JPH06110072A - 液晶表示装置 - Google Patents
液晶表示装置Info
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- JPH06110072A JPH06110072A JP26099192A JP26099192A JPH06110072A JP H06110072 A JPH06110072 A JP H06110072A JP 26099192 A JP26099192 A JP 26099192A JP 26099192 A JP26099192 A JP 26099192A JP H06110072 A JPH06110072 A JP H06110072A
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- Japan
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- crystal panel
- electrode
- electrode terminals
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Abstract
(57)【要約】
【目的】ＣＯＧ構造をもつ液晶パネルの検査を液晶パネ
ル検査用の開孔部の長さを端子配線の電極端子の配線間
隔より大きく形成して行うことにより、電極端子の狭ピ
ッチ，狭小化に対応させる。 【構成】ＣＯＧ構造をもつ液晶パネルの端子配線３の電
極端子に液晶パネル検査用の電極プローブを接触させる
ための開孔部２を電極端子の配線間隔よりも大きく形成
してプローブ接触部９を開孔部２の先端部に交互に位置
するように配置する構造にしプローブ接触部９のピッチ
を広げることにより、狭ピッチ，狭小化する液晶パネル
の電極端子に液晶パネル検査用の電極プローブを対応さ
せることができる。
ル検査用の開孔部の長さを端子配線の電極端子の配線間
隔より大きく形成して行うことにより、電極端子の狭ピ
ッチ，狭小化に対応させる。 【構成】ＣＯＧ構造をもつ液晶パネルの端子配線３の電
極端子に液晶パネル検査用の電極プローブを接触させる
ための開孔部２を電極端子の配線間隔よりも大きく形成
してプローブ接触部９を開孔部２の先端部に交互に位置
するように配置する構造にしプローブ接触部９のピッチ
を広げることにより、狭ピッチ，狭小化する液晶パネル
の電極端子に液晶パネル検査用の電極プローブを対応さ
せることができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は液晶表示装置に関し、特
に液晶駆動用ＩＣチップをガラス基板上に直接搭載する
構造をもつ液晶表示装置に関する。
に液晶駆動用ＩＣチップをガラス基板上に直接搭載する
構造をもつ液晶表示装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の液晶表示装置は、液晶パネルを駆
動する液晶駆動用（以下、ドライバと記す）ＩＣチップ
をＴＡＢテープに搭載し、そのＴＡＢテープを液晶パネ
ル周辺の端子に接続することにより構成され、ＴＡＢテ
ープを用いる液晶パネルの検査は、図３に示すように、
液晶パネル周辺に並んで形成した端子配線の電極端子に
電極端子とほぼ同じピッチで形成された開孔部２に液晶
パネル検査用の電極プローブを接触させることにより行
っていた。
動する液晶駆動用（以下、ドライバと記す）ＩＣチップ
をＴＡＢテープに搭載し、そのＴＡＢテープを液晶パネ
ル周辺の端子に接続することにより構成され、ＴＡＢテ
ープを用いる液晶パネルの検査は、図３に示すように、
液晶パネル周辺に並んで形成した端子配線の電極端子に
電極端子とほぼ同じピッチで形成された開孔部２に液晶
パネル検査用の電極プローブを接触させることにより行
っていた。
【０００３】しかしながら、最近では、小型化，低コス
ト化などの要求からドライバＩＣチップを液晶パネルの
ガラス基板上に直接搭載する、いわゆる、ＣＯＧ（Ｃｈ
ｉｐｏｎ ｇｌａｓｓ）構造が採用されるようになって
きた。
ト化などの要求からドライバＩＣチップを液晶パネルの
ガラス基板上に直接搭載する、いわゆる、ＣＯＧ（Ｃｈ
ｉｐｏｎ ｇｌａｓｓ）構造が採用されるようになって
きた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前述のＣＯＧ構造の液
晶パネルの検査の場合、液晶パネルの端子配線の電極端
子がドライバＩＣの電極に対応して狭ピッチ，狭小化し
ているため、従来から使用している液晶パネル検査用の
電極プローブを電極端子の開孔部に接触させて検査する
ことは困難であり、また、電極プローブをＣＯＧに用い
ている電極端子間隔で作成することは精度的に困難であ
るといった問題点があった。
晶パネルの検査の場合、液晶パネルの端子配線の電極端
子がドライバＩＣの電極に対応して狭ピッチ，狭小化し
ているため、従来から使用している液晶パネル検査用の
電極プローブを電極端子の開孔部に接触させて検査する
ことは困難であり、また、電極プローブをＣＯＧに用い
ている電極端子間隔で作成することは精度的に困難であ
るといった問題点があった。
【０００５】本発明の目的は、従来から使用している液
晶パネル検査用の電極プローブを用い電極端子の狭ピッ
チ，狭小化に対応して検査が可能な液晶表示装置を提供
することにある。
晶パネル検査用の電極プローブを用い電極端子の狭ピッ
チ，狭小化に対応して検査が可能な液晶表示装置を提供
することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、ガラス基板
と、該ガラス基板上に搭載された液晶駆動用ＩＣチップ
と、前記ガラス基板上に形成され前記液晶駆動用ＩＣチ
ップに接続する端子配線と、該端子配線先端の電極端子
部に形成された液晶パネル検査用の電極プローブとの接
触用の開孔部とを有する液晶表示装置において、前記開
口部の長さが前記電極端子の間隔よりも大きく形成され
ている。
と、該ガラス基板上に搭載された液晶駆動用ＩＣチップ
と、前記ガラス基板上に形成され前記液晶駆動用ＩＣチ
ップに接続する端子配線と、該端子配線先端の電極端子
部に形成された液晶パネル検査用の電極プローブとの接
触用の開孔部とを有する液晶表示装置において、前記開
口部の長さが前記電極端子の間隔よりも大きく形成され
ている。
【０００７】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【０００８】図１（ａ），（ｂ）は本発明の一実施例の
ドライバＩＣチップ搭載部周辺のガラス基板の平面図及
びそのＡ−Ａ′線断面図である。
ドライバＩＣチップ搭載部周辺のガラス基板の平面図及
びそのＡ−Ａ′線断面図である。
【０００９】図１（ａ），（ｂ）に示すように、まず、
端子配線３をＡｌやＣｒなどの金属膜で形成し、さら
に、ＩＴＯ（Ｉｎ Ｔｉｎ Ｏｘｉｄｅの略）などの導
電膜で保護する。次に、液晶パネル検査用の開孔部２と
ボンディングエリア，ドライバＩＣチップの入力端子部
を除く部分にＳｉＮx やＳｉＯ2 などの絶縁膜を形成す
る。
端子配線３をＡｌやＣｒなどの金属膜で形成し、さら
に、ＩＴＯ（Ｉｎ Ｔｉｎ Ｏｘｉｄｅの略）などの導
電膜で保護する。次に、液晶パネル検査用の開孔部２と
ボンディングエリア，ドライバＩＣチップの入力端子部
を除く部分にＳｉＮx やＳｉＯ2 などの絶縁膜を形成す
る。
【００１０】このような構造にすることにより得られる
効果について端子配線３の電極端子のピッチを０．１ｍ
ｍとした場合について説明する。
効果について端子配線３の電極端子のピッチを０．１ｍ
ｍとした場合について説明する。
【００１１】図２は図１の端子配線の電極端子部の部分
拡大平面図である。
拡大平面図である。
【００１２】この場合、従来の方法では、液晶パネル検
査用の電極プローブのピッチは図３に示すように端子配
線３の電極端子のピッチと等しいものであり、そのた
め、電極端子の狭ピッチ化に対応するのは困難であっ
た。しかし、本実施例では、図２に示すように、開口部
２の長さを電極端子の配線間隔よりも大きく形成してプ
ローブ接触部９を開口部２の先端部に交互に位置するよ
うに配置する構造にすることにより、液晶パネル検査用
の電極プローブ９のピッチは電極端子のピッチ０．１ｍ
ｍの倍のピッチ０．２ｍｍまで広げることが可能とな
り、電極端子の狭ピッチ化に対応することができる。
査用の電極プローブのピッチは図３に示すように端子配
線３の電極端子のピッチと等しいものであり、そのた
め、電極端子の狭ピッチ化に対応するのは困難であっ
た。しかし、本実施例では、図２に示すように、開口部
２の長さを電極端子の配線間隔よりも大きく形成してプ
ローブ接触部９を開口部２の先端部に交互に位置するよ
うに配置する構造にすることにより、液晶パネル検査用
の電極プローブ９のピッチは電極端子のピッチ０．１ｍ
ｍの倍のピッチ０．２ｍｍまで広げることが可能とな
り、電極端子の狭ピッチ化に対応することができる。
【００１３】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、液晶パネ
ルに液晶パネル検査用の電極プローブを電極端子に接触
させるための開孔部を電極端子の配線間隔より大きく形
成することにより、電極端子の狭ピッチ，狭小化に検査
用の電極プローブを対応させることが可能になるという
効果を有する。
ルに液晶パネル検査用の電極プローブを電極端子に接触
させるための開孔部を電極端子の配線間隔より大きく形
成することにより、電極端子の狭ピッチ，狭小化に検査
用の電極プローブを対応させることが可能になるという
効果を有する。
【図１】本発明の一実施例のドライバＩＣチップ搭載部
周辺のガラス基板の平面図及びそのＡ−Ａ′線断面図で
ある。
周辺のガラス基板の平面図及びそのＡ−Ａ′線断面図で
ある。
【図２】図１の端子配線の電極端子部の部分拡大平面図
である。
である。
【図３】従来の液晶表示装置の端子配線の電極端子部の
一例の部分拡大平面図である。
一例の部分拡大平面図である。
１ カラーフィルター基板 ２ 開孔部 ３ 端子配線 ４ ＩＣチップ搭載部 ５ 絶縁膜 ６ ＩＴＯ膜 ７ Ｃｒ膜 ８ ガラス基板 ９ プローブ接触部
Claims (1)
- 【請求項１】 ガラス基板と、該ガラス基板上に搭載さ
れた液晶駆動用ＩＣチップと、前記ガラス基板上に形成
され前記液晶駆動用ＩＣチップに接続する端子配線と、
該端子配線先端の電極端子部に形成された液晶パネル検
査用の電極プローブとの接触用の開孔部とを有する液晶
表示装置において、前記開口部の長さが前記電極端子の
間隔よりも大きく形成されている事を特徴とする液晶表
示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26099192A JP2864894B2 (ja) | 1992-09-30 | 1992-09-30 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26099192A JP2864894B2 (ja) | 1992-09-30 | 1992-09-30 | 液晶表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06110072A true JPH06110072A (ja) | 1994-04-22 |
| JP2864894B2 JP2864894B2 (ja) | 1999-03-08 |
Family
ID=17355552
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26099192A Expired - Fee Related JP2864894B2 (ja) | 1992-09-30 | 1992-09-30 | 液晶表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2864894B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6930744B1 (en) | 1999-05-14 | 2005-08-16 | Nec Lcd Technologies, Ltd. | LCD device having test contact pads |
| JP2006208677A (ja) * | 2005-01-27 | 2006-08-10 | Sony Corp | 液晶表示装置 |
| JP2007017476A (ja) * | 2005-07-05 | 2007-01-25 | Sanyo Epson Imaging Devices Corp | 電気光学装置、及び電子機器 |
| KR20100118511A (ko) * | 2009-04-28 | 2010-11-05 | 가부시끼가이샤 니혼 마이크로닉스 | 전기부품의 검사방법 |
| US20110169792A1 (en) * | 2008-09-29 | 2011-07-14 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display panel |
| CN107490909A (zh) * | 2016-11-05 | 2017-12-19 | 思博半导体股份有限公司 | 窄边框显示模块及数据输出装置 |
-
1992
- 1992-09-30 JP JP26099192A patent/JP2864894B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6930744B1 (en) | 1999-05-14 | 2005-08-16 | Nec Lcd Technologies, Ltd. | LCD device having test contact pads |
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| JP4645206B2 (ja) * | 2005-01-27 | 2011-03-09 | ソニー株式会社 | 液晶表示装置 |
| JP2007017476A (ja) * | 2005-07-05 | 2007-01-25 | Sanyo Epson Imaging Devices Corp | 電気光学装置、及び電子機器 |
| JP4513674B2 (ja) * | 2005-07-05 | 2010-07-28 | エプソンイメージングデバイス株式会社 | 電気光学装置、及び電子機器 |
| US20110169792A1 (en) * | 2008-09-29 | 2011-07-14 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display panel |
| KR20100118511A (ko) * | 2009-04-28 | 2010-11-05 | 가부시끼가이샤 니혼 마이크로닉스 | 전기부품의 검사방법 |
| CN107490909A (zh) * | 2016-11-05 | 2017-12-19 | 思博半导体股份有限公司 | 窄边框显示模块及数据输出装置 |
| CN107490909B (zh) * | 2016-11-05 | 2020-08-14 | 思博半导体股份有限公司 | 窄边框显示模块及数据输出装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2864894B2 (ja) | 1999-03-08 |
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Legal Events
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