JPH0547060B2 - - Google Patents
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- JPH0547060B2 JPH0547060B2 JP14878387A JP14878387A JPH0547060B2 JP H0547060 B2 JPH0547060 B2 JP H0547060B2 JP 14878387 A JP14878387 A JP 14878387A JP 14878387 A JP14878387 A JP 14878387A JP H0547060 B2 JPH0547060 B2 JP H0547060B2
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- optical fiber
- optical
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- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 44
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 44
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 30
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 6
- 101100191768 Caenorhabditis elegans pbs-4 gene Proteins 0.000 claims 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000005562 fading Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3172—Reflectometers detecting the back-scattered light in the frequency-domain, e.g. OFDR, FMCW, heterodyne detection
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は光フアイバの特性や破断箇所等を検査
する光フアイバ試験装置に関する。
する光フアイバ試験装置に関する。
〈従来の技術〉
従来この種の光フアイバの試験装置としては第
３図に示す構成のものが知られている。第３図に
おいて、１はコヒーレント光を出射するレーザで
ある。このレーザからの光は光アイソレータ２を
通つて光分岐器３により２方向に分岐され、送信
パルス光とすべき一方の光がモジユレータ４に入
射し、局部発振光とすべき他方の光が方向性光結
合器（以下、単に結合器という）５の第１のポー
トに入射する。モジユレータ４からのパルス光は
結合器５の第２のポートに入射した後第３のポー
トから出射され、光コネクタ１５を介して被測定
光フアイバ２０に入射する。この被測定光フアイ
バの端面から戻つてきたフレネル反射光や後方散
乱光（受信光）は光コネクタ１５を経て結合器５
に入射し、先に分岐した局部発振光と合成され、
第４のポートから受光素子８側に出射する。その
結果、受光素子８は受信光と局部発振光のビート
信号を受光し、そのビート信号に応じた電気信号
が帯域通過フイルタ９、増幅器１０を経て信号処
理装置１２に導かれる。この信号処理装置の出力
に基づいて被測定光フアイバの特性や破断点がど
の位置に有るか等を判定する。なお、レーザ１、
光分岐器３、モジユレータ４、結合器５、被測定
光フアイバ２０、受光素子８のそれぞれの間は光
フアイバ６やロツドレンズ（一部のみ図示）１４
で接続されている。
３図に示す構成のものが知られている。第３図に
おいて、１はコヒーレント光を出射するレーザで
ある。このレーザからの光は光アイソレータ２を
通つて光分岐器３により２方向に分岐され、送信
パルス光とすべき一方の光がモジユレータ４に入
射し、局部発振光とすべき他方の光が方向性光結
合器（以下、単に結合器という）５の第１のポー
トに入射する。モジユレータ４からのパルス光は
結合器５の第２のポートに入射した後第３のポー
トから出射され、光コネクタ１５を介して被測定
光フアイバ２０に入射する。この被測定光フアイ
バの端面から戻つてきたフレネル反射光や後方散
乱光（受信光）は光コネクタ１５を経て結合器５
に入射し、先に分岐した局部発振光と合成され、
第４のポートから受光素子８側に出射する。その
結果、受光素子８は受信光と局部発振光のビート
信号を受光し、そのビート信号に応じた電気信号
が帯域通過フイルタ９、増幅器１０を経て信号処
理装置１２に導かれる。この信号処理装置の出力
に基づいて被測定光フアイバの特性や破断点がど
の位置に有るか等を判定する。なお、レーザ１、
光分岐器３、モジユレータ４、結合器５、被測定
光フアイバ２０、受光素子８のそれぞれの間は光
フアイバ６やロツドレンズ（一部のみ図示）１４
で接続されている。
〈発明が解決しようとする問題点〉
ところで、上記構成において被測定光フアイバ
２０からの後方散乱光はその偏波面の状態が一定
でないために局部発振光とのビート信号が不安定
となる欠点がある。この様な現象は一般にフエー
デイングと呼ばれ、小さな接続損失の段差が不明
瞭になるとともにＳ／Ｎが悪くなるという問題が
有つた。
２０からの後方散乱光はその偏波面の状態が一定
でないために局部発振光とのビート信号が不安定
となる欠点がある。この様な現象は一般にフエー
デイングと呼ばれ、小さな接続損失の段差が不明
瞭になるとともにＳ／Ｎが悪くなるという問題が
有つた。
本発明は上記従来技術の問題点に鑑みて成され
たもので、後方散乱光の偏波状態に応じて局部発
振光の偏波面を制御することによりコヒーレント
検波の検波効率と出力の安定性を向上させること
を目的とする。
たもので、後方散乱光の偏波状態に応じて局部発
振光の偏波面を制御することによりコヒーレント
検波の検波効率と出力の安定性を向上させること
を目的とする。
〈問題点を解決するための手段〉
上記問題点を解決するための本発明の構成は、
レーザダイオードと、該レーザダイオードを駆動
してパルスレーザを発振し、続いて連続光を発振
させる駆動回路と、前記パルス光を第１偏波面制
御装置、第１偏光ビームスプリツタ、第２偏波面
制御装置および第２偏光ビームスプリツタを介し
て被測定光フアイバに入射させて前記光フアイバ
からの後方散乱光を得、前記光フアイバからの後
方散乱光が前記第２偏光ビームスプリツタで２方
向に分岐した光の一方を第３偏波面制御装置を介
して受光する第３偏光ビームスプリツタと、前記
連続光を前記第１偏波面制御装置、第１偏光ビー
ムスプリツタおよび第４偏波面制御装置を介して
受光する第４偏光ビームスプリツタと、該第４偏
光ビームスプリツタで分岐した一方の光と前記第
３偏光ビームスプリツタからの光が入射する第１
光結合器と、前記第４偏光ビームスプリツタで分
岐した他方の光と前記第１偏光ビームスプリツタ
からの光が入射する第２光結合器と、前記第１、
第２光結合器からの出射光のそれぞれを受光する
受光素子と、前記受光素子からの電気信号を加算
する加算回路と、前記受光素子の電気信号をモニ
タする光パワーモニタ回路と、前記加算回路の出
力に基づいて前記光フアイバの特性を診断する信
号処理回路と、前記信号処理回路および前記光パ
ワーモニタ回路の出力に基づいて前記第１〜第４
偏波面制御装置の偏波面の制御を行う制御回路を
備えたことを特徴とするものである。
レーザダイオードと、該レーザダイオードを駆動
してパルスレーザを発振し、続いて連続光を発振
させる駆動回路と、前記パルス光を第１偏波面制
御装置、第１偏光ビームスプリツタ、第２偏波面
制御装置および第２偏光ビームスプリツタを介し
て被測定光フアイバに入射させて前記光フアイバ
からの後方散乱光を得、前記光フアイバからの後
方散乱光が前記第２偏光ビームスプリツタで２方
向に分岐した光の一方を第３偏波面制御装置を介
して受光する第３偏光ビームスプリツタと、前記
連続光を前記第１偏波面制御装置、第１偏光ビー
ムスプリツタおよび第４偏波面制御装置を介して
受光する第４偏光ビームスプリツタと、該第４偏
光ビームスプリツタで分岐した一方の光と前記第
３偏光ビームスプリツタからの光が入射する第１
光結合器と、前記第４偏光ビームスプリツタで分
岐した他方の光と前記第１偏光ビームスプリツタ
からの光が入射する第２光結合器と、前記第１、
第２光結合器からの出射光のそれぞれを受光する
受光素子と、前記受光素子からの電気信号を加算
する加算回路と、前記受光素子の電気信号をモニ
タする光パワーモニタ回路と、前記加算回路の出
力に基づいて前記光フアイバの特性を診断する信
号処理回路と、前記信号処理回路および前記光パ
ワーモニタ回路の出力に基づいて前記第１〜第４
偏波面制御装置の偏波面の制御を行う制御回路を
備えたことを特徴とするものである。
〈実施例〉
第１図は本発明の光フアイバ試験装置の一実施
例を示す構成図、第２図はタイムチヤート図であ
る。
例を示す構成図、第２図はタイムチヤート図であ
る。
第１図において、第３図に示す従来例と同一要
素には同一符号を付して重複する説明は省略す
る。第１図においてP1〜P4は例えばPLZT素子等
からなる第１〜第４偏波面制御装置（以下単に
P1〜P4という）であり、これらの偏波面制御装
置は制御回路２２からの印加電圧に応じてその透
光部を通過する光の偏波面を回転させる。PBS1
〜PBS4は第１〜第４偏光ビームスプリツタ（以
下単にPBS1〜PBS4という）で、被測定光フアイ
バ２０からのフレネル反射光や後方散乱光および
局部発振光をその偏波状態に応じて水平偏光と垂
直偏光に分岐する。２４ａ，２４ｂは光結合器で
後方散乱光と局部発振光をミキシングする。２５
ａ，２５ｂは受光素子、２３は加算回路、１２は
信号処理回路である。５０は光パワーモニタで、
受光素子２５ａ，２５ｂの出力を監視してその出
力が最大となるように制御回路２２を介してP4
の偏波面が制御される。なお、PBS2，PBS3，
PBS4と第１、第２光結合器２４ａ，２４ｂおよ
びレンズ１４間は光フアイバ６で接続するがこれ
らの光フアイバとしては偏波面保存光フアイバを
用いる方が望ましい。また、光結合器としては光
カプラなどを用いるが、この光カプラも偏波面保
存カプラを用いる方が望ましい。
素には同一符号を付して重複する説明は省略す
る。第１図においてP1〜P4は例えばPLZT素子等
からなる第１〜第４偏波面制御装置（以下単に
P1〜P4という）であり、これらの偏波面制御装
置は制御回路２２からの印加電圧に応じてその透
光部を通過する光の偏波面を回転させる。PBS1
〜PBS4は第１〜第４偏光ビームスプリツタ（以
下単にPBS1〜PBS4という）で、被測定光フアイ
バ２０からのフレネル反射光や後方散乱光および
局部発振光をその偏波状態に応じて水平偏光と垂
直偏光に分岐する。２４ａ，２４ｂは光結合器で
後方散乱光と局部発振光をミキシングする。２５
ａ，２５ｂは受光素子、２３は加算回路、１２は
信号処理回路である。５０は光パワーモニタで、
受光素子２５ａ，２５ｂの出力を監視してその出
力が最大となるように制御回路２２を介してP4
の偏波面が制御される。なお、PBS2，PBS3，
PBS4と第１、第２光結合器２４ａ，２４ｂおよ
びレンズ１４間は光フアイバ６で接続するがこれ
らの光フアイバとしては偏波面保存光フアイバを
用いる方が望ましい。また、光結合器としては光
カプラなどを用いるが、この光カプラも偏波面保
存カプラを用いる方が望ましい。
上記構成において、レーザ１はレーザ駆動回路
１１からの制御信号に応じてパルス光を発振し、
つづいて局部発振光（連続光）を出射する。この
出射光はロツドレンズ（以下、単にレンズとい
う）１４で平行光とされ偏波面制御装置P1に入
射する。ここでレーザ光の偏波面はPBS1に対し
て垂直偏光面が反射するように配置されP1への
電圧印加はオフとしておく。そしてパルス光が通
過した直後に偏波面を90゜回転させる電圧でオン
とする（第２図ａ参照）。その結果パルス光は
PBS1で直角方向に反射してオフ状態のP2を通り
PBS2で直角方向に反射してレンズ１４で集光さ
れて光コネクタ１５を介して被測定光フアイバ２
０に入射する。被測定光フアイバに入射した光は
被測定光フアイバの端面（光フアイバとの接触
面）で反射する強い光パワーを持つフレネル反射
光と後方散乱光として戻つてくる信号光が有るが
フレネル反射光の方が時間的に早く戻る。このフ
レネル反射光の通過時にはP2，P3への電圧印加
はオフとしておく。従つてフレネル反射光のＳ波
成分はPBS2で反射し、P2を透過しPBS1で反射し
てレーザ光源側に戻る（なお、図では省略するが
レーザの出射側には戻り光を防止するための光ア
イソレータが配置されている）。
１１からの制御信号に応じてパルス光を発振し、
つづいて局部発振光（連続光）を出射する。この
出射光はロツドレンズ（以下、単にレンズとい
う）１４で平行光とされ偏波面制御装置P1に入
射する。ここでレーザ光の偏波面はPBS1に対し
て垂直偏光面が反射するように配置されP1への
電圧印加はオフとしておく。そしてパルス光が通
過した直後に偏波面を90゜回転させる電圧でオン
とする（第２図ａ参照）。その結果パルス光は
PBS1で直角方向に反射してオフ状態のP2を通り
PBS2で直角方向に反射してレンズ１４で集光さ
れて光コネクタ１５を介して被測定光フアイバ２
０に入射する。被測定光フアイバに入射した光は
被測定光フアイバの端面（光フアイバとの接触
面）で反射する強い光パワーを持つフレネル反射
光と後方散乱光として戻つてくる信号光が有るが
フレネル反射光の方が時間的に早く戻る。このフ
レネル反射光の通過時にはP2，P3への電圧印加
はオフとしておく。従つてフレネル反射光のＳ波
成分はPBS2で反射し、P2を透過しPBS1で反射し
てレーザ光源側に戻る（なお、図では省略するが
レーザの出射側には戻り光を防止するための光ア
イソレータが配置されている）。
一方Ｐ波成分はPBS2，P3，PBS3を透過するの
で出力信号への影響はない。このフレネル反射光
が通過した直後に制御回路２２からP2，P3を通
過する光の偏波面を90゜変化させるような電圧を
印加する（第２図ｄ参照）。その結果、後方散乱
光のＰ波成分はPBS2を透過してP3でＳ波となり
PBSで反射してレンズ１４で集光され光フアイ
バを介して第１光結合器２４ａに入射する。ま
た、Ｓ波成分はPBS2で反射してP2を透過してＰ
波となりPBS1を透過してレンズ１４で集光され
光フアイバを介して第２光結合器２４ｂに入射す
る。
で出力信号への影響はない。このフレネル反射光
が通過した直後に制御回路２２からP2，P3を通
過する光の偏波面を90゜変化させるような電圧を
印加する（第２図ｄ参照）。その結果、後方散乱
光のＰ波成分はPBS2を透過してP3でＳ波となり
PBSで反射してレンズ１４で集光され光フアイ
バを介して第１光結合器２４ａに入射する。ま
た、Ｓ波成分はPBS2で反射してP2を透過してＰ
波となりPBS1を透過してレンズ１４で集光され
光フアイバを介して第２光結合器２４ｂに入射す
る。
一方P1はパルス光が通過した直後にオンとな
るので局部発振光はＰ波となりPBS1を透過して
例えば暫定的に偏波面を45゜回転させるような電
圧が印加されたオン状態のP4を透過する。この
ため、PBS3ではＰ波とＳ波が同じ割合で透過お
よび反射してレンズ１４で集光され、光フアイバ
６を介して光結合器２４ａ，２４ｂにそれぞれ入
射する。その結果、信号光としての後方散乱光と
局部発振光が合波され、その出力光は光フアイバ
６を通つてレンズ１４で集光され受光素子２５
ａ，２５ｂを照射する。これら受光素子からの電
気信号は加算回路２３で加算されて信号処理回路
１２に出力され、その出力に基づいて被測定光フ
アイバの特性が診断される。なお、信号処理回路
の出力は制御回路２２、レーザ駆動回路１１にフ
イードバツクされてレーザの出力やP1〜P4への
印加電圧やオンオフのタイミング等の最適条件が
決定される。
るので局部発振光はＰ波となりPBS1を透過して
例えば暫定的に偏波面を45゜回転させるような電
圧が印加されたオン状態のP4を透過する。この
ため、PBS3ではＰ波とＳ波が同じ割合で透過お
よび反射してレンズ１４で集光され、光フアイバ
６を介して光結合器２４ａ，２４ｂにそれぞれ入
射する。その結果、信号光としての後方散乱光と
局部発振光が合波され、その出力光は光フアイバ
６を通つてレンズ１４で集光され受光素子２５
ａ，２５ｂを照射する。これら受光素子からの電
気信号は加算回路２３で加算されて信号処理回路
１２に出力され、その出力に基づいて被測定光フ
アイバの特性が診断される。なお、信号処理回路
の出力は制御回路２２、レーザ駆動回路１１にフ
イードバツクされてレーザの出力やP1〜P4への
印加電圧やオンオフのタイミング等の最適条件が
決定される。
ところで、上記においてP4への印加電圧を暫
定的としたのは次の理由による。すなわち、測定
光フアイバからの後方散乱光のＰ波とＳ波の成分
が50％である場合には有効で有るが、その割合い
が等分でない場合には以下のような問題がある。
即ち、干渉光の検波で得られる出力電流Ｉは次式
により表わすことが出来る。
定的としたのは次の理由による。すなわち、測定
光フアイバからの後方散乱光のＰ波とＳ波の成分
が50％である場合には有効で有るが、その割合い
が等分でない場合には以下のような問題がある。
即ち、干渉光の検波で得られる出力電流Ｉは次式
により表わすことが出来る。
Ｉ∝√×√L
ここで、Ps；信号光の最大値ps・sinωt
PL；局部発振光の最大値PL・sinωt
今、出力の安定度をＡ，PsのＰ波パワー対Ｓ
波パワーの比を α：１−α PLのＰ波パワー対Ｓ波パワーの比を β：１−β とし、信号光と局部発振光のＰ波とＳ波の割合い
を一致させた場合、すなわちα＝βとした場合、 Ｉ＝Ａ（√・＋√（１−）（１−））＝Ａ となり常に一定の安定度となる。
波パワーの比を α：１−α PLのＰ波パワー対Ｓ波パワーの比を β：１−β とし、信号光と局部発振光のＰ波とＳ波の割合い
を一致させた場合、すなわちα＝βとした場合、 Ｉ＝Ａ（√・＋√（１−）（１−））＝Ａ となり常に一定の安定度となる。
また、受光素子の受光効率を見た場合、例えば
α＝0.8、β＝0.5では Ｉ＝Ａ（√0.8・0.5＋√0.2・0.5＝0.95Aとなり、 例えば、α＝0.8のときβ＝0.8になるように調
整した場合、 Ｉ＝Ａ（√0.8・0.8＋√0.2・0.2＝1.0Aとなる。
α＝0.8、β＝0.5では Ｉ＝Ａ（√0.8・0.5＋√0.2・0.5＝0.95Aとなり、 例えば、α＝0.8のときβ＝0.8になるように調
整した場合、 Ｉ＝Ａ（√0.8・0.8＋√0.2・0.2＝1.0Aとなる。
すなわち、５％の受光効率の改善がある。
上記の効果を得るために制御回路２２はP4の
偏波面制御装置で局部発振光の偏波面を制御す
る。なお、フレネル反射光は被測定光フアイバ２
０の端面からのほか光フアイバの途中の接続面か
らのものも有るが、これらが光フアイバの特性測
定に影響を及ぼすようで有れば、その部分が通過
する時間のみP2，P3がオフになるように制御す
ればフレネル反射光を除去することが出来る。
偏波面制御装置で局部発振光の偏波面を制御す
る。なお、フレネル反射光は被測定光フアイバ２
０の端面からのほか光フアイバの途中の接続面か
らのものも有るが、これらが光フアイバの特性測
定に影響を及ぼすようで有れば、その部分が通過
する時間のみP2，P3がオフになるように制御す
ればフレネル反射光を除去することが出来る。
また、本実施例ではパルス光をレーザ駆動回路
１１からの制御信号により出射する例について説
明したが、レーザからは常にＰ波としての連続光
を出射させて局部発振光とし、P1の偏波面を90゜
回転させる電圧で一瞬オンとする。その結果Ｓ波
となつたパルス光がPBS1で直角方向に反射して
被測定光フアイバ側に向かう。上記のようにP1
を制御してパルス光を出射してもよい。
１１からの制御信号により出射する例について説
明したが、レーザからは常にＰ波としての連続光
を出射させて局部発振光とし、P1の偏波面を90゜
回転させる電圧で一瞬オンとする。その結果Ｓ波
となつたパルス光がPBS1で直角方向に反射して
被測定光フアイバ側に向かう。上記のようにP1
を制御してパルス光を出射してもよい。
また、本実施例ではPBS2，PBS3，PBS4と光
結合器２４ａ，２４ｂおよびレンズ１４間を光フ
アイバにより結合したが、これらの素子間は全反
射ミラーとハーフミラーを適当に組合せて結合し
てもよい。
結合器２４ａ，２４ｂおよびレンズ１４間を光フ
アイバにより結合したが、これらの素子間は全反
射ミラーとハーフミラーを適当に組合せて結合し
てもよい。
＜発明の効果＞
以上、実施例とともに具体的に説明したように
本発明によれば、 フレネル反射光の影響をなくすることが出来
る。
本発明によれば、 フレネル反射光の影響をなくすることが出来
る。
安定した信号光を得ることが出来る。
受光効率が向上する。
等の効果を得ることが出来る。
第１図は本発明の光フアイバ試験装置の一実施
例を示す構成説明図、第２図はタイムチヤート
図、第３図は従来例を示す構成説明図である。 １…レーザ、６…光フアイバ、１１…レーザ駆
動回路、１２…信号処理回路、１４…ロツドレン
ズ、１５…光コネクタ、２２…制御回路、２３…
加算回路、２４ａ，２４ｂ…光結合器、２５ａ，
２５ｂ…受光素子、P1〜P4…偏波面制御装置、
PBS1〜PBS4…偏光ビームスプリツタ。
例を示す構成説明図、第２図はタイムチヤート
図、第３図は従来例を示す構成説明図である。 １…レーザ、６…光フアイバ、１１…レーザ駆
動回路、１２…信号処理回路、１４…ロツドレン
ズ、１５…光コネクタ、２２…制御回路、２３…
加算回路、２４ａ，２４ｂ…光結合器、２５ａ，
２５ｂ…受光素子、P1〜P4…偏波面制御装置、
PBS1〜PBS4…偏光ビームスプリツタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ レーザダイオードLDと、 該レーザダイオードを駆動してパルスレーザを
発振し、続いて連続光を発振させる駆動回路１１
と、 前記パルス光を第１偏波面制御装置P1、第１
偏光ビームスプリツタPBS1、第２偏波面制御装
置P2および第２偏光ビームスプリツタPBS2を介
して被測定光フアイバ２０に入射させて前記光フ
アイバからの後方散乱光を得、 前記被測定光フアイバからの後方散乱光が前記
第２偏光ビームスブリツタで２方向に分岐した光
の一方を第３偏波面制御装置P3を介して受光す
る第３偏光ビームスプリツタPBS3と、 前記連続光を前記第１偏波面制御装置P1、 第１偏光ビームスプリツタPBS1および第４偏
波面制御装置P4を介して受光する第４偏光ビー
ムスプリツタPBS4と、 該第４偏光ビームスプリツタで分岐した一方の
光と前記第３偏光ビームスプリツタからの光が入
射する第１光結合器２４ａと、 前記第４偏光ビームスプリツタで分岐した他方
の光と前記第１偏光ビームスプリツタからの光が
入射する第２光結合器２４ｂと、 前記第１、第２光結合器２４ａ，２４ｂからの
出射光のそれぞれを受光する受光素子２５ａ，２
５ｂと、 前記受光素子からの電気信号を加算する加算回
路２３と、 前記受光素子２５ａ，２５ｂの電気信号をモニ
タする光パワーモニタ５０回路と、 前記加算回路２３の出力に基づいて前記被測定
光フアイバの特性を診断する信号処理回路１２
と、 前記信号処理回路１２の出力に基づいて前記連
続光及び前記後方散乱光のみが前記第１、第２光
結合器２４ａ，２４ｂに入射するように前記第１
〜第３偏波面制御装置P1〜P3の偏波面の制御を
行うと共に前記光パワーモニタ回路５０の出力に
基づいて前記受光素子２５ａ，２５ｂの受光効率
が最大となるように前記第４偏波面制御装置P4
の偏波面の制御を行う制御回路２２を備えたこと
を特徴とする光フアイバ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14878387A JPS63313030A (ja) | 1987-06-15 | 1987-06-15 | 光ファイバ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14878387A JPS63313030A (ja) | 1987-06-15 | 1987-06-15 | 光ファイバ試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63313030A JPS63313030A (ja) | 1988-12-21 |
| JPH0547060B2 true JPH0547060B2 (ja) | 1993-07-15 |
Family
ID=15460579
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14878387A Granted JPS63313030A (ja) | 1987-06-15 | 1987-06-15 | 光ファイバ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63313030A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04138331A (ja) * | 1990-09-28 | 1992-05-12 | Ando Electric Co Ltd | ヘテロダイン受光を用いた光パルス試験器 |
| JP4958152B2 (ja) * | 2006-11-02 | 2012-06-20 | 一般財団法人電力中央研究所 | 光デバイスを含む光ファイバ線路の障害点検出方法及び障害点検出システム |
| US10073006B2 (en) | 2016-04-15 | 2018-09-11 | Viavi Solutions Inc. | Brillouin and rayleigh distributed sensor |
| CN108168848B (zh) * | 2018-02-13 | 2024-05-03 | 南光高科（厦门）激光科技有限公司 | 一种多模光纤测试装置 |
-
1987
- 1987-06-15 JP JP14878387A patent/JPS63313030A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63313030A (ja) | 1988-12-21 |
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