JPH0576185B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0576185B2 JPH0576185B2 JP58044791A JP4479183A JPH0576185B2 JP H0576185 B2 JPH0576185 B2 JP H0576185B2 JP 58044791 A JP58044791 A JP 58044791A JP 4479183 A JP4479183 A JP 4479183A JP H0576185 B2 JPH0576185 B2 JP H0576185B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- wire
- output
- end point
- bonding
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H10W72/0711—
-
- H10W72/075—
-
- H10W72/07531—
-
- H10W72/50—
-
- H10W72/5449—
-
- H10W72/932—
-
- H10W90/756—
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58044791A JPS59171129A (ja) | 1983-03-17 | 1983-03-17 | 自動配線検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58044791A JPS59171129A (ja) | 1983-03-17 | 1983-03-17 | 自動配線検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59171129A JPS59171129A (ja) | 1984-09-27 |
| JPH0576185B2 true JPH0576185B2 (index.php) | 1993-10-22 |
Family
ID=12701235
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58044791A Granted JPS59171129A (ja) | 1983-03-17 | 1983-03-17 | 自動配線検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59171129A (index.php) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2689505B2 (ja) * | 1988-08-03 | 1997-12-10 | 日本電気株式会社 | ボンディングワイヤの形状検査装置 |
| JPH07111998B2 (ja) * | 1989-08-18 | 1995-11-29 | 株式会社東芝 | ワイヤボンディング検査装置 |
| JP2851151B2 (ja) * | 1990-10-12 | 1999-01-27 | 株式会社東芝 | ワイヤボンディング検査装置 |
| CN103091339A (zh) * | 2013-03-01 | 2013-05-08 | 苏州爱特盟光电有限公司 | 一种用于键合工艺微缺陷检测的方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57155743A (en) * | 1981-03-20 | 1982-09-25 | Fujitsu Ltd | Inspection device for semiconductor bonding wire |
| JP2830091B2 (ja) * | 1989-07-04 | 1998-12-02 | 住友金属工業株式会社 | 高温での弾性率低下の少ない鉄骨建築用鋼材の製造方法 |
-
1983
- 1983-03-17 JP JP58044791A patent/JPS59171129A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59171129A (ja) | 1984-09-27 |
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