JPH0548254Y2 - - Google Patents

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JPH0548254Y2
JPH0548254Y2 JP16814188U JP16814188U JPH0548254Y2 JP H0548254 Y2 JPH0548254 Y2 JP H0548254Y2 JP 16814188 U JP16814188 U JP 16814188U JP 16814188 U JP16814188 U JP 16814188U JP H0548254 Y2 JPH0548254 Y2 JP H0548254Y2
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disk
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cross signal
track cross
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は光デイスク装置の改良に関するもので
ある。
〔従来の技術〕
現在のコンパクトデイスクは、記録されたピツ
ト部の反射率がそれ以外の部分に比べて低くなる
第1型のデイスクである。しかしながらデイスク
に用いられる記録媒体によつては、記録されたピ
ツト部の反射率がそれ以外の部分に比べて高くな
る第2型のデイスクもある。この様な第1型のデ
イスクと第2型のデイスクの両方を再生する場合
においては、再生するデイスクの型に応じてマニ
アルスイツチ等で再生サーボ回路の切り替えを行
つている。
〔考案が解決しようとする課題〕
ところがこの様にマニアルスイツチでデイスク
の再生サーボ回路を切り替えると、誤操作により
デイスクが再生できないことがある。
本考案は、この様な問題点を解決する為になさ
れたものである。
〔課題を解決するための手段〕
デイスクに光を照射して情報を記録又は再生す
る光デイスク装置において、トラツククロス信号
を得る手段と、該トラツククロス信号をエンベロ
ープ検波してピーク時を検出する手段と、前記ト
ラツククロス信号の平均値を得る手段と、前記ピ
ーク時において前記トラツククロス信号平均値が
所定レベル以上かどうかを判定する手段と、前記
所定レベル以上と判定した回数を計数する手段
と、計数結果として得られた判定回数の前記ピー
クレベル発生回数に対する比率を演算する手段
と、該比率によりデイスクの種類を判別する手段
とを具備したことを特徴とするものである。
〔作用〕
本考案は以上の様な構成を有するものであるか
ら、記録されたピツトの部分がそれ以外の部分に
比べて低い反射率を有する第1型のデイスクであ
るか、又は高い反射率を有する第2型のデイスク
であるかを判別することができる。
〔実施例〕
第1図は、本考案の一実施例を示すブロツク図
である。
図において、スピンドルモータ4により回転さ
れるデイスク3から、記録情報が光ピツクアツプ
5により読み出され、その出力は増幅器6で増幅
され、ハイパスフイルタ7及びデイスク検出器2
1に加えられる。ハイパスフイルタ7の出力はス
イツチ9又は10により直接又は反転増幅器8を
介してデータ検出部12に加えられ、その出力は
出力端子13に導出される。デイスク検出器21
からの制御出力は直接、及び反転回路11により
反転されて、それぞれスイツチ9及び10の制御
端子に加えられる。
第2図はデイスク検出器21の詳細を示すもの
で、増幅器6からデイスク検出器21の入力端子
30に加えられたHF信号は、エンベローブ検波
器22及びローパスフイルタ29に加えられる。
ピーク検出器23及びコンパレータ24の出力は
計数回路25の入力端子に加えられる。計数回路
25の出力は演算回路26に加えられ、その出力
はフリツプ出力回路27に加えられる。フリツプ
出力回路27の出力は第1図のデイスク検出器2
1の出力として出力端子31に導出され、前記制
御出力として用いられる。
以上の構成による動作を第3図の各部波形図を
用いて以下詳細に説明する。
第3図において波形a〜eは第2図の同じ符号
が付された部位に現れる波形を示す。なお、添字
1及び2はそれぞれ第1型及び第2型のデイスク
に対する波形であることを示す。
一般に記録可能な光デイスクは、螺旋状の溝も
しくはランドの記録トラツクが設けられている。
ここでデイスク3上に照射される光ビームは比較
的大径であり、一方各記録トラツクの部分は、ト
ラツク同志の中間部分より広く形成されている為
もあつて、上記光ビームに対する実効反射率が高
くなつており、又ピツト部ではさらに反射率が異
なつている。この結果、光デイスク装置によりデ
イスク3を再生する場合において、回転している
デイスク3が偏心したり、デイスク3上の所望の
曲をサーチする場合等に、ピツクアツプ5がトラ
ツクを横切るため、トラツククロス信号が得られ
る。
第3図a1,a2はこの様なトラツククロス信号が
得られた状態のピツクアツプ出力信号である。な
お、エンベロープ検波a11,a21はトラツクとトラ
ツク間とを交互に移動するさいの反射率変化を示
す。
前述の如く、第1型のデイスクでは、記録され
たピツト部はそれ以外の部分に比べて反射率が低
いので、もともと反射率の高いトラツク部分に記
録ピツトが形成されると、ピツト部で出力がa12
の如く減少するので、点線a13の如く平均出力は
トラツク部分で小となりトラツク間部分で大とな
る。
又、第2型のデイスクでは、記録されたピツト
部はそれ以外の部分に比べて反射率が高いので、
トラツク部分にピツトが形成されると、a22の如
くピツト部分の出力が大きくなり、点線a23の如
くトラツク部分の平均出力が大となつて、トラツ
ク間部分の出力は小となる。
このピツクアツプ出力信号a1及びa2を使用し、
第1型のデイスクであるか第2型のデイスクであ
るかをデイスク検出器21により検出する。
以下デイスク検出器21についてさらに詳細に
その動作を説明する。
前述の様なピツクアツプ出力信号a1又はa2をエ
ンベロープ検波器22により正のピークのエンベ
ロープを検波すると、デイスクが第1型であるか
第2型であるかにかかわらず第3図bの様な位相
のエンベロープ検波bが得られる。この様なエン
ベロープ検波bのピーク値は、光ピツクアツプ5
がトラツク上を照射するときに得られる。ピーク
検出器23でこのエンベロープ波形bのピークを
検出すると、第3図dの様にピーク検出波形dが
得られる。
又、上記ピツクアツプ出力信号a1,a2からロー
パスフイルタ29により低周波成分を取り出す
と、ピツト自体による高域成分が除去され、第1
型又は第2型のデイスクに対してそれぞれ第3図
c1又はc2の様な、低域成分波形c1又はc2が得られ
る。これは、ピツクアツプ出力信号a1,a2の平均
出力a13及びa23に対応するもので、この様な低域
成分波形c1又はc2をコンパレータ24により所定
レベル以上を取り出して方形波に変換し反転する
と、第1型及び第2型のデイスクに対応してそれ
ぞれ第3図の方形波e1及びe2が得られる。
なお、ピツクアツプ出力信号a1又はa2にノイズ
が含まれる場合は、第3図d,e1,e2中に示され
ている様にそれぞれチヤタリングd10,e11,e12
生ずる。
計数回路25は、上記ピーク検出波形dの立ち
下がり毎にこの時点におけるコンパレータ24の
出力が、方形波e1の如く高レベルであるか、方形
波e2の如く低レベルであるかを検知し、高レベル
となる回数を計数する。一方計数回路25は上記
ピーク検出波形dの立ち下がり部の発生回数も計
数し、この発生回数が所定数になると上記高レベ
ルとなる回数の計数結果を演算回路26に加え
る。演算回路26では、上記所定回数に対する上
記計数結果の比率を演算し、高レベルとなる状態
の発生する比率が例えば8割以上であれば、第1
型のデイスクであると判定して高レベルの検出出
力を発生し、2割以下であれば第2型のデイスク
であると判定して低レベルの検出出力を発生する
ものである。
又、ピツクアツプ出力信号a1,a2にノイズを生
じた場合は、第3図d,e1,e2に示される様にチ
ヤタリングd10,e11,e12を生ずるので、上記比率
は一方に偏ることなく50%前後の値を示す。この
様に比率が20%以上80%以下である場合は演算回
路26よりリセツト信号を発生し、計数回路25
をリセツトし、上述の計数及び演算をやり直す。
こうしてデイスク検出器21により第1又は第
2の型のデイスクに対応してそれぞれ高レベル又
は低レベルの制御出力を得ることが出来る。従つ
て第1図において、デイスク検出器21の出力が
高レベルであれば、スイツチ9が閉じ、スイツチ
10が開くので、ハイパスフイルタ7の出力がそ
のままデータ検出器12に加えられ、正しいデー
タが出力端子13に導出される。次にデイスク検
出器21の出力が低レベルであれば、スイツチ9
が開き、スイツチ10が閉じるので、ハイパスフ
イルタ7の出力が反転増幅器8により反転してデ
ータ検出器12に加えられるので、正しいデータ
を得ることが出来る。又、このデイスク検出器2
1の極性に応じて再生サーボゲインを切り替える
ことにより第1及び第2の型のデイスクの両方を
正確に再生することができる。
〔考案の効果〕
本考案によれば、デイスクのピツト部の反射率
が、それ以外の部分に比べて低いデイスクである
か、それ以外の部分に比べて高いデイスクである
かを簡単な構成により検出することが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示すブロツク図、
第2図はその要部を示すブロツク図、第3図はそ
の動作を示す各部波形図である。 21……デイスク検出器、22……エンベロー
プ検出器、23……ピーク検出器、24……コン
パレータ、25……比較回路、26……演算回
路。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. デイスクに光を照射して情報を記録又は再生す
    る光デイスク装置において、トラツククロス信号
    を得る手段と、該トラツククロス信号をエンベロ
    ープ検波してピーク時を検出する手段と、前記ト
    ラツククロス信号の平均値を得る手段と、前記ピ
    ーク時において前記トラツククロス信号平均値が
    所定レベル以上かどうかを判定する手段と、前記
    所定レベル以上と判定した回数を計数する手段
    と、計数結果として得られた判定回数の前記ピー
    クレベル発生回数に対する比率を演算する手段
    と、該比率によりデイスクの種類を判別する手段
    とを具備したことを特徴とする光デイスク装置。
JP16814188U 1988-12-26 1988-12-26 Expired - Lifetime JPH0548254Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16814188U JPH0548254Y2 (ja) 1988-12-26 1988-12-26

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16814188U JPH0548254Y2 (ja) 1988-12-26 1988-12-26

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0289616U JPH0289616U (ja) 1990-07-16
JPH0548254Y2 true JPH0548254Y2 (ja) 1993-12-22

Family

ID=31457063

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16814188U Expired - Lifetime JPH0548254Y2 (ja) 1988-12-26 1988-12-26

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JPH0289616U (ja) 1990-07-16

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