JPH0554167B2 - - Google Patents
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- JPH0554167B2 JPH0554167B2 JP61293156A JP29315686A JPH0554167B2 JP H0554167 B2 JPH0554167 B2 JP H0554167B2 JP 61293156 A JP61293156 A JP 61293156A JP 29315686 A JP29315686 A JP 29315686A JP H0554167 B2 JPH0554167 B2 JP H0554167B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/187—Structure or manufacture of the surface of the head in physical contact with, or immediately adjacent to the recording medium; Pole pieces; Gap features
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本願発明は磁気ヘツド及びその製造方法に関
し、特に大部分が酸化物磁性材よりなる一対のコ
ア半体の少なくとも一方の磁気ギヤツプ形成面に
金属磁性膜を被着し、該一対のコア半体を磁気ギ
ヤツプを介して突合せてなる磁気ヘツド及びその
製造方法に関するものである。
し、特に大部分が酸化物磁性材よりなる一対のコ
ア半体の少なくとも一方の磁気ギヤツプ形成面に
金属磁性膜を被着し、該一対のコア半体を磁気ギ
ヤツプを介して突合せてなる磁気ヘツド及びその
製造方法に関するものである。
近年、磁気記録の高密度化に伴い磁気記録媒体
は、高保磁力化され、この様な高保磁力の磁気記
録媒体に対する磁気ヘツドのコア材としては、飽
和磁束密度が高いFe−Al−Si系合金やCo−Zr−
Nb等の非晶質金属材等が用いられる様になつて
きた。一般に、この種の金属磁性材は、うず電流
損失による高周波損失が大きいため金属磁性材の
みで磁気ヘツドの磁気回路を構成した場合には、
高周波域に於ける再生効率が低くなつてしまう。
そこで、その高周波損失を補うために、高周波特
性の優れた磁性酸化物であるフエライト材と金属
磁性材とを組み合わせて磁気回路を構成する方法
が、従来取られて来ている、例えば、現在考えら
れているヘツドとしては、第6図A,B,Cに示
すような構造のヘツドが提案されている。第6図
Aはその外観斜視図、第6図Bはその媒体摺動面
を示す図、第6図はその摩耗の様子を示す断面図
である。
は、高保磁力化され、この様な高保磁力の磁気記
録媒体に対する磁気ヘツドのコア材としては、飽
和磁束密度が高いFe−Al−Si系合金やCo−Zr−
Nb等の非晶質金属材等が用いられる様になつて
きた。一般に、この種の金属磁性材は、うず電流
損失による高周波損失が大きいため金属磁性材の
みで磁気ヘツドの磁気回路を構成した場合には、
高周波域に於ける再生効率が低くなつてしまう。
そこで、その高周波損失を補うために、高周波特
性の優れた磁性酸化物であるフエライト材と金属
磁性材とを組み合わせて磁気回路を構成する方法
が、従来取られて来ている、例えば、現在考えら
れているヘツドとしては、第6図A,B,Cに示
すような構造のヘツドが提案されている。第6図
Aはその外観斜視図、第6図Bはその媒体摺動面
を示す図、第6図はその摩耗の様子を示す断面図
である。
このヘツドは、一対の磁気コア半体30,31
の大部分をMn−Znフエライト等の強磁性酸化物
(以下、単にフエライトと称す)により形成する
とともに、その磁気ギヤツプ形成面にスパツタリ
ング等真空薄膜形成技術によりセンダスト、アモ
ルフアス、パーマロイ等の強磁性金属薄膜32,
33が形成され、これら一対の磁気コア半体3
0,31を溶着ガラス34で融着接合することに
より構成されている。
の大部分をMn−Znフエライト等の強磁性酸化物
(以下、単にフエライトと称す)により形成する
とともに、その磁気ギヤツプ形成面にスパツタリ
ング等真空薄膜形成技術によりセンダスト、アモ
ルフアス、パーマロイ等の強磁性金属薄膜32,
33が形成され、これら一対の磁気コア半体3
0,31を溶着ガラス34で融着接合することに
より構成されている。
この種のヘツドは、磁気ギヤツプg近傍の磁気
回路が、高飽和磁束密度を持つ強磁性金属薄膜に
より構成されているため、メタルテープ等の高保
磁力媒体に対し、十分な記録特性を示し、主磁路
の大部分が、高周波特性に優れたフエライトで形
成されているため、高周波域に於ける再生効率に
も優れている。
回路が、高飽和磁束密度を持つ強磁性金属薄膜に
より構成されているため、メタルテープ等の高保
磁力媒体に対し、十分な記録特性を示し、主磁路
の大部分が、高周波特性に優れたフエライトで形
成されているため、高周波域に於ける再生効率に
も優れている。
ところで、上述の磁気ヘツドに於いては、コア
材であるフエライト材上に異種材料である強磁性
金属薄膜32,33を被着形成しているので、製
造時のガラス溶着等熱処理により、膨張係数の違
いや、成膜時の残留応力等の影響が現われ、所謂
疑似ギヤツプの発生が生じる。これに伴つて磁気
ヘツドの周波数特性にうねりが生じやすい。
材であるフエライト材上に異種材料である強磁性
金属薄膜32,33を被着形成しているので、製
造時のガラス溶着等熱処理により、膨張係数の違
いや、成膜時の残留応力等の影響が現われ、所謂
疑似ギヤツプの発生が生じる。これに伴つて磁気
ヘツドの周波数特性にうねりが生じやすい。
これに対してフエライト材の比較的膨張係数の
近いCo−Zr−Nb系の非晶質合金膜を使用するガ
ラスによる溶着温度を下げて、熱膨張係数差によ
り熱歪を少なくする等の対策が考えられる。いず
れも、共通する点としては、溶着ガラスとして低
融点ガラスを使用する必要がある。非晶質合金膜
を使用する場合、この低融点ガラスとしては、そ
の結晶化温度の制約により、ガラスの作業温度が
限定され、一般的には500℃以下のものが使用さ
れる。
近いCo−Zr−Nb系の非晶質合金膜を使用するガ
ラスによる溶着温度を下げて、熱膨張係数差によ
り熱歪を少なくする等の対策が考えられる。いず
れも、共通する点としては、溶着ガラスとして低
融点ガラスを使用する必要がある。非晶質合金膜
を使用する場合、この低融点ガラスとしては、そ
の結晶化温度の制約により、ガラスの作業温度が
限定され、一般的には500℃以下のものが使用さ
れる。
上述の如く高保磁力媒体に対して記録再生能力
の高い磁気ヘツドであるフエライトよりなるコア
半体の磁気ギヤツプ形成面に強磁性金属膜を形成
した磁気ヘツドでは、疑似ギヤツプの影響を抑え
るために突き合わせ溶着時の接合温度等が限定さ
れ、走行性及び耐環境性の低い低融点のガラスを
使用しなくてはならない。
の高い磁気ヘツドであるフエライトよりなるコア
半体の磁気ギヤツプ形成面に強磁性金属膜を形成
した磁気ヘツドでは、疑似ギヤツプの影響を抑え
るために突き合わせ溶着時の接合温度等が限定さ
れ、走行性及び耐環境性の低い低融点のガラスを
使用しなくてはならない。
そのため、例えば第6図Aに外観を示すヘツド
では、媒体摺動面に露出する低融点ガラス34の
摩耗がフエライト30,31に比較し大きく、長
時間媒体を走行させた後の摺動面形状の断面を、
第6図Bに示す断面a,bで比較すると第6図C
に示す如くなり、その違いがよくわかる。即ち第
6図Cに示す様に断面bに於いては、ガラス部の
摩耗が速く、それにつられ中央のフエライトのト
ラツク部(tw)も摩耗も大きくなりがちで、断
面aの部分よりも媒体摺動面の高さが低くなつて
いる。そのため、記録媒体摺動面の磁気ギヤツプ
部g近傍が、その前後に対して低くなり、且つ、
磁気ギヤツプ両端に接するガラス部34が落ち込
むことにより、記録媒体と磁気ギヤツプg間のス
ペーシング変動が大きくなり、再生エンベロープ
出力が不安定になりやすい。
では、媒体摺動面に露出する低融点ガラス34の
摩耗がフエライト30,31に比較し大きく、長
時間媒体を走行させた後の摺動面形状の断面を、
第6図Bに示す断面a,bで比較すると第6図C
に示す如くなり、その違いがよくわかる。即ち第
6図Cに示す様に断面bに於いては、ガラス部の
摩耗が速く、それにつられ中央のフエライトのト
ラツク部(tw)も摩耗も大きくなりがちで、断
面aの部分よりも媒体摺動面の高さが低くなつて
いる。そのため、記録媒体摺動面の磁気ギヤツプ
部g近傍が、その前後に対して低くなり、且つ、
磁気ギヤツプ両端に接するガラス部34が落ち込
むことにより、記録媒体と磁気ギヤツプg間のス
ペーシング変動が大きくなり、再生エンベロープ
出力が不安定になりやすい。
また、低融点ガラスは、記録媒体の走行により
傷がつきやすく、それが、ゴミの付着を招き、ギ
ヤツプ目づまりが生ずる。
傷がつきやすく、それが、ゴミの付着を招き、ギ
ヤツプ目づまりが生ずる。
耐環境性については、低融点ガラスは、高温高
湿化における耐水性が問題であり、PbやNa等の
成分の溶出による段差、変質、変色を生じ易い。
この点でも、記録媒体と磁気ギヤツプ間でのスペ
ーシング変動を励起することとなる。そこで、本
願発明は、このような問題点を解決するために提
案されたものであつて、記録媒体と磁気ギヤツプ
間のスペーシング変動が小さく、信頼性に優れた
磁気ヘツド及びその製造方法を提供することを目
的とする。
湿化における耐水性が問題であり、PbやNa等の
成分の溶出による段差、変質、変色を生じ易い。
この点でも、記録媒体と磁気ギヤツプ間でのスペ
ーシング変動を励起することとなる。そこで、本
願発明は、このような問題点を解決するために提
案されたものであつて、記録媒体と磁気ギヤツプ
間のスペーシング変動が小さく、信頼性に優れた
磁気ヘツド及びその製造方法を提供することを目
的とする。
かかる目的下に於いて本願発明の磁気ヘツドに
あつては、大部分が酸化物磁性材よりなる一対の
コア半体の少なくとも一方の磁気ギヤツプ形成面
に金属磁性膜を被着し、該一対のコア半体を磁気
ギヤツプを介して突合せてなる磁気ヘツドであつ
て、前記磁気ギヤツプの記録媒体摺動面における
長さを規制する溝を、前記記録媒体摺動面に対し
ほぼ垂直に、かつ、前記磁気ギヤツプを磁気ギヤ
ツプの長さ方向において挟持するように設け、前
記溝の底部には第1の非磁性材を配し、該第1の
非磁性材の上部には該第1の非磁性材に比し低融
点の第2の非磁性材を前記記録媒体摺動面に露出
しないように配する構造を採用している。
あつては、大部分が酸化物磁性材よりなる一対の
コア半体の少なくとも一方の磁気ギヤツプ形成面
に金属磁性膜を被着し、該一対のコア半体を磁気
ギヤツプを介して突合せてなる磁気ヘツドであつ
て、前記磁気ギヤツプの記録媒体摺動面における
長さを規制する溝を、前記記録媒体摺動面に対し
ほぼ垂直に、かつ、前記磁気ギヤツプを磁気ギヤ
ツプの長さ方向において挟持するように設け、前
記溝の底部には第1の非磁性材を配し、該第1の
非磁性材の上部には該第1の非磁性材に比し低融
点の第2の非磁性材を前記記録媒体摺動面に露出
しないように配する構造を採用している。
また、本願発明の磁気ヘツドの製造方法にあつ
ては、酸化物磁性材ブロツクの媒体摺動面とすべ
き面に対しほぼ垂直方向に所定ピツチで第1の溝
を形成する工程と、 該第1の溝内に第1の非磁性材を埋設する工程
と、 前記酸化物磁性材ブロツクの前記一端面の少な
くとも一部に磁性金属膜を被着する工程と、 前記第1の溝内に埋設された第1の非磁性材に
第2の溝を形成する工程と、 前記第1及び第2の溝が形成され、かつ、前記
磁性金属膜が被着された磁性ブロツク同士を前記
磁性金属膜同士が対向するよう突合せ前記第2の
溝内に前記第1の非磁性材より低融点の第2の非
磁性材を流し接合する工程と、 前記接合された磁性ブロツクを前記第1の溝が
形成された部分にて前記所定ピツチで切断する工
程とを含む方法としている。
ては、酸化物磁性材ブロツクの媒体摺動面とすべ
き面に対しほぼ垂直方向に所定ピツチで第1の溝
を形成する工程と、 該第1の溝内に第1の非磁性材を埋設する工程
と、 前記酸化物磁性材ブロツクの前記一端面の少な
くとも一部に磁性金属膜を被着する工程と、 前記第1の溝内に埋設された第1の非磁性材に
第2の溝を形成する工程と、 前記第1及び第2の溝が形成され、かつ、前記
磁性金属膜が被着された磁性ブロツク同士を前記
磁性金属膜同士が対向するよう突合せ前記第2の
溝内に前記第1の非磁性材より低融点の第2の非
磁性材を流し接合する工程と、 前記接合された磁性ブロツクを前記第1の溝が
形成された部分にて前記所定ピツチで切断する工
程とを含む方法としている。
上述の如き構造の磁気ヘツドにあつては、磁気
ギヤツプの両端部近傍には比較的高融点の非磁性
材が配されるため、磁気ギヤツプ近傍の偏摩耗が
発生し難い構造となつている。そのため記録媒体
との間のスペーシング変動も生じ難く、信頼性を
飛躍的に向上させることができた。また磁気ギヤ
ツプとそれ程離れていない部分に低融点の非磁性
材が存在するため、この非磁性材により一対のコ
ア半体の接合が行え、接合強度が低下することも
なく内部応力も蓄積されず、酸化物磁性材と金属
磁性膜との間の熱、膨張係数の差に伴う悪影響も
生じ難い。
ギヤツプの両端部近傍には比較的高融点の非磁性
材が配されるため、磁気ギヤツプ近傍の偏摩耗が
発生し難い構造となつている。そのため記録媒体
との間のスペーシング変動も生じ難く、信頼性を
飛躍的に向上させることができた。また磁気ギヤ
ツプとそれ程離れていない部分に低融点の非磁性
材が存在するため、この非磁性材により一対のコ
ア半体の接合が行え、接合強度が低下することも
なく内部応力も蓄積されず、酸化物磁性材と金属
磁性膜との間の熱、膨張係数の差に伴う悪影響も
生じ難い。
本発明の一実施例としての磁気ヘツドの外観図
を第1図Aに示す。一対のコア半体1,2はMn
−Zmフエライト等の強磁性酸化物により形成さ
れ、該コア半体1,2の磁気ギヤツプ形成面には
スパツタリング等真空薄膜形成技術により強磁性
金属薄膜3,4が夫々形成されている。
を第1図Aに示す。一対のコア半体1,2はMn
−Zmフエライト等の強磁性酸化物により形成さ
れ、該コア半体1,2の磁気ギヤツプ形成面には
スパツタリング等真空薄膜形成技術により強磁性
金属薄膜3,4が夫々形成されている。
磁気ヘツドの媒体摺動部の厚さ方向の幅は、ヘ
ツドチツプの厚さより小さくなつており、第1図
の場合は、2本の摺動面幅規制溝C1,C2によ
り、摺動面の幅が規制されている。尚、この摺動
面の幅規制は、図示の垂直溝による規制でなく面
取りにより、ある角度を持つた斜面を形成するこ
とによる規制でも後述の様に同様の効果を奏す
る。
ツドチツプの厚さより小さくなつており、第1図
の場合は、2本の摺動面幅規制溝C1,C2によ
り、摺動面の幅が規制されている。尚、この摺動
面の幅規制は、図示の垂直溝による規制でなく面
取りにより、ある角度を持つた斜面を形成するこ
とによる規制でも後述の様に同様の効果を奏す
る。
前記摺動面幅規制された摺動面に露出するガラ
ス部即ちトラツク幅規制溝の底部には、高融点ガ
ラス5が配され、摺動面の外側のガラス溝には、
低融点ガラス6が位置し、突き合わせ接合時の接
着剤の役割りを果たしている。第1図Aの外観を
有するヘツドの媒体摺動面の平面図を第1図Bに
示す。
ス部即ちトラツク幅規制溝の底部には、高融点ガ
ラス5が配され、摺動面の外側のガラス溝には、
低融点ガラス6が位置し、突き合わせ接合時の接
着剤の役割りを果たしている。第1図Aの外観を
有するヘツドの媒体摺動面の平面図を第1図Bに
示す。
以上のような、磁気ヘツドの構成にする事で、
耐摩耗性、耐環境性の悪い低融点ガラスを摺動面
に露出させる事なく、また摺動面のギヤツプ近傍
のガラスが、耐摩耗、耐環境性に優れた高融点ガ
ラスとなるため、非常に信頼性の高い磁気ヘツド
が得られる。
耐摩耗性、耐環境性の悪い低融点ガラスを摺動面
に露出させる事なく、また摺動面のギヤツプ近傍
のガラスが、耐摩耗、耐環境性に優れた高融点ガ
ラスとなるため、非常に信頼性の高い磁気ヘツド
が得られる。
次に、第1図A,Bに示すヘツドについて、そ
の製造方法を説明する。
の製造方法を説明する。
先ず、第2図Aにあるように、例えばMn−Zn
系フエライト等の強磁性酸化物よりなるブロツク
11の上面11aに、トラツク幅を規制するため
のトラツク幅規制溝12を所定間隔、所定幅、所
定深さとなるように形成する。
系フエライト等の強磁性酸化物よりなるブロツク
11の上面11aに、トラツク幅を規制するため
のトラツク幅規制溝12を所定間隔、所定幅、所
定深さとなるように形成する。
次に、第2図Bに示すように、上記トラツク幅
規制溝12内に非磁性材である高融点ガラス13
を、600〜800℃の温度にて流し込み、トラツク幅
規制溝12を完全に埋め込む。そして、基板上面
11aを平面研削することにより、不要なガラス
部を取り去り、強磁性酸化物の表面を露出させ
る。
規制溝12内に非磁性材である高融点ガラス13
を、600〜800℃の温度にて流し込み、トラツク幅
規制溝12を完全に埋め込む。そして、基板上面
11aを平面研削することにより、不要なガラス
部を取り去り、強磁性酸化物の表面を露出させ
る。
そして、次の工程では第2図Cに示すようにリ
ン酸等のケミカルエツチングにより基板上面11
aの強磁性酸化物のみをエツチングし、エツチン
グされた強磁性酸化物上面11bと高融点ガラス
13の上面との間に段差δを設ける。この段差δ
は、後述の強磁性金属薄膜の厚さや段差、角部の
膜のまわり込み等を考えると、10〜20μmが望ま
しい。
ン酸等のケミカルエツチングにより基板上面11
aの強磁性酸化物のみをエツチングし、エツチン
グされた強磁性酸化物上面11bと高融点ガラス
13の上面との間に段差δを設ける。この段差δ
は、後述の強磁性金属薄膜の厚さや段差、角部の
膜のまわり込み等を考えると、10〜20μmが望ま
しい。
次に、第2図Dに示すようにエツチングされた
強磁性酸化物上面11b及び高融点ガラス13の
上面にCo−Zr−Nb系の強磁性金属薄膜14をス
パツタリング等真空薄膜形成技術により形成す
る。ここではこの膜厚は約15μmとした。
強磁性酸化物上面11b及び高融点ガラス13の
上面にCo−Zr−Nb系の強磁性金属薄膜14をス
パツタリング等真空薄膜形成技術により形成す
る。ここではこの膜厚は約15μmとした。
ここで、上記磁性金属薄膜14の材質として
は、強磁性非晶質合金(アモルフアス合金)Co
−Zr−Nb系の他に、Fe−Al−Si系合金、Fe−Si
系合金、パーマロイ等が使用可能である。
は、強磁性非晶質合金(アモルフアス合金)Co
−Zr−Nb系の他に、Fe−Al−Si系合金、Fe−Si
系合金、パーマロイ等が使用可能である。
次いで、第2図Eでは、上記強磁性金属薄膜1
4の上面を回転ラツプ盤等で平面研削し、基板上
面に高融点ガラス13が露出し、その基板上面の
すべての段差がなく同一平面になる様にする。
4の上面を回転ラツプ盤等で平面研削し、基板上
面に高融点ガラス13が露出し、その基板上面の
すべての段差がなく同一平面になる様にする。
その後、基板上面に露出する高融点ガラス13
を、第2図Fにあるようにトラツク幅規制溝の両
端より長さlだけ残して、回転砥石等により削り
取り、新しく突き合わせ接合用の溝15を設け
る。高融点ガラス13を残す幅lは、磁気ヘツド
の完成した状態で、摺動面に露出する高融点ガラ
スの幅、及び溝15に流し込む低融点ガラスの接
合強度等を考慮して、20〜100μmが望ましい。
上述のような工程により作製される一対のコアブ
ロツクのうち、一方のコアブロツクに対して、第
2図Gに示すように巻線溝16と後部ガラスだま
り用溝17を形成する。
を、第2図Fにあるようにトラツク幅規制溝の両
端より長さlだけ残して、回転砥石等により削り
取り、新しく突き合わせ接合用の溝15を設け
る。高融点ガラス13を残す幅lは、磁気ヘツド
の完成した状態で、摺動面に露出する高融点ガラ
スの幅、及び溝15に流し込む低融点ガラスの接
合強度等を考慮して、20〜100μmが望ましい。
上述のような工程により作製される一対のコアブ
ロツクのうち、一方のコアブロツクに対して、第
2図Gに示すように巻線溝16と後部ガラスだま
り用溝17を形成する。
次に第2図F,Gにある一対のコアブロツクの
上面、すなわち磁気ギヤツプ形成面の少なくとも
一方にSiO2等の非磁性材よりなるギヤツプスペ
ーサを所定のギヤツプ長となるような厚さに形成
する。
上面、すなわち磁気ギヤツプ形成面の少なくとも
一方にSiO2等の非磁性材よりなるギヤツプスペ
ーサを所定のギヤツプ長となるような厚さに形成
する。
続いて、第2図F,Gに示す一対のコアブロツ
クを、トラツク幅規制溝12間にはさまれる部分
の強磁性金属薄膜14同士が互いに精度良く突き
合わされるように配置し、後部ガラス溝17と突
き合わせ接合用溝15に低融点ガラスを500℃以
下で流し込み、突き合わせ接合を行う(第2図H
に示す)。なお、低融点ガラス18を使用する条
件は、金属磁性薄膜に非晶質合金を使う場合、そ
の結晶化温度や、使用する高融点ガラスの軟化温
度を考慮して決める必要がある。
クを、トラツク幅規制溝12間にはさまれる部分
の強磁性金属薄膜14同士が互いに精度良く突き
合わされるように配置し、後部ガラス溝17と突
き合わせ接合用溝15に低融点ガラスを500℃以
下で流し込み、突き合わせ接合を行う(第2図H
に示す)。なお、低融点ガラス18を使用する条
件は、金属磁性薄膜に非晶質合金を使う場合、そ
の結晶化温度や、使用する高融点ガラスの軟化温
度を考慮して決める必要がある。
その後、溶着したコアブロツクを円筒研削、又
は平面研削により記録媒体摺動面を研削しギヤツ
プデプスが所定の寸法になる様にする。そして、
第2図Iにあるように、磁気ギヤツプgの両側面
に接する高融点ガラス13の幅l内を通る破線1
9及び20にはさまれた部分tを、磁気ギヤツプ
のデプスエンドより少し深い所まで回転砥石等で
削り取る。第2図I,JのCwは破線19,20
にはさまれたt部が、取り去られた後の媒体摺動
面幅である。第2図Jはt部が削り取られた後の
コアブロツクを媒体摺動面側から見た状態を示し
ている(このt部の削りとられた溝を摺動面幅規
制溝と呼ぶ。)。最後に、第2図Kにあるように低
融点ガラス18の流し込まれた溝15の内側を通
る切断線21,22にはさまれたS部を、ワイヤ
ーソーや外周刃加工により、コアブロツク下部ま
で完全に切断して、第1図A,Bに示した磁気ヘ
ツドチツプを得る。尚、Hwは完全切断された後
のヘツドチツプの全厚である。
は平面研削により記録媒体摺動面を研削しギヤツ
プデプスが所定の寸法になる様にする。そして、
第2図Iにあるように、磁気ギヤツプgの両側面
に接する高融点ガラス13の幅l内を通る破線1
9及び20にはさまれた部分tを、磁気ギヤツプ
のデプスエンドより少し深い所まで回転砥石等で
削り取る。第2図I,JのCwは破線19,20
にはさまれたt部が、取り去られた後の媒体摺動
面幅である。第2図Jはt部が削り取られた後の
コアブロツクを媒体摺動面側から見た状態を示し
ている(このt部の削りとられた溝を摺動面幅規
制溝と呼ぶ。)。最後に、第2図Kにあるように低
融点ガラス18の流し込まれた溝15の内側を通
る切断線21,22にはさまれたS部を、ワイヤ
ーソーや外周刃加工により、コアブロツク下部ま
で完全に切断して、第1図A,Bに示した磁気ヘ
ツドチツプを得る。尚、Hwは完全切断された後
のヘツドチツプの全厚である。
上記のように製造される磁気ヘツドは、強磁性
金属薄膜の成膜前に、高融点ガラスをトラツク幅
規制溝に埋め込むため、ギヤツプ近傍が、高融点
ガラスでガードされ信頼性が向上する。また、接
合用のガラスとして使用する低融点ガラスは、高
融点ガラスが埋め込まれたトラツク幅規制溝の内
側に溝を形成し流し込まれるため、十分な接合強
度が得られる。
金属薄膜の成膜前に、高融点ガラスをトラツク幅
規制溝に埋め込むため、ギヤツプ近傍が、高融点
ガラスでガードされ信頼性が向上する。また、接
合用のガラスとして使用する低融点ガラスは、高
融点ガラスが埋め込まれたトラツク幅規制溝の内
側に溝を形成し流し込まれるため、十分な接合強
度が得られる。
もし、この低融点ガラスを前記のように溝を設
けない場合は、磁気ギヤツプデプスエンド部のみ
にガラスを流し込むことになるが、この場合は、
接合強度が十分でなく、磁気ギヤツプが不安定と
なり、磁気ギヤツプが開きやすくなつてしまう。
けない場合は、磁気ギヤツプデプスエンド部のみ
にガラスを流し込むことになるが、この場合は、
接合強度が十分でなく、磁気ギヤツプが不安定と
なり、磁気ギヤツプが開きやすくなつてしまう。
本実施例では、この低融点ガラス部が、磁気ギ
ヤツプの両側面のあまり離れていないところにそ
のガラス溝があるため、十分な接合強度があり、
磁気ギヤツプの信頼性が高い。
ヤツプの両側面のあまり離れていないところにそ
のガラス溝があるため、十分な接合強度があり、
磁気ギヤツプの信頼性が高い。
また、トラツク幅規制溝の高融点ガラス部内の
低融点ガラス部は、直接、媒体摺動面に露出しな
いように、摺動面幅規制溝により形成されるた
め、従来起こつていた低融点ガラス部の段差、変
質等は全く問題が無くなる。
低融点ガラス部は、直接、媒体摺動面に露出しな
いように、摺動面幅規制溝により形成されるた
め、従来起こつていた低融点ガラス部の段差、変
質等は全く問題が無くなる。
上述の実施例に於いてトラツク幅規制溝は、酸
化物磁性材ブロツクの上面に対し、第2図Aに示
す如く所定の傾きを持たせて形成したが、トラツ
ク幅規制溝12を基板上面に対し、平行に入れ、
その深さを一定にし、また、第2図Fの工程で低
融点ガラス接合溝15をも同様にブロツク上面に
対し平行に入れることで、第3図のような磁気ギ
ヤツプ突き合わせ面に対し、トラツク幅規制溝7
1及び低融点ガラス接合溝72が、平行にはいつ
た構造となることも可能である。
化物磁性材ブロツクの上面に対し、第2図Aに示
す如く所定の傾きを持たせて形成したが、トラツ
ク幅規制溝12を基板上面に対し、平行に入れ、
その深さを一定にし、また、第2図Fの工程で低
融点ガラス接合溝15をも同様にブロツク上面に
対し平行に入れることで、第3図のような磁気ギ
ヤツプ突き合わせ面に対し、トラツク幅規制溝7
1及び低融点ガラス接合溝72が、平行にはいつ
た構造となることも可能である。
また、摺動面の幅を規制する方法としては、本
発明実施例中の第2図Iの工程で、V溝加工砥石
を使用する事で、第4図のように斜面62,63
を持つて摺動面幅を規制する事も可能である。
発明実施例中の第2図Iの工程で、V溝加工砥石
を使用する事で、第4図のように斜面62,63
を持つて摺動面幅を規制する事も可能である。
さらに、低融点ガラス接合溝を、高融点ガラス
の埋め込まれたトラツク幅規制溝に形成する場
合、本発明実施例中第2図Fの工程で、基板上面
に対して垂直方向の切り込み深さを、強磁性酸化
物に達するまで加工することで第5図A,Bに
夫々外観図及び媒体摺動面を示す磁気ヘツドを得
る。該ヘツドによれば低融点ガラスと強磁性酸化
物が直接接合されるので、接合強度をさらに上げ
ることも可能である。
の埋め込まれたトラツク幅規制溝に形成する場
合、本発明実施例中第2図Fの工程で、基板上面
に対して垂直方向の切り込み深さを、強磁性酸化
物に達するまで加工することで第5図A,Bに
夫々外観図及び媒体摺動面を示す磁気ヘツドを得
る。該ヘツドによれば低融点ガラスと強磁性酸化
物が直接接合されるので、接合強度をさらに上げ
ることも可能である。
上述した各実施例の磁気ヘツドによれば、摺動
面幅規制溝により規制される摺動面に露出するト
ラツク幅規制溝に高融点ガラスを配することで、
従来、低融点ガラスで問題となつていた周囲に対
しての偏摩耗や高温高湿化での変質、変色は全く
問題が無くなる。
面幅規制溝により規制される摺動面に露出するト
ラツク幅規制溝に高融点ガラスを配することで、
従来、低融点ガラスで問題となつていた周囲に対
しての偏摩耗や高温高湿化での変質、変色は全く
問題が無くなる。
また、接合用のガラスとして使用する低融点ガ
ラスは、摺動面幅規制溝により直接摺動面に現わ
れないトラツク幅規制溝内に流し込まれるため、
接合強度が保たれ、磁気ギヤツプが安定する。
ラスは、摺動面幅規制溝により直接摺動面に現わ
れないトラツク幅規制溝内に流し込まれるため、
接合強度が保たれ、磁気ギヤツプが安定する。
製造方法では、トラツク幅規制溝を形成した基
板上面に高融点ガラスを埋め込み、次いで、磁気
ギヤツプ形成面に強磁性金属薄膜を被着し、さら
に所定の工程を経て一対の磁気コアブロツクを作
成した後、低融点ガラスを用いて強磁性金属薄膜
を突き合わせ接合するために、強磁性金属薄膜後
は、磁気コアブロツクを高温にさらす工程がな
く、強磁性酸化物、強磁性金属薄膜の界面での膨
張係数の違いや、成膜の応力による歪の影響が抑
えられ、疑似ギヤツプの発生が無くなる。
板上面に高融点ガラスを埋め込み、次いで、磁気
ギヤツプ形成面に強磁性金属薄膜を被着し、さら
に所定の工程を経て一対の磁気コアブロツクを作
成した後、低融点ガラスを用いて強磁性金属薄膜
を突き合わせ接合するために、強磁性金属薄膜後
は、磁気コアブロツクを高温にさらす工程がな
く、強磁性酸化物、強磁性金属薄膜の界面での膨
張係数の違いや、成膜の応力による歪の影響が抑
えられ、疑似ギヤツプの発生が無くなる。
また、突き合わせ接合は、高融点ガラスの埋め
込まれたトラツク幅規制溝の内側に低融点ガラス
を流し込むための溝を形成し、そこに低融点ガラ
スを流し込むために、磁気ギヤツプの両側には、
高融点ガラス、その外側を低融点ガラスという配
置を量産的に行え、加工強度が高く、磁気ギヤツ
プが安定した磁気ヘツドが製造できる。
込まれたトラツク幅規制溝の内側に低融点ガラス
を流し込むための溝を形成し、そこに低融点ガラ
スを流し込むために、磁気ギヤツプの両側には、
高融点ガラス、その外側を低融点ガラスという配
置を量産的に行え、加工強度が高く、磁気ギヤツ
プが安定した磁気ヘツドが製造できる。
さらに、トラツク幅規制溝内にある低融点ガラ
ス部は、接合された一対のコアブロツクの状態で
摺動面側のトラツク幅規制溝内の低融点ガラス部
を、摺動面幅規制溝により段差を設けるため、直
接摺動面に露出する事がなく、且つ、それを量産
的に加工できる。
ス部は、接合された一対のコアブロツクの状態で
摺動面側のトラツク幅規制溝内の低融点ガラス部
を、摺動面幅規制溝により段差を設けるため、直
接摺動面に露出する事がなく、且つ、それを量産
的に加工できる。
以上説明した様に本願発明によれば記録媒体と
磁気ギヤツプ間のスペーシングの変動が小さく、
信頼性に優れ、かつ高保磁力の磁気記録媒体に対
しても良好に記録再生の行える磁気ヘツドを得る
ことができる。
磁気ギヤツプ間のスペーシングの変動が小さく、
信頼性に優れ、かつ高保磁力の磁気記録媒体に対
しても良好に記録再生の行える磁気ヘツドを得る
ことができる。
第1図A,Bは本願発明の一実施例としての磁
気ヘツドを示し、第1図Aはその外観斜視図、第
1図Bはその媒体摺動面の構成を示す平面図であ
る。第2図A〜Kは第1図A,Bに示す磁気ヘツ
ドの製造工程を示す図、第3図、第4図、第5図
A,Bは夫々本願発明の他の実施例としての磁気
ヘツドの構造を示す図である。 第6図A,B,
Cは従来の磁気ヘツドを示し、第6図Aはその外
観斜視図、第6図Bはその媒体摺動面を示す平面
図、第6図Cはその摩耗の様子を示す断面図であ
る。 1,2,50,51,56,57,64,65
は夫々酸化物磁性材よりなるコア半体、3,4,
14,52,53,58,59,66,67は
夫々金属磁性膜、5,13,54,60,68は
夫々第1の非磁性材としての高融点ガラス、6,
18,55,61,69は夫々第2の非磁性材と
しての低融点ガラス、11は酸化物磁性材ブロツ
ク、12は第1の溝としてのトラツク幅規制溝、
15は第2の溝としての突合わせ接合用溝、C
1,C2は媒体摺動面幅規制用の溝である。
気ヘツドを示し、第1図Aはその外観斜視図、第
1図Bはその媒体摺動面の構成を示す平面図であ
る。第2図A〜Kは第1図A,Bに示す磁気ヘツ
ドの製造工程を示す図、第3図、第4図、第5図
A,Bは夫々本願発明の他の実施例としての磁気
ヘツドの構造を示す図である。 第6図A,B,
Cは従来の磁気ヘツドを示し、第6図Aはその外
観斜視図、第6図Bはその媒体摺動面を示す平面
図、第6図Cはその摩耗の様子を示す断面図であ
る。 1,2,50,51,56,57,64,65
は夫々酸化物磁性材よりなるコア半体、3,4,
14,52,53,58,59,66,67は
夫々金属磁性膜、5,13,54,60,68は
夫々第1の非磁性材としての高融点ガラス、6,
18,55,61,69は夫々第2の非磁性材と
しての低融点ガラス、11は酸化物磁性材ブロツ
ク、12は第1の溝としてのトラツク幅規制溝、
15は第2の溝としての突合わせ接合用溝、C
1,C2は媒体摺動面幅規制用の溝である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 大部分が酸化物磁性材よりなる一対のコア半
体の少なくとも一方の磁気ギヤツプ形成面に金属
磁性膜を被着し、該一対のコア半体を磁気ギヤツ
プを介して突合せてなる磁気ヘツドであつて、 記憶媒体摺動面における前記磁気ギヤツプの長
さを規制する溝を、前記記録媒体摺動面に対しほ
ぼ垂直に、かつ、前記磁気ギヤツプを磁気ギヤツ
プの長さ方向において挟持するように設け、 前記溝の底部には第1の非磁性材を配し、該第
1の非磁性材の上部には該第1の非磁性材に比し
低融点の第2の非磁性材を前記記録媒体摺動面に
露出しないように配してなることを特徴とする磁
気ヘツド。 2 前記媒体摺動面の幅を規制する溝部を有し、
該溝部は前記記録媒体の摺動方向に平行に形成さ
れ、かつ、該溝部によつて前記第2の非磁性材が
前記媒体摺動面に露出しない構造としたことを特
徴とする特許請求の範囲第1記載待の磁気ヘツ
ド。 3 酸化物磁性材ブロツクの媒体摺動面とすべき
面に対しほぼ垂直方向に所定ピツチで第1の溝を
形成する工程と、 該第1の溝内に第1の非磁性材を埋設する工程
と、 前記酸化物磁性材ブロツクの前記一端面の少な
くとも一部に磁性金属膜を被着する工程と、 前記第1の溝内に埋設された第1の非磁性材に
第2の溝を形成する工程と、 前記第1及び第2の溝が形成され、かつ、前記
磁性金属膜が被着された磁性ブロツク同士を前記
磁性金属膜同士が対向するよう突合せ前記第2の
溝内に前記第1の非磁性材より低融点の第2の非
磁性材を流し接合する工程と、 前記接合された磁性ブロツクを前記第1の溝が
形成された部分にて前記所定ピツチで切断する工
程とを含むことを特徴とする磁気ヘツドの製造方
法。 4 更に前記接合された磁性ブロツクの一端面に
対し、記録媒体摺動面を規制する第3の溝を前記
所定ピツチにて形成する工程を含み、該工程にて
前記媒体摺動面から前記第2の非磁性材を除くこ
とを特徴とする特許請求の範囲第3項記載の磁気
ヘツドの製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61293156A JPS63146202A (ja) | 1986-12-09 | 1986-12-09 | 磁気ヘツド及びその製造方法 |
DE19873741413 DE3741413A1 (de) | 1986-12-09 | 1987-12-07 | Magnetkopf und verfahren fuer dessen herstellung |
GB8728634A GB2201540B (en) | 1986-12-09 | 1987-12-08 | Magnetic head and method for the production thereof |
US07/130,160 US4916563A (en) | 1986-12-09 | 1987-12-08 | Magnetic head and method for the production thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61293156A JPS63146202A (ja) | 1986-12-09 | 1986-12-09 | 磁気ヘツド及びその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63146202A JPS63146202A (ja) | 1988-06-18 |
JPH0554167B2 true JPH0554167B2 (ja) | 1993-08-11 |
Family
ID=17791143
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61293156A Granted JPS63146202A (ja) | 1986-12-09 | 1986-12-09 | 磁気ヘツド及びその製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4916563A (ja) |
JP (1) | JPS63146202A (ja) |
DE (1) | DE3741413A1 (ja) |
GB (1) | GB2201540B (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2759271B2 (ja) * | 1989-01-17 | 1998-05-28 | 日本ビクター株式会社 | 磁気ヘッドとその製造方法 |
US5208965A (en) * | 1989-01-17 | 1993-05-11 | Victor Company Of Japan, Ltd. | Method for producing magnetic head having track regulation grooves formed at tape sliding surface |
JPH0810485B2 (ja) * | 1989-03-20 | 1996-01-31 | 株式会社日立製作所 | 磁気ディスク装置及びこれに搭載する薄膜磁気ヘッドとその製造方法並びに情報の書込み・読出方法 |
JPH0430308A (ja) * | 1990-05-25 | 1992-02-03 | Hitachi Ltd | 磁気ヘッドおよびその製造方法 |
US5220473A (en) * | 1991-05-08 | 1993-06-15 | Eastman Kodak Company | Multitrack magnetic head assembly having a tape-engaging surface contoured for continuous in-contact recording |
JPH08185606A (ja) * | 1994-12-28 | 1996-07-16 | Mitsumi Electric Co Ltd | 磁気ヘッド及びその製造方法 |
JP3990751B2 (ja) * | 1995-07-25 | 2007-10-17 | 株式会社日立グローバルストレージテクノロジーズ | 磁気抵抗効果型磁気ヘッド及び磁気記録再生装置 |
JP3612906B2 (ja) * | 1996-03-14 | 2005-01-26 | ソニー株式会社 | 磁気ヘッド |
JP4695325B2 (ja) * | 2001-09-17 | 2011-06-08 | キヤノン電子株式会社 | 磁気検出素子とその製造方法及び該素子を用いた携帯機器 |
US7616403B2 (en) * | 2004-10-29 | 2009-11-10 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Winged design for reducing corner stray magnetic fields |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59207415A (ja) * | 1983-05-11 | 1984-11-24 | Hitachi Ltd | 複合型磁気ヘツドおよびその製造方法 |
JPS60229210A (ja) * | 1983-12-30 | 1985-11-14 | Sony Corp | 磁気ヘツド |
CA1236212A (en) * | 1983-12-30 | 1988-05-03 | Heikichi Sato | Magnetic transducer head with slanted thin film |
JPS60170010A (ja) * | 1984-02-15 | 1985-09-03 | Hitachi Ltd | 磁気ヘツド |
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JPS61182616A (ja) * | 1985-02-07 | 1986-08-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気ヘツド |
JPH0777008B2 (ja) * | 1985-06-21 | 1995-08-16 | 株式会社日立製作所 | 非晶質合金膜を用いた磁気ヘツド |
DE3687217D1 (de) * | 1985-11-29 | 1993-01-14 | Grundig Emv | Verfahren zur herstellung von magnetkoepfen. |
JPS62271213A (ja) * | 1986-05-20 | 1987-11-25 | Victor Co Of Japan Ltd | 複合型磁気ヘツドの製造方法 |
DE3629519A1 (de) * | 1986-08-29 | 1988-03-10 | Grundig Emv | Verfahren zur herstellung eines magnetkopfes fuer ein video-magnetbandgeraet |
-
1986
- 1986-12-09 JP JP61293156A patent/JPS63146202A/ja active Granted
-
1987
- 1987-12-07 DE DE19873741413 patent/DE3741413A1/de active Granted
- 1987-12-08 US US07/130,160 patent/US4916563A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-12-08 GB GB8728634A patent/GB2201540B/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3741413A1 (de) | 1988-06-23 |
GB8728634D0 (en) | 1988-01-13 |
GB2201540B (en) | 1991-09-04 |
GB2201540A (en) | 1988-09-01 |
DE3741413C2 (ja) | 1991-07-04 |
US4916563A (en) | 1990-04-10 |
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