JPH05502737A - 重複選択スキヤナを備えた被走査型液晶表示装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 重複慮訳スまニブ４　゛えた　−＆ＪＭＭ。

２監」 １肚」 本発明は液晶（ＬＣＤ）ビデオ表示装置、特に、被走査型能動マトリックス（Ａ Ｍ）ＬＣＤの製造への重複集＋ｉ選ｊＲライン駆動回路の使用に関する。

ＬＣＤディスプレイは、従来のＣＲＴディスプレイにはない長所を持つ。ＬＣＤ の薄さ、軽量性、低電力消費性及び開性は、ポータプルパーソナルコンビｘ−タ から航空機のディスプレイに至る広範な通用対象に利点をもたらす。

ねじれ名マ千ツク液晶物質を用いたＬＣＤディスプレイが周知である。この種の ディスプレイでは、電界をかけない状態では液晶分子が偏光にねじれを与え、出 力偏光２１を１過させる。一方電界がかけられると、液晶分子は偏光をねしれさ せることなく出力偏光器により遮蔽させる。これにより、バックライト型ＬＣＤ ディスプレイでは、電界不存在の場合には明ビクセルが、電界存在の場合には暗 ビクセルが、それぞれ視認される。

ＬＣＤディスプレイにおける個々のビクセルは、ＡＭ（能動マトリックス）技術 により励起される。ＡＭ　ＬＣＤディスプレイでは、能動素子（例えば薄膜トラ ンジスタまたはＴＰＴ）が各ビクセル箇所に配設されている。被走査型ＡＭＬ　 ＣＤディスプレイでは、トランジスタのゲート接点が選択ライン（ゲートライン としても知られる）に、ソース接点がデータラインに、そしてドレイン接点が２ 個の電極に挟まれた液晶５ａＴ４層により形成されたコンデンサの一方のプレー トに　それぞれ接続されている０両電極のうち、少なくとも一方は光透過性であ る。ＡＭディスプレイは、選択電圧をその列の選択ラインへ印加することにより 、１回に１列（ライン）が走査される。選択電圧に応答して、その列中のＴＰＴ が、その対応コンデンサをデータラインからの供給電位値になるまで充電させる よう、設定される。これらの充電値は、液晶物質へ加えられる電界を変化させて 各列中のビクセルセルを明化又は暗化する。マトリックスの全列が走査された時 に、、ＬＣＤマトリックス上に画像が形成される。

集積被走査型ＡＭ　ＬＣＤアレイにおいて、走査及びデータ論理回路は、各ビク セルコンデンサ及びＴＰＴが形成されている基板上に直接構成される。データ論 理回路には、ディスプレイの１ラインに対するデータ値を保持するためのソフト レジスタ及び並列データレジスタ等が含まれる６選択論理回路には、ディスプレ イの頂部側ライン位置から底部側ライン位置へ向けて、１フレ一ム間隔で選択信 号を伝播させるためのソフトレジスタが含まれる。

大型ＡＭ　１．、ｃＤバ茅ルの開発における基本的な問題は、このデータ論理回 路及び選（Ｒ論理回路、そしてデータライン及び選択ラインの比較的大型の電子 グリッドを介して単一ビクセルを高倍転性でアドレスするのが困難であることで ある。電子ビームを電気的及び磁気的に所望位！へ送るだけでビクセルがアドレ ス指定されるＣＲＴとは異なり、ＬＣＤディスプレイでは、各ビクセルに対して 一対の導電路に加えてデータ論理回路及び選択論理回路が更に含まれるのである 。

パネルのサイズが大きくなると、これに比例して導電路におけるデータ論理回路 及び走査論理回路も一層複雑化する。また、ビクセル密度が増大すれば、データ 論理回路及び走査論理回路の成分を小さくし、導電路を薄くするのが好ましい。

これらの両効果により、データ論理回路及び走査論理回路と導を路の確実性がＬ ＣＤディスプレイ製造時の重要項目となる。

米国特許第Ｌ　８０４．９５３号（発明者：Ｃａ５Ｌｌｅｂｅｒｒｙ）には、Ｌ ＣＤセル間においてデータライン及びゲートラインを重複構成する方法が記載さ れている。データライン及びゲートラインは２つの金属被覆工程のいずれかに８ いて形成され、所望の重複構造が得られる。第１導電ライン層は、ＴＰＴスイッ チング素子のノリコンゲート電極と同し工程で製造される。絶縁層は、ゲート絶 縁物質と同し工程で製造される。データラインの第２導電層は、リース及びドレ インの金属被覆と同し工程で製造される。これら両導電性層は、データライン長 の約９０％にわたって互いに接触している。

米国特許第４．３６８．５２３号（発明者：ＫａｗａＬｅ）には、データライン 及び選択ラインの重複対が構成されるＬＣＤ装置が開示されている。この装置で は、ＬＣＤディスプレイの各セルは４個のＴＰＴスイッチを含み、各スイッチが データラインと選択ラインの可能な絹み合わせに対応している。いずれのスイッ チでも、セルを制御することができる。テスト中にＴＰＴ、データライン又は１ １Ｒラインに故障が検出されると、当該故障ラインはレーザで切断され、残りの ３個のＴＰＴ、他のデータライン及び／又は他の選択ラインを駆動する。こうし て、この引例の装置によれば、データライン及び選択ライン内、そしてＴＦＴス Ｍノチ中における多重故障の修復が可能となる。

選択ライン及びデータラインの電子グリッドの確実性が増大すれば、他の故障機 構がＡＭ　ＬＣＤの歩留まり制限を顕著に示すようになる。例えば、このような 故障機構としては、外部から走査されるＬＣＤにおけるディスプレイ装置と外部 データ及び走査論理回路との間における種々の接続横道中に生しる故障が挙げら れる。列（ロー）と行（コラム）の駆動器がディスプレイマトリ、クスの外部に 配設されている時は、この駆動器とマトリックスとの接Ｖｔ構造によって、シス テムの確実性が制限される。これは、パネルのサイズ（及び駆動器〜マトリック スの接続数）が増大するに従って深刻な問題となる。

選択ライン及びデータライン駆動回路がＡＭディスプレイ（即ち集積被走査型Ａ Ｍディスプレイ）と共にガラス基板上へ集積されると、外部接続数はディスプレ イサイズにもよるが、７０％以上低減できる。この形式のディスプレイは、外部 被走査型マトリックスに比して確実性が高く、コンパクトであり、消費電力も少 なくてすむ。これら外部接続の大部分を排除することによって、基板上に残るリ ーＦ′を大きくするに十分なスペースを確保でき、この結果確実性を一層向上で きる。また、このスペースは、データ及び走査論理回路の組み込みのために使用 することもできる。

上記Ｋａｗａ　ｔ　ｅ特許には、ディスプレイと同し基板上にＬＣＤディスプレ イのデータ及び選択論理回路が集積され、重複配室された装置も示されている。

主選択論理回路及び重複選択論理回路は、ディスプレイの左側及び右側にそれぞ れ配置されており、また玉データ論理回路及び重複データ論理回路は、ディスプ レイの頂部及び底部にそれぞれ配置されている。もし、マトリックスの一方側に おける選択論理回路中のソフトレジスタに故障段が存在するならば、装置の他方 側のソフトレジスタが代用される０両側のソフトレジスタ双方に故障段がある場 合には、故障部の最下端より下方のディスプレイ部分が使用されなくなる。これ らのマトリックス列のＴＰＴに選択パルスを供給するすべがないからである。

λ哩■概要 本発明は、選択走査型重連シフトレジスタを持つＬＣＤディスプレイに関する。

溶断リンクを含む組合せ回路が選）Ｒシフトレジスタ段の各連続対間に設けられ ている。各重複シフトレジスタに溶断リンクが設けられている場合には、これが 組合せ回路の一方側に接続された段からの信号を他方側に接続された段へ供給す るようにソフトレジスタをセットする作用を果たす。もし、ソフトレジスタ段の 溶断リンクが故障した場合には、組合せ回路出力におけるシフトレジスタ段への 信号供給は、前段からではなく、重複ノフトレ／゛スタの異なる段から行われる こととなる。

区唾ｑ固単奏哉朋 図１は、本発明の実施例を含むＬＣＤディスプレイのブロック図。

図２は、図１に示したＬ　ＣＤディスプレイの組合せ回路及びソフトレジスタの 細部を示すプロ、・り図。

図３は、図１に示したＩ−ＣＤディスプレイにおけるＴＰＴ構造の側断面図６図 ４は、図１に示した［、ＣＤディスプレイにおけるＬＣＤビクセル素子の拡大平 面図。

図５は、本発明に係る他の実施例を用いたＬ　ＣＤディスプレイを示すブロー、 り図。

図６は、本発明の更に他の実施例を用いたＬＣＤディスプレイを示すブロック図 である。

ｎ剌 図ＩはＬＣＤディスプレイ１０を示し１重複選択スキャナ１６ａ、１６ｂ及び重 複データレジスタ１２ａ、＋２ｂが基板８上にＬＣＤアレイ１１と共に集積配！ されている。選択スキャナ１６ａ及び１．６　ｂは、それぞれ選択ソフトレジス タ１８．１８′を含み、該両ノフトレジスタ内の各段１８ａ−１８ｐが組合せ回 路２０ａ−２０ρＧこより接続されている。ソフトレジスタの各段は、ＬＣＤア レイ１１の選択ライン２６へ接続された各駆動回路３６ａ−３６ｐｆ、：接続さ れている選択ライン２６は、２個の選択シフトレジスタ１８□　１８’の対応段 、及び組合せ回路２０へ接続されている０例えば、２個のシフトレジスタの各第 １段において、単−選択ライン２６が駆動回路３６ａ、３６ｉを介して各シフト レジスタ段１８ａ及び１８１に接続されている。ライン２６も組合せ回路２０ａ 、２０ｉにＦ妄続されている。各組合せ回路は、ソフトレジスタＩ８と１８’と の各々の連続段を相互に接続するよう構成されている。データライン３０は、デ ィスプレイ中におけるビクセルの各行に対して１つのデータラインが割り当てら れた構成である。ビクセルセル３２は、各ゲートライン２６及びデータライン３ ０の交差点に配Ｉされている。各ビクセルセルは、ＬＣＤ及びＴＦＴ切替装置（ 不図示）を金色。選択及びデータ回路は、ＴＰＴ切替装置と同し段に形成されて いる。

ＬＣＤ基板８上にＬＣＤアレイ、データ回路ＩＯ及び選択回路＋６ａ、１６ｂを 形成した後、各回路の導電路又は素子に故障がないかどうかテストされる。ここ で征目すべきは、選択シフトレジスタ段１８ａ−１８ｐにおける故障検出及び修 復である。ディスプレイの第１ラインが励起されると、選択電圧値（例、１５ポ ルト）が第１ラインにおけるソフトレジスフ段り８ａ内に記憶される。駆動回路 ３６ａは、ゲートライン２６へこの選択電圧を供給する。他の全ての段１８ｂ− １８ｈは非選択値（０）を含み、また他の全ての駆動器３６ｂ−３６ｐは非選択 ゲー）・電圧値を供給する。このラインが走査されると、次ラインへの選択電圧 値が段１８ｂ中に記憶され、セロ値が第１段１８ａ内に記憶される。従って、こ の選択信号は、Ｌ　ＣＤラインが順次走査されるに従ってシフトレジスタ１日を 介して伝播してゆく。ソフトレジスタに故障段が存在しないときは、組合せ回路 ２０ａ−２０ｐは、ソフトレジスタ１８を介した選択ピントの伝播には影響を及 ぼさない。段１８ａ−１８ｈのいずれかが故障すると、選択信号がシフトレジス タ１８を介して伝播するのが阻止され、これによって故障部より下方におけるデ ィスプレイラインの選択及び走査が行われなくなる。本発明の目的は、選択スキ ャナ１６ａまたは１６ｂの何れかにおける故障を許容しうる構造を導入すること により、ＬＣＤディスプレイ装置製造の歩留まりを向上させることにある。

最も簡単な場合として、選択スキャナ１６ａ又は＋６ｂのいずれにも故障が存在 しないケースを考える。この時、第２のスキャナは全く不必要であり、両スキャ ナ又はどちらかがディスプレイラインを駆動可能である。同様に簡単なケースと して、選択スキャナ１６ａ、］、６ｂの故障がいずれか一方のスキャナに限られ る場合には、故障スキャナへの接続をレーザで切断して、他方の機能するスキャ ナを使用することができる。

しかし、もしソフトレジスタ１８または１８′のいずれが一方に通じる選択ビッ トの通常伝播を阻止するように選択スキャナ１６ａ及び＋６ｂ双方に故障が存在 する場合には、両スキャナ１６ａ及び１６ｂからのソフトレジスタ段１８ａ−１ 、８ｐを組み合わせることが望ましい。これにより、少なくともひとつの操作段 がＬ　ＣＤ　１．０の各ラインに対して設けられることになる。本発明は、レー ザ（１復作用によって、各故障ソフトレジスタ段下方の組合せ回路２０へこの性 能も与えるものである。以Ｆの説明において、図１におけるソフトレジスタ段１ ８ｄは故障をもつものと忠定する。

本発明の第１実施例において、組合せ回路２０ｄの修復は、スキャナ１６ａ中の 段１８　ｅが、その直上方段１８ｄからの信号ではなくスキャナ＋６ｂ中の段１ ８２からの選択信号を受信するように設定することで達成される。同様の方法で 、選ＩＲスキャナノフトレジスタに多数の故障をもつ作動可能な１．、　ＣＤを 修復することもできる。各ディスプレイラインには両選択スキャナ１８に対する 組合せ回路２０が配！されているので、１つのラインに対して１つの段が作動可 能である限り、機能ソフトレジスタ段１８ａ−１８ｐ　（ディスプレイのどちら かの側からの各選ＩＲライン毎に一段）の任官の組合せを使用するこおができる 。ディスプレイの各側からの選択シフトレジスタ段１８ａ−１８ｐの半分にまで 故障が生しても、完全に機能しうるディスプレイに修復することが可能である。

図２は、図１に示したＬＣＤの典型的組合せ回路２０ｄ及び選択シフトレジスタ 段１８ｄの詳細を示したブロック図である。駆動回路３６ｄは、当業者には周知 の従来の形態のものであり、詳述は省く、ソフトレジスタ段１８ｄは、動的論理 マスク従属フリップフロ７ブを形成するバスゲート４０及び４４、そしてＣＭＯ Ｓインバータ４２及び４Ｇを含む、該フリップフロップは、信号５ＣＬＫ及びそ の反転信号であるＮＯＴ、５ＣＬＫによりクロックされる。５ＥＬＥＣＴ　（選 択信号）、５ＣＬＫ（クロック信号）及びＮＯＴ、５ＣＬＫ　（反転クロック信 号）は、バステ二ト４０へ供給される。５ＣＬＫパルスがＰチャンフルゲートで 低く、反転クロック信号がＮチャンネルゲートで高い時、選択信号（能動ＨＩＧ Ｈ）信号がバスケート４０へ供給されると共に、インバータ４２により反転され て信号Ｓ１を発生する。Ｓｌの値は、インバータ４２のゲートコンデンサ（不図 示）内に記１９される。パスゲート４４は、クロック信号が低いあいだは信号Ｓ ｌを通過させない。クロックパルスが高くて反転クロック信号が低い時には、バ スゲ−１−４０はオフされてパスゲート４２がオンされ、これによって信号Ｓ１ がゲート４２を介してインハーク４６へ入る。そして、電圧レベルが３２に反転 され、このＳ２がイ／ハータ４６内に記憶されると共に、組合せ回路２ｏ及び駆 動器３６双方へ向けて出力される。

組合せ回路２０ｄは、ソフトレジスタ段１８ｄからの信号Ｓ２を受信すると共に 、ライン６０からのソフトレジスタ段値も受信する。ライン６０は、組合せ回路 ２０ｄと選択ライン２７とを導電接続する。組合せ回路２０ｄは、これら２個の 信号の一方だけを次レジスタ段１．８　ｅへ供給する。

図２は、レーザ修復が行われない時の組合せ回路２０ｄの構成を示す０Ｍｉ合せ 回路２０ｄは、転送ゲート５０及び５２．２Ｍ０Ｓインバータ５４ａ及び５４ｂ から成るラッチ５４、溶断可能なリンク５日、そしてリセットゲート５６を含む リセットゲート５６は通常オフされ、これにより１５ボルト信号６２はラッチ５ ４へ供給されない。７８断リンク５８とランチ５４との間の導電路により、イン バータ５４Ａの出力信号が高くなり、インバータ５４Ｂからの出力信号が低くな る。この構成では、ＬＯＷ信号が転送ゲート５２のＮチャンネルゲートに供給さ れ、ＨＩＧＨ信号が転送ゲート５２のＰチャンネルゲートに供給される。これら の信号が転送ゲート５２をオフし、これによってライン６０上の選択ライン信号 はゲート５２を通過できなくなる。この構成において、ラッチ５４により供給さ 机る信号は、ＬＯＷ信号を転送ゲート５０のＰチャンネルゲート５０へ供給し、 １１１　Ｇ　Ｈ信号を転送ゲート５０のＮチャンネルゲートへ供給する。これに よって転送ゲート５０がオンし、出力信号であるソフトレジスタ段１８ｄの信号 Ｓ２がゲート５０を経てシフトレジスタ段１８ｅの入力端子へ供給される。ノリ １．レノスタ段１８ｄが作動可能であるならば、この組合せ回路構造は、ソフト レジスタ段１８ｄから１．８　ｅへ選択ピントを送るのに好適である。

しかし、もしテスト中においてシフトレジスタ段１８ｄの内部に故障が検出され た場合には、段！８６と別の段からシフトレジスタ段１８ｅへ値を取り出すこと が望ましい。組合せ回路２０ｄからリンク５８を溶断除去するためにレーザが使 用される。リセットゲート５６をオンするため、外部パルス発生器からライン６ ６に対してリセットパルスが印加される。この信号に応答して、ライン６２から の）（＋ＧＨ信号がイノハータ５４Ａの入力端子へ供給され、これによりイ／ハ ータ５４Ａ及び５４Ｂからの出力信号がそれぞれローおよびハイとなる。これら の信号が転送デー１−５０をオフすると共に、転送ゲート５２をオンする。

このように、リンク５８が溶断されると、絹合せ回路２０ｄはもはやシフトレジ スタ段１８６から段＋８ｅへ選択ビットを通］硝させない。その代わりに、ノッ トレジスタ１８′の対応ソフトレジスタ段１８１から選択ビットが、ＬＣＤディ スプレイの他方側へ送られるにの信号は、選択ライン２７及びライン６０を介し て供給される。

図３は、図１に示ずＬ　ＣＤのＴＦＴ横遣の側断面図である。ＴＦＴ３４は、次 のように形成される。すなわち、基板Ｂ上に低温（５６０°Ｃ）の８００〜１． ５００人ノリコン層８０．８０か被覆される。この層は、底部ビクセル電極とし て機能する。ノリコノがパターン化された後、８００人厚０熱酸化物（ＳｉＯ２ ）が成長してケーート絶縁体８２として作用する。そして、ボＩＪノリコンＴｈ ｆが５６０゛Ｃで被覆され、パターン化される。このポリノリコノ物質は、ＴＦ Ｔゲート８４及び選択（ゲート）ライン２６双方として作用する。ｐ型トランジ スタにおいては、ソース８０ａ及びドレイン８０ｂの各領域をそれぞれドープす るために、ボロン注入が１１ねれる。ｎ型トラノノスタ（こおいては、ノース８ ０ａ及びドレイン８０ｂの各も頁域に、リンがイオン圧入される。Ｐ及びｎ型の 両トランジスタに対しては、ゲート′ｌｙ′Ｊ賞８４がリンでｎ型に重ドープさ れる。圧入物質は仄気中で活性化され、スクエア当り！００Ωのノート抵抗をも つポリノリコノゲートが生成される。基板８は、その後低温Ｓ　ｉ　Ｉ　Ｎ、ガ ラス層９８およびドープされた酸化物層てそれぞれ被覆される。この透明ガラス 層は、ディスプレイビクセルをも被覆する。その後、接点が酸化物及び充電層を 介してｒＩｉＩ放され、アルミニウム金属被１層８６が被着、固定される。そし て、インジウム−スズ酸化物層がビクセル電極として被着１固定される。

７４は、図１に示したＬＣＤの部分拡大図である。ピクセル３２は、選択ライン ２６とデータライン３０との各交差部に設けられている。各ピクセルは、ＴＦＴ 装置３４及び表示Ｎ、極９０を含む。選択ライン２６．データライン３０及びＴ ＦＴ３４は［、、ＣＤ　領域の比較的小部分を占めるから、解像度を向上させる ことが可能である。アルミニウム金属被覆層８６は、ＬＣＤＩ　Ｏに対するデー タライノ３０を供給する６更に、ポリノリコン退沢（ケ゛−ト）ライン２６は、 データライン近傍を診いて、データライン被覆のための同様な金属被覆プロセス 中にアルミニウムで被覆される。この金属被覆層は、下方に存在する選択ライン ２６のポリノリコノ導電路へ電気接続され、これにより選択ラインの確実性向上 に寄与する分流路が形成される。

本発明の第２実施例は、ディスプレイの一方側から他方側への選択ライン２６に 沿って伝（ａする信号に、かなりの抵抗−コンデンサ（ＲＣ）遅延が生しるよう な比較的大型のディスプレイに有用である。こうした大規模ディスプレイでは、 直前の段よりも、ディスフライの頂部に近いソフトレジスタ段からの選択信号を ピックアップするのが望ましい、使用されるシフトレジスタ段の選択は、こうし てｌｉ化され、選択スキャナ中に故障のないディスプレイと同等の性能が保持さ れる。上述の実施例において、ライン６０は、段１８１に接続されたライン２７ からの信号ではなく、ノリ］・レジスタ＋８’の段１８ｋに接続されたライン２ ５からの選択信号を受信するように接続されている。

本発明の第３実施例では、組合せ回路２０ｄは、リセットパルスの外部適用に応 答して重複シフトレジスタ段からの選択ピントを再度電子的に経路指定する。

テストも、本発明第」実施例と同様に行われるが、故障検出に続いて、レーザ修 復は故障ソフトレジスタ段を補償するのに必要でない点が異なる。その代わりに 、　ｉＨｔＲｆｇ号、又は選＋Ｒ＋ｆ号とリセットパルスとの組合せによる特定 電位によって、組合せ回路が故障段周辺の選択信号を再経路指定するようになる 。

第３実施例の改良として、組合せ回路２０内におけるフェールセーフ回路が用い られる。これによれば、修復又は断続する必要なく故障シフトレジスタ段の検出 補償が可能となる。このフェールセーフ回路は、選択シフトレジスタ段のオン１ ハイまたはローに持続の壮健を検出し、選択ライン２６からの信号を自動的に再 経路指定する。フェールセーフ回路の棲雑性を最小限にとどめるため、自動検出 される故障の種類数を制限した方がよい。図示例では、上述のように、−Ｊｉ： 検出故障はレーザ修復にて調整される。

本発明による第４実施例を用いたＬＣＤのブロック図を図５に示す。図示例にお いて、第２完全シフトレジスタ１９は、ＬＣＤディスプレイと平行且つノットレ ジスタ１８と同し側に付ＩＪ［＋されている。この実施例では、ノットレジスタ １８′は排除可能である。ノットレジスタ１９はノットレジスフ１日から十分に 隔離され、これにより単一の故障（例・マスク上における一片の塵等）が単一の 選択ラインを励起する両レジスタ段と連携した段へ影響を及ぼすことになる。

この第４実施例では、第１実施例に比して利点が２つある。第１に、駆動回路数 が半分で済むことである。ノットレジスタ１８及び１９又は両ソフトレジスタ段 の組合せのいずれかだけで、駆動回路３６の単−行に対する走査機能を十分に発 （軍させうる。これは、装置数及びディスプレイ総領域双方を節約できることを 意味する。

第２に、選択ビット信号がレジスタ１８へ再送出された時、選択ライン２６に対 する信号伝播に起因するＲＣ遅延は存在しない。第１実施例でも説明したように 、組合せ回路への補助人力の接続は、ＲＣ遅延を補償するための特別な経路指定 が必要となる。しかし、この構成では、前実施例では重複駆動回路を持つのに対 し、各走査ラインに単一の駆動回路しか備えていない。加えて、この実施例では 、故障した走査ラインの補償のためにディスプレイの両側上に選択回路を使用で きない。更に、両シフトレジスタ１８と１９双方に影響を及ぼす比較的大きな故 障が生しると、ディスプレイが作動不能になる可能性がある。

図６は、本発明の第５実施例を用いたＬＣＤを示すブロック図である。この実施 例では、ＬＣＤＣＤディスフライ１各側にそれぞれ耐重された２対のシフトレジ スタ１８．１９及び１８’、１９’が設けられている。更に、ＬＣＤディスプレ イの何れかの側には駆動回路３６の完全行が存在する。この実施例によれば、一 層大きな重複性を以って第４実施例の全特徴を得ることができる。加えて、左ン フトレノスタ及び駆動回路が右ノフ）・レジスタ及び駆動回路から物理的に離れ ているので、全シフトレジスタにおける同し段に影響を与える単一故障の類似性 が実質上小さく抑制される。

他の実施例と比較して、この方法の主要な欠点は、４個の完全シフトレジスタを 形成するために使用される特別装置数及び付属要素数が、その領域で増大するこ とである。

以上、本発明を実施例に基づき説明してきたが、添付の特許請求の範囲に記載の 思想、範囲内で、種りの変更、改良を加えることも可能である。

１Ｓ表平５−５０２７３７　（５） ／ｌ １１１６号しヱ丈」頒［（な４美ｂ）凹成品−表示装置斐約１ ディスプレイ中のビクセル電極をアドレス指定するため、薄膜トランジスタ（Ｔ ＰＴ）と共に使用される導電列選択ライン及び行データラインから成るグリッド を金色液晶装置（ＬＣＤ）、ＬＣＤディスプレイは、選択信号を受信して列選択 ラインに対して伝播させる２個のシフトレジスタを含む。各シフトレジスタは複 数のソフトレジスタ段を有し、各−のシフトレジスタ段が各−の列選択ラインに 接続されている。複数の組合せ回路が配室され、その各々が各シフトレジスタの 各段に対応している。各組合せ回路は、各シフトレジスタの連続した段間におり る選択信号に対する導電路を形成する。故障がシフトレジスタの段に検出される と、故障段の出力に接続された組合せ回路は、他のシフトレジスタの対応段から −の選択信号をソフトレジスタの次段へ送出させる。重複した完全選択ソフトレ ジスタが耐重されているので、両ソフトレジスタが故障段をもつ場合でも対処で きる。

国際調ｆ、＠告

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．複数の列と、行から成るマトリックス状に配置された選択可能ピクセルセル のアレイを有し、各ピクセルセルは前記いずれかひとつの列と行とを選ぶことに よってアドレスされる被走査型能動マトリックスディスプレイにおいて、ピクセ ルセルの個々の列を重複選択する装置が、複数の段を有し、各段がピクセルセル の各異なる列へ接続され、これにより第１選択信号をピクセルセルの各列へ連続 的に供給するシフトレジスタ手段と、第２選択信号をピクセルセルの各列へ連続 的に供給する交互選択手段と、前記シフトレジスタの各段及び交互選択手段へ接 続され、前記第１選択信号又は前記第２選択信号を前記シフトレジスタの各次段 へ選択的に供給する複数の組合せ手段と、から成ることを特徴とする被走査型能 動マトリックスディスプレイ２．第２選択信号をピクセルセルの各列へ連続的に 供給する手段が、更に他のシフトレジスタ手段を含み、該シフトレジスタ手段は 、それぞれが前記ピクセルセルの互いに異なる各列に接続された複数の段を有し 、前記各組合せ手段が、前記シフトレジスタ手段と前記更に他のシフトレジスタ 手段の各対応段にそれぞれ接続された第１及び第２入力端子を有することを特徴 とする請求項１に記載の被走査型能動マトリックスディスプレイ。 ３．前記シフトレジスタ手段と前記更に他のシフトレジスタ手段との各対応段が 前記ピクセルセルの各々異なる列によって隔離されていることを特徴とする請求 項２に記載の被走査型能動マトリックスディスプレイ。 ４．前記シフトレジスタ手段及び前記更に他のシフトレジスタ手段が相互に隣接 し、かつピクセルセルの複数列の所定端に隣接して配置されていることを特徴と する請求項２に記載の被走査型能動マトリックスディスプレイ。 ５．前記各合成手段は、前記第２選択信号ではなく、第１選択信号を送るように 構成されており、当該各合成手段は、第１選択信号の代りに第２選択信号を送る ように、レーザ光で切断可能な溶断リンクを有することを特徴とする請求項１に 記載の被走査型能動マトリックスディスプレイ。 ６．前記ディスプレイは導光セルのアレイを含み、各セルは液晶物質及び液晶物 質を選択的に駆動するための薄膜トランジスタを含み、前記薄膜トランジスタは 一組の処理工程により製造され、前記シフトレジスタ及び更に他のシフトレジス タは、前記導光セル中に薄膜トランジスタを製造するために用いられる処理工程 を用いて製造される薄膜トランジスタを含むことを特徴とする請求項２に記載の 被走査型能動マトリックスディスプレイ。 ７．前記各薄膜トランジスタは、ゲート電極及び主導電チャンネルを含み、主導 電チャンネルは、前記ピクセルセルの行内において前記主導電路を前記他の薄膜 トランジスタへ接続するためにポリシリコン及び金属導電体から構成され、前記 各ピクセルセルの列におけるトランジスタのゲート電極は、ポリシリコンから成 る導電路により接続され、そして前記金属導電体から形成された導電路によって 分流された部分を有することを特徴とする請求項６に記載の被走査型能動マトリ ックスディスプレイ。 ８．前記シフトレジスタ手段は第１及び第２成分シフトレジスタ手段を含み、各 レジスタ手段は前記第１選択信号及び重複第１選択信号をピクセルセルの各列へ 供給するための複数の段を含み、 前記第１及び第２成分シフトレジスタ手段の各段は、前記第１選択信号または前 記重複第１選択信号を前記入力端子へ選択的に供給するよう接続された入力端子 及び成分組合せ手段を含むことを特徴とする請求項２に記載の被走査型能動マト リックスディスプレイ。 ９．複数の列を有するマトリックス状に配列されたアドレス可能液晶装置（ＬＣ Ｄ）ピクセルセルのアレイを含み、前記ＬＣＤピクセルは前記ピクセルセルの列 を順次選択することによって騒動される被走査型能動液晶マトリックスディスプ レイにおけるピクセルセルの各列を重複選択する装置において、それぞれが入力 端子及び出力端子を有する複数の段を含み、各出力端子は次の連続段の入力端子 及びＬＣＤピクセルセルの各列に接続され、これにより第１選択信号をピクセル セルの各列へ連続的に供給する第１シフトレジスタ手段と、各々が入力端子及び 出力端子を有する複数の段をもち、各出力端子は次の連続段の入力端子及び前記 各ピクセルセルの各列へそれぞれ接続された第２シフトレジスタ手段と、 各々が、前記第１シフトレジスタ手段における各段の各出力端子に接続された第 １入力端子と、前記第１及び第２選択信号のうちの一方を第１シフトレジスタ手 段の各連続次段へ選択的に供給するための第２シフトレジスタ手段における各般 の各出力端子へ接続された第２入力端子と、を有する複数の第１組合せ手段と各 々が第２シフトレジスタ手段の各段における異なる出力端子に接続された第１入 力端子と、第２及び第１選択信号のうちの一方を第２シフトレジスタ手段の各連 続次段へ選択的に供給するために第１シフトレジスタ手段の各段における異なる 出力端子に接続された第２入力端子と、を含む複数の第２組合せ手段と、を含む ことを特徴とする被走査型能動液晶マトリックス装置。