JP2766178B2 - 光ディスク装置のミラー信号検出方法及びその回路 - Google Patents
光ディスク装置のミラー信号検出方法及びその回路Info
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- JP2766178B2 JP2766178B2 JP2571694A JP2571694A JP2766178B2 JP 2766178 B2 JP2766178 B2 JP 2766178B2 JP 2571694 A JP2571694 A JP 2571694A JP 2571694 A JP2571694 A JP 2571694A JP 2766178 B2 JP2766178 B2 JP 2766178B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク装置のミラ
ー信号検出方法及びその回路に関するものである。
ー信号検出方法及びその回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、コンパクトディスク（以下、ＣＤ
と称する）のように予めピットが記録されている再生専
用の光ディスクからミラー信号を検出する場合、光ディ
スクからの反射光量に対応したレベルを有するＲＦ信号
のエンベロープ信号が使用されていた。
と称する）のように予めピットが記録されている再生専
用の光ディスクからミラー信号を検出する場合、光ディ
スクからの反射光量に対応したレベルを有するＲＦ信号
のエンベロープ信号が使用されていた。
【０００３】即ち、図２及び図３に示すように増幅器１
によりＲＦ信号を反転増幅した後、２つのエンベロープ
検出回路２ａ，２ｂによってＲＦ信号のピーク側のエン
ベロープとボトム側のエンベロープを検出する。次いで
これらのエンベロープ信号をそれぞれに対応したサンプ
ルホールド回路３ａ，３ｂによってホールドし、さらに
減算器４によってピーク値Ｈからボトム値Ｉを減算して
ミラーホールド信号Ｊを生成する。さらに、ミラーホー
ルド増幅器５によってスライスレベル信号Ｋを生成し、
ミラーホールド信号Ｊとスライスレベル信号Ｋとを比較
器６により比較することによってミラー信号ＭＩＲＲを
得ていた。ここで、先述した各構成部分は１つのＩＣに
収められ、ＣＤ専用として使用されている。
によりＲＦ信号を反転増幅した後、２つのエンベロープ
検出回路２ａ，２ｂによってＲＦ信号のピーク側のエン
ベロープとボトム側のエンベロープを検出する。次いで
これらのエンベロープ信号をそれぞれに対応したサンプ
ルホールド回路３ａ，３ｂによってホールドし、さらに
減算器４によってピーク値Ｈからボトム値Ｉを減算して
ミラーホールド信号Ｊを生成する。さらに、ミラーホー
ルド増幅器５によってスライスレベル信号Ｋを生成し、
ミラーホールド信号Ｊとスライスレベル信号Ｋとを比較
器６により比較することによってミラー信号ＭＩＲＲを
得ていた。ここで、先述した各構成部分は１つのＩＣに
収められ、ＣＤ専用として使用されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た従来のミラー信号検出回路では、回路がＣＤ専用ＩＣ
の中に完全に取り込まれており、ＣＤ用ＩＣを使用する
限りにおいて、ミラー信号を用いてトラックジャンプの
制御を行う方式を変更することはできなかった。このよ
うな状況下において、追記型光ディスク（以下、ＣＤ−
ＷＯと称する）レコーダーに前述したＣＤ用ＩＣを使用
した場合、ＣＤ−ＷＯには未記録部分があるためＩＣの
中の回路のみでは対応できなかった。即ち、未記録部分
では、ＲＦ信号の振幅が非常に小さいためミラー信号を
検出することができなかった。
た従来のミラー信号検出回路では、回路がＣＤ専用ＩＣ
の中に完全に取り込まれており、ＣＤ用ＩＣを使用する
限りにおいて、ミラー信号を用いてトラックジャンプの
制御を行う方式を変更することはできなかった。このよ
うな状況下において、追記型光ディスク（以下、ＣＤ−
ＷＯと称する）レコーダーに前述したＣＤ用ＩＣを使用
した場合、ＣＤ−ＷＯには未記録部分があるためＩＣの
中の回路のみでは対応できなかった。即ち、未記録部分
では、ＲＦ信号の振幅が非常に小さいためミラー信号を
検出することができなかった。
【０００５】本発明の目的は上記の問題点に鑑み、追記
型光ディスクレコーダーにも使用できる光ディスク装置
のミラー信号検出方法及びその装置を提供することにあ
る。
型光ディスクレコーダーにも使用できる光ディスク装置
のミラー信号検出方法及びその装置を提供することにあ
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために請求項１では、光ディスクに情報を記録再
生する光ディスク装置のミラー信号検出方法において、
二値化されたトラッキングゼロクロス信号の立ち上がり
エッジ及び立ち下がりエッジを検出し、光ディスクから
の反射光量に対応したレベルを有するＲＦ信号のエンベ
ロープレベルを前記立ち上がりエッジ及び立ち下がりエ
ッジ検出時にそれぞれサンプルホールドすると共に、該
立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジ検出時のサンプ
ルホールド値を加算し、ＲＦ信号の平均レベルを算出し
て、該算出値と前記ＲＦ信号レベルとを比較することに
よりミラー信号を得る光ディスク装置のミラー信号検出
方法を提案する。
成するために請求項１では、光ディスクに情報を記録再
生する光ディスク装置のミラー信号検出方法において、
二値化されたトラッキングゼロクロス信号の立ち上がり
エッジ及び立ち下がりエッジを検出し、光ディスクから
の反射光量に対応したレベルを有するＲＦ信号のエンベ
ロープレベルを前記立ち上がりエッジ及び立ち下がりエ
ッジ検出時にそれぞれサンプルホールドすると共に、該
立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジ検出時のサンプ
ルホールド値を加算し、ＲＦ信号の平均レベルを算出し
て、該算出値と前記ＲＦ信号レベルとを比較することに
よりミラー信号を得る光ディスク装置のミラー信号検出
方法を提案する。
【０００７】また、請求項２では、光ディスクに情報を
記録再生する光ディスク装置のミラー信号検出回路にお
いて、トラッキングエラー信号から二値化されたトラッ
キングゼロクロス信号を生成するトラッキングゼロクロ
ス検出回路と、前記トラッキングゼロクロス信号の立ち
上がりエッジを検出し、立ち上がりエッジ検出パルス信
号を発生する立ち上がりエッジ検出回路と、前記トラッ
キングゼロクロス信号の立り下がりエッジを検出し、立
ち下がりエッジ検出パルス信号を発生する立ち下がりエ
ッジ検出回路と、光ディスクからの反射光量に対応した
レベルを有するＲＦ信号のエンベロープレベルを出力す
るフィルタ回路と、前記立ち上がりエッジ検出パルス信
号によって前記ＲＦ信号のエンベロープレベルをサンプ
ルホールドする第１のサンプルホールド回路と、前記立
ち下がりエッジ検出パルス信号によって前記ＲＦ信号の
エンベロープレベルをサンプルホールドする第２のサン
プルホールド回路と、前記第１のサンプルホールド回路
のホールド値と前記第２のサンプルホールド回路のホー
ルド値とを加算して出力する加算回路と、該加算回路の
出力値から前記ＲＦ信号のエンベロープレベルを減算し
て比較することによりミラー信号を出力する減算回路と
を設けた光ディスク装置のミラー信号検出回路を提案す
る。
記録再生する光ディスク装置のミラー信号検出回路にお
いて、トラッキングエラー信号から二値化されたトラッ
キングゼロクロス信号を生成するトラッキングゼロクロ
ス検出回路と、前記トラッキングゼロクロス信号の立ち
上がりエッジを検出し、立ち上がりエッジ検出パルス信
号を発生する立ち上がりエッジ検出回路と、前記トラッ
キングゼロクロス信号の立り下がりエッジを検出し、立
ち下がりエッジ検出パルス信号を発生する立ち下がりエ
ッジ検出回路と、光ディスクからの反射光量に対応した
レベルを有するＲＦ信号のエンベロープレベルを出力す
るフィルタ回路と、前記立ち上がりエッジ検出パルス信
号によって前記ＲＦ信号のエンベロープレベルをサンプ
ルホールドする第１のサンプルホールド回路と、前記立
ち下がりエッジ検出パルス信号によって前記ＲＦ信号の
エンベロープレベルをサンプルホールドする第２のサン
プルホールド回路と、前記第１のサンプルホールド回路
のホールド値と前記第２のサンプルホールド回路のホー
ルド値とを加算して出力する加算回路と、該加算回路の
出力値から前記ＲＦ信号のエンベロープレベルを減算し
て比較することによりミラー信号を出力する減算回路と
を設けた光ディスク装置のミラー信号検出回路を提案す
る。
【０００８】
【作用】本発明の請求項１によれば、二値化されたトラ
ッキングゼロクロス信号の立ち上がりエッジ及び立ち下
がりエッジが検出され、ＲＦ信号のエンベロープレベル
が前記立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジ検出時に
それぞれサンプルホールドされる。この際、前記トラッ
キングゼロクロス信号とＲＦ信号とはその位相が９０度
ずれているので、サンプルホールドされた信号レベルは
前記ＲＦ信号のエンベロープの極大値と極小値となり、
これらを確実にサンプルホールドすることができる。さ
らに、これらのサンプルホールドされた信号レベルは加
算されると共にＲＦ信号の平均レベルが算出され、該算
出値と前記ＲＦ信号レベルが比較されてミラー信号が得
られる。
ッキングゼロクロス信号の立ち上がりエッジ及び立ち下
がりエッジが検出され、ＲＦ信号のエンベロープレベル
が前記立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジ検出時に
それぞれサンプルホールドされる。この際、前記トラッ
キングゼロクロス信号とＲＦ信号とはその位相が９０度
ずれているので、サンプルホールドされた信号レベルは
前記ＲＦ信号のエンベロープの極大値と極小値となり、
これらを確実にサンプルホールドすることができる。さ
らに、これらのサンプルホールドされた信号レベルは加
算されると共にＲＦ信号の平均レベルが算出され、該算
出値と前記ＲＦ信号レベルが比較されてミラー信号が得
られる。
【０００９】また、請求項２によれば、トラッキングゼ
ロクロス検出回路によってトラッキングエラー信号から
二値化されたトラッキングゼロクロス信号が生成され
る。さらに、立ち上がりエッジ検出回路によって前記ト
ラッキングゼロクロス信号の立ち上がりエッジが検出さ
れて立ち上がりエッジ検出パルス信号が発生されると共
に、立ち下がりエッジ検出回路により前記トラッキング
ゼロクロス信号の立り下がりエッジが検出されて立ち下
がりエッジ検出パルス信号が発生される。また、フィル
タ回路により、光ディスクからの反射光量に対応したレ
ベルを有するＲＦ信号のエンベロープレベルが出力さ
れ、前記立ち上がりエッジ検出パルス信号によって前記
ＲＦ信号のエンベロープレベルが第１のサンプルホール
ド回路によりサンプルホールドされると共に、前記立ち
下がりエッジ検出パルス信号によって前記ＲＦ信号のエ
ンベロープレベルが第２のサンプルホールド回路により
サンプルホールドされる。この際、前記トラッキングゼ
ロクロス信号とＲＦ信号とはその位相が９０度ずれてい
るので、サンプルホールドされた信号レベルは前記ＲＦ
信号のエンベロープの極大値と極小値となり、これらを
確実にサンプルホールドすることができる。前記第１の
サンプルホールド回路のホールド値と前記第２のサンプ
ルホールド回路のホールド値は、加算回路によって加算
されて出力され、減算回路により該加算回路の出力値か
ら前記前記ＲＦ信号のエンベロープレベルが減算され、
該減算結果と前記ＲＦ信号のエンベロープレベルが比較
されてミラー信号が出力される。
ロクロス検出回路によってトラッキングエラー信号から
二値化されたトラッキングゼロクロス信号が生成され
る。さらに、立ち上がりエッジ検出回路によって前記ト
ラッキングゼロクロス信号の立ち上がりエッジが検出さ
れて立ち上がりエッジ検出パルス信号が発生されると共
に、立ち下がりエッジ検出回路により前記トラッキング
ゼロクロス信号の立り下がりエッジが検出されて立ち下
がりエッジ検出パルス信号が発生される。また、フィル
タ回路により、光ディスクからの反射光量に対応したレ
ベルを有するＲＦ信号のエンベロープレベルが出力さ
れ、前記立ち上がりエッジ検出パルス信号によって前記
ＲＦ信号のエンベロープレベルが第１のサンプルホール
ド回路によりサンプルホールドされると共に、前記立ち
下がりエッジ検出パルス信号によって前記ＲＦ信号のエ
ンベロープレベルが第２のサンプルホールド回路により
サンプルホールドされる。この際、前記トラッキングゼ
ロクロス信号とＲＦ信号とはその位相が９０度ずれてい
るので、サンプルホールドされた信号レベルは前記ＲＦ
信号のエンベロープの極大値と極小値となり、これらを
確実にサンプルホールドすることができる。前記第１の
サンプルホールド回路のホールド値と前記第２のサンプ
ルホールド回路のホールド値は、加算回路によって加算
されて出力され、減算回路により該加算回路の出力値か
ら前記前記ＲＦ信号のエンベロープレベルが減算され、
該減算結果と前記ＲＦ信号のエンベロープレベルが比較
されてミラー信号が出力される。
【００１０】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説
明する。図１は本発明の一実施例のミラー信号検出回路
を示す構成図である。図において、１１はトラッキング
ゼロクロス（以下、ＴＺＣと称する）検出回路、１２は
ＴＺＣ検出回路１１の出力信号の立ち上がりエッジを検
出してパルス信号を出力する立ち上がりエッジ検出回
路、１３はＴＺＣ検出回路１１の出力信号の立ち下がり
エッジを検出してパルス信号を出力する立ち下がりエッ
ジ検出回路、１４は帯域通過型フィルタ（以下、ＢＰＦ
と称する）である。また、１５，１６はサンプルホール
ド回路で、立ち上がりエッジ検出回路１２或いは立ち下
がりエッジ検出回路１３から出力されたパルス信号に基
づいてＢＰＦ１４を通過したＲＦ信号のエンベロープレ
ベルをホールドし、加算器１７に出力する。加算器１７
は立ち上がりエッジ検出回路１２及び立ち下がりエッジ
検出回路１３から出力された信号レベルを加算すると共
に１／２に等分して出力する。即ち、加算器１７は、入
力された２つの信号レベルの中間値を求めて出力する。
さらに、１８は比較器で、加算器１７の出力信号とＢＰ
Ｆ１４の出力信号とを比較し、二値化されたミラー信号
を出力する。
明する。図１は本発明の一実施例のミラー信号検出回路
を示す構成図である。図において、１１はトラッキング
ゼロクロス（以下、ＴＺＣと称する）検出回路、１２は
ＴＺＣ検出回路１１の出力信号の立ち上がりエッジを検
出してパルス信号を出力する立ち上がりエッジ検出回
路、１３はＴＺＣ検出回路１１の出力信号の立ち下がり
エッジを検出してパルス信号を出力する立ち下がりエッ
ジ検出回路、１４は帯域通過型フィルタ（以下、ＢＰＦ
と称する）である。また、１５，１６はサンプルホール
ド回路で、立ち上がりエッジ検出回路１２或いは立ち下
がりエッジ検出回路１３から出力されたパルス信号に基
づいてＢＰＦ１４を通過したＲＦ信号のエンベロープレ
ベルをホールドし、加算器１７に出力する。加算器１７
は立ち上がりエッジ検出回路１２及び立ち下がりエッジ
検出回路１３から出力された信号レベルを加算すると共
に１／２に等分して出力する。即ち、加算器１７は、入
力された２つの信号レベルの中間値を求めて出力する。
さらに、１８は比較器で、加算器１７の出力信号とＢＰ
Ｆ１４の出力信号とを比較し、二値化されたミラー信号
を出力する。
【００１１】次に、前述の構成よりなる本実施例の動作
を図４に示す波形図に基づいて説明する。ＴＺＣ検出回
路１１は、図示せぬ光ピックアップから出力されるトラ
ッキングエラー信号ＴＥを入力し、該トラッキングエラ
ー信号ＴＥを二値化したＴＺＣ信号を出力する。このＴ
ＺＣ信号は、立ち上がりエッジ検出回路１２及び立ち下
がりエッジ検出回路１３のそれぞれに入力され、立ち上
がりエッジ検出回路１２においてＴＺＣ信号の立ち上が
りエッジが検出され所定幅のパルス信号Ｐ１が出力され
る。また、立ち下がりエッジ検出回路１３においては、
ＴＺＣ信号の立ち下がりエッジが検出され所定幅のパル
ス信号Ｐ２が出力される。
を図４に示す波形図に基づいて説明する。ＴＺＣ検出回
路１１は、図示せぬ光ピックアップから出力されるトラ
ッキングエラー信号ＴＥを入力し、該トラッキングエラ
ー信号ＴＥを二値化したＴＺＣ信号を出力する。このＴ
ＺＣ信号は、立ち上がりエッジ検出回路１２及び立ち下
がりエッジ検出回路１３のそれぞれに入力され、立ち上
がりエッジ検出回路１２においてＴＺＣ信号の立ち上が
りエッジが検出され所定幅のパルス信号Ｐ１が出力され
る。また、立ち下がりエッジ検出回路１３においては、
ＴＺＣ信号の立ち下がりエッジが検出され所定幅のパル
ス信号Ｐ２が出力される。
【００１２】一方、ＢＰＦ１４には、前述した光ピック
アップから出力されるＲＦ信号、即ち光ディスクからの
反射光量に対応したレベルを有する信号が入力され、Ｂ
ＰＦ１４からはＲＦ信号の包絡線レベルがエンベロープ
信号Ａとして出力される。
アップから出力されるＲＦ信号、即ち光ディスクからの
反射光量に対応したレベルを有する信号が入力され、Ｂ
ＰＦ１４からはＲＦ信号の包絡線レベルがエンベロープ
信号Ａとして出力される。
【００１３】また、サンプルホールド回路１５において
は、立ち上がりエッジ検出回路１２から出力されたパル
ス信号Ｐ１が入力された時点におけるエンベロープ信号
Ａのレベルがホールドされ、加算器１７に出力される。
同様にして、サンプルホールド回路１６においては、立
ち下がりエッジ検出回路１３から出力されたパルス信号
Ｐ２が入力された時点におけるエンベロープ信号Ａのレ
ベルがホールドされ、加算器１７に出力される。
は、立ち上がりエッジ検出回路１２から出力されたパル
ス信号Ｐ１が入力された時点におけるエンベロープ信号
Ａのレベルがホールドされ、加算器１７に出力される。
同様にして、サンプルホールド回路１６においては、立
ち下がりエッジ検出回路１３から出力されたパルス信号
Ｐ２が入力された時点におけるエンベロープ信号Ａのレ
ベルがホールドされ、加算器１７に出力される。
【００１４】加算回路１７からは、２つのサンプルホー
ルド回路１５，１６のそれぞれから入力された２つの信
号レベルの平均レベルが比較器１８に出力される。これ
により、エンベロープ信号Ａの極大値と極小値との中間
レベルの信号Ｂが常に加算器１７から出力されることに
なる。比較器１８では、加算器１７の出力信号Ｂのレベ
ルとエンベロープ信号Ａのレベルが比較され、比較器１
８からは、信号Ｂよりもエンベロープ信号Ａのレベルが
大きいときはローレベルとなると共に、信号Ｂよりもエ
ンベロープ信号Ａのレベルが小さいときはハイレベルと
なるミラー信号ＭＩＲＲが出力される。
ルド回路１５，１６のそれぞれから入力された２つの信
号レベルの平均レベルが比較器１８に出力される。これ
により、エンベロープ信号Ａの極大値と極小値との中間
レベルの信号Ｂが常に加算器１７から出力されることに
なる。比較器１８では、加算器１７の出力信号Ｂのレベ
ルとエンベロープ信号Ａのレベルが比較され、比較器１
８からは、信号Ｂよりもエンベロープ信号Ａのレベルが
大きいときはローレベルとなると共に、信号Ｂよりもエ
ンベロープ信号Ａのレベルが小さいときはハイレベルと
なるミラー信号ＭＩＲＲが出力される。
【００１５】前述したように、加算器１７からはエンベ
ロープ信号Ａの極大値と極小値との中間レベルの信号Ｂ
が常に出力されるので、ＣＤ−ＷＯのようにＲＦ信号の
振幅が非常に小さくなる未記録部分があっても、確実に
ミラー信号を検出することができ、追記型光ディスクレ
コーダーにも十分使用可能である。
ロープ信号Ａの極大値と極小値との中間レベルの信号Ｂ
が常に出力されるので、ＣＤ−ＷＯのようにＲＦ信号の
振幅が非常に小さくなる未記録部分があっても、確実に
ミラー信号を検出することができ、追記型光ディスクレ
コーダーにも十分使用可能である。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように本発明の請求項１の
ミラー信号検出方法によれば、ＲＦ信号に対して９０度
位相のずれたトラッキングゼロクロス信号を用いてＲＦ
信号のエンベロープレベルをサンプルホールドしている
ため、サンプルホールドされた信号レベルは前記ＲＦ信
号のエンベロープの極大値と極小値となり、これらを確
実にサンプルホールドすることができ、これらのサンプ
ルホールドされた信号レベルを加算し、該加算値から前
記ＲＦ信号レベルを減算してミラー信号を得ているの
で、追記型光ディスクレコーダーに使用した場合、未記
録部分においてＲＦ信号の振幅が非常に小さくても、確
実にミラー信号を検出することができ、追記型光ディス
クレコーダーにも十分に使用できる。
ミラー信号検出方法によれば、ＲＦ信号に対して９０度
位相のずれたトラッキングゼロクロス信号を用いてＲＦ
信号のエンベロープレベルをサンプルホールドしている
ため、サンプルホールドされた信号レベルは前記ＲＦ信
号のエンベロープの極大値と極小値となり、これらを確
実にサンプルホールドすることができ、これらのサンプ
ルホールドされた信号レベルを加算し、該加算値から前
記ＲＦ信号レベルを減算してミラー信号を得ているの
で、追記型光ディスクレコーダーに使用した場合、未記
録部分においてＲＦ信号の振幅が非常に小さくても、確
実にミラー信号を検出することができ、追記型光ディス
クレコーダーにも十分に使用できる。
【００１７】また、請求項２のミラー信号検出回路によ
れば、ＲＦ信号に対して９０度位相のずれたトラッキン
グゼロクロス信号を用いて、第１及び第２のサンプルホ
ールド回路によりＲＦ信号のエンベロープレベルをサン
プルホールドしているため、サンプルホールドされた信
号レベルは前記ＲＦ信号のエンベロープの極大値と極小
値となり、これらを確実にサンプルホールドすることが
できる。さらに、これらのサンプルホールドされた信号
レベルは、加算回路によって加算され、該加算値から減
算回路によって前記ＲＦ信号レベルを減算してミラー信
号を得ているので、追記型光ディスクレコーダーに使用
した場合、未記録部分においてＲＦ信号の振幅が非常に
小さくても、確実にミラー信号を検出することができ、
追記型光ディスクレコーダーにも十分に使用できる。
れば、ＲＦ信号に対して９０度位相のずれたトラッキン
グゼロクロス信号を用いて、第１及び第２のサンプルホ
ールド回路によりＲＦ信号のエンベロープレベルをサン
プルホールドしているため、サンプルホールドされた信
号レベルは前記ＲＦ信号のエンベロープの極大値と極小
値となり、これらを確実にサンプルホールドすることが
できる。さらに、これらのサンプルホールドされた信号
レベルは、加算回路によって加算され、該加算値から減
算回路によって前記ＲＦ信号レベルを減算してミラー信
号を得ているので、追記型光ディスクレコーダーに使用
した場合、未記録部分においてＲＦ信号の振幅が非常に
小さくても、確実にミラー信号を検出することができ、
追記型光ディスクレコーダーにも十分に使用できる。
【図１】本発明の一実施例のミラー信号検出回路を示す
構成図
構成図
【図２】従来例のミラー信号検出回路を示す構成図
【図３】従来例の動作を説明する波形図
【図４】本発明の一実施例の動作を説明する波形図
１１…トラッキングゼロクロス検出回路、１２…立ち上
がりエッジ検出回路、１３…立ち下がりエッジ検出回
路、１４…帯域通過型フィルタ、１５，１６…サンプル
ホールド回路、１７…加算器、１８…比較器。
がりエッジ検出回路、１３…立ち下がりエッジ検出回
路、１４…帯域通過型フィルタ、１５，１６…サンプル
ホールド回路、１７…加算器、１８…比較器。
Claims (2)
- 【請求項１】 光ディスクに情報を記録再生する光ディ
スク装置のミラー信号検出方法において、 二値化されたトラッキングゼロクロス信号の立ち上がり
エッジ及び立ち下がりエッジを検出し、 光ディスクからの反射光量に対応したレベルを有するＲ
Ｆ信号のエンベロープレベルを前記立ち上がりエッジ及
び立ち下がりエッジ検出時にそれぞれサンプルホールド
すると共に、 該立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジ検出時のサン
プルホールド値を加算し、 ＲＦ信号の平均レベルを算出して、 該算出値と前記ＲＦ信号レベルとを比較することにより
ミラー信号を得ることを特徴とする光ディスク装置のミ
ラー信号検出方法。 - 【請求項２】 光ディスクに情報を記録再生する光ディ
スク装置のミラー信号検出回路において、 トラッキングエラー信号から二値化されたトラッキング
ゼロクロス信号を生成するトラッキングゼロクロス検出
回路と、 前記トラッキングゼロクロス信号の立ち上がりエッジを
検出し、立ち上がりエッジ検出パルス信号を発生する立
ち上がりエッジ検出回路と、 前記トラッキングゼロクロス信号の立り下がりエッジを
検出し、立ち下がりエッジ検出パルス信号を発生する立
ち下がりエッジ検出回路と、 光ディスクからの反射光量に対応したレベルを有するＲ
Ｆ信号のエンベロープレベルを出力するフィルタ回路
と、 前記立ち上がりエッジ検出パルス信号によって前記ＲＦ
信号のエンベロープレベルをサンプルホールドする第１
のサンプルホールド回路と、 前記立ち下がりエッジ検出パルス信号によって前記ＲＦ
信号のエンベロープレベルをサンプルホールドする第２
のサンプルホールド回路と、 前記第１のサンプルホールド回路のホールド値と前記第
２のサンプルホールド回路のホールド値とを加算して出
力する加算回路と、 該加算回路の出力値から前記ＲＦ信号のエンベロープレ
ベルを減算して比較することによりミラー信号を出力す
る減算回路とを設けたことを特徴とする光ディスク装置
のミラー信号検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2571694A JP2766178B2 (ja) | 1994-02-23 | 1994-02-23 | 光ディスク装置のミラー信号検出方法及びその回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2571694A JP2766178B2 (ja) | 1994-02-23 | 1994-02-23 | 光ディスク装置のミラー信号検出方法及びその回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07235068A JPH07235068A (ja) | 1995-09-05 |
| JP2766178B2 true JP2766178B2 (ja) | 1998-06-18 |
Family
ID=12173524
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2571694A Expired - Lifetime JP2766178B2 (ja) | 1994-02-23 | 1994-02-23 | 光ディスク装置のミラー信号検出方法及びその回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2766178B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100475035B1 (ko) * | 1998-06-22 | 2005-05-27 | 삼성전자주식회사 | 방향 검출 신호 발생 장치 및 그에 의한 트랙 점프 방법 |
| KR100651966B1 (ko) * | 2000-10-02 | 2006-11-30 | 엘지전자 주식회사 | 광 기록매체의 트랙킹 제어 방법 및 장치 |
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1994
- 1994-02-23 JP JP2571694A patent/JP2766178B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| JPH07235068A (ja) | 1995-09-05 |
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