器
９から構成されている。

【０００３】上記従来の方法によれば、故障箇所の探査
時、もし、光ファイバ２に断線等の故障が発生している
場合には、試験光（の反射光）λｔが光パルス受信器９
において受信されないことから、光ファイバ２に故障原
因があることを確認できる。一方、光パルス受信器９に
よって試験光（の反射光）λｔが受信される場合には、
光ファイバ２に故障原因はなく、伝送装置に故障原因が
あることが判る。

【０００４】

【発明が解決しようとしている課題】ところで、上記従
来の方法では、光ファイバ２、光フィルタ４ｂ、反射鏡
５、及び光受信器３との間の接続には、挿入損失が３dB
以上のレンズ系を用いていたので、構成の小型化、低価
格化が困難なうえ、光信号の高損失化を招いていた。こ
のことは、光送信器１側の光フィルタ４ａと光パルス試
験器６との接続構成部分についても同様のことが言える
ので、レンズ系で構成する限り、結局システム化全体と
しての、低損失化、経済化、小型化を実現することは極
めて困難であった。又、上記従来の方法では、故障原因
が光線路にあることは検知できるものの、故障位置まで
検出することはできなかった。更に、映像分配サービス
等への適用が考えられる分岐形光線路については全く検
討がなかった。この発明は、上記事情に鑑みてなされた
もので、伝送装置と光線路との故障位置切分けを、低損
失で小型簡便に、かつ詳細に行うことができる光伝送シ
ステムの故障位置切分け方法を提供することを目的とし
ている。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１記載の光伝送システムの故障位置切分け方
法の発明は、光パルス試験器を用いて光線路と伝送装置
の光受信器との故障位置切分けを行う光伝送システムの
故障位置切分け方法において、前記光パルス試験器から
通信光と異なる波長の試験パルス光を光カプラを介して
前記光線路に挿入し、前記光受信器の直前に設置した前
記試験パルス光のみを反射させるコネクタ実装型の光フ
ィルタ型切分け器による前記試験パルスの光の反射光に
ついて、その光レベル及び位置を検知し、検知した当該
光レベル及び位置を、正常な状態時の前記光線路につい
て予め測定していた前記反射光の光レベル及び位置とを
比較する工程において、光レベルを比較の結果、前記光
レベルに変動が生じている場合には、前記光線路に故障
有と判定し、かつさらに反射光の位置ずれの有無を比較
して故障位置を決定し、前記光レベルに変動が生じてい
ない場合には、さらに反射光の位置ずれの有無を比較
し、反射光の位置ずれがある場合は前記光線路に故障有
と判定し、かつ故障位置を決定し、反射光の位置ずれが
無い場合は前記光線路に故障無と判定することにより、
前記光線路と前記伝送装置の光受信器との故障位置切分
けを行うことを特徴としている。

【０００６】また、請求項２記載の光伝送システムの故
障位置切分け方法の発明は、光線路の途中に光分岐器を
設け、前記光分岐器によって分岐された分岐数ｎ（ｎ≧
２の整数）の光線路の加入者側に設けられた各光受信器
の直前にコネクタ実装型の光フィルタ型切分器を各々設
置し、光パルス試験器を用いて光線路と伝送装置の光受
信器との故障位置切分けを行う光伝送システムの故障位
置切分け方法において、前記光パルス試験器から通信光
と異なる波長の試験パルス光を光カプラを介して前記光
線路に挿入し、前記各光受信器の直前に各々設置した前
記試験パルス光のみを反射させる前記コネクタ実装型の
光フィルタ型切分け器による前記試験パルスの光の各反
射光について、その光レベル及び位置を各々検知し、検
知した当該光レベル及び位置を、正常な状態時の前記光
線路及び分岐された各光線路について予め測定していた
前記各反射光の光レベル及び位置とを比較する工程にお
いて、光レベルを比較の結果、前記光レベルに変動が生
じている場合には、変動が生じた反射レベルの個数が前
記光分岐器によって分岐された分岐数ｎと一致している
か否かを判断し、一致している場合は前記光分岐器より
前記パルス試験器側の前記光線路に故障有と判定し、か
つ故障位置を決定し、一致していない場合には、さらに
反射光の位置ずれの有無を比較して前記光分岐器より後
方の前記光線路に故障有と判定し、かつ故障位置を決定
し、前記光レベルに変動が生じていない場合には、さら
に反射光の位置ずれの有無を比較し、反射光の位置ずれ
がある場合は前記光線路に故障有と判定し、かつ故障位
置を決定し、反射光の位置ずれが無い場合は前記光線路
に故障無と判定することにより、前記光線路と前記伝送
装置の光受信器との故障位置切分けを行うことを特徴と
している。

【０００７】

【作用】上記構成によれば、挿入損失が低く、かつ小型
の光学部材のコネクタ実装型の光フィルタ型切分け器を
用いて構成したので、システム全体の、小型化、経済
化、低損失化を図ることができると共に、検知精度の向
上を図ることができる。又、一段と詳細な故障位置が判
る。更に、分岐形光線路にも適用できる。

【０００８】

【実施例】以下、図面を参照して、この発明の実施例に
ついて説明する。

【０００９】（第１実施例）

【００１０】図１は、この発明の第１実施例である光伝
走路の故障位置切分け方法に適用する伝送装置の構成を
示す図である。この図において、従来の伝送システム
（図１４）の各部に対応する部分には、同一符号にを付
して、これらの説明を省略する。図１において、１０は
光カプラ、１１は光フィルタ型切分け器、１２は光パル
ス試験器６を制御するＣＰＵ（中央処理装置）、１３は
各種データを記憶するデータベースである。上記光フィ
ルタ型切分け器１１は、第２図に示すように、通信光通
過試験光阻止形の光フィルタ１４と、光フィルタ１４を
補強する補強部１５と、光ファイバ１７を軸心に有する
コード部１８とから構成されている。上記光フィルタ１
４は、酸化チタンや酸化シリコンなどからなる多層膜に
よる光の干渉を利用して、通信光λ０を通過させ、通信
光λ０と異なる波長の試験パルス光λｔを反射させるよ
うに形成されている。

【００１１】光フィルタ１４は、光ファイバ１７に対し
て、適当な角度θを選定して挿入すれば、図２に示すよ
うに阻止光（試験パルス光）λｔの大部分が散乱せずに
光ファイバ２に再挿入されるようになり、試験パルス光
λｔに対してその反射量を大きくすることができる。次
に、このフィルタ角θの設計法について述べる。このフ
ィルタ角θは試験光λｔ及び通信光λ０に対して所要の
反射減衰量が得られるように以下に示すように決定する
必要がある。

【００１２】（ｉ）試験光λｔの反射減衰量；

【００１３】図２に示す光フィルタ型切分け器１１にお
いて、試験光λｔが光フィルタ１４で全反射して光ファ
イバ１７に再入射する場合、その反射光は等価的に２θ
だけ角度をずらした光ファイバ１７の接続損失分だけ減
衰すると考えられる。従って、試験光λｔの反射減衰量
Lｒｔはこの損失に通過損失Ｉｔを加えたものとなる。
角度ずれによる接続損失の計算式はＭＡＲＣＵＳＥ
（B．S．T．J，５６，５，１９７７）により与えられて
いるので反射減衰量Lｒｔは次式で表される。

【００１４】（数１） Ｌｒｔ＝−１０ｌｏｇ（ｅｘｐ（−（２πｎｗθ）²／
λ）²）＋Ｉｔ

【００１５】ここで、ｎは光ファイバ１７のクラッド部
の比屈折率、ｗはスポットサイズ、λは試験光の波長で
ある。図３に第１式を用いてLｒｔとθの間系を計算
し、実験結果と比較して示す。同図より明らかなよう
に、計算結果と実験結果とはほぼ一致し、従って、第１
式の計算結果から反射減衰量を推定できることが分か
る。同図の破線は光ファイバ心線が切分け器１１の近傍
で破断し、大きなフレネル反射（１４．３ｄB）が生じ
た場合でも、この例の方法を適用できるように設定した
目標特性を示している。これより、挿入角θは２．８度
以下にする必要がある。

【００１６】（ｉｉ）通信光λ０の反射減衰量；

【００１７】通信光λ０の反射は主に光フィルタ１４の
透過帯域のリップルにより生じる。従って、通信光λ０
の反射減衰量Lｒｓは上記リップルｙ％及び第１式より
次式で表される。

【００１８】（数２） Ｌｒｓ＝−１０ｌｏｇ（ｙ／１００）＋Ｌｒｔ

【００１９】リップル分の変化によるLｒｓとθとの関
係を図４に示す。同図の破線は、通信用光コネクタと同
様になるように設定された目標特性を示しており、光フ
ィルタ１４のリップル分を約１．５％程度とすると挿入
角θは1．4度以上にする必要がある。従って、図3と図4
とから目標特性を満たすためには、フィルタ角を約1．
４度〜２．８度とする必要がある。

【００２０】図5に、この例の光フィルタ切分け器１１
に対する反射減衰量及び通信損失の目標値と試作品の実
測値を比較して示している。ここで、詩作ではフィルタ
角θは２．０度とした。

【００２１】図５から、試作結果は目標特性を十分満た
していることがわかる。従って、フィルタ角としては
１．４〜２．８度程度が最適値といえる。図５から明ら
かなように、この光フィルタ切分け器１１は１．３１μ
ｍ波長帯が通信光λ０、１．５５μｍ波長帯が試験パル
ス光λｔに使用でき、通過損失は０．５ｄB以下と従来
に比べ約１／６以下に低損失化を図ることができる。
又、上述の最適角度範囲を採用することにより、光フィ
ルタ型切分け器１１による試験パルス光λｔに対する反
射減衰量は光線路故障時に出るフレネル反射減衰量より
必ず小さく出来る。

【００２２】上記データベース１３には、正常時の光線
路（光ファイバ２）に、光パルス試験器６から導入され
た試験パルス光λｔが光フィルタ型切分け器１１で反射
され、上記光線路に再導入され、光パルス試験器６によ
り検出されたデータ（光レベル及び反射点（位置））
が、CPU１２を通して蓄積されている。

【００２３】図６に、コネクタ実装型の光フィルタ型切
分け器の構成例を示す。この図において、符号４１は、
例えば、ジルコニア等からなるフェルール、４２はツマ
ミ、４３はプラグフレーム、４４はバネ、４５はスリー
ブ、４６はストップリング、４７はカシメリング、４８
はリング、４９はゴムホルダ、５０は補強部、５１は裸
心線である。又、ここで、光フィルタ１４は数十μｍ以
下の薄いものが使用されている。このようにコネクタ内
に実装することにより小型化、経済化、低損失化、高信
頼性化ができる。

【００２４】次に、この例の動作について、図７のフロ
ーチャートを参照して、説明する。伝送路に異常が発生
すると、光送信器１又は光受信器３からアラームが発せ
られる。検査者は、このアラームにより伝送路の異常発
生を知ると、光パルス試験器６を動作状態にする。（ス
テップＳＡ１）。これより、CPU１２は、ステップSA２
へ進み、光パルス試験器６から試験パルス光λｔを伝送
路（光ファイバ２）に導入し、これに伴うフィルタ型切
分け器１１からの（試験パルス光λｔの）反射光の光レ
ベルと反射位置を検出する。

【００２５】次に、CPU１２は、データベース１３か
ら、前述した正常時の測定データ（反射レベル、反射位
置）を読出して、今回の検出データ（反射レベル、反射
位置）と比較する（ステップSA３）。まず、正常時の測
定と今回のそれとの間で反射レベルに差が生じているか
否かを比較する（ステップSA４）。比較の結果、「YE
S」の結論が得られれば、すなわち差が検知されれば、
光線路（光ファイバ２）に故障があることが判るが、故
障位置を認識するために、ステップSA５へ進み、反射の
位置がずれているか否かを判定する（ステップSA５）。

【００２６】判定の結果、「NO」の結論が得られた時、
すなわち、反射の位置がずれていない場合には、ステッ
プSA６へ進み、故障原因は光線路にあり、かつ故障位置
は、光フィルタ型切分け器１１の近傍であることを認識
し、認識結果を出力する。

【００２７】一方 、ステップSA５において、判定の結
果、「YES」の結論が得られた時、すなわち、反射の位
置がずれている場合には、ステップSA７へ進み、故障原
因は光線路側にあり、故障位置は新反射位置であること
を認識し、当該認識結果を出力する。

【００２８】一方、ステップSA４において、「NO」の結
論が得られた時、すなわち、正常時データと反射レベル
とで差を検知しなかった場合は、ステップSA８へ移り、
反射の位置がずれているか否かを判定する。そして、判
定の結果、「YES」の結論が得られた時、すなわち、反
射の位置がずれて検出された場合には、ステップSA７へ
移り、故障原因は光線路側にあり、故障位置は新反射位
置であることを認識し、この該認識結果を出力する。

【００２９】ステップSA８における判定の結果が「NO」
の時は、すなわち、反射の位置がずれていない場合に
は、ステップSA９へ進み、伝送装置（光受信器）が故障
していると認識し、認識結果を出力する。

【００３０】上記構成によれば、光フィルタ型切分け器
１１の挿入損失が極めて低く、光線路故障時には、反射
レベルが必ず変化するために、１００％の確率で故障切
分けができる。又、故障位置（反射位置）についても、
高精度に認識することができる。

【００３１】（第２実施例）

【００３２】次に、この発明の第２実施例について説明
する。図８は、この発明の第２実施例を示す図であり、
この第２実施例が上記第１実施例（図１）と異なるとこ
ろは、光送信器１と光カプラ１０との間に、試験パルス
光λｔの反射光を阻止するための光フィルタ１９が介挿
されている点である。この光フィルタ１９は、第２図に
示したものと同一構成のものであるが、フィルタ角θが
反射減衰量として３７dB以上、即ち、（第１式より）約
９度程度のものを使用する点が異なっている。この第２
実施例の構成によれば、第１実施例と同様の効果に加え
て、光送信器１に対する反射光の影響を除去することが
できるため、試験パルス光λｔのレベルが高い場合には
伝送装置の発光素子、受光素子の破壊等の故障を防止で
きる利点がある。

【００３３】（第３実施例）

【００３４】次に、この発明の第３実施例について説明
する。図９は、この発明の第３実施例を示す図であり、
この第３実施例が上記第２実施例（図８）と異なるとこ
ろは、光ファイバ２と光受信器との間にスターカプラ等
の１：ｎ光分配器２０が挿入されている点及びこの光分
配器２０の加入者側には、分岐ファイバ２−１，２−
２，… …，２−ｎを介して、ｎ個の光受信器３−１，
３−２，… …，３−ｎが接続されており、それらの直
前に光フィルタ型切分け器１１−１，１１−２，……，
１１−ｎが各々挿入されている点である。

【００３５】加入者宅に設置される光受信器３−１，３
−２，… …，３−ｎと光分配器２０との間の距離は、
一般に、各々異なると考えられるため、正常時に光パル
ス試験器６で各光フィルタ型切分け器１１−１，１１−
２，… …，１１−ｎの反射レベル及び位置を各々測定
した場合、図１０に示す結果が得られる。ここで、横軸
は光パルス試験器６から反射位置までの距離、縦軸は反
射レベル、１ｓは光分配器２０の位置である。光パルス
試験器６から反射位置までの距離を１１，１２，…
…，１ｍ（１１＜１２＜… …１ｍ）とし、対応する反
射レベルをｙ１，ｙ２，… …，ｙｍとすると、１１，
１２，… …，１ｍには、光分配器２０からの距離が短
い順に、光フィルタ型切分け器１１−１，１１−２，…
…，１１−ｎが各々対応する。例えば、反射レベルｙ
１は、光分配器２０から最も近距離の加入者に設置され
ている光フィルタ型切分け器からの反射であることが分
かり、反射レベルｙｍは、光分配器２０からの距離が
（短い方から数えて）第ｍ番目の加入者に設置されてい
る光フィルタ型切分け器からの反射であることがわか
る。

【００３６】図１１は、（光分配器２０に２番目に近い
加入者を結ぶ）分岐ファイバ２−２が切断された場合の
光パルス試験器６による反射量の測定結果を示してい
る。この図に示すように、距離１２での反射レベルｙ２
がノイズレベル以下となり、新たに、距離１２'のフレ
ネル反射ｙ２'が測定されている。従って、この図か
ら、分岐ファイバ２−２に故障が生じており、その故障
位置は１２'であることがわかる。

【００３７】又、図１２には、光カプラ１０と光分配器
２０との間の光ファイバ２が切断された場合の、光パル
ス試験器６による測定結果を示している。このケースに
おいては、すべての反射器からの反射がなくなり（ノイ
ズレベル以下となり）、新たに光分配器２０と局側との
間（０〜１Sの間）に切断点によるフレネル反射ｙ０'が
測定される。従って、光ファイバ２の故障発生とその故
障位置がわかる。

【００３８】次に、この例の動作について、図１３のフ
ローチャートを参照して、説明する。伝走路に異常が発
生すると、光送信器１又は複数の光受信器３のうちの一
つからアラームが発せられる。検査者は、このアラーム
により伝走路の異常発生を知ると、光パルス試験器６を
動作状態にする（ステップＳＢ１）。これより、ＣＰＵ
１２は、ステップＳＢ２へ進み、光パルス試験器６から
試験パルス光λｔを伝送路（光ファイバ２）に導入し、
各フィルタ型切分け器１１−１，１１−２，……，１１
−ｎからの（試験パルス光λｔの）反射光の光レベルと
反射位置を検出する。

【００３９】次に、ステップＳＢ３において、ＣＰＵ１
２は、データベース１３から、前述した正常時の測定デ
ータ（反射レベル、反射位置）を読出して、今回の検出
データ（反射レベル、反射位置）と比較する。まず、正
常時の測定と今回のそれとの間で反射レベルに差がある
か否かを判断する（ステップＳＢ４）。

【００４０】（イ）ステップＳＢ４において「ＹＥＳ」
と判断された時 ステップＳＢ４において、「ＹＥＳ」と判断されれば、
すなわち、反射レベルに差が生じていれば、ステップＳ
Ｂ５へ進む。ステップＳＢ５において、反射レベルに差
が生じた個数が光分配器２０からの分岐数（加入者数）
ｎと一致しているか否かを判断する。

【００４１】ステップＳＢ５において「ＹＥＳ」と判
断された時 ステップＳＢ５における判断の結果が「ＹＥＳ」、すな
わち、差が生じた反射レベルの個数が光分配器２０から
の分岐数ｎと一致する時は、ステップＳＢ７へ進む。Ｃ
ＰＵ１２は、ステップＳＢ７において、光分配器（スタ
ーカプラ）２０から局側の光ファイバ２に故障原因があ
り、その故障位置は新反射位置であることを認識し、当
該認識結果を出力する。

【００４２】ステップＳＢ５において「ＮＯ」と判断
された時 一方、ステップＳＢ５における判断の結果が「ＮＯ」、
すなわち、差が生じた反射レベルの個数が上記分岐数ｎ
と一致しない時は、ＣＰＵ１２はステップＳＢ８へ進
む。そして、ステップＳＢ８において、正常時と今回と
の間で測定された反射の位置がずれているか否かを判断
する。この判断の結果、「ＮＯ」が得られた時、すなわ
ち、反射の位置がずれていない場合には、ステップＳＢ
９へ進み、故障原因は光分配器（スターカプラ）２０か
ら加入者側の特定の分岐ファイバにあり、かつ故障位置
は、光フィルタ型切分け器の近傍であることを認識し、
認識結果を出力する。ここで、複数の分岐ファイバ２−
１，２−２，… …，２−ｎのうち、故障した分岐ファ
イバをＣＰＵ１２が特定する方法については、図１１を
参照して説明した通りである。一方、ステップＳＢ８に
おける判断の結果が「ＹＥＳ」の時、すなわち、反射の
位置がずれている場合には、ＣＰＵ１２は、ステップＳ
Ｂ１０へ移り、故障原因は光分配器（スターカプラ）２
０から加入者側の特定の分岐ファイバにあり、故障位置
は新反射位置であることを認識し、この認識結果を出力
する。故障分岐ファイバの特定方法については、図１１
を参照して説明したとおりである。

【００４３】（イ）ステップＳＢ４において「ＮＯ」と
判断された時 ステップＳＢ４において、「ＮＯ」と判断されれば、す
なわち、反射レベルに差が生じていなければ、ステップ
ＳＢ６へ進む。ステップＳＢ６において、反射の位置が
ずれているか否かを判定する。この判断の結果が「ＹＥ
Ｓ」の時、すなわち、反射の位置がずれて検出された場
合には、ステップＳＢ１１へ移り、故障原因は光分配器
（スターカプラ）２０から加入者側の特定の分岐ファイ
バにあり、故障位置は新反射位置であることを認識し、
この認識結果を出力する。故障分岐ファイバの特定方法
については、図１１を参照して説明したとおりである。
一方、ステップＳＢ６における判断の結果が「ＮＯ」の
時は、すなわち、反射の位置がずれていない場合には、
ステップＳＢ１２へ進み、伝送装置（光受信器）が故障
していると認識し、認識結果を出力する。上記構成によ
れば、分岐形光線路の故障位置を切分ける場合にも適用
できる。

【００４４】なお、図１、図８及び図９のシステム構成
図において、光送受信器を入れ替えた場合でもこの発明
は当然適用できる。また、実際には光ファイバ２は多心
であるため、光カプラ１０は多数になり、その中から１
心を選定する。このため、光マトリックススイッチを光
カプラ１０と光パルス試験器６の間に挿入し、故障切分
けの自動化を図ることができる。

【００４５】また、上述の第１実施例においては、光フ
ィルタ１４のフィルタ角θを最適角度範囲１．４〜２．
８度に設定した場合について述べたが、この発明に係る
フィルタ角は上記最適角度範囲に限定するものではな
い。図１６〜図２０は、いずれもフィルタ角に対する反
射減衰量の理論値を示す特性図である。これらの図のう
ち、図１６は、スポットサイズＷを５．０μｍに光の波
長λを１．５５μｍにそれぞれ固定し、クラッド部の比
屈折率ｎを１．３〜１．６の範囲で変化させた場合の関
係図、図１７は、比屈折率ｎを１．５に、光の波長λを
１．５５μｍにそれぞれ固定し、スポットサイズＷを
４．５〜５．２５μｍに変化させた場合の関係図、図１
８は、比屈折率ｎを１．５に、スポットサイズＷを５．
０μｍにそれぞれ固定し、光の波長λを１．２〜１．７
μｍの範囲で変化させた場合の関係図である。

【００４６】図１６〜図１８に示すように、比屈折率ｎ
＝１．４〜１．６、スポットサイズＷ＝４．２５〜５．
２５、波長λ＝１．２〜１．７の変動範囲においては、
フィルタ角θの採りうる最大値は比屈折率ｎ＝１．４、
スポットサイズＷ＝４．２５、波長λｔ＝１．７の組合
わせの場合におけるθ＝３．８８度である。（図１９参
照）。この場合の波長λｔ＝１．７μｍの光は試験光λ
ｔとして用いられる。

【００４７】また、同様に、フィルタ角θの採りうる最
小値は、比屈折率ｎ＝１．６、スポットサイズＷ＝５．
２５μｍ、波長λ＝１．２μｍの組合わせにの場合にお
けるθ＝１．１４度である。（図２０参照）。この場合
の波長λ＝１．２μｍの光は通信光λ０として用いられ
る。したがって、スポットサイズＷ及び使用光を適宜選
択すれば、フィルタ角の最適範囲は１．１４度〜３．９
度まで、拡大する。

【００４８】以上は、システムの変動分を考慮したが、
温度その他の要因によるシステムの変動分を考慮する必
要がない場合は、フィルタ角θの最大値は、光ファイバ
の切断時に生じる反射減衰量１４．３ｄＢの切分けが可
能な４．７度までにさらに拡大するリップルのない理想
的なフィルタが出来るとすると、また、フィルタ角θの
最小値は０度となる。したがって、システムの変動が生
じない場合には、フィルタ角の最適範囲はさらに０度〜
４．６６度まで拡大する。

【００４９】

【発明の効果】以上説明したように、この発明は、光カ
プラによる試験パルス光の挿入、光フィルタ１枚で構成
したコネクタ実装型の光フィルタ型切分け器を使用し
て、反射光のレベルと反射位置の変化により切分け判定
を行うものであるため、分岐形光線路形態にも適用で
き、従来に比べて一段と精度良く、かつ詳細な故障情報
を提供することができる。又、小型の光学部材のコネク
タ実装型の光フィルタ型切分け器を用いて構成したの
で、システム全体の、小型化を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の第１実施例である光伝送路の故障位
置切分け方法に適用される光伝送システムの構成を示す
ブロック図である。

【図２】同例の光フィルタ型切分け器の構成を示す図で
ある。

【図３】フィルタ角θと反射減衰量との関係を示す図で
ある。

【図４】フィルタ角θと反射減衰量との関係を示す図で
ある。

【図５】光フィルタ型切分け器の目標特性と試作結果を
示す図である。

【図６】コネクタ実装型の光フィルタ型切分け器の構成
を示す断面図である。

【図７】同例の光フィルタ型切分け方法の手順を示すフ
ローチャートである。

【図８】この発明の第２実施例に適用される光伝送シス
テムの構成を示すブロック図である。

【図９】この発明の第３実施例に適用される光伝送シス
テムの構成を示すブロック図である。

【図１０】第３実施例の説明に供する図である。

【図１１】第３実施例の説明に供する図である。

【図１２】第３実施例の説明に供する図である。

【図１３】第３実施例の故障切分け動作を説明するため
のフローチャートである。

【図１４】従来の光伝送路の故障位置切分け方法の説明
に供する図である。

【図１５】従来の故障位置切分け方法に適用される光フ
ィルタの配置構成を示す図である。

【図１６】フィルタ角θと反射減衰量との関係を示す図
である。

【図１７】フィルタ角θと反射減衰量との関係を示す図
である。

【図１８】フィルタ角θと反射減衰量との関係を示す図
である。

【図１９】フィルタ角θと反射減衰量との関係を示す図
である。

【図２０】フィルタ角θと反射減衰量との関係を示す図
である。

【符号の説明】

１光送信器 ２ 光ファイバ ２−１〜２−ｎ 分岐ファイバ ３ 光ファイバ ３−１〜３−ｎ 光受信器 ４ａ 光フィルタ ４ｂ 光フィルタ ５ 反射鏡 ６ 光パルス試験器 ７ 光パルス送信器 ８ 光合分波器 ９ 光パルス受信器 １０ 光カプラ １１ 光フィルタ型切分け器 １２ ＣＰＵ １３ データベース １５ 補強部 １４ 光フィルタ １７ 光ファイバ １８ コード部 １９ 光フィルタ ２０ 光分配器（スターカプラ） ４１ フェルール ４２ ツマミ ４３ プラグフレーム ４４ バネ ４５ スリーブ ４６ ストップリング ４７ カシメリング ４８ リング ４９ ゴムホルダ ５０ 補強部 ５１ 裸心線 λ０ 通信光 λ１ 試験パルス光

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中村 享司 東京都千代田区大手町二丁目３番１号 日本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 昭59−196438（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−166837（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−276039（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−280235（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−121829（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G01M 11/00 - 11/08

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光パルス試験器を用いて光線路と伝送装
   置の光受信器との故障位置切分けを行う光伝送システム
   の故障位置切分け方法において、前記光パルス試験器か
   ら通信光と異なる波長の試験パルス光を光カプラを介し
   て前記光線路に挿入し、前記光受信器の直前に設置した
   前記試験パルス光のみを反射させるコネクタ実装型の光
   フィルタ型切分け器による前記試験パルスの光の反射光
   について、その光レベル及び位置を検知し、検知した当
   該光レベル及び位置を、正常な状態時の前記光線路につ
   いて予め測定していた前記反射光の光レベル及び位置と
   を比較する工程において、光レベルを比較の結果、 前記光レベルに変動が生じている場合には、前記光線路
   に故障有と判定し、かつさらに反射光の位置ずれの有無
   を比較して故障位置を決定し、 前記光レベルに変動が生じていない場合には、さらに反
   射光の位置ずれの有無を比較し、反射光の位置ずれがあ
   る場合は前記光線路に故障有と判定し、かつ故障位置を
   決定し、反射光の位置ずれが無い場合は 前記光線路に故
   障無と判定することにより、前記光線路と前記伝送装置
   の光受信器との故障位置切分けを行うことを特徴とする
   光伝送システムの故障位置切分け方法。
2. 【請求項２】 光線路の途中に光分岐器を設け、前記光
   分岐器によって分岐された分岐数ｎ（ｎ≧２の整数）の
   光線路の加入者側に設けられた各光受信器の直前にコネ
   クタ実装型の光フィルタ型切分器を各々設置し、光パル
   ス試験器を用いて光線路と伝送装置の光受信器との故障
   位置切分けを行う光伝送システムの故障位置切分け方法
   において、前記光パルス試験器から通信光と異なる波長
   の試験パルス光を光カプラを介して前記光線路に挿入
   し、前記各光受信器の直前に各々設置した前記試験パル
   ス光のみを反射させる前記コネクタ実装型の光フィルタ
   型切分け器による前記試験パルスの光の各反射光につい
   て、その光レベル及び位置を各々検知し、検知した当該
   光レベル及び位置を、正常な状態時の前記光線路及び分
   岐された各光線路について予め測定していた前記各反射
   光の光レベル及び位置とを比較する工程において、 光
   レベルを比較の結果、 前記光レベルに変動が生じている場合には、変動が生じ
   た反射レベルの個数が前記光分岐器によって分岐された
   分岐数ｎと一致しているか否かを判断し、一致している
   場合は前記光分岐器より前記パルス試験器側の前記光線
   路に故障有と判定し、かつ故障位置を決定し、一致して
   いない場合には、さらに反射光の位置ずれの有無を比較
   して前記光分岐器より後方の前記光線路に故障有と判定
   し、かつ故障位置を決定し、 前記光レベルに変動が生じていない場合には、さらに反
   射光の位置ずれの有無を比較し、反射光の位置ずれがあ
   る場合は前記光線路に故障有と判定し、かつ故障位置を
   決定し、反射光の位置ずれが無い場合は 前記光線路に故
   障無と判定することにより、前記光線路と前記伝送装置
   の光受信器との故障位置切分けを行うことを特徴とする
   光伝送システムの故障位置切分け方法。