JP2511265B2 - 光伝送装置試験回路 - Google Patents
光伝送装置試験回路Info
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- JP2511265B2 JP2511265B2 JP8874687A JP8874687A JP2511265B2 JP 2511265 B2 JP2511265 B2 JP 2511265B2 JP 8874687 A JP8874687 A JP 8874687A JP 8874687 A JP8874687 A JP 8874687A JP 2511265 B2 JP2511265 B2 JP 2511265B2
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Description
【発明の詳細な説明】 (1)発明の属する技術分野 本発明は光を媒体とした伝送装置に関するものであ
り、特にその試験のための信号折り返し回路に関するも
のである。
り、特にその試験のための信号折り返し回路に関するも
のである。
(2)従来の技術 第1図に従来の光伝送装置回路の一般的な形態を示
す。伝送装置1と伝送装置2間は光ファイバケーブル3
で接続されている。電気信号が伝送装置1の入力端子1
−1から入力され光源駆動回路1−2、光源1−3によ
り光信号に変換され、光ファイバ3−1を介し伝送装置
2の受光素子2−4に伝達されて電気信号に再変換され
増幅器2−5により増幅された後に出力端子2−6より
取り出される。伝送装置2から伝送装置1への信号伝送
は上記の信号の流れと逆向きに入力端子2−1、光源駆
動回路2−2、光源2−3、光ファイバ3−2、受光素
子1−4、増幅器1−5、出力端子1−6を経て伝送さ
れる。伝送路に障害が発生した場合には、障害点を切り
分ける必要がある。このため、伝送装置1に試験用スイ
ッチ1−7を設け、試験時にはこのスイッチを閉じ入力
端子1−1から入力した信号を折り返し出力端子1−6
で観測することにより障害点が電気回路部分かあるいは
それより後段の光素子ないし光ファイバかを判定する方
法がとられていた。伝送装置2においても同じ構成を取
り試験用スイッチ2−7を設けている。しかし、実際に
は伝送装置の障害が電気回路より信頼生の低い光素子、
特に光源として用いられる半導体レーザ、発光ダイオー
ドで発生することが多いため障害点の切り分けが充分で
ない欠点があった。
す。伝送装置1と伝送装置2間は光ファイバケーブル3
で接続されている。電気信号が伝送装置1の入力端子1
−1から入力され光源駆動回路1−2、光源1−3によ
り光信号に変換され、光ファイバ3−1を介し伝送装置
2の受光素子2−4に伝達されて電気信号に再変換され
増幅器2−5により増幅された後に出力端子2−6より
取り出される。伝送装置2から伝送装置1への信号伝送
は上記の信号の流れと逆向きに入力端子2−1、光源駆
動回路2−2、光源2−3、光ファイバ3−2、受光素
子1−4、増幅器1−5、出力端子1−6を経て伝送さ
れる。伝送路に障害が発生した場合には、障害点を切り
分ける必要がある。このため、伝送装置1に試験用スイ
ッチ1−7を設け、試験時にはこのスイッチを閉じ入力
端子1−1から入力した信号を折り返し出力端子1−6
で観測することにより障害点が電気回路部分かあるいは
それより後段の光素子ないし光ファイバかを判定する方
法がとられていた。伝送装置2においても同じ構成を取
り試験用スイッチ2−7を設けている。しかし、実際に
は伝送装置の障害が電気回路より信頼生の低い光素子、
特に光源として用いられる半導体レーザ、発光ダイオー
ドで発生することが多いため障害点の切り分けが充分で
ない欠点があった。
(3)発明の目的 本発明の目的は光伝送装置の障害時試験のための光信
号段での折り返しループを構成する手段として用いられ
る光伝送装置試験回路を提供することにある。
号段での折り返しループを構成する手段として用いられ
る光伝送装置試験回路を提供することにある。
(4)発明の構成 (4−1)発明の特徴と従来の技術との差異 本発明は光の偏波に対する透過、反射特性が可変の偏
波ビームスプリッタを光源並びに受光素子と光ファイバ
の間に配置し、通常時は光源並びに受光素子と光ファイ
バとを結合状態にし、試験時には光源から受光素子への
折り返しループを構成することを特徴としている。
波ビームスプリッタを光源並びに受光素子と光ファイバ
の間に配置し、通常時は光源並びに受光素子と光ファイ
バとを結合状態にし、試験時には光源から受光素子への
折り返しループを構成することを特徴としている。
(4−2)実施例 第2図は本発明の実施例で用いる偏波ビームスプリッ
タを示す。例えば高屈折率ガラスプリズムのギャップに
ネマチック液晶を充填することによって構成される。こ
の液晶に電界を印加しない場合〔(a)で示すOFF時〕
には液晶が紙面に垂直にホモジニアス配列をし角度θで
入射した光ビームのうち偏光方向が入射面に垂直(senk
recht)なS波が透過し、入射面に平行(parallel)な
P波が全反射する。電界を印加した場合〔(b)で示す
ON時〕には液晶がホメオトロピック配列をし角度θで入
射した光ビームのうちP波が透過しS波が全反射する。
タを示す。例えば高屈折率ガラスプリズムのギャップに
ネマチック液晶を充填することによって構成される。こ
の液晶に電界を印加しない場合〔(a)で示すOFF時〕
には液晶が紙面に垂直にホモジニアス配列をし角度θで
入射した光ビームのうち偏光方向が入射面に垂直(senk
recht)なS波が透過し、入射面に平行(parallel)な
P波が全反射する。電界を印加した場合〔(b)で示す
ON時〕には液晶がホメオトロピック配列をし角度θで入
射した光ビームのうちP波が透過しS波が全反射する。
第3図は本発明の実施例であり、第1図で示した伝送
装置の一端1を本図の構成で置き替えた構成をとってい
る。1−1は入力端子、1−2は光源駆動回路、1−3
は光源、1−4は受光素子、1−5は増幅器、3−1,3
−2は光ファイバ、4−1〜4−6は第2図に示した偏
波ビームスプリッタ、5−1,5−2はミラーである。
装置の一端1を本図の構成で置き替えた構成をとってい
る。1−1は入力端子、1−2は光源駆動回路、1−3
は光源、1−4は受光素子、1−5は増幅器、3−1,3
−2は光ファイバ、4−1〜4−6は第2図に示した偏
波ビームスプリッタ、5−1,5−2はミラーである。
このように、本発明の光伝送装置試験回路は、信号送
信用光源回路と信号受信用受光回路を伝送路の両端に一
対ずつ配置する光伝送方式において、角度θで入射した
光ビームに対して無電界時にS波を通過させP波を反射
させ電界印加時にP波を通過させS波を反射する偏波ビ
ームスプリッタを上記送信用光源回路光源からの出射光
ビームに対して角度θで交わる位置に一枚(4−1)、
これに平行で出射光ビームと交わらない位置に一枚(4
−2)、出射光ビームに対して角度(π−θ)で交わる
位置に一枚(4−3)、さらに、信号受信用受光回路へ
の入射光ビームに対して角度θで交わる位置に一枚(4
−4)、これに平行で入射光ビームと交わらない位置に
一枚(4−5)、入射光ビームに対して角度(π−θ)
で交わる位置に一枚(4−6)の計6枚が配置されてい
ることを特徴とする構成を有している。
信用光源回路と信号受信用受光回路を伝送路の両端に一
対ずつ配置する光伝送方式において、角度θで入射した
光ビームに対して無電界時にS波を通過させP波を反射
させ電界印加時にP波を通過させS波を反射する偏波ビ
ームスプリッタを上記送信用光源回路光源からの出射光
ビームに対して角度θで交わる位置に一枚(4−1)、
これに平行で出射光ビームと交わらない位置に一枚(4
−2)、出射光ビームに対して角度(π−θ)で交わる
位置に一枚(4−3)、さらに、信号受信用受光回路へ
の入射光ビームに対して角度θで交わる位置に一枚(4
−4)、これに平行で入射光ビームと交わらない位置に
一枚(4−5)、入射光ビームに対して角度(π−θ)
で交わる位置に一枚(4−6)の計6枚が配置されてい
ることを特徴とする構成を有している。
正常時は全ての偏波ビームスプリッタをOFF状態にし
ておく、この場合には、光源1−3からの出射光ビーム
は偏波ビームスプリッタ4−1で偏波分離し、S波は透
過しP波は全反射する。P波は偏波ビームスプリッタ4
−2およびミラー5−1で全反射を繰り返し偏波ビーム
スプリッタ4−3でS波と再び合成され光ファイバ3−
1に結合される。光ファイバ3−2からの入射光ビーム
は偏波ビームスプリッタ4−4で偏波分離し、S波は透
過しP波は全反射する。P波はミラ5−2および偏波ビ
ームスプリッタ4−5で全反射を繰り返し偏波ビームス
プリッタ4−6でS波と再び合成され受光素子1−4に
結合する。
ておく、この場合には、光源1−3からの出射光ビーム
は偏波ビームスプリッタ4−1で偏波分離し、S波は透
過しP波は全反射する。P波は偏波ビームスプリッタ4
−2およびミラー5−1で全反射を繰り返し偏波ビーム
スプリッタ4−3でS波と再び合成され光ファイバ3−
1に結合される。光ファイバ3−2からの入射光ビーム
は偏波ビームスプリッタ4−4で偏波分離し、S波は透
過しP波は全反射する。P波はミラ5−2および偏波ビ
ームスプリッタ4−5で全反射を繰り返し偏波ビームス
プリッタ4−6でS波と再び合成され受光素子1−4に
結合する。
試験時には対向する伝送装置2の光出力をOFFとし伝
送装置1における光ファイバ3−2からの入射光はない
ものとし、偏波ビームスプリッタ4−1,4−3,4−6を
(b)に示すようにON状態にする。光源1−3からの出
射光ビームは偏波ビームスプリッタ4−1で偏波分離
し、P波は透過しS波は全反射する。透過したP波はさ
らに偏波ビームスプリッタ4−3も透過し光ファイバ3
−1に結合する。全反射したS波は偏波ビームスプリッ
タ4−2,4−5を透過し偏波ビームスプリッタ4−6で
全反射して受光素子1−4に結合する。
送装置1における光ファイバ3−2からの入射光はない
ものとし、偏波ビームスプリッタ4−1,4−3,4−6を
(b)に示すようにON状態にする。光源1−3からの出
射光ビームは偏波ビームスプリッタ4−1で偏波分離
し、P波は透過しS波は全反射する。透過したP波はさ
らに偏波ビームスプリッタ4−3も透過し光ファイバ3
−1に結合する。全反射したS波は偏波ビームスプリッ
タ4−2,4−5を透過し偏波ビームスプリッタ4−6で
全反射して受光素子1−4に結合する。
(5)発明の効果 以上説明したように、本発明によれば光伝送装置にお
いて光信号段で信号を電界の印加により非機械的に折り
返すことができるため、充分な切り分けが行われ、伝送
路の自動試験の観点から有用である。
いて光信号段で信号を電界の印加により非機械的に折り
返すことができるため、充分な切り分けが行われ、伝送
路の自動試験の観点から有用である。
第1図は従来の光伝送装置回路の一般的な形態を示す系
統図、第2図は本発明に用いる偏波ビームスプリッタの
1例を示すブロック図、第3図は本発明の実施例を示す
接続系統図である。 1,2…伝送装置、3…光ファイバケーブル、1−1,2−1
…入力端子、1−2,2−2光源駆動回路、1−3,2−3…
光源、1−4,2−4…受光素子、1−5,2−5…増幅器、
1−6,2−6…出力端子、1−7,2−7…試験用スイッ
チ、3−1,3−2…光ファイバ、4−1,4−2,4−3,4−4,
4−5,4−6…偏波ビームスプリッタ、5−1,5−2…ミ
ラー。
統図、第2図は本発明に用いる偏波ビームスプリッタの
1例を示すブロック図、第3図は本発明の実施例を示す
接続系統図である。 1,2…伝送装置、3…光ファイバケーブル、1−1,2−1
…入力端子、1−2,2−2光源駆動回路、1−3,2−3…
光源、1−4,2−4…受光素子、1−5,2−5…増幅器、
1−6,2−6…出力端子、1−7,2−7…試験用スイッ
チ、3−1,3−2…光ファイバ、4−1,4−2,4−3,4−4,
4−5,4−6…偏波ビームスプリッタ、5−1,5−2…ミ
ラー。
Claims (1)
- 【請求項1】信号送信用光源回路と信号受信用受光回路
を伝送路の両端に一対ずつ配置する光伝送方式におい
て、 角度θで入射した光ビームに対して無電界時にS波を通
過させP波を反射させ電界印加時にP波を通過させS波
を反射する偏波ビームスプリッタを上記送信用光源回路
光源からの出射光ビームに対して角度θで交わる位置に
一枚、これに平行で出射光ビームと交わらない位置に一
枚、出射光ビームに対して角度(π−θ)で交わる位置
に一枚、さらに、信号受信用受光回路への入射光ビーム
に対して角度θで交わる位置に一枚、これに平行で入射
光ビームと交わらない位置に一枚、入射光ビームに対し
て角度(π−θ)で交わる位置に一枚の計6枚が配置さ
れていることを特徴とする光伝送装置試験回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8874687A JP2511265B2 (ja) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | 光伝送装置試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8874687A JP2511265B2 (ja) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | 光伝送装置試験回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63254835A JPS63254835A (ja) | 1988-10-21 |
JP2511265B2 true JP2511265B2 (ja) | 1996-06-26 |
Family
ID=13951474
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8874687A Expired - Fee Related JP2511265B2 (ja) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | 光伝送装置試験回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2511265B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109314585A (zh) * | 2016-04-21 | 2019-02-05 | 希尔莱特有限责任公司 | 无线数据链路的维护 |
-
1987
- 1987-04-13 JP JP8874687A patent/JP2511265B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63254835A (ja) | 1988-10-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |