JP2511265B2 - 光伝送装置試験回路 - Google Patents
光伝送装置試験回路Info
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- JP2511265B2 JP2511265B2 JP8874687A JP8874687A JP2511265B2 JP 2511265 B2 JP2511265 B2 JP 2511265B2 JP 8874687 A JP8874687 A JP 8874687A JP 8874687 A JP8874687 A JP 8874687A JP 2511265 B2 JP2511265 B2 JP 2511265B2
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Description
【発明の詳細な説明】 （１）発明の属する技術分野 本発明は光を媒体とした伝送装置に関するものであ
り、特にその試験のための信号折り返し回路に関するも
のである。
り、特にその試験のための信号折り返し回路に関するも
のである。
（２）従来の技術 第１図に従来の光伝送装置回路の一般的な形態を示
す。伝送装置１と伝送装置２間は光ファイバケーブル３
で接続されている。電気信号が伝送装置１の入力端子１
−１から入力され光源駆動回路１−２、光源１−３によ
り光信号に変換され、光ファイバ３−１を介し伝送装置
２の受光素子２−４に伝達されて電気信号に再変換され
増幅器２−５により増幅された後に出力端子２−６より
取り出される。伝送装置２から伝送装置１への信号伝送
は上記の信号の流れと逆向きに入力端子２−１、光源駆
動回路２−２、光源２−３、光ファイバ３−２、受光素
子１−４、増幅器１−５、出力端子１−６を経て伝送さ
れる。伝送路に障害が発生した場合には、障害点を切り
分ける必要がある。このため、伝送装置１に試験用スイ
ッチ１−７を設け、試験時にはこのスイッチを閉じ入力
端子１−１から入力した信号を折り返し出力端子１−６
で観測することにより障害点が電気回路部分かあるいは
それより後段の光素子ないし光ファイバかを判定する方
法がとられていた。伝送装置２においても同じ構成を取
り試験用スイッチ２−７を設けている。しかし、実際に
は伝送装置の障害が電気回路より信頼生の低い光素子、
特に光源として用いられる半導体レーザ、発光ダイオー
ドで発生することが多いため障害点の切り分けが充分で
ない欠点があった。
す。伝送装置１と伝送装置２間は光ファイバケーブル３
で接続されている。電気信号が伝送装置１の入力端子１
−１から入力され光源駆動回路１−２、光源１−３によ
り光信号に変換され、光ファイバ３−１を介し伝送装置
２の受光素子２−４に伝達されて電気信号に再変換され
増幅器２−５により増幅された後に出力端子２−６より
取り出される。伝送装置２から伝送装置１への信号伝送
は上記の信号の流れと逆向きに入力端子２−１、光源駆
動回路２−２、光源２−３、光ファイバ３−２、受光素
子１−４、増幅器１−５、出力端子１−６を経て伝送さ
れる。伝送路に障害が発生した場合には、障害点を切り
分ける必要がある。このため、伝送装置１に試験用スイ
ッチ１−７を設け、試験時にはこのスイッチを閉じ入力
端子１−１から入力した信号を折り返し出力端子１−６
で観測することにより障害点が電気回路部分かあるいは
それより後段の光素子ないし光ファイバかを判定する方
法がとられていた。伝送装置２においても同じ構成を取
り試験用スイッチ２−７を設けている。しかし、実際に
は伝送装置の障害が電気回路より信頼生の低い光素子、
特に光源として用いられる半導体レーザ、発光ダイオー
ドで発生することが多いため障害点の切り分けが充分で
ない欠点があった。
（３）発明の目的 本発明の目的は光伝送装置の障害時試験のための光信
号段での折り返しループを構成する手段として用いられ
る光伝送装置試験回路を提供することにある。
号段での折り返しループを構成する手段として用いられ
る光伝送装置試験回路を提供することにある。
（４）発明の構成 （４−１）発明の特徴と従来の技術との差異 本発明は光の偏波に対する透過、反射特性が可変の偏
波ビームスプリッタを光源並びに受光素子と光ファイバ
の間に配置し、通常時は光源並びに受光素子と光ファイ
バとを結合状態にし、試験時には光源から受光素子への
折り返しループを構成することを特徴としている。
波ビームスプリッタを光源並びに受光素子と光ファイバ
の間に配置し、通常時は光源並びに受光素子と光ファイ
バとを結合状態にし、試験時には光源から受光素子への
折り返しループを構成することを特徴としている。
（４−２）実施例 第２図は本発明の実施例で用いる偏波ビームスプリッ
タを示す。例えば高屈折率ガラスプリズムのギャップに
ネマチック液晶を充填することによって構成される。こ
の液晶に電界を印加しない場合〔（ａ）で示すOFF時〕
には液晶が紙面に垂直にホモジニアス配列をし角度θで
入射した光ビームのうち偏光方向が入射面に垂直（senk
recht）なＳ波が透過し、入射面に平行（parallel）な
Ｐ波が全反射する。電界を印加した場合〔（ｂ）で示す
ON時〕には液晶がホメオトロピック配列をし角度θで入
射した光ビームのうちＰ波が透過しＳ波が全反射する。
タを示す。例えば高屈折率ガラスプリズムのギャップに
ネマチック液晶を充填することによって構成される。こ
の液晶に電界を印加しない場合〔（ａ）で示すOFF時〕
には液晶が紙面に垂直にホモジニアス配列をし角度θで
入射した光ビームのうち偏光方向が入射面に垂直（senk
recht）なＳ波が透過し、入射面に平行（parallel）な
Ｐ波が全反射する。電界を印加した場合〔（ｂ）で示す
ON時〕には液晶がホメオトロピック配列をし角度θで入
射した光ビームのうちＰ波が透過しＳ波が全反射する。
第３図は本発明の実施例であり、第１図で示した伝送
装置の一端１を本図の構成で置き替えた構成をとってい
る。１−１は入力端子、１−２は光源駆動回路、１−３
は光源、１−４は受光素子、１−５は増幅器、３−1,3
−２は光ファイバ、４−１〜４−６は第２図に示した偏
波ビームスプリッタ、５−1,5−２はミラーである。
装置の一端１を本図の構成で置き替えた構成をとってい
る。１−１は入力端子、１−２は光源駆動回路、１−３
は光源、１−４は受光素子、１−５は増幅器、３−1,3
−２は光ファイバ、４−１〜４−６は第２図に示した偏
波ビームスプリッタ、５−1,5−２はミラーである。
このように、本発明の光伝送装置試験回路は、信号送
信用光源回路と信号受信用受光回路を伝送路の両端に一
対ずつ配置する光伝送方式において、角度θで入射した
光ビームに対して無電界時にＳ波を通過させＰ波を反射
させ電界印加時にＰ波を通過させＳ波を反射する偏波ビ
ームスプリッタを上記送信用光源回路光源からの出射光
ビームに対して角度θで交わる位置に一枚（４−１）、
これに平行で出射光ビームと交わらない位置に一枚（４
−２）、出射光ビームに対して角度（π−θ）で交わる
位置に一枚（４−３）、さらに、信号受信用受光回路へ
の入射光ビームに対して角度θで交わる位置に一枚（４
−４）、これに平行で入射光ビームと交わらない位置に
一枚（４−５）、入射光ビームに対して角度（π−θ）
で交わる位置に一枚（４−６）の計６枚が配置されてい
ることを特徴とする構成を有している。
信用光源回路と信号受信用受光回路を伝送路の両端に一
対ずつ配置する光伝送方式において、角度θで入射した
光ビームに対して無電界時にＳ波を通過させＰ波を反射
させ電界印加時にＰ波を通過させＳ波を反射する偏波ビ
ームスプリッタを上記送信用光源回路光源からの出射光
ビームに対して角度θで交わる位置に一枚（４−１）、
これに平行で出射光ビームと交わらない位置に一枚（４
−２）、出射光ビームに対して角度（π−θ）で交わる
位置に一枚（４−３）、さらに、信号受信用受光回路へ
の入射光ビームに対して角度θで交わる位置に一枚（４
−４）、これに平行で入射光ビームと交わらない位置に
一枚（４−５）、入射光ビームに対して角度（π−θ）
で交わる位置に一枚（４−６）の計６枚が配置されてい
ることを特徴とする構成を有している。
正常時は全ての偏波ビームスプリッタをOFF状態にし
ておく、この場合には、光源１−３からの出射光ビーム
は偏波ビームスプリッタ４−１で偏波分離し、Ｓ波は透
過しＰ波は全反射する。Ｐ波は偏波ビームスプリッタ４
−２およびミラー５−１で全反射を繰り返し偏波ビーム
スプリッタ４−３でＳ波と再び合成され光ファイバ３−
１に結合される。光ファイバ３−２からの入射光ビーム
は偏波ビームスプリッタ４−４で偏波分離し、Ｓ波は透
過しＰ波は全反射する。Ｐ波はミラ５−２および偏波ビ
ームスプリッタ４−５で全反射を繰り返し偏波ビームス
プリッタ４−６でＳ波と再び合成され受光素子１−４に
結合する。
ておく、この場合には、光源１−３からの出射光ビーム
は偏波ビームスプリッタ４−１で偏波分離し、Ｓ波は透
過しＰ波は全反射する。Ｐ波は偏波ビームスプリッタ４
−２およびミラー５−１で全反射を繰り返し偏波ビーム
スプリッタ４−３でＳ波と再び合成され光ファイバ３−
１に結合される。光ファイバ３−２からの入射光ビーム
は偏波ビームスプリッタ４−４で偏波分離し、Ｓ波は透
過しＰ波は全反射する。Ｐ波はミラ５−２および偏波ビ
ームスプリッタ４−５で全反射を繰り返し偏波ビームス
プリッタ４−６でＳ波と再び合成され受光素子１−４に
結合する。
試験時には対向する伝送装置２の光出力をOFFとし伝
送装置１における光ファイバ３−２からの入射光はない
ものとし、偏波ビームスプリッタ４−1,4−3,4−６を
（ｂ）に示すようにON状態にする。光源１−３からの出
射光ビームは偏波ビームスプリッタ４−１で偏波分離
し、Ｐ波は透過しＳ波は全反射する。透過したＰ波はさ
らに偏波ビームスプリッタ４−３も透過し光ファイバ３
−１に結合する。全反射したＳ波は偏波ビームスプリッ
タ４−2,4−５を透過し偏波ビームスプリッタ４−６で
全反射して受光素子１−４に結合する。
送装置１における光ファイバ３−２からの入射光はない
ものとし、偏波ビームスプリッタ４−1,4−3,4−６を
（ｂ）に示すようにON状態にする。光源１−３からの出
射光ビームは偏波ビームスプリッタ４−１で偏波分離
し、Ｐ波は透過しＳ波は全反射する。透過したＰ波はさ
らに偏波ビームスプリッタ４−３も透過し光ファイバ３
−１に結合する。全反射したＳ波は偏波ビームスプリッ
タ４−2,4−５を透過し偏波ビームスプリッタ４−６で
全反射して受光素子１−４に結合する。
（５）発明の効果 以上説明したように、本発明によれば光伝送装置にお
いて光信号段で信号を電界の印加により非機械的に折り
返すことができるため、充分な切り分けが行われ、伝送
路の自動試験の観点から有用である。
いて光信号段で信号を電界の印加により非機械的に折り
返すことができるため、充分な切り分けが行われ、伝送
路の自動試験の観点から有用である。
第１図は従来の光伝送装置回路の一般的な形態を示す系
統図、第２図は本発明に用いる偏波ビームスプリッタの
１例を示すブロック図、第３図は本発明の実施例を示す
接続系統図である。 1,2…伝送装置、３…光ファイバケーブル、１−1,2−１
…入力端子、１−2,2−２光源駆動回路、１−3,2−３…
光源、１−4,2−４…受光素子、１−5,2−５…増幅器、
１−6,2−６…出力端子、１−7,2−７…試験用スイッ
チ、３−1,3−２…光ファイバ、４−1,4−2,4−3,4−4,
4−5,4−６…偏波ビームスプリッタ、５−1,5−２…ミ
ラー。
統図、第２図は本発明に用いる偏波ビームスプリッタの
１例を示すブロック図、第３図は本発明の実施例を示す
接続系統図である。 1,2…伝送装置、３…光ファイバケーブル、１−1,2−１
…入力端子、１−2,2−２光源駆動回路、１−3,2−３…
光源、１−4,2−４…受光素子、１−5,2−５…増幅器、
１−6,2−６…出力端子、１−7,2−７…試験用スイッ
チ、３−1,3−２…光ファイバ、４−1,4−2,4−3,4−4,
4−5,4−６…偏波ビームスプリッタ、５−1,5−２…ミ
ラー。
Claims (1)
- 【請求項１】信号送信用光源回路と信号受信用受光回路
を伝送路の両端に一対ずつ配置する光伝送方式におい
て、 角度θで入射した光ビームに対して無電界時にＳ波を通
過させＰ波を反射させ電界印加時にＰ波を通過させＳ波
を反射する偏波ビームスプリッタを上記送信用光源回路
光源からの出射光ビームに対して角度θで交わる位置に
一枚、これに平行で出射光ビームと交わらない位置に一
枚、出射光ビームに対して角度（π−θ）で交わる位置
に一枚、さらに、信号受信用受光回路への入射光ビーム
に対して角度θで交わる位置に一枚、これに平行で入射
光ビームと交わらない位置に一枚、入射光ビームに対し
て角度（π−θ）で交わる位置に一枚の計６枚が配置さ
れていることを特徴とする光伝送装置試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8874687A JP2511265B2 (ja) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | 光伝送装置試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8874687A JP2511265B2 (ja) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | 光伝送装置試験回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63254835A JPS63254835A (ja) | 1988-10-21 |
| JP2511265B2 true JP2511265B2 (ja) | 1996-06-26 |
Family
ID=13951474
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8874687A Expired - Fee Related JP2511265B2 (ja) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | 光伝送装置試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2511265B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017184827A1 (en) * | 2016-04-21 | 2017-10-26 | Searete Llc | Maintenance of wireless data link |
-
1987
- 1987-04-13 JP JP8874687A patent/JP2511265B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63254835A (ja) | 1988-10-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |