JP3203240B2 - 光伝送システムの故障位置切分け方法 - Google Patents
光伝送システムの故障位置切分け方法Info
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Description
と光受信器との間を、光ファイバからなる光線路によっ
て接続し、前記光送信器から前記光受信器へ通信光を伝
搬させて情報伝送を行う光伝送システム、または、伝送
装置の光送信器と、加入者毎に設けられた伝送装置の光
受信器と、前記光送信器からの通信光を前記各々の光受
信器へ分配する光分配器とを有し、前記光送信器と前記
光分配器の間、及び、前記光分配器と前記各々の光受信
器の間を、光ファイバからなる光線路によって接続し、
前記光送信器から前記各々の光受信器へ通信光を伝搬さ
せて情報伝送を行う光伝送システムにおいて、光線路の
故障であるか伝送装置の故障であるかを簡便に検知し得
ると共に、光線路の故障の場合には、故障位置をも決定
し得る光伝送システムの故障位置切分け方法に関するも
のである。
装置とのいずれに故障原因があるかを検知する方法、即
ち、光線路と伝送装置との故障切分けを行う方法とし
て、従来、特願昭58−71089記載の方法が提供さ
れている。図14は、上記従来の方法を説明するための
図であり、同図において、符号1は伝送装置の光送信
器、2は光線路を構成する光ファイバ、3は伝送装置の
光受信器、4bは、光受信器3側に設けられた光フィル
タであり、図15に拡大して具体的に示すように、試験
光λtを通過させ、通信光λ0を反射する構成になって
いる。4aは、光送信器1側に設けられた光フィルタで
あり、光フィルタ4bと同様の構成のものである。又、
5は試験光λtを全反射する反射鏡、6は光パルス試験
器であり、この光パルス試験器6は、試験光λtを出力
する光パルス送信器7、合分波器8、及び反射鏡5に当
たって反射された試験光λtを受光する光パルス受信器
9から構成されている。
時、もし、光ファイバ2に断線等の故障が発生している
場合には、試験光(の反射光)λtが光パルス受信器9
において受信されないことから、光ファイバ2に故障原
因があることを確認できる。一方、光パルス受信器9に
よって試験光(の反射光)λtが受信される場合には、
光ファイバ2に故障原因はなく、伝送装置に故障原因が
あることが判る。
来の方法では、光ファイバ2、光フィルタ4b、反射鏡
5、及び光受信器3との間の接続には、挿入損失が3dB
以上のレンズ系を用いていたので、構成の小型化、低価
格化が困難なうえ、光信号の高損失化を招いていた。こ
のことは、光送信器1側の光フィルタ4aと光パルス試
験器6との接続構成部分についても同様のことが言える
ので、レンズ系で構成する限り、結局システム化全体と
しての、低損失化、経済化、小型化を実現することは極
めて困難であった。又、上記従来の方法では、故障原因
が光線路にあることは検知できるものの、故障位置まで
検出することはできなかった。更に、映像分配サービス
等への適用が考えられる分岐形光線路については全く検
討がなかった。この発明は、上記事情に鑑みてなされた
もので、伝送装置と光線路との故障位置切分けを、低損
失で小型簡便に、かつ詳細に行うことができる光伝送シ
ステムの故障位置切分け方法を提供することを目的とし
ている。
に、請求項1記載の光伝送システムの故障位置切分け方
法の発明は、光パルス試験器を用いて光線路と伝送装置
の光受信器との故障位置切分けを行う光伝送システムの
故障位置切分け方法において、前記光パルス試験器から
通信光と異なる波長の試験パルス光を光カプラを介して
前記光線路に挿入し、前記光受信器の直前に設置した前
記試験パルス光のみを反射させるコネクタ実装型の光フ
ィルタ型切分け器による前記試験パルスの光の反射光に
ついて、その光レベル及び位置を検知し、検知した当該
光レベル及び位置を、正常な状態時の前記光線路につい
て予め測定していた前記反射光の光レベル及び位置とを
比較する工程において、光レベルを比較の結果、前記光
レベルに変動が生じている場合には、前記光線路に故障
有と判定し、かつさらに反射光の位置ずれの有無を比較
して故障位置を決定し、前記光レベルに変動が生じてい
ない場合には、さらに反射光の位置ずれの有無を比較
し、反射光の位置ずれがある場合は前記光線路に故障有
と判定し、かつ故障位置を決定し、反射光の位置ずれが
無い場合は前記光線路に故障無と判定することにより、
前記光線路と前記伝送装置の光受信器との故障位置切分
けを行うことを特徴としている。
障位置切分け方法の発明は、光線路の途中に光分岐器を
設け、前記光分岐器によって分岐された分岐数n(n≧
2の整数)の光線路の加入者側に設けられた各光受信器
の直前にコネクタ実装型の光フィルタ型切分器を各々設
置し、光パルス試験器を用いて光線路と伝送装置の光受
信器との故障位置切分けを行う光伝送システムの故障位
置切分け方法において、前記光パルス試験器から通信光
と異なる波長の試験パルス光を光カプラを介して前記光
線路に挿入し、前記各光受信器の直前に各々設置した前
記試験パルス光のみを反射させる前記コネクタ実装型の
光フィルタ型切分け器による前記試験パルスの光の各反
射光について、その光レベル及び位置を各々検知し、検
知した当該光レベル及び位置を、正常な状態時の前記光
線路及び分岐された各光線路について予め測定していた
前記各反射光の光レベル及び位置とを比較する工程にお
いて、光レベルを比較の結果、前記光レベルに変動が生
じている場合には、変動が生じた反射レベルの個数が前
記光分岐器によって分岐された分岐数nと一致している
か否かを判断し、一致している場合は前記光分岐器より
前記パルス試験器側の前記光線路に故障有と判定し、か
つ故障位置を決定し、一致していない場合には、さらに
反射光の位置ずれの有無を比較して前記光分岐器より後
方の前記光線路に故障有と判定し、かつ故障位置を決定
し、前記光レベルに変動が生じていない場合には、さら
に反射光の位置ずれの有無を比較し、反射光の位置ずれ
がある場合は前記光線路に故障有と判定し、かつ故障位
置を決定し、反射光の位置ずれが無い場合は前記光線路
に故障無と判定することにより、前記光線路と前記伝送
装置の光受信器との故障位置切分けを行うことを特徴と
している。
の光学部材のコネクタ実装型の光フィルタ型切分け器を
用いて構成したので、システム全体の、小型化、経済
化、低損失化を図ることができると共に、検知精度の向
上を図ることができる。又、一段と詳細な故障位置が判
る。更に、分岐形光線路にも適用できる。
ついて説明する。
走路の故障位置切分け方法に適用する伝送装置の構成を
示す図である。この図において、従来の伝送システム
(図14)の各部に対応する部分には、同一符号にを付
して、これらの説明を省略する。図1において、10は
光カプラ、11は光フィルタ型切分け器、12は光パル
ス試験器6を制御するCPU(中央処理装置)、13は
各種データを記憶するデータベースである。上記光フィ
ルタ型切分け器11は、第2図に示すように、通信光通
過試験光阻止形の光フィルタ14と、光フィルタ14を
補強する補強部15と、光ファイバ17を軸心に有する
コード部18とから構成されている。上記光フィルタ1
4は、酸化チタンや酸化シリコンなどからなる多層膜に
よる光の干渉を利用して、通信光λ0を通過させ、通信
光λ0と異なる波長の試験パルス光λtを反射させるよ
うに形成されている。
て、適当な角度θを選定して挿入すれば、図2に示すよ
うに阻止光(試験パルス光)λtの大部分が散乱せずに
光ファイバ2に再挿入されるようになり、試験パルス光
λtに対してその反射量を大きくすることができる。次
に、このフィルタ角θの設計法について述べる。このフ
ィルタ角θは試験光λt及び通信光λ0に対して所要の
反射減衰量が得られるように以下に示すように決定する
必要がある。
いて、試験光λtが光フィルタ14で全反射して光ファ
イバ17に再入射する場合、その反射光は等価的に2θ
だけ角度をずらした光ファイバ17の接続損失分だけ減
衰すると考えられる。従って、試験光λtの反射減衰量
Lrtはこの損失に通過損失Itを加えたものとなる。
角度ずれによる接続損失の計算式はMARCUSE
(B.S.T.J,56,5,1977)により与えられて
いるので反射減衰量Lrtは次式で表される。
λ)2)+It
の比屈折率、wはスポットサイズ、λは試験光の波長で
ある。図3に第1式を用いてLrtとθの間系を計算
し、実験結果と比較して示す。同図より明らかなよう
に、計算結果と実験結果とはほぼ一致し、従って、第1
式の計算結果から反射減衰量を推定できることが分か
る。同図の破線は光ファイバ心線が切分け器11の近傍
で破断し、大きなフレネル反射(14.3dB)が生じ
た場合でも、この例の方法を適用できるように設定した
目標特性を示している。これより、挿入角θは2.8度
以下にする必要がある。
透過帯域のリップルにより生じる。従って、通信光λ0
の反射減衰量Lrsは上記リップルy%及び第1式より
次式で表される。
係を図4に示す。同図の破線は、通信用光コネクタと同
様になるように設定された目標特性を示しており、光フ
ィルタ14のリップル分を約1.5%程度とすると挿入
角θは1.4度以上にする必要がある。従って、図3と図4
とから目標特性を満たすためには、フィルタ角を約1.
4度〜2.8度とする必要がある。
に対する反射減衰量及び通信損失の目標値と試作品の実
測値を比較して示している。ここで、詩作ではフィルタ
角θは2.0度とした。
していることがわかる。従って、フィルタ角としては
1.4〜2.8度程度が最適値といえる。図5から明ら
かなように、この光フィルタ切分け器11は1.31μ
m波長帯が通信光λ0、1.55μm波長帯が試験パル
ス光λtに使用でき、通過損失は0.5dB以下と従来
に比べ約1/6以下に低損失化を図ることができる。
又、上述の最適角度範囲を採用することにより、光フィ
ルタ型切分け器11による試験パルス光λtに対する反
射減衰量は光線路故障時に出るフレネル反射減衰量より
必ず小さく出来る。
路(光ファイバ2)に、光パルス試験器6から導入され
た試験パルス光λtが光フィルタ型切分け器11で反射
され、上記光線路に再導入され、光パルス試験器6によ
り検出されたデータ(光レベル及び反射点(位置))
が、CPU12を通して蓄積されている。
分け器の構成例を示す。この図において、符号41は、
例えば、ジルコニア等からなるフェルール、42はツマ
ミ、43はプラグフレーム、44はバネ、45はスリー
ブ、46はストップリング、47はカシメリング、48
はリング、49はゴムホルダ、50は補強部、51は裸
心線である。又、ここで、光フィルタ14は数十μm以
下の薄いものが使用されている。このようにコネクタ内
に実装することにより小型化、経済化、低損失化、高信
頼性化ができる。
ーチャートを参照して、説明する。伝送路に異常が発生
すると、光送信器1又は光受信器3からアラームが発せ
られる。検査者は、このアラームにより伝送路の異常発
生を知ると、光パルス試験器6を動作状態にする。(ス
テップSA1)。これより、CPU12は、ステップSA2
へ進み、光パルス試験器6から試験パルス光λtを伝送
路(光ファイバ2)に導入し、これに伴うフィルタ型切
分け器11からの(試験パルス光λtの)反射光の光レ
ベルと反射位置を検出する。
ら、前述した正常時の測定データ(反射レベル、反射位
置)を読出して、今回の検出データ(反射レベル、反射
位置)と比較する(ステップSA3)。まず、正常時の測
定と今回のそれとの間で反射レベルに差が生じているか
否かを比較する(ステップSA4)。比較の結果、「YE
S」の結論が得られれば、すなわち差が検知されれば、
光線路(光ファイバ2)に故障があることが判るが、故
障位置を認識するために、ステップSA5へ進み、反射の
位置がずれているか否かを判定する(ステップSA5)。
すなわち、反射の位置がずれていない場合には、ステッ
プSA6へ進み、故障原因は光線路にあり、かつ故障位置
は、光フィルタ型切分け器11の近傍であることを認識
し、認識結果を出力する。
果、「YES」の結論が得られた時、すなわち、反射の位
置がずれている場合には、ステップSA7へ進み、故障原
因は光線路側にあり、故障位置は新反射位置であること
を認識し、当該認識結果を出力する。
論が得られた時、すなわち、正常時データと反射レベル
とで差を検知しなかった場合は、ステップSA8へ移り、
反射の位置がずれているか否かを判定する。そして、判
定の結果、「YES」の結論が得られた時、すなわち、反
射の位置がずれて検出された場合には、ステップSA7へ
移り、故障原因は光線路側にあり、故障位置は新反射位
置であることを認識し、この該認識結果を出力する。
の時は、すなわち、反射の位置がずれていない場合に
は、ステップSA9へ進み、伝送装置(光受信器)が故障
していると認識し、認識結果を出力する。
11の挿入損失が極めて低く、光線路故障時には、反射
レベルが必ず変化するために、100%の確率で故障切
分けができる。又、故障位置(反射位置)についても、
高精度に認識することができる。
する。図8は、この発明の第2実施例を示す図であり、
この第2実施例が上記第1実施例(図1)と異なるとこ
ろは、光送信器1と光カプラ10との間に、試験パルス
光λtの反射光を阻止するための光フィルタ19が介挿
されている点である。この光フィルタ19は、第2図に
示したものと同一構成のものであるが、フィルタ角θが
反射減衰量として37dB以上、即ち、(第1式より)約
9度程度のものを使用する点が異なっている。この第2
実施例の構成によれば、第1実施例と同様の効果に加え
て、光送信器1に対する反射光の影響を除去することが
できるため、試験パルス光λtのレベルが高い場合には
伝送装置の発光素子、受光素子の破壊等の故障を防止で
きる利点がある。
する。図9は、この発明の第3実施例を示す図であり、
この第3実施例が上記第2実施例(図8)と異なるとこ
ろは、光ファイバ2と光受信器との間にスターカプラ等
の1:n光分配器20が挿入されている点及びこの光分
配器20の加入者側には、分岐ファイバ2−1,2−
2,… …,2−nを介して、n個の光受信器3−1,
3−2,… …,3−nが接続されており、それらの直
前に光フィルタ型切分け器11−1,11−2,……,
11−nが各々挿入されている点である。
−2,… …,3−nと光分配器20との間の距離は、
一般に、各々異なると考えられるため、正常時に光パル
ス試験器6で各光フィルタ型切分け器11−1,11−
2,… …,11−nの反射レベル及び位置を各々測定
した場合、図10に示す結果が得られる。ここで、横軸
は光パルス試験器6から反射位置までの距離、縦軸は反
射レベル、1sは光分配器20の位置である。光パルス
試験器6から反射位置までの距離を11,12,…
…,1m(11<12<… …1m)とし、対応する反
射レベルをy1,y2,… …,ymとすると、11,
12,… …,1mには、光分配器20からの距離が短
い順に、光フィルタ型切分け器11−1,11−2,…
…,11−nが各々対応する。例えば、反射レベルy
1は、光分配器20から最も近距離の加入者に設置され
ている光フィルタ型切分け器からの反射であることが分
かり、反射レベルymは、光分配器20からの距離が
(短い方から数えて)第m番目の加入者に設置されてい
る光フィルタ型切分け器からの反射であることがわか
る。
加入者を結ぶ)分岐ファイバ2−2が切断された場合の
光パルス試験器6による反射量の測定結果を示してい
る。この図に示すように、距離12での反射レベルy2
がノイズレベル以下となり、新たに、距離12'のフレ
ネル反射y2'が測定されている。従って、この図か
ら、分岐ファイバ2−2に故障が生じており、その故障
位置は12'であることがわかる。
20との間の光ファイバ2が切断された場合の、光パル
ス試験器6による測定結果を示している。このケースに
おいては、すべての反射器からの反射がなくなり(ノイ
ズレベル以下となり)、新たに光分配器20と局側との
間(0〜1Sの間)に切断点によるフレネル反射y0'が
測定される。従って、光ファイバ2の故障発生とその故
障位置がわかる。
ローチャートを参照して、説明する。伝走路に異常が発
生すると、光送信器1又は複数の光受信器3のうちの一
つからアラームが発せられる。検査者は、このアラーム
により伝走路の異常発生を知ると、光パルス試験器6を
動作状態にする(ステップSB1)。これより、CPU
12は、ステップSB2へ進み、光パルス試験器6から
試験パルス光λtを伝送路(光ファイバ2)に導入し、
各フィルタ型切分け器11−1,11−2,……,11
−nからの(試験パルス光λtの)反射光の光レベルと
反射位置を検出する。
2は、データベース13から、前述した正常時の測定デ
ータ(反射レベル、反射位置)を読出して、今回の検出
データ(反射レベル、反射位置)と比較する。まず、正
常時の測定と今回のそれとの間で反射レベルに差がある
か否かを判断する(ステップSB4)。
と判断された時 ステップSB4において、「YES」と判断されれば、
すなわち、反射レベルに差が生じていれば、ステップS
B5へ進む。ステップSB5において、反射レベルに差
が生じた個数が光分配器20からの分岐数(加入者数)
nと一致しているか否かを判断する。
断された時 ステップSB5における判断の結果が「YES」、すな
わち、差が生じた反射レベルの個数が光分配器20から
の分岐数nと一致する時は、ステップSB7へ進む。C
PU12は、ステップSB7において、光分配器(スタ
ーカプラ)20から局側の光ファイバ2に故障原因があ
り、その故障位置は新反射位置であることを認識し、当
該認識結果を出力する。
された時 一方、ステップSB5における判断の結果が「NO」、
すなわち、差が生じた反射レベルの個数が上記分岐数n
と一致しない時は、CPU12はステップSB8へ進
む。そして、ステップSB8において、正常時と今回と
の間で測定された反射の位置がずれているか否かを判断
する。この判断の結果、「NO」が得られた時、すなわ
ち、反射の位置がずれていない場合には、ステップSB
9へ進み、故障原因は光分配器(スターカプラ)20か
ら加入者側の特定の分岐ファイバにあり、かつ故障位置
は、光フィルタ型切分け器の近傍であることを認識し、
認識結果を出力する。ここで、複数の分岐ファイバ2−
1,2−2,… …,2−nのうち、故障した分岐ファ
イバをCPU12が特定する方法については、図11を
参照して説明した通りである。一方、ステップSB8に
おける判断の結果が「YES」の時、すなわち、反射の
位置がずれている場合には、CPU12は、ステップS
B10へ移り、故障原因は光分配器(スターカプラ)2
0から加入者側の特定の分岐ファイバにあり、故障位置
は新反射位置であることを認識し、この認識結果を出力
する。故障分岐ファイバの特定方法については、図11
を参照して説明したとおりである。
判断された時 ステップSB4において、「NO」と判断されれば、す
なわち、反射レベルに差が生じていなければ、ステップ
SB6へ進む。ステップSB6において、反射の位置が
ずれているか否かを判定する。この判断の結果が「YE
S」の時、すなわち、反射の位置がずれて検出された場
合には、ステップSB11へ移り、故障原因は光分配器
(スターカプラ)20から加入者側の特定の分岐ファイ
バにあり、故障位置は新反射位置であることを認識し、
この認識結果を出力する。故障分岐ファイバの特定方法
については、図11を参照して説明したとおりである。
一方、ステップSB6における判断の結果が「NO」の
時は、すなわち、反射の位置がずれていない場合には、
ステップSB12へ進み、伝送装置(光受信器)が故障
していると認識し、認識結果を出力する。上記構成によ
れば、分岐形光線路の故障位置を切分ける場合にも適用
できる。
図において、光送受信器を入れ替えた場合でもこの発明
は当然適用できる。また、実際には光ファイバ2は多心
であるため、光カプラ10は多数になり、その中から1
心を選定する。このため、光マトリックススイッチを光
カプラ10と光パルス試験器6の間に挿入し、故障切分
けの自動化を図ることができる。
ィルタ14のフィルタ角θを最適角度範囲1.4〜2.
8度に設定した場合について述べたが、この発明に係る
フィルタ角は上記最適角度範囲に限定するものではな
い。図16〜図20は、いずれもフィルタ角に対する反
射減衰量の理論値を示す特性図である。これらの図のう
ち、図16は、スポットサイズWを5.0μmに光の波
長λを1.55μmにそれぞれ固定し、クラッド部の比
屈折率nを1.3〜1.6の範囲で変化させた場合の関
係図、図17は、比屈折率nを1.5に、光の波長λを
1.55μmにそれぞれ固定し、スポットサイズWを
4.5〜5.25μmに変化させた場合の関係図、図1
8は、比屈折率nを1.5に、スポットサイズWを5.
0μmにそれぞれ固定し、光の波長λを1.2〜1.7
μmの範囲で変化させた場合の関係図である。
=1.4〜1.6、スポットサイズW=4.25〜5.
25、波長λ=1.2〜1.7の変動範囲においては、
フィルタ角θの採りうる最大値は比屈折率n=1.4、
スポットサイズW=4.25、波長λt=1.7の組合
わせの場合におけるθ=3.88度である。(図19参
照)。この場合の波長λt=1.7μmの光は試験光λ
tとして用いられる。
小値は、比屈折率n=1.6、スポットサイズW=5.
25μm、波長λ=1.2μmの組合わせにの場合にお
けるθ=1.14度である。(図20参照)。この場合
の波長λ=1.2μmの光は通信光λ0として用いられ
る。したがって、スポットサイズW及び使用光を適宜選
択すれば、フィルタ角の最適範囲は1.14度〜3.9
度まで、拡大する。
温度その他の要因によるシステムの変動分を考慮する必
要がない場合は、フィルタ角θの最大値は、光ファイバ
の切断時に生じる反射減衰量14.3dBの切分けが可
能な4.7度までにさらに拡大するリップルのない理想
的なフィルタが出来るとすると、また、フィルタ角θの
最小値は0度となる。したがって、システムの変動が生
じない場合には、フィルタ角の最適範囲はさらに0度〜
4.66度まで拡大する。
プラによる試験パルス光の挿入、光フィルタ1枚で構成
したコネクタ実装型の光フィルタ型切分け器を使用し
て、反射光のレベルと反射位置の変化により切分け判定
を行うものであるため、分岐形光線路形態にも適用で
き、従来に比べて一段と精度良く、かつ詳細な故障情報
を提供することができる。又、小型の光学部材のコネク
タ実装型の光フィルタ型切分け器を用いて構成したの
で、システム全体の、小型化を図ることができる。
置切分け方法に適用される光伝送システムの構成を示す
ブロック図である。
ある。
ある。
ある。
示す図である。
を示す断面図である。
ローチャートである。
テムの構成を示すブロック図である。
テムの構成を示すブロック図である。
のフローチャートである。
に供する図である。
ィルタの配置構成を示す図である。
である。
である。
である。
である。
である。
Claims (2)
- 【請求項1】 光パルス試験器を用いて光線路と伝送装
置の光受信器との故障位置切分けを行う光伝送システム
の故障位置切分け方法において、前記光パルス試験器か
ら通信光と異なる波長の試験パルス光を光カプラを介し
て前記光線路に挿入し、前記光受信器の直前に設置した
前記試験パルス光のみを反射させるコネクタ実装型の光
フィルタ型切分け器による前記試験パルスの光の反射光
について、その光レベル及び位置を検知し、検知した当
該光レベル及び位置を、正常な状態時の前記光線路につ
いて予め測定していた前記反射光の光レベル及び位置と
を比較する工程において、光レベルを比較の結果、 前記光レベルに変動が生じている場合には、前記光線路
に故障有と判定し、かつさらに反射光の位置ずれの有無
を比較して故障位置を決定し、 前記光レベルに変動が生じていない場合には、さらに反
射光の位置ずれの有無を比較し、反射光の位置ずれがあ
る場合は前記光線路に故障有と判定し、かつ故障位置を
決定し、反射光の位置ずれが無い場合は 前記光線路に故
障無と判定することにより、前記光線路と前記伝送装置
の光受信器との故障位置切分けを行うことを特徴とする
光伝送システムの故障位置切分け方法。 - 【請求項2】 光線路の途中に光分岐器を設け、前記光
分岐器によって分岐された分岐数n(n≧2の整数)の
光線路の加入者側に設けられた各光受信器の直前にコネ
クタ実装型の光フィルタ型切分器を各々設置し、光パル
ス試験器を用いて光線路と伝送装置の光受信器との故障
位置切分けを行う光伝送システムの故障位置切分け方法
において、前記光パルス試験器から通信光と異なる波長
の試験パルス光を光カプラを介して前記光線路に挿入
し、前記各光受信器の直前に各々設置した前記試験パル
ス光のみを反射させる前記コネクタ実装型の光フィルタ
型切分け器による前記試験パルスの光の各反射光につい
て、その光レベル及び位置を各々検知し、検知した当該
光レベル及び位置を、正常な状態時の前記光線路及び分
岐された各光線路について予め測定していた前記各反射
光の光レベル及び位置とを比較する工程において、 光
レベルを比較の結果、 前記光レベルに変動が生じている場合には、変動が生じ
た反射レベルの個数が前記光分岐器によって分岐された
分岐数nと一致しているか否かを判断し、一致している
場合は前記光分岐器より前記パルス試験器側の前記光線
路に故障有と判定し、かつ故障位置を決定し、一致して
いない場合には、さらに反射光の位置ずれの有無を比較
して前記光分岐器より後方の前記光線路に故障有と判定
し、かつ故障位置を決定し、 前記光レベルに変動が生じていない場合には、さらに反
射光の位置ずれの有無を比較し、反射光の位置ずれがあ
る場合は前記光線路に故障有と判定し、かつ故障位置を
決定し、反射光の位置ずれが無い場合は 前記光線路に故
障無と判定することにより、前記光線路と前記伝送装置
の光受信器との故障位置切分けを行うことを特徴とする
光伝送システムの故障位置切分け方法。
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JP32094689 | 1989-12-11 | ||
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JP23273490 | 1990-09-03 | ||
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