JPH0467692B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はデイスクにレーザ光等の光を照射し、
情報を記録再生する装置において、ピツクアツプ
がデイスク上のトラツクを横切る方向を検出する
トラツク横切り方向検出装置に関する。

〔発明の概要〕

本発明はトラツク横切り方向検出装置におい
て、デイスクに光を照射し、情報を記録又は再生
するピツクアツプと、ピツクアツプの出力信号よ
りデイスクからの反射光の平均受光量に対応した
信号を検出する第１の検出手段と、ピツクアツプ
の出力信号よりデイスクに記録されている情報の
RF信号のエンベロープ信号を検出する第２の検
出手段と、RF信号の有無を検出する第３の検出
手段と、ピツクアツプの出力信号よりトラツキン
グエラー信号を生成するトラツキングエラー生成
回路と、第３の検出手段がRF信号を検出したと
きはRF信号のエンベロープ信号とトラツキング
エラー信号の位相を、また第３の検出手段がRF
信号を検出しないときは平均受光量に対応した信
号とトラツキングエラー信号の位相を、各々比較
する比較手段とを設け、RF信号が存在するとき
はRF信号を利用して、またRF信号が存在しない
ときは平均受光量に対応した信号を利用して、ピ
ツクアツプがトラツクを横切る方向を検出するよ
うにし、もつてデイスクの種類に拘らず、ピツク
アツプがトラツクを横切る方向を正確に検出でき
るようにしたものである。

〔従来の技術〕

第４図は従来のトラツク横切り方向検出装置の
ブロツク図である。同図において１は半導体レー
ザより発せられるレーザ光等の光をデイスク上に
照射し、デイスクからの反射光を受光し、情報を
記録再生するピツクアツプ、２はピツクアツプ１
が出力する信号よりトラツキングエラー信号を生
成するトラツキングエラー生成回路である。トラ
ツキングエラー生成回路２により生成されたトラ
ツキングエラー信号は２値化回路３に入力され、
所定の基準レベル（例えば０ボルト）と比較され
て高レベルと低レベルの信号（２値信号）に変換
され（波形成形され）、検出手段４，５に供給さ
れる。検出手段４，５は各々２値信号の立上りエ
ツジと立下りエツジを検出し、検出したタイミン
グに同期してサンプリングパルスを出力する。６
は光量検出手段であり、ピツクアツプ１の出力か
ら、デイスクからの反射光の平均受光量に対応し
た信号を抽出し、サンプルホールド回路７，８に
出力する。サンプルホールド回路７，８は検出手
段４，５が出力する異なるタイミングのサンプリ
ングパルスに対応して平均受光量に対応した信号
を各々サンプルホールドし、比較手段９に出力す
るようになつている。

しかしてその作用を説明するに、トラツキング
エラー生成回路２によりピツクアツプ１の出力信
号から生成されたトラツキングエラー信号（第５
図ａ）は、２値化回路３により０ボルトの基準電
位と比較され、２値化される。この２値化された
信号は検出手段４と５に入力され、その立上りエ
ツジと立下りエツジのタイミングに同期してサン
プリングパルスが生成され、サンプルホールド回
路７，８に各々出力される（第５図ｃ，ｄ）。一
方サンプルホールド回路７，８には、光量検出手
段６によりピツクアツプ１の出力信号から生成さ
れた平均受光量に対応した信号が供給されてお
り、この信号が検出手段４，５より印加されるサ
ンプリングパルスに対応してサンプルホールドさ
れる。

ピツクアツプ１がトラツクを正方向（FWD方
向）に横切つているとき、平均受光量に対応した
信号はトラツキングエラー信号の立上りエツジの
タイミングにおいて負のピークとなり、立下りエ
ツジのタイミングにおいて正のピークとなる。従
つてこのときサンプルホールド回路７は低レベル
の信号（第５図ｅにおいて破線で示す）を出力
し、サンプルホールド回路８は高レベルの信号
（第５図ｅにおいて実線で示す）を出力し、比較
手段９の出力は高レベルの信号となる（第５図
ｆ）。

これに対して横切る方向が逆方向（REV方向）
になると、トラツキングエラー信号と平均受光量
に対応した信号の相対的位相関係が180度変化す
る。その結果このとき比較手段９の出力は低レベ
ルの信号となる（第５図ｆ）。従つてこのように
トラツキングエラー信号と平均受光量に対応した
信号の位相を比較することにより、ピツクアツプ
１がトラツクを横切る方向を検出することができ
る。

〔発明が解決しようとする問題点〕

ところで近年情報を再生するだけでなく記録す
ることも可能な光学式デイスクが普及しつつあ
る。一般的にDRAWデイスクと称される斯かる
デイスクにおいては、通常プリグルーブと称され
る案内溝（トラツク）が形成されており、その平
均受光量はプリグルーブ上において回折のためプ
リグルーブ間より減少する。しかしながらデイス
クの情報記録層を構成する材料によつては、プリ
グルーブ上に情報が記録されると、回折による減
少分より反射率の上昇による増大分の方が大き
く、結局プリグルーブ上における平均受光量の方
がプリグルーブ間における場合より大きくなる場
合がある（第６図ｂ）。

従つて斯かるデイスクのトラツク横切り方向を
上述した如き従来の装置により検出すると、トラ
ツキングエラー信号（第６図ａ）と平均受光量に
対応した信号（第６図ｂ）との相対的位相が、情
報を記録した部分と記録していない部分において
逆となり（第６図ｅ）、横切る方向が変化しなく
とも情報記録部において比較手段９の検出信号が
反転してしまい（第６図ｆ）、トラツクを横切る
方向を正確に検出することができない欠点があつ
た。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図は本発明のトラツク横切り方向検出装置
のブロツク図を表しており、第４図における場合
と対応する部分には同一の符合を付してあり、そ
の詳述は省略する。本発明においてはピツクアツ
プ１の出力信号が増幅回路２１に供給され、そこ
でデイスクに記録されている情報の再生信号
（RF信号）が増幅されるようになつている。また
増幅回路２１の出力はエンベロープ検出手段２２
に入力され、RF信号のエンベロープ信号が検出
されるようになつている。２３はスイツチであ
り、光量検出手段６の出力信号とエンベロープ検
出手段２２の出力信号とを択一的に選択し、サン
プルホールド回路７，８に出力するようになつて
いる。２４は増幅回路２１の出力（勿論エンベロ
ープ検出手段２２からの出力であつてもよい）か
らRF信号の有無を検出する検出手段であり、ス
イツチ２３の接点を、RF信号を検出しないとき
光量検出手段６側に、また検出したときエンベロ
ープ検出手段２２側に、各々切り換えるようにな
つている。その他の構成は第４図における場合と
同様である。

また第２図はエンベロープ検出手段２２の信号
から検出手段２４によりRF信号の有無を検出す
る場合のより詳細な回路図を表している。同図に
おいては増幅回路２１からのRF信号が、コンデ
ンサ３１を介して抵抗３２，３３と、ダイオード
３４，３５とよりなるクランプ回路に入力される
ようになつている。クランプ回路の出力はダイオ
ード３６と、コンデンサ３７と、抵抗３８とより
なる検波回路に入力され、そのピーク値（エンベ
ロープ）が検出され、増幅回路３９さらに入力抵
抗４５と帰還抵抗４６を有する反転増幅回路４７
を介して出力される。また検波回路の出力は、抵
抗４０と４１により設定される基準電位が反転端
子に入力されている比較器４２の非反転端子に、
抵抗４３とコンデンサ４４とよりなるローパスフ
イルタを介して入力されている。

〔作用〕

しかしてその作用を説明する。ピツクアツプ１
からの再生信号は増幅回路２１により増幅されて
エンベロープ検出手段２２とRF信号の有無を検
出する検出手段２４に入力される。これらの手段
中においてコンデンサ３１により直流成分が阻止
された信号はクランプ回路に入力される。クラン
プ回路においてダイオード３５は抵抗３３を介し
て所定の電圧Vccが印加されているので導通して
おり、ダイオード３４のカソードはダイオード３
５の導通時の順方向電圧にクランプされている。
ダイオード３４は、クランプ回路に入力される信
号のレベルがこの順方向電圧より小さいと導通
し、大きいと非導通となるから、負の極性の信号
は略０ボルトにクランプされる（第３図ｅ、但し
便宜上この図は極性を反転して示してある）。こ
の信号がダイオード３６、コンデンサ３７、抵抗
３８よりなる検波回路に入力され、そのエンベロ
ープが検波される。エンベロープ信号は増幅回路
３９により増幅された後、さらに反転増幅回路４
７によりその位相が反転されて出力される（第３
図ｆ）とともに、抵抗４３とコンデンサ４４とよ
りなるローパスフイルタによりノイズ成分が除去
された後比較器４２に入力される。比較器４２は
この信号と所定の電圧が抵抗４０と４１により分
圧された基準電圧（第３図ｅにおいて破線で示
す）とを比較し、RF信号が存在するとき（（情報
が記録されているとき）は高レベルの検出信号
を、またRF信号が存在しないとき（情報が記録
されていないとき）は低レベルの検出信号を出力
する（第３図ｇ）。

いまピツクアツプ１がデイスク半径方向の正方
向に移送され、情報が記録されていないトラツク
（プリグループ）を横切つているものとすると、
RF信号は検出されていないから、検出手段２４
はスイツチ２３を光量検出手段６側に切り換え
る。従つてこの場合は光量検出手段６の出力信号
（第３図ｂ）が選択されて（第３図ｈ）サンプル
ホールド回路７，８に入力される。サンプルホー
ルド回路７，８は検出手段４，５が出力するサン
プリングパルス（第３図ｃ，ｄ）のタイミングに
より光量検出手段６の出力信号をサンプルホール
ドする。前述した如く情報未記録部においては、
平均受光量に対応した信号は、トラツキングエラ
ー信号（第３図ａ）の立上りエツジのタイミング
においては負のピーク、立下りエツジのタイミン
グにおいては正のピークを呈するから、サンプル
ホールド回路７の出力は低レベル（第３図ｉにお
いて破線で示す）、サンプルホールド回路８の出
力は高レベル（第３図ｉにおいて実線で示す）と
なり、比較手段９の出力（第３図ｊ）は高レベル
となる。

ピツクアツプ１が未記録部から記録部を横切る
ようになると、比較器４２がRF信号を検出し、
高レベルの検出信号を出力するので、スイツチ２
３がエンベロープ検出手段２２側に切り換えられ
る。従つてエンベロープ検出手段２２の増幅回路
３９が出力するRF信号のエンベロープ信号（第
３図ｆ）がスイツチ２３により選択され（第３図
ｈ）、サンプルホールド回路７，８に入力される。
RF信号の上側のエンベロープ信号はトラツク上
において正のピークを、またトラツク間において
負のピークを各々呈する。従つてこの上側のエン
ベロープ信号が反転増幅器４７により反転された
信号（勿論下側のエンベロープ信号を検出した場
合は反転する必要がない）は、トラツク上におい
て負のピークを、またトラツク間において正のピ
ークを各々呈するから、トラツキングエラー信号
（第３図ａ）との相対的位相関係は未記録部にお
ける平均受光量に対応した信号と同様となる。そ
の結果エンベロープ検出手段２２の出力はトラツ
キングエラー信号（第３図ａ）の立上りエツジの
タイミングにおいては負のピーク、立下りエツジ
のタイミングにおいては正のピークを各々呈する
から、サンプルホールド回路７の出力は低レベル
（第３図ｉにおいて破線で示す）、サンプルホール
ド回路８の出力は高レベル（第３図ｉにおいて実
線で示す）となり、比較手段９の出力（第３図
ｊ）は高レベルのままであり、変化しない。

ピツクアツプ１がトラツクを横切る方向が逆方
向になつた場合、トラツキングエラー信号に対す
るエンベロープ検出手段２２の出力信号の相対的
位相は、平均受光量に対応した信号と同様に正方
向時における場合に対して180度変化するから、
比較手段９の出力は反転する。

このようにして得られたトラツク横切り方向の
検出信号とトラツキングエラー信号の２値化信号
とを用い、横切つたトラツクの本数を方向に応じ
て計数し、ピツクアツプ１の位置を検出すること
ができる。

以上においてはRF信号のエンベロープ信号と
トラツキングエラー信号の位相、また平均受光量
に対応した信号とトラツキングエラー信号の位相
を各々サンプルホールドして比較するようにした
が、その他の方法で比較することもできる。また
情報記録部において反射率が上昇し、平均受光量
に対応した信号のトラツク上とトラツク間の位相
が情報未記録部における場合に対して反転する実
施例について説明したが、記録部においてはRF
信号のエンベロープを利用して方向を検出するた
め、記録部において平均受光量に対応した信号の
レベルがトラツク上とトラツク間において差がな
くなるデイスクや、平均受光量に対応した信号が
トラツク上でトラツク間より少なくなるデイスク
においても、本発明は応用することができる。

〔効果〕

以上の如く本発明はトラツク横切り方向検出装
置において、デイスクに光を照射し、情報を記録
又は再生するピツクアツプと、ピツクアツプの出
力信号よりデイスクからの反射光の平均受光量に
対応した信号を検出する第１の検出手段と、ピツ
クアツプの出力信号よりデイスクに記録されてい
る情報のRF信号のエンベロープ信号を検出する
第２の検出手段と、RF信号の有無を検出する第
３の検出手段と、ピツクアツプの出力信号よりト
ラツキングエラー信号を生成するトラツキングエ
ラー生成回路と、第３の検出手段がRF信号を検
出したときはRF信号のエンベロープ信号とトラ
ツキングエラー信号の位相を、また第３の検出手
段がRF信号を検出しないときは平均受光量に対
応した信号とトラツキングエラー信号の位相を、
各々比較する比較手段とを設け、RF信号が存在
するときはRF信号を利用して、またRF信号が存
在しないときは平均受光量に対応した信号を利用
して、ピツクアツプがトラツクを横切る方向を検
出するようにしたので、デイスクの種類に拘ら
ず、ピツクアツプがトラツクを横切る方向を正確
に検出することができる。また平均受光量に対応
した信号とエンベロープ信号のピークとボトムの
レベル差をサンプリングして比較するようにした
場合は、それらの信号にレベルの変動があつたと
しても安定した方向の検出が可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のトラツク横切り方向検出装置
のブロツク図、第２図はそのエンベロープ検出手
段とRF信号の有無を検出する検出手段の回路図、
第３図はその動作波形図、第４図は従来のトラツ
ク横切り方向検出装置のブロツク図、第５図及び
第６図はその動作波形図である。 １…ピツクアツプ、２…トラツキングエラー生
成回路、３…２値化回路、４，５…検出手段、６
…光量検出手段、７，８…サンプルホールド回
路、９…比較手段、２１…増幅回路、２２…エン
ベロープ検出手段、２３…スイツチ、２４…検出
手段、３９…増幅回路、４２…比較器、４７…反
転増幅回路。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ デイスクに光を照射し、情報を記録又は再生
   するピツクアツプと、該ピツクアツプの出力信号
   より該デイスクからの反射光の平均受光量に対応
   した信号を検出する第１の検出手段と、該ピツク
   アツプの出力信号より該デイスクに記録されてい
   る該情報のRF信号のエンベロープ信号を検出す
   る第２の検出手段と、該RF信号の有無を検出す
   る第３の検出手段と、該ピツクアツプの出力信号
   よりトラツキングエラー信号を生成するトラツキ
   ングエラー生成回路と、該第３の検出手段が該
   RF信号を検出したときは該RF信号のエンベロー
   プ信号と該トラツキングエラー信号の位相を、ま
   た該第３の検出手段が該RF信号を検出しないと
   きは該平均受光量に対応した信号と該トラツキン
   グエラー信号の位相を、各々比較する比較手段と
   を備えることを特徴とするトラツク横切り方向検
   出装置。