JPH0588098A

JPH0588098A - レーザー光走査装置

Info

Publication number: JPH0588098A
Application number: JP27183791A
Authority: JP
Inventors: Shigeru Fukuda; 茂福田
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1991-09-25
Filing date: 1991-09-25
Publication date: 1993-04-09

Abstract

(57)【要約】【目的】バツクビーム用の光検出器の他に同期検出用
の光検出器を別個に設けない簡単な構造のレーザー光走
査装置を提供する。【構成】ポリゴンミラーによる走査動作中に、フオト
ダイオード２の出力から、半導体レーザー１のレーザー
光のポリゴンミラーでの反射光を抽出出力する比較器１
４を設ける。【効果】前記反射光を検出することにより、パルス信
号を発生して走査基準位置の設定を行ない、あるいはレ
ーザー光源の光量制御、光学系の汚れの判定と警報、レ
ーザー光源制御用の基準電圧の補正を行なえる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、複写機などに使用さ
れ、反射レーザー光を繰り返し走査するレーザー光走査
装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば、特公平２−４７７４６号公報に
開示されているように、従来から反射レーザー光を繰り
返し走査するレーザー光走査装置が、複写機やフアクシ
ミリなどに使用されている。図８は開示に係るレーザー
光走査装置の構成を示す説明図であり、半導体レーザー
１から出射されたレーザー光は、カプリングレンズ２
６、整形光学系３、ミラー４、５及び補正光学系６を経
由してポリゴンミラー７に入射し、ポリゴンミラー７の
回転によつてその反射面からの反射光が等角度で偏向さ
れる。この等角度に偏向された反射光は、ｆ−θレンズ
８により等速度偏向に変換され、回転中の感光体９上を
主走査する。この主走査と感光体９の回転に伴う副走査
によつて、反射レーザー光によつて感光体９上が二次元
的に感光されて情報の書込が行なわれる。また、開示に
係るレーザー光走査装置では、光走査のための基準位置
を得るために同期検出用の光検出器２７が感光体９の近
傍に配置され、この光検出器２７にポリゴンミラー７か
らのレーザー光が、入射する度にこの入射に基づいて同
期パルスが作成される。一方、半導体レーザー１の背後
から出射されるバツクビームを検出するバツクビーム用
の光検出器が設けてあり、この光検出器の検出信号が増
幅後に誤差増幅器で基準電圧と比較され、この誤差増幅
器の出力信号が半導体レーザー１の駆動回路に入力さ
れ、誤差増幅器に入力される増幅された検出信号が、基
準電圧と等しくなるように、半導体レーザー１が駆動さ
れその出力が制御される。

【０００３】図９は開示に係るレーザー光走査装置の動
作のタイミングチヤートで、ポリゴンミラー７を回転さ
せた状態で、同期検出のためにレーザー点灯信号Ｓ１を
ｔ６〜ｔ１間で点灯状態にすると、ポリゴンミラー７で
反射したレーザー光は同期検出用の光検出器２７を走査
し、この光検出器２７が走査光を検出した時点ｔ０で同
期パルスＳ２が出力される。そして、この同期パルスＳ
２の出力時点ｔ０を基にして、ｔ２〜ｔ３間で画像デー
タに基づく半導体レーザー１の点滅制御が行なわれ、ｔ
４〜ｔ５間では、半導体レーザー１を点灯させた状態で
前述の半導体レーザー１の出力制御が行なわれる。さら
にポリゴンミラー７が回転を継続すると、ポリゴンミラ
ー７のレーザー光の反射面が切り換わり、隣接面の走査
が開始され時点ｔ６で再び同期検出のためのレーザー点
灯が行なわれ、以下同一動作が繰り返される。この間の
半導体レーザー１のバツクビームを検出する光検出器の
出力をモニターすると図９Ｓ３のようになる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、前述の開示
に係るレーザー光走査装置では、走査位置検出のための
光検出器、及び光検出器に走査光を導くための反射鏡、
さらには反射鏡を取付けるための部材を用いる必要があ
る。また、レーザー光の走査光路上に、レーザー光の光
量を検出するための光検出器を特別に設け、レーザー光
学系の汚れを検出していた。したがつて、部品点数が増
加し装置が複雑化し、製造コストの面でも問題が生じて
いた。

【０００５】本発明は、前記従来技術の課題に鑑み、こ
れを解消すべくなされたもので、その目的は、走査位置
検出のための光検出器及び光検出器に走査光を導くため
の反射鏡、さらには反射鏡を取付けるための部材を用い
ることなく走査位置を検出して、良好な光走査を行なう
レーザー光走査装置を提供することにある。本発明の他
の目的は、従来の如く、レーザー光の走査光路上にレー
ザー光の光量を検出するための光検出器を特別に設ける
ことなくレーザー光学系の汚れを検出して警告する、安
価なレーザー光走査装置を提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、請求項１に記載の発明は、バツクビームの光量を検
出するモニター手段を有するレーザー光源と、レーザー
光を入射し、その反射光を走査する反射面を有し被走査
体を繰り返し走査する走査装置と、レーザー光を走査装
置に導く光学系とを有するレーザー光走査装置であつ
て、前記走査装置は走査動作中に、反射光が前記光学手
段を通して前記レーザー光源に戻るように構成されてい
て、前記モニター手段の出力より走査動作中の前記走査
装置からの反射光を検出してパルス信号を発生するパル
ス信号発生手段を備えた構成にしてある。前記目的を達
成するために、請求項２に記載の発明は、請求項１の記
載において、前記パルス信号発生手段より出力されたパ
ルス信号を、走査位置基準信号に用いた構成にしてあ
る。前記目的を達成するために、請求項３に記載の発明
は、バツクビームの光量を検出するモニター手段を有す
るレーザー光源と、レーザー光を入射しその反射光を走
査する反射面を有し被走査体を繰り返し走査する走査装
置と、レーザー光を走査装置に導く光学手段とを有する
レーザー光走査装置であつて、前記走査装置は走査動作
中に反射光が光学手段を通して前記レーザー光源に戻る
ように構成されていて、前記モニター手段の出力より走
査動作中の前記走査装置からの反射光量を検出する反射
光量検出手段を備えた構成にしてある。前記目的を達成
するために、請求項４に記載の発明は、請求項３の記載
において、前記反射光量検出手段の出力より前記光学手
段の光伝達率の増減を判定する構成にしてある。前記目
的を達成するために、請求項５に記載の発明は、請求項
４の記載において、前記光伝達率が所定の値を下まわつ
た時には、警告を発するようにした構成にしてある。同
様に前記目的を達成するために、請求項６に記載の発明
は、請求項５の記載において、前記反射光量検出手段に
より検出した反射光量に応じてレーザー光の出力を制御
するようにした構成にしてある。そして、前記目的を達
成するために、請求項７に記載の発明は、請求項３の記
載において、反射光量に応じて、レーザー光の出力を制
御するための基準電圧を補正するようにした構成にして
ある。

【０００７】

【作用】請求項１に記載の発明では、レーザー光源から
走査装置に入射するレーザー光の走査装置の反射面での
反射光が、レーザー光源と走査装置間の光学手段を通し
て戻る反射光を、レーザー光源のバツクビームの光量を
検出するモニター手段に入力する。そして、モニター手
段の出力よりパルス信号発生手段によつて前記反射光を
検出してパルス信号を発生する。請求項２に記載の発明
では、パルス信号発生手段で出力されたパルス信号を走
査位置基準としている。請求項３に記載の発明では、レ
ーザー光源から走査装置に入射するレーザー光の走査装
置の反射面での反射光が、レーザー光源と走査装置間の
光学手段を通して戻る反射光を、レーザー光源のバツク
ビームの光量を検出するモニター手段に入力する。そし
て、反射光量検出手段によつて、走査装置による走査動
作中に、モニター手段の出力から前記反射光の光量を検
出する。請求項４に記載の発明では、反射光量検出手段
の出力信号に基づいて、レーザー光源の光量を制御す
る。請求項５に記載の発明では、反射光量検出手段の出
力信号に基づいて、光伝達率の変化、増減を判定し、光
路上の汚れ等を検出する。請求項６に記載の発明では、
反射光量検出手段の出力信号に基づいて、レーザー光の
出力を制御する。請求項７に記載の発明では、反射光量
検出手段の出力信号に基づいて、補正手段によるレーザ
ー光の出力制御の基準となる基準電圧を補正する。

【０００８】

【実施例】以下、本発明の実施例を図１ないし図７を参
照して説明する。ここで、図１は第１の実施例の半導体
レーザー出力制御部の構成を示すブロツク図、図２
（ａ），（ｂ）は第１の実施例の主走査位置設定部の構
成を説明するブロツク図、図３及び図４は第１の実施例
の動作を示すタイミングチヤート、図５は第２の実施例
の構成を示すブロツク図、図６は第３の実施例の構成を
示すブロツク図、図７（ａ），（ｂ）は第２の実施例の
動作を示すタイミングチヤートである。

【０００９】第１の実施例では、図１に示すように半導
体レーザー１のバツクビームの光量を検出するフオトダ
イオード２の出力端子が、光量信号増幅器１０に接続し
てあり、光量信号増幅器１０の出力端子は、比較器１４
と誤差増幅器１１に接続してある。この誤差増幅器１１
には、基準電圧が入力されていて誤差増幅器１１の出力
端子は、ローパスフイルタ１２を介して駆動回路１３に
接続してあり、駆動回路１３には点灯信号Ｓ１が入力さ
れるようになつていて、駆動回路１３の出力端子が半導
体レーザー１に接続してある。そして、基準電圧が増幅
器１５に入力され、この増幅器１５の出力端子は比較器
１４に接続してあり、この比較器１４からパルス信号Ｓ
３が取り出されている。

【００１０】第１の実施例では、ポリゴンミラーを回転
させた状態で、図３及び図４に示すｔ６〜ｔ７間に点灯
信号Ｓ１を駆動回路１３に入力して半導体レーザー１を
点灯させると、ポリゴンミラーで半導体レーザー１から
のレーザー光を反射しながら走査する。この走査中にポ
リゴンミラーが、半導体レーザー１からのレーザ光に対
して反射面が直角配置となる位置では、反射面での反射
光は、ミラー、カプリングレンズ等の光学手段を介して
半導体レーザー１に戻る。このようにして、半導体レー
ザー１に戻つた反射光は、ハーフミラーとなつているフ
ロントビーム出射面から、半導体レーザー１のレーザー
媒質内に入り、ハーフミラーとなつているバツクビーム
出射面から、バツクビーム検出用のフオトダイオード２
に入射する。このために、フオトダイオード２に入射す
る最大光量は、ポリゴンミラーの反射面が半導体レーザ
ー１からのレーザー光に直角配置となつていない時に比
べて増加し、フオトダイオード２の出力（光量）信号Ｓ
２は図４に示すようになる。

【００１１】この光量信号Ｓ２が増幅器１０で増幅さ
れ、誤差増幅器１１の一方の入力端子に入力される。こ
の誤差増幅器１１の他方の入力端子には基準電圧が入力
されていて、誤差増幅器１１の出力信号はローパスフイ
ルタ１２で高周波帯域が除去されて、駆動回路１３にフ
イードバツクされ、半導体レーザー１の光出力は、増幅
器１０の出力が常に基準電圧に等しくなるように制御さ
れる。

【００１２】増幅器１５によつて基準電圧が所定の割合
で増幅されて比較器１４に入力される。この割合は、半
導体レーザー１から出射されたレーザー光が、ポリゴン
ミラーの反射面で反射して半導体レーザー１に戻る割合
をｘとすると、１＋ｘ／２倍になるように設定される。
比較器１４において、このように設定され、１＋ｘ／２
倍された基準電圧と、光量信号増幅器１０の出力信号と
が比較され、比較器１４からは図３及び図４に示すよう
なパルス信号Ｓ３が出力される。すなわち、ポリゴンミ
ラーからの反射光が入つた時に、パルス信号Ｓ３を発生
することになる。

【００１３】図２の（ｂ）に示すように、第１の実施例
ではこのパルス信号Ｓ３をタイミング制御回路１７のタ
イミング開始のトリガ信号に使用し、このトリガ信号で
作動を開始するタイミング制御回路１７からのタイミン
グ信号で、画像データ制御回路１９が作動する。比較の
ために、前記開示に係るレーザー光走査装置を図２の
（ａ）に示してあり、同期検出用の光検出器２７を配置
し、この光検出器２７から同期パルスＳ２ｂをタイミン
グ制御回路１７に入力していた。これに対して、第１の
実施例では図２の（ｂ）に示すように、レーザー出力制
御部２８から前記パルス信号Ｓ３をタイミング制御回路
１７に入力している。

【００１４】図３を参照して第１の実施例の動作を説明
すると、ポリゴンミラーを回転させた状態で、レーザー
点灯信号Ｓ１で半導体レーザー１を点灯状態にすると、
前述したように、半導体レーザー１のバツクビームの光
量がフオトダイオード２で検出される。この場合、半導
体レーザー１からのレーザー光が、ポリゴンミラーの反
射面に直角に入射する時点で、前記反射面からの反射光
がフオトダイオード２の出力信号に重畳され、このフオ
トダイオード２の出力信号から時点ｔ０において、パル
ス信号Ｓ３が比較器１４から出力される。この比較器１
４のパルス信号Ｓ３により、タイミング制御回路１７は
画像データ制御回路１９の入力である画像データＶＤに
従つて、レーザー制御部２８に、レーザーの点滅を開始
するタイミング信号ｔ１及び終了するタイミング信号ｔ
２を発生し、続いて、レーザーの光出力を基準電圧に基
づいて制御するタイミング信号ｔ３，ｔ４を発生する。
この間に、レーザー制御部２８は前述の動作に基づいて
レーザー光出力を所定の値に制御する。続いて、ポリゴ
ンミラーからの反射光によるパルス信号を得るためのレ
ーザーの点灯を行なうタイミング信号ｔ５を発生する。
これにより、パルス信号Ｓ３が得られると、同様の動作
を繰り返す。

【００１５】このように、第１の実施例によると、半導
体レーザー１のバツクビームを検出するフオトダイオー
ド２の出力信号から、ポリゴンミラーの回転位置を検出
することが可能となり、その位置をパルス信号として出
力でき、従来用いていた位置検出用の同期検出器及びそ
のための反射ミラーが不用となり、安価なレーザー走査
装置を提供できる。

【００１６】第２の実施例は、図５に示すようにすでに
説明した第１の実施例に対して、光量信号増幅器１０の
出力端子を、ピークホールド回路１６とサンプルホール
ド回路２５に接続してあり、ピークホールド回路１６の
出力端子が比較器１８に、サンプルホールド回路２５の
出力端子が、比較器１８と誤差増幅器１１に接続してあ
り、誤差増幅器１１の出力端子が駆動回路１３に接続し
てある。

【００１７】第２の実施例におけるレーザー光の点灯制
御タイミングについて図７（ａ），（ｂ）で説明する。
まず、比較のために従来例を図９を参照して説明する。
ポリゴンモータを矢印の方向（図８）に回転させた状態
で、レーザー点灯信号Ｓ１を同期検出のためにｔ６〜ｔ
１の間点灯状態にする。これにより、ポリゴンミラーに
より反射されたレーザー光は同期検出器を走査し、同期
検出器が走査光を検出した時点ｔ０で同期パルスＳ２ｂ
が出力される。この同期パルスＳ２ｂのタイミングｔ６
を基に画像データに基づくレーザーの点滅制御がｔ２〜
ｔ３の間で行なわれ、次にｔ４〜ｔ５の間ではレーザー
光出力が常に所定の値となるために、レーザーを点灯さ
せながら光出力制御を行なう。さらに、ポリゴンモータ
が回転を続けると、ポリゴンミラーは、レーザー光を入
射し、反射する面が切り換わり、つまり、隣りの面が走
査を開始し、ｔ６のタイミングで再び同期検出のための
レーザーの点灯を行ない、これを繰り返す。この間のレ
ーザー光のバツクビーム光検出器の出力をモニターする
と、Ｓ３のようになる。

【００１８】ところで、タイミングｔ５からｔ６の間で
は、ポリゴンミラーの面が切換わるため、この間のレー
ザー反射光は、走査のために有効でなくなり、一般的に
は、レーザーの点灯を行なわないが、図８の構成からも
解るように、ポリゴンミラーの反射面が切換わつた直後
に、ポリゴンミラー７と、半導体レーザー１が正対する
位置関係があり、この時半導体レーザー１から出射し、
シリンダレンズを介してポリゴンミラー７に入射したレ
ーザー光は、再びシリンダレンズを介して半導体レーザ
ー１に戻ることになる。

【００１９】ここで、光源である半導体レーザー１は前
述したように、フロントビームの出射面及びバツクビー
ムの出射面がハーフミラーでできていることから、半導
体レーザー１に戻つたポリゴンミラー７からの反射光
は、半導体レーザー１の出射面よりレーザー媒質内に入
り、さらに、バツクビーム出射面より出射し、バツクビ
ームの光量検出器（例えば、フオトダイオード）２に入
る。

【００２０】このため、バツクビームの光量検出器に入
る光量は図７の（ｂ）に示すように、レーザーが点灯し
ていない時のレベルがＣ₀、レーザーが点灯してそのバ
ツクビームのみを入力としている時のレベルがＣ₁であ
るとすれば、ポリゴンミラーからの反射光が入力してい
る時のレベルはＣ₂のようになる。

【００２１】半導体レーザー１の光出力制御の方法とし
て、一般的なものは、半導体レーザー１のフロントビー
ムに比例して出射されるバツクビームの光量を検出して
増幅し、基準電圧と比較し駆動回路へフイードバツクす
るものである。

【００２２】これに対し、第２の実施例は図７の（ｂ）
に示すように、レーザー光がポリゴンミラーにより反射
されて再び半導体レーザー１に戻り、さらに、バツクビ
ームの光量検出器２に入射することによつて発生するＣ
₂のモニター信号を有効に利用しようとするものであ
る。

【００２３】ポリゴンミラーの回転とタイミング信号が
図９で説明した状態であるとすれば、第２の実施例は図
７の（ａ）で示されるように、レーザー光出力の制御タ
イミングを、半導体レーザー１のバツクビームの光検出
器２の出力に、ポリゴンミラーからの反射光の検出され
るタイミングｔ₄’〜ｔ₅’とし、図７の（ｂ）のように
検出したモニター信号Ｓ₂を図５の増幅器１０で増幅
し、タイミングｔ₄’〜ｔ₅’の間でポリゴンミラーから
の反射光の検出されない領域のｔ_sのタイミングでサン
プルホールド回路２５によりサンプルホールドする。こ
のサンプルホールドされたＣ₁のレベル信号と基準電圧
との差分を誤差増幅器１１により増幅して、駆動回路１
３にフイードバツクする。増幅器１０の出力をタイミン
グｔ₄’〜ｔ₅’の間でピークホールド回路１６によりピ
ークホールドする。このピークホールドされたＣ₂のレ
ベル信号とサンプルホールドされたＣ₁のレベル信号を
比較して所定の割合以下であつた時に比較器１８により
警告信号を出力する。このようにして、基準電圧とサン
プルホールド回路２５の出力が常に等しくなるように半
導体レーザー１の光出力が制御され、またピークホール
ド回路１６の出力Ｃ₂がサンプルホールドされた出力Ｃ₁
に対して所定の割合より小さい時、すなわち、半導体レ
ーザーとポリゴンミラーの間の光学系に汚れが生じた時
等に警告信号を出力するものである。

【００２４】このように、第２の実施例によると、半導
体レーザー１のバツクビームの光検出器２を用いてフロ
ントビームのポリゴンミラーからの反射光の量を検出す
ることができる。また、レーザー光の走査光路上に特別
に光検出器を設けることなく、半導体レーザー１からポ
リゴンミラー面までの光路上の汚れ等による光伝達率の
変化、増減を判定することで、メンテナンスの必要性ま
たはその時期の予測等が可能になる。また、簡単な構成
で光路上の汚れ等による不良発生を知らせることができ
る。

【００２５】第３の実施例は、図６に示すように、ピー
クホールド回路１６の出力Ｃ₂とサンプルホールド回路
２５の出力Ｃ₁を入力とする誤差増幅器１１ａの出力に
より、基準電圧を補正する補正回路２１を有し、補正回
路２１の出力を基準に光出力の制御を行なうもので、す
なわち、光学系に汚れが生じた時には、その汚れに応じ
た光出力の補正を行なうものである。なお、第３の実施
例のその他の構成、動作は、すでに説明した第２の実施
例と同一である。

【００２６】このように、第３の実施例によると、半導
体レーザー１のバツクビーム光の検出器２を用いること
で、構成が簡単で、しかも半導体レーザー１からポリゴ
ンミラーまでの光学系の汚れ等による最終到達光量の劣
化をなくし、すなわち、光学系の汚れ等に応じて半導体
レーザー１の出力を制御することが可能となる。

【００２７】

【発明の効果】請求項１に記載の発明では、レーザーの
バツクビーム検出用モニター手段を用いて、ポリゴンミ
ラーの回転位置を検出することが可能となり、その位置
をパルス信号として出力できる。請求項２に記載の発明
では、従来技術で用いていた位置検出用の同期検出器及
び、そのための反射ミラーが不用となり、安価なレーザ
ー光走査装置が提供できる。請求項３に記載の発明で
は、半導体レーザーのバツクビームの光検出器を用いて
フロントビームのポリゴンミラーからの反射光の量を検
出することができる。請求項４に記載の発明では、レー
ザー光の走査光路上に特別に光検出器を設けることな
く、半導体レーザーからポリゴンミラー面までの光路上
の汚れ等による光伝達率の変化、増減を判定することで
メンテナンスの必要性または、その時期の予測等が可能
になる。請求項５に記載の発明では、簡単な構成で光路
上の汚れ等による不良発生を知らせることができる。請
求項６及び７に記載の発明では、半導体レーザーのバツ
クビーム光の検出器を用いることで構成が簡単で、しか
も半導体レーザーからポリゴンミラーまでの光学系の汚
れ等による最終到達光量の劣化をなくし、すなわち、光
学系の汚れ等に応じて半導体レーザーの出力を制御する
ことが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例の半導体レーザー出力制
御部の構成を示すブロツク図である。

【図２】本発明の第１の実施例の主走査位置設定部の構
成を、従来と対比して説明するブロツク図である。

【図３】本発明の第１の実施例の全体動作を示すタイム
チヤートである。

【図４】本発明の第１の実施例の反射光検出動作を示す
タイムチヤートである。

【図５】本発明の第２の実施例の構成を示すブロツク図
である。

【図６】本発明の第３の実施例の構成を示すブロツク図
である。

【図７】本発明の第２の実施例の動作を示すタイムチヤ
ートである。

【図８】レーザー光走査装置の光学路を示す説明図であ
る。

【図９】従来のレーザー光走査装置の動作を示すタイム
チヤートである。

【符号の説明】

１半導体レーザー２フオトダイオード１０光量増幅器１１，１１ａ誤差増幅器１２ローパスフイルタ１３駆動回路１４比較器１５増幅器１６ピークホールド回路１７タイミング制御回路１９画像データ制御回路２１補正回路２５サンプルホールド回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】バツクビームの光量を検出するモニター
手段を有するレーザー光源と、レーザー光を入射し、そ
の反射光を走査する反射面を有し被走査体を繰り返し走
査する走査装置と、レーザー光を走査装置に導く光学手
段とを有するレーザー光走査装置であつて、前記走査装
置は走査動作中に、反射光が前記光学手段を通して前記
レーザー光源に戻るように構成されていて、前記モニタ
ー手段の出力より走査動作中の前記走査装置からの反射
光を検出してパルス信号を発生するパルス信号発生手段
を備えたことを特徴とするレーザー光走査装置。
【請求項２】請求項１の記載において、前記パルス信
号発生手段より出力されたパルス信号を、走査位置基準
信号に用いたことを特徴とするレーザー光走査装置。
【請求項３】バツクビームの光量を検出するモニター
手段を有するレーザー光源と、レーザー光を入射し、そ
の反射光を走査する反射面を有し被走査体を繰り返し走
査する走査装置と、レーザー光を走査装置に導く光学手
段とを有するレーザー光走査装置であつて、前記走査装
置は走査動作中に反射光が光学手段を通して前記レーザ
ー光源に戻るように構成されていて、前記モニター手段
の出力より走査動作中の前記走査装置からの反射光量を
検出する反射光量検出手段を備えたことを特徴とするレ
ーザー光走査装置。
【請求項４】請求項３の記載において、前記反射光量
検出手段の出力より前記光学手段の光伝達率の増減を判
定するようにしたことを特徴とするレーザー光走査装
置。
【請求項５】請求項４の記載において、前記光伝達率
が所定の値を下まわつた時には、警告を発するようにし
たことを特徴とするレーザー光走査装置。
【請求項６】請求項３の記載において、前記反射光量
検出手段により検出した反射光量に応じてレーザー光の
出力を制御するようにしたことを特徴とするレーザー光
走査装置。
【請求項７】請求項６の記載において、反射光量に応
じて、レーザー光の出力を制御するための基準電圧を補
正するようにしたことを特徴とするレーザー光走査装
置。