JPH0555022U - 回転角測定装置 - Google Patents

回転角測定装置

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JPH0555022U JP111938U JP11193891U JPH0555022U JP H0555022 U JPH0555022 U JP H0555022U JP 111938 U JP111938 U JP 111938U JP 11193891 U JP11193891 U JP 11193891U JP H0555022 U JPH0555022 U JP H0555022U
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 測定誤差の発生を防止でき、位置調整が容易
な回転角測定装置を提供する。 【構成】 回転円板2の第1位置に、第1検出部材3A
に形成された第1基準パターンによって検出でき且つ第
2検出部材3Bに形成された第2基準パターンによって
は検出できない第3の基準パターンを形成し、回転円板
2の第1位置と実質的に回転対称位置にある第2位置
に、第2検出部材3Bに形成された第2基準パターンに
よって検出でき且つ第1検出部材3Aに形成された第1
基準パターンによっては検出できない第4の基準パタ−
ンを形成し、第1検出部材3Aに形成された第1基準パ
ターンによって回転円板2の第3基準パターンを検出す
ることによって得られた信号を、信号処理回路100A
に第1基準信号として供給し、第2検出部材3Bに形成
された第2基準パターンによって回転円板2の第4基準
パターンを検出することによって得られる信号を、信号
処理回路100Bに第2基準信号として供給する。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、回転角検出用のパターンが形成された回転円板を使用する回転角測 定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
特開昭55ー67608号公報に開示された回転角測定装置には、円周に等角 度ピッチのラジアル格子を有する回転円板と対向するように、回転円板と同心に インデックス円板が設けられ、インデックス円板の回転対称位置には、回転円板 のラジアル格子と同ピッチの2つのインデックス格子が逆相に設けられ、2つの インデックス格子と回転円板を挟んで、2つの光源と、2つの光電変換素子とが 設けられている。そして、2つの光電変換素子にそれぞれ対応させて、2つの信 号処理回路が設けられている。
【0003】 2つの光電変換素子の出力信号は、それぞれ、対応する信号処理回路内で、パ ルスに変換され、カウンタによって計数される。2つのカウンタの計数値は、平 均化回路で平均され、表示回路は、平均化回路の出力値を回転角に変換して表示 する。軸ガタや偏心のある場合、2つのカウンタの計数値は互いに逆方向に等し い量の位相ずれを含むことになるが、これらの計数値を平均化回路によって加算 平均することにより、偏心の影響が除去され、正しい回転角を測定することがで きる。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】
従来、この種の回転角測定装置の回転円板には、任意の1箇所にのみ基準パタ −ンが形成され、またインデックス円板の所定位置に、対応する基準パターンが 形成されている。そして、回転円板の基準パターンとインデックス円板の基準パ ターンとが対向したときに光電変換素子から得られる基準信号を使用して2つの カウンタをリセットしているが、回転軸にラジアルガタがある場合、回転円板に 形成されたラジアル格子が偏心して回転することになり、基準信号が誤差を含む ことになる。さらに、信号処理回路でのヒステリシス等により誤差が増大され、 その誤差量が規定値を超えると、カウンタのリセットがパタ−ンの1ピッチ分ず れるおそれがあり、測定誤差発生の原因となっていた。
【0005】 本考案は、このような状況に鑑みてなされたものであり、測定誤差の発生を防 止できる回転角測定装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
請求項1に記載の回転角測定装置は、回転角検出用のパタ−ン(例えば、実施 例の図2のパターン2A)が形成された回転円板(例えば、実施例の回転円板2 )と、この回転円板の実質的回転対称位置に設けられ、それぞれ回転角検出用パ ターンに対応した角度測定用パターン(例えば、実施例の図2のパターン3AA および3BA)を有する第1と第2の検出部材(例えば、実施例の検出部材3A および3B)と、第1検出部材の角度測定用パターンと回転円板の回転角検出用 パターンとの位置関係に応じて出力される信号に基づいて回転円板の回転角を示 す第1角度信号を求める第1信号処理回路(例えば、実施例の信号処理回路10 0A)と、第2検出部材の角度測定用パターンと回転円板の回転角検出用パター ンとの位置関係に応じて出力される信号に基づいて回転円板の回転角を示す第2 角度信号を求める第2信号処理回路(例えば、実施例の信号処理回路100B) と、第1および第2角度信号の示す回転角の平均値を求める平均化回路(例えば 、実施例のマイクロコンピュータ200)とを有する回転角測定装置であって、 第1検出部材に第1基準パターン(例えば、実施例のパターン3AB)を形成し 、第2検出部材に第2基準パターン(例えば、実施例のパターン3BB)を形成 し、回転円板の第1位置に、第1検出部材に形成された第1基準パターンによっ て検出でき且つ第2検出部材に形成された第2基準パターンによっては検出でき ない第3の基準パターン(例えば、実施例のパターン2AB)を形成し、回転円 板の第1位置と実質的に回転対称位置にある第2位置に、第2検出部材に形成さ れた第2基準パターンによって検出でき且つ第1検出部材に形成された第1基準 パターンによっては検出できない第4の基準パタ−ン(例えば、実施例のパター ン2BB)を形成し、第1検出部材に形成された第1基準パターンによって回転 円板の第3基準パターンを検出することによって得られる信号を、第1信号処理 回路に第1基準信号(例えば、実施例のコンパレータ6ABへの信号)として供 給し、第2検出部材に形成された第2基準パターンによって回転円板の第4基準 パターンを検出することによって得られる信号を、第2信号処理回路に第2基準 信号(例えば、実施例のコンパレータ6BBへの信号)として供給するようにし たことを特徴とする。
【0007】 請求項2に記載の回転角測定装置は、第1および第3基準パターンが、同一の ランダムピッチ配列格子パターンであり、第2および第4基準パターンが、同一 のランダムピッチ配列格子パターンであることを特徴とする。
【0008】 請求項3に記載の回転角測定装置は、回転角検出用のパタ−ンが形成された回 転円板と、この回転円板の円周均等分割位置に設けられ、それぞれ回転角検出用 パターンに対応した角度測定用パターンを有するN個の検出部材(Nは、2以上 の正の整数)と、N個の検出部材の角度測定用パターンと回転円板の回転角検出 用パターンとの位置関係に応じて出力されるN個の信号にそれぞれ基づいて回転 円板の回転角を示す角度信号を求めるN個の信号処理回路と、これらN個の信号 処理回路が出力する角度信号が示す回転角の平均値を求める平均化回路とを有す る回転角測定装置であって、N個の検出部材にそれぞれ互いに異なる基準パター ンを形成し、回転円板の円周均等分割位置に、N個の検出部材のそれぞれに対応 させて、対応する検出部材に形成された基準パターンによって検出でき且つ他の 検出部材によって検出できないN個の基準パターンを形成し、N個の検出部材に 形成された基準信号によって回転円板の対応する基準パターンを検出することに よって得られるN個の信号を、それぞれN個の信号処理回路の対応する回路に基 準信号として供給するようにしたことを特徴とする。
【0009】
【作用】 請求項1の構成の回転角測定装置においては、第1検出部材に形成された第1 基準パターンによって回転円板の第3基準パターンを検出することによって得ら れた信号が、第1信号処理回路に第1基準信号として供給され、第2検出部材に 形成された第2基準パターンによって回転円板の第4基準パターンを検出するこ とによって得られる信号が、第2信号処理回路に第2基準信号として供給される 。従って、第1および第2信号処理回路を独立に動作させることができ、回転円 板の回転角検出用パターンが偏心して回転しても測定誤差が生じることはない。
【0010】 請求項2の構成の回転角測定装置においては、同一のランダムピッチ配列格子 パターンである第1および第3基準パターンが対向すると、第1基準信号が発生 し、同一のランダムピッチ配列格子パターンである第2および第4基準パターン が対向すると、第2基準信号が発生する。従って、簡単に基準信号を発生させる ことができる。
【0011】 請求項3の構成の回転角測定装置においては、N個の検出部材に形成された基 準信号によって回転円板の対応する基準パターンを検出することによって得られ るN個の信号が、それぞれN個の信号処理回路の対応する回路に基準信号として 供給される。従って、測定の累積誤差を無くすことができる。
【0012】
【実施例】
図1は、本考案の回転角測定装置の一実施例の構成を示す。図2に示すように 円周に等角度ピッチのラジアル格子すなわち回転角検出用パターン2Aが形成さ れた回転円板2は、回転軸1と同心にこの軸1に固定されている。回転円板2の 2つの回転対称位置には、回転円板2に対向するように、第1検出部材3Aおよ び第2検出部材3Bが固定されている。図2に示されているように、第1検出部 材3Aには、回転円板2に形成されたラジアル格子と同ピッチのインデックス格 子すなわち角度測定用パターン3AAが形成されている。また、第2検出部材3 Bには、回転円板2に形成されたラジアル格子と同ピッチのインデックス格子す なわち角度測定用パターン3BAが形成されている。第1および第2検出部材3 Aおよび3Bの角度検出用パターン3AAおよび3BAは、逆相に形成されてい る。
【0013】 図2に示されているように、第1検出部材3Aには、第1基準パターン3AB が形成され、第2検出部材には、第2基準パターン3BBが形成されている。ま た、回転円板2の第1位置には、第1検出部材3Aに形成された第1基準パター ン3ABによって検出でき且つ第2検出部材3Bに形成された第2基準パターン 3BBによっては検出できない第3の基準パターン2ABが形成されている。ま た、回転円板2の第1位置と回転対称位置にある第2位置には、第2検出部材3 Bに形成された第2基準パターン3BBによって検出でき且つ第1検出部材3A に形成された第1基準パターン3ABによっては検出できない第4の基準パタ− ン2BBが形成されている。
【0014】 この実施例においては、第1検出部材3Aの第1基準パターン3ABおよび回 転円板2の第3基準パターン2ABが、例えば図3の(a)に示されているよう な同一のランダムピッチ配列格子パターンで形成され、第2検出部材3Bの第2 基準パターン3BBおよび回転円板2の第4基準パターン2BBが、例えば図3 (b)に示されているような同一のランダムピッチ配列格子パターンで形成され ている。図3に示されているように、第1および第3基準パターン3ABおよび 2ABと、第2および第4基準パターン3BBおよび2BBとは、全く異なるパ ターンである。
【0015】 図1に戻って、回転円板2および第1検出部材3Aを挟んで、回転円板2側に 、光源4Aが配設され、第1検出部材3A側に、2つの光電変換素子5AAおよ び5ABが配設されている。光電変換素子5AAは、第1検出部材3Aの角度測 定用パターン3AAに対向する位置に固定され、光電変換素子5ABは、第1検 出部材3Aの第1基準パターン3ABに対向する位置に固定される。
【0016】 また、回転円板2および第2検出部材3Bを挟んで、回転円板2側に、光源4 Bが配設され、第2検出部材3B側に、2つの光電変換素子5BAおよび5BB が配設されている。光電変換素子5BAは、第2検出部材3Aの角度測定用パタ ーン3BAに対向する位置に固定され、光電変換素子5BBは、第2検出部材3 Bの第2基準パターン3BBに対向する位置に固定される。
【0017】 上述のように、第1検出部材3Aの第1基準パターン3ABおよび回転円板2 の第3基準パターン2ABが、同一のランダムピッチ配列格子パターンで形成さ れ、第2検出部材3Bの第2基準パターン3BBおよび回転円板2の第4基準パ ターン2BBが、同一のランダムピッチ配列格子パターンで形成され、第1およ び第3基準パターン3ABおよび2ABと、第2および第4基準パターン3BB および2BBとは、全く異なるパターンであるから、第1検出部材3Aの第1基 準パターン3ABと回転円板2の第3基準パターン2ABとが対向したときには 、光電変換素子5ABは、基準パターン検出信号すなわち基準信号を出力するが 、第1検出部材3Aの第1基準パターン3ABと回転円板2の第4基準パターン 2BBとが対向したときには、光電変換素子5ABは、基準パターン検出信号す なわち基準信号を出力しない。
【0018】 同様に、第2検出部材3Aの第2基準パターン3BBと回転円板2の第4基準 パターン2BBとが対向したときには、光電変換素子5BBは、基準パターン検 出信号すなわち基準信号を出力するが、第2検出部材3Aの第2基準パターン3 BBと回転円板2の第3基準パターン2ABとが対向したときには、光電変換素 子5BBは、基準パターン検出信号すなわち基準信号を出力しない。
【0019】 光電変換素子5AAおよび5ABの出力信号は、信号処理回路100Aに供給 され、光電変換素子5BAおよび5BBの出力信号は、信号処理回路100Bに 供給される。
【0020】 信号処理回路100Aは、光電変換素子5AAの出力信号が零以上のときに高 レベル信号を発生し、この信号を角度測定信号として出力するコンパレータ6A Aと、光電変換素子5ABの出力信号が所定値以上のときに高レベル信号を発生 し、この信号を第1基準パターン検出信号として出力するコンパレータ6ABと 、コンパレータ6AAから出力される角度測定信号を計数するカウンタ7Aと、 コンパレータ6AAから出力される角度測定信号の立ち上がりを検出する立上り 検出回路8Aと、一方の入力で立上り検出回路8Aの出力信号を受け、他方の入 力でコンパレータ6ABから出力される第1基準パターン検出信号をを受け、両 者が高レベルのときに高レベルの信号を発生し、これをリセット信号としてカウ ンタ7Aに出力するANDゲート9Aとを備えている。
【0021】 他方、信号処理回路100Bは、光電変換素子5BAの出力信号が零以上のと きに高レベル信号を発生し、この信号を角度測定信号として出力するコンパレー タ6BAと、光電変換素子5BBの出力信号が所定値以上のときに高レベル信号 を発生し、この信号を第2基準パターン検出信号として出力するコンパレータ6 BBと、コンパレータ6BAから出力される角度測定信号を計数するカウンタ7 Bと、コンパレータ6BAから出力される角度測定信号の立ち上がりを検出する 立上り検出回路8Bと、一方の入力で立上り検出回路8Bの出力信号を受け、他 方の入力でコンパレータ6BBから出力される第2基準パターン検出信号をを受 け、両者が高レベルのときに高レベルの信号を発生し、これをリセット信号とし てカウンタ7Bに出力するANDゲート9Bとを備えている。
【0022】 マイクロコンピュータ200は、信号処理回路100Aおよび100Bの出力 、すなわちカウンタ7Aおよび7Bの計数値を受けて、両者の平均値を求め、こ れを回転角のディジタル値に変換し、表示装置300に出力する。表示装置30 0は、マイクロコンピュータ200が出力した回転角を表示する。軸ガタや偏心 ののある場合、2つのカウンタ7Aおよび7Bの計数値は、互いに逆方向に等し い量の位相ずれを含むことになるが、これらの計数値をマイクロコンピュータ2 00によって加算平均することにより、偏心の影響が除去され、正しい回転角を 測定することができる。
【0023】 図4は、図1の実施例の光電変換素子5AAおよび5ABならびに信号処理回 路100Aの各部の信号波形を示す。以下、図4を参照して図1の実施例の動作 を説明する。回転円板2の回転に応じて光電変換素子5AAから出力される正弦 波信号は、コンパレータ6AAによって矩形波状の角度測定信号に変換され、カ ウンタ7Aによって計数される。そして、回転円板2の第3基準パターン2AB が、第1検出部材3Aの第1基準パターン3ABに対向すると、光電変換素子5 ABの出力信号が所定値以上となって、コンパレータ6ABから矩形波状の第1 基準パターン検出信号が出力される。
【0024】 一方、コンパレータ6AAから出力される矩形波状の角度測定信号の立上りが 、立上り検出回路8Aによって検出され、回路8Aの検出出力とコンパレータ6 ABの出力である第1基準パターン検出信号との論理積がANDゲート9Aによ って求められ、ANDゲート9Aの高レベル信号によってカウンタ7Aがリセッ トされる。
【0025】 光電変換素子5BAおよび5BBならびに信号処理回路100Bの動作は、光 電変換素子5AAおよび5ABならびに信号処理回路100Aの動作と逆相であ る点を除いて同一であり、カウンタ7Bは、ANDゲート9Bの高レベル信号に よってリセットされる。
【0026】 カウンタ7Aおよびカウンタ7Bは、リセットされた後、それぞれ、コンパレ ータ6AAおよび6BAからの角度測定信号の計数を行い、マイクロコンピュ− タ200が、2つのカウンタ7Aおよび7Bの計数値を平均化し、さらに、ディ ジタル回転角に変換し、表示装置300に表示する。
【0027】 上述のように、カウンタ7Aおよび7Bを、それぞれ対応する基準パターンに 基づいて独立にリセットできるので、基準パターンが偏心して回転しても測定誤 差が生じることはない。また、検出部材3Aおよび3Bの位置を独立に調整でき 、調整が容易になる。
【0028】 なお、上記実施例においては、回転円板の2つの回転対称位置にそれぞれ基準 パターンを形成し、対応する2つの検出部材にそれぞれ基準パターンを形成して いるが、次の様に構成してもよい。
【0029】 すなわち、回転角検出用のパタ−ンが形成された回転円板と、この回転円板の 円周均等分割位置に設けられ、それぞれ回転角検出用パターンに対応した角度測 定用パターンを有するN個の検出部材(Nは、3以上の正の整数)と、N個の検 出部材の角度測定用パターンと回転円板の回転角検出用パターンとの位置関係に 応じて出力されるN個の信号にそれぞれ基づいて回転円板の回転角を示す角度信 号を求めるN個の信号処理回路と、これらN個の信号処理回路が出力する角度信 号が示す回転角の平均値を求める平均化回路とを備え、N個の検出部材にそれぞ れ互いに異なる基準パターンを形成し、回転円板の円周均等分割位置に、N個の 検出部材のそれぞれに対応させて、対応する検出部材に形成された基準パターン によって検出でき且つ他の検出部材によって検出できないN個の基準パターンを 形成し、N個の検出部材に形成された基準信号によって回転円板の対応する基準 パターンを検出することによって得られるN個の信号を、それぞれN個の信号処 理回路の対応する回路に基準信号として供給する。このようにすれば、N個の検 出部材に形成された基準信号によって回転円板の対応する基準パターンを検出す ることによって得られるN個の信号が、それぞれN個の信号処理回路の対応する 回路に基準信号として供給される。従って、測定の累積誤差を無くすことができ る。
【0030】
【考案の効果】
以上の説明から明かなように、請求項1の回転角測定装置によれば、回転円板 の第1位置に、第1検出部材に形成された第1基準パターンによって検出でき且 つ第2検出部材に形成された第2基準パターンによっては検出できない第3の基 準パターンを形成し、回転円板の第1位置と実質的に回転対称位置にある第2位 置に、第2検出部材に形成された第2基準パターンによって検出でき且つ第1検 出部材に形成された第1基準パターンによっては検出できない第4の基準パタ− ンを形成し、第1検出部材に形成された第1基準パターンによって回転円板の第 3基準パターンを検出することによって得られた信号を、第1信号処理回路に第 1基準信号として供給し、第2検出部材に形成された第2基準パターンによって 回転円板の第4基準パターンを検出することによって得られる信号を、第2信号 処理回路に第2基準信号として供給するようにしたので、第1および第2信号処 理回路を独立に動作させることができ、回転円板の回転角検出用パターンが偏心 して回転しても測定誤差が生じることはない。また、第1および第2の検出部材 の位置を独立に調整すことが可能となるから、調整が容易となる。
【0031】 請求項2の回転角測定装置によれば、基準パターンを同一のランダムピッチ配 列格子パターンによって構成したので、ある基準パターンによって検出でき他の 基準パターンによっては検出できない基準パタ−ンを容易に形成できる。
【0032】 請求項3の回転角測定装置によれば、N個の検出部材にそれぞれ互いに異なる 基準パターンを形成し、回転円板の円周均等分割位置に、N個の検出部材のそれ ぞれに対応させて、対応する検出部材に形成された基準パターンによって検出で き且つ他の検出部材によって検出できないN個の基準パターンを形成し、N個の 検出部材に形成された基準信号によって回転円板の対応する基準パターンを検出 することによって得られるN個の信号を、それぞれN個の信号処理回路の対応す る回路に基準信号として供給するようにしたので、測定の累積誤差を無くすこと ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の回転角測定装置の一実施例の構成を示
す図である。
【図2】図1の回転円板2と、第1検出部材3Aと、第
2検出部材3Aの一例を示す図である。
【図3】第1検出部材3Aおよび回転円盤2にそれぞれ
形成される第1および第3基準パターン2ABおよび3
ABの一例、ならびに第2検出部材3Aおよび回転円盤
2にそれぞれ形成される第2および第4基準パターン2
BBおよび3BBの一例を示す図である。
【図4】図1の実施例の各部の信号波形を示す図であ
る。
【符号の説明】
2 回転円板 2A 回転角検出用パターン 2AB 第3基準パターン 2BB 第4基準パターン 3A 第1検出部材 3B 第2検出部材 3AA 角度測定用パターン 3AB 第1基準パターン 3BA 角度測定用パターン 3BB 第2基準パターン 5AA、5AB、5BB、5BA 光電変換素子 7A、7B カウンタ 100A 第1信号処理回路 100B 第2信号処理回路 200 マイクロコンピュ−タ 300 表示装置

Claims (3)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回転角検出用のパタ−ンが形成された回
    転円板と、この回転円板の実質的回転対称位置に設けら
    れ、それぞれ前記回転角検出用パターンに対応した角度
    測定用パターンを有する第1と第2の検出部材と、前記
    第1検出部材の角度測定用パターンと前記回転円板の回
    転角検出用パターンとの位置関係に応じて出力される信
    号に基づいて前記回転円板の回転角を示す第1角度信号
    を求める第1信号処理回路と、前記第2検出部材の角度
    測定用パターンと前記回転円板の回転角検出用パターン
    との位置関係に応じて出力される信号に基づいて前記回
    転円板の回転角を示す第2角度信号を求める第2信号処
    理回路と、前記第1および第2角度信号の示す回転角の
    平均値を求める平均化回路とを有する回転角測定装置に
    おいて、 前記第1検出部材に第1基準パターンを形成し、 前記第2検出部材に第2基準パターンを形成し、 前記回転円板の第1位置に、前記第1検出部材に形成さ
    れた前記第1基準パターンによって検出でき且つ前記第
    2検出部材に形成された前記第2基準パターンによって
    は検出できない第3の基準パターンを形成し、 前記回転円板の第1位置と実質的に回転対称位置にある
    第2位置に、前記第2検出部材に形成された前記第2基
    準パターンによって検出でき且つ前記第1検出部材に形
    成された前記第1基準パターンによっては検出できない
    第4の基準パタ−ンを形成し、 前記第1検出部材に形成された前記第1基準パターンに
    よって前記回転円板の前記第3基準パターンを検出する
    ことによって得られる信号を、前記第1信号処理回路に
    第1基準信号として供給し、 前記第2検出部材に形成された前記第2基準パターンに
    よって前記回転円板の前記第4基準パターンを検出する
    ことによって得られる信号を、前記第2信号処理回路に
    第2基準信号として供給するようにしたことを特徴とす
    る回転角測定装置。
  2. 【請求項2】 前記第1および第3基準パターンが、同
    一のランダムピッチ配列格子パターンであり、前記第2
    および第4基準パターンが、同一のランダムピッチ配列
    格子パターンであることを特徴とする請求項1記載の回
    転角測定装置。
  3. 【請求項3】 回転角検出用のパタ−ンが形成された回
    転円板と、この回転円板の円周均等分割位置に設けら
    れ、それぞれ前記回転角検出用パターンに対応した角度
    測定用パターンを有するN個の検出部材(Nは、2以上
    の正の整数)と、前記N個の検出部材の角度測定用パタ
    ーンと前記回転円板の回転角検出用パターンとの位置関
    係に応じて出力されるN個の信号にそれぞれ基づいて前
    記回転円板の回転角を示す角度信号を求めるN個の信号
    処理回路と、これらN個の信号処理回路が出力する角度
    信号が示す回転角の平均値を求める平均化回路とを有す
    る回転角測定装置において、 前記N個の検出部材にそれぞれ互いに異なる基準パター
    ンを形成し、 前記回転円板の円周均等分割位置に、前記N個の検出部
    材のそれぞれに対応させて、対応する検出部材に形成さ
    れた基準パターンによって検出でき且つ他の検出部材に
    形成された基準パターンよって検出できないN個の基準
    パターンを形成し、 前記N個の検出部材に形成された基準パターンによって
    前記回転円板の対応する基準パターンを検出することに
    よって得られるN個の信号を、それぞれ前記N個の信号
    処理回路の対応する回路に基準信号として供給するよう
    にしたことを特徴とする回転角測定装置。
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