JPS6282338A - 光フアイバ試験装置 - Google Patents
光フアイバ試験装置Info
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- JPS6282338A JPS6282338A JP60223270A JP22327085A JPS6282338A JP S6282338 A JPS6282338 A JP S6282338A JP 60223270 A JP60223270 A JP 60223270A JP 22327085 A JP22327085 A JP 22327085A JP S6282338 A JPS6282338 A JP S6282338A
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- light
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- optical fiber
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3181—Reflectometers dealing with polarisation
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- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、０ＴＤＲ法を用いた光ファイバ試験装置の改
善に関するものである。
善に関するものである。
（従来の技術）
第４図は従来の０ＴＤＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ ７ｉｍｅ
［）ｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ）
法を用いた光ファイバ試験部＠（青山他［単一モード光
ファイバ破断点探索法の検討ｊ電子通信学会技報Ｃ３８
１−４３）を示す構成ブロック図である。パルス発生器
１２により駆動される半導体レーザ１からの光パルスは
方向性結合器１１０を通って被測定ファイバ６に入射し
、ファイバ内のレイリー散乱によって生じた後方散乱光
は再び方向性結合器１１０を通って受光素子５に入射し
充電変換される。受光素子５の電気出力は増幅器って増
幅後平均化処理回路１２０で少数の光パルスに対応する
検出信号が平均化され、表示装置１３０で表示される。
［）ｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ）
法を用いた光ファイバ試験部＠（青山他［単一モード光
ファイバ破断点探索法の検討ｊ電子通信学会技報Ｃ３８
１−４３）を示す構成ブロック図である。パルス発生器
１２により駆動される半導体レーザ１からの光パルスは
方向性結合器１１０を通って被測定ファイバ６に入射し
、ファイバ内のレイリー散乱によって生じた後方散乱光
は再び方向性結合器１１０を通って受光素子５に入射し
充電変換される。受光素子５の電気出力は増幅器って増
幅後平均化処理回路１２０で少数の光パルスに対応する
検出信号が平均化され、表示装置１３０で表示される。
上記の装置により光ファイバ内のレイリー散乱によって
生ずる後方散乱光を観測することにより、光ファイバの
破断点探索や光ファイバの損失および接続損失の測定等
を行うことができる。
生ずる後方散乱光を観測することにより、光ファイバの
破断点探索や光ファイバの損失および接続損失の測定等
を行うことができる。
上記の装置において光源となる半導体レーザからの光は
直線偏波であり、これが例えば方解石のような異方性結
晶からなる方向性結合器を通って光ファイバの入射端に
到達する。光ファイバ６の入射端で生ずる反射光は入射
光と同じ偏波面を有するので、受光素子５には大綱しな
い。
直線偏波であり、これが例えば方解石のような異方性結
晶からなる方向性結合器を通って光ファイバの入射端に
到達する。光ファイバ６の入射端で生ずる反射光は入射
光と同じ偏波面を有するので、受光素子５には大綱しな
い。
（発明が解決しようとする問題点）
しかしながら、光ファイバ６の（々方散乱光は無倫波で
あるため、光方向性結合器における挿入屓失は理想的な
場合でも３ｄＢもある。これは非常に微小な信号を観測
する場合に、Ｓ／Ｎ比が悪化し障害点探索距離が短くな
るという問題点を生ずる。
あるため、光方向性結合器における挿入屓失は理想的な
場合でも３ｄＢもある。これは非常に微小な信号を観測
する場合に、Ｓ／Ｎ比が悪化し障害点探索距離が短くな
るという問題点を生ずる。
本発明は上記の問題点を解決するためになされたもので
、信号光の損失が少なく、Ｓ／Ｎ比の向上により、信号
処理部での負担が軽減され、障害点探索距離の長い光フ
ァイバ試験装置を実現することを目的としている。
、信号光の損失が少なく、Ｓ／Ｎ比の向上により、信号
処理部での負担が軽減され、障害点探索距離の長い光フ
ァイバ試験装置を実現することを目的としている。
（問題点を解決するための手段）
本発明は光源からの光を被測定ファイバに入射し被測定
ファイバの後方散乱光を検出することにより被測定ファ
イバの状態を観測する光ファイバ試験ＩＩに係るもので
、その特徴とするところは被測定ファイバの後方散乱光
を入力して互いに垂直な偏波面を有する２つの出力光に
分離する第１の偏光スプリッタと、この第１の偏光スプ
リッタの一方の出力の偏波面を直角に回転する偏波面変
換手段と、この偏波面変換手段の出力を反射する第２の
偏光スプリッタと、２つの前記偏光スプリッタの出力を
加陣する加算手段と、前記光源および前記偏波面変換素
子を利郊する手段とを備えた点にある。
ファイバの後方散乱光を検出することにより被測定ファ
イバの状態を観測する光ファイバ試験ＩＩに係るもので
、その特徴とするところは被測定ファイバの後方散乱光
を入力して互いに垂直な偏波面を有する２つの出力光に
分離する第１の偏光スプリッタと、この第１の偏光スプ
リッタの一方の出力の偏波面を直角に回転する偏波面変
換手段と、この偏波面変換手段の出力を反射する第２の
偏光スプリッタと、２つの前記偏光スプリッタの出力を
加陣する加算手段と、前記光源および前記偏波面変換素
子を利郊する手段とを備えた点にある。
（作用）
上記のような構成によれば、第１ ｉｊ３よび第２の偏
光スプリッタの出力を受光することにより後方散乱光に
含まれる２つの偏波成分を利用でき、より強い観測信号
を得ることができる。
光スプリッタの出力を受光することにより後方散乱光に
含まれる２つの偏波成分を利用でき、より強い観測信号
を得ることができる。
（実施例）
以下本発明を図面を用いて詳しく説明する。
第１図は本発明に係る光ファイバ試験装置の一実施例を
示す構成ブロック図である。１は半導体レーデからなる
光源、２１〜２４は集光レンズ、３２．３１は前記光源
からの光路上に前記光源の出力と偏波面が同一方向とな
るように配置された偏光プリズムからなる第１．第２の
偏光スプリッタ、４はこの偏光スプリッタ３１と３２の
間に配置された偏波面変換素子、６は被測定光ファイバ
、５２．５１は前記レンズ２４．２３からの光出力をそ
れぞれ入射する受光素子、９１．９２はこの受光素子５
１．５２からの電気出力をへカする増幅器、１０はこの
増幅器９１．９２の出力を加算する加算器、１１はこの
加算器の出力が接続する信号処理回路、１３は前記偏波
面変換素子４を制御するυ制御回路、１２は前記光源１
を駆＃するとともに前記制御回路１３および前記信号処
理回路１１にトリが信号を出力するパルス発生器である
。
示す構成ブロック図である。１は半導体レーデからなる
光源、２１〜２４は集光レンズ、３２．３１は前記光源
からの光路上に前記光源の出力と偏波面が同一方向とな
るように配置された偏光プリズムからなる第１．第２の
偏光スプリッタ、４はこの偏光スプリッタ３１と３２の
間に配置された偏波面変換素子、６は被測定光ファイバ
、５２．５１は前記レンズ２４．２３からの光出力をそ
れぞれ入射する受光素子、９１．９２はこの受光素子５
１．５２からの電気出力をへカする増幅器、１０はこの
増幅器９１．９２の出力を加算する加算器、１１はこの
加算器の出力が接続する信号処理回路、１３は前記偏波
面変換素子４を制御するυ制御回路、１２は前記光源１
を駆＃するとともに前記制御回路１３および前記信号処
理回路１１にトリが信号を出力するパルス発生器である
。
前記偏波面変換素子４としてここでは電気的に制御ｌｌ
′することによって偏波面を直交する方向に変える、ポ
ッケルス効果やカー効果などの電気光学効果を利用した
もの（ＰＬＺＴ、液晶など）を用いている。また前記レ
ンズ２３．２４．２つの受光素子５１，５２、増幅器９
１．９２および加算器１０は加算手段を構成する。
′することによって偏波面を直交する方向に変える、ポ
ッケルス効果やカー効果などの電気光学効果を利用した
もの（ＰＬＺＴ、液晶など）を用いている。また前記レ
ンズ２３．２４．２つの受光素子５１，５２、増幅器９
１．９２および加算器１０は加算手段を構成する。
このような構成の光ファイバ試験装置の動作を次に説明
する。第２図は第１図装置の動作を説明するためのタイ
ムチャートである。時刻１ｏでバルス発生器１２の出力
パルスが発生（第２図（△））し、この出力パルスが終
了づ′る時刻１．に制御回路１３の駆動出力がオンとな
る。半導体レーザ１からの光パルス出力（第２図（Ａ）
）は直線偏光なのでレンズ２１で集光されたのち偏光ス
プリッタ３１を通過する。このとき第２図（Ｂ）に示ず
ように、制御回路１３は偏波面変換素子４を駆動しない
ので、偏光スプリッタ３１の出力光は偏波面変換索子４
をそのまま通過し、さらに偏光スプリッタ３２．レンズ
２２を通過して被測定ファイバ６に入射する。被測定フ
ァイバ６内で生じた後方散乱光は無偏光で、レンズ２２
を通った後垂直（偏波成分（図のＯマークのついた光）
は偏光スプリッタ３２内で反射し、レンズ２３を介して
受光素子５１に入射する。水平偏波成分（図の１７−ク
のついた光）は偏光スプリッタ３２内を直進して偏波可
変Ｓ素子４に入射する。このとき偏波面変換素子４は制
御回路１３により駆動されている（第２図（Ｂ））から
、偏光スプリッタ３２からの水平偏波成分は偏波面を回
転されて垂直偏波成分となり、偏光スプリッタ３１で反
射され、レンズ２４を介して受光素子５２に入射する。
する。第２図は第１図装置の動作を説明するためのタイ
ムチャートである。時刻１ｏでバルス発生器１２の出力
パルスが発生（第２図（△））し、この出力パルスが終
了づ′る時刻１．に制御回路１３の駆動出力がオンとな
る。半導体レーザ１からの光パルス出力（第２図（Ａ）
）は直線偏光なのでレンズ２１で集光されたのち偏光ス
プリッタ３１を通過する。このとき第２図（Ｂ）に示ず
ように、制御回路１３は偏波面変換素子４を駆動しない
ので、偏光スプリッタ３１の出力光は偏波面変換索子４
をそのまま通過し、さらに偏光スプリッタ３２．レンズ
２２を通過して被測定ファイバ６に入射する。被測定フ
ァイバ６内で生じた後方散乱光は無偏光で、レンズ２２
を通った後垂直（偏波成分（図のＯマークのついた光）
は偏光スプリッタ３２内で反射し、レンズ２３を介して
受光素子５１に入射する。水平偏波成分（図の１７−ク
のついた光）は偏光スプリッタ３２内を直進して偏波可
変Ｓ素子４に入射する。このとき偏波面変換素子４は制
御回路１３により駆動されている（第２図（Ｂ））から
、偏光スプリッタ３２からの水平偏波成分は偏波面を回
転されて垂直偏波成分となり、偏光スプリッタ３１で反
射され、レンズ２４を介して受光素子５２に入射する。
受光素子５１．５２の電気出力は増幅ＦＪ９１．９２で
増幅後加簿器１０で加算され、信号処理回路１１で平均
化処Ｉｇ！などを施される。
増幅後加簿器１０で加算され、信号処理回路１１で平均
化処Ｉｇ！などを施される。
このような構成の装置によれば、後方散乱光のうち従来
利用していなかった偏波成分ら同時に受光するのでより
強い観測信号を得ることができる。
利用していなかった偏波成分ら同時に受光するのでより
強い観測信号を得ることができる。
この結果従来のものより（光学的損失がないとした場合
ｆｆ倍）Ｓ／Ｎ比を向上させることができ、障害点探索
距離を延ばすことができる。
ｆｆ倍）Ｓ／Ｎ比を向上させることができ、障害点探索
距離を延ばすことができる。
なお上記の実施例では偏波面変換索子４として電気光学
効果を利用したものを用いているが、これに限らず、フ
ァラデー効果などの磁気光学効果を利用したものを用い
てもよい。
効果を利用したものを用いているが、これに限らず、フ
ァラデー効果などの磁気光学効果を利用したものを用い
てもよい。
第３図は本発明の他の実施例で２つの偏波面出力を光学
的に合成したしのを示す構成ブロック図である。第１図
と同一の部分は同じ記号を（Ｉ して説明を省略する。
的に合成したしのを示す構成ブロック図である。第１図
と同一の部分は同じ記号を（Ｉ して説明を省略する。
ここでミラー７．１／２波長板８、第３の偏光スプリッ
タ３３、レンズ２３および受光素子５とから加算手段が
構成されている。
タ３３、レンズ２３および受光素子５とから加算手段が
構成されている。
偏光スプリッタ３１から出力される垂直偏波成分はミラ
ー７で反則されて１／２波長板８に人制し、ここで水平
偏波成分に変えられる。偏光スプリッタ３２から出力さ
れる垂直偏波成分は１／２波長板８からの水平偏波成分
とともに第３の偏光スプリッタ３３で合成され、レンズ
２３で受光素子５に収束する。
ー７で反則されて１／２波長板８に人制し、ここで水平
偏波成分に変えられる。偏光スプリッタ３２から出力さ
れる垂直偏波成分は１／２波長板８からの水平偏波成分
とともに第３の偏光スプリッタ３３で合成され、レンズ
２３で受光素子５に収束する。
このような構成の光ファイバ試験ｌｌによればＳ／Ｎ比
は、光学系の損失が無いとした場合、従来より２ （８
改善される。
は、光学系の損失が無いとした場合、従来より２ （８
改善される。
また上記の各実施例装賃において、（−波面変換素子４
のスイッチング時間遅れが問題になる場合には、レンズ
２２と被測定ファイバとの間にダミーファイバを挿入す
るとともにパルス発生器１２の出力に遅延回路を挿入し
て信号処理回路１１へのトリガ信号を遅延することで時
間遅れを補償することができる。
のスイッチング時間遅れが問題になる場合には、レンズ
２２と被測定ファイバとの間にダミーファイバを挿入す
るとともにパルス発生器１２の出力に遅延回路を挿入し
て信号処理回路１１へのトリガ信号を遅延することで時
間遅れを補償することができる。
（発明の効果）
以上述べたように本発明によれば、信号光の１１失が少
なく、Ｓ／Ｎ比の向上により、信号処理部での負担が軽
減され、障害点の探索距離の良い光ファイバ試験装置を
実現することができる。
なく、Ｓ／Ｎ比の向上により、信号処理部での負担が軽
減され、障害点の探索距離の良い光ファイバ試験装置を
実現することができる。
第１図は本発明に係わる光ファイバ試験装置の一実茄例
を示す構成ブロック図、第２図は第１図装置の動作を説
明するためのタイムチャート、第３図は本発明の第２の
実施例を示す構成ブｌコック図、第４図は従来の光ファ
イバ試験装置を示す構成ブロック図である。 １・・・光源、４・・・偏波面変換素子、６・・・被測
定ファイバ、３１・・・第２の偏光スプリッタ、３２・
・・第１の偏光スプリッタ。
を示す構成ブロック図、第２図は第１図装置の動作を説
明するためのタイムチャート、第３図は本発明の第２の
実施例を示す構成ブｌコック図、第４図は従来の光ファ
イバ試験装置を示す構成ブロック図である。 １・・・光源、４・・・偏波面変換素子、６・・・被測
定ファイバ、３１・・・第２の偏光スプリッタ、３２・
・・第１の偏光スプリッタ。
Claims (4)
- （１）光源からの光を被測定ファイバに入射し被測定フ
ァイバの後方散乱光を検出することにより被測定ファイ
バの状態を観測する光ファイバ試験装置において、 被測定ファイバの後方散乱光を入力して互いに垂直な偏
波面を有する２つの出力光に分離する第１の偏光スプリ
ッタと、この第１の偏光スプリッタの一方の出力の偏波
面を直角に回転する偏波面変換手段と、この偏波面変換
手段の出力を反射する第２の偏光スプリッタと、２つの
前記偏光スプリッタの出力を加算する加算手段と、前記
光源および前記偏波面変換素子を制御する手段とを備え
たことを特徴とする光ファイバ試験装置。 - （２）加算手段が２つの前記偏光スプリッタの出力を受
光する２つの受光素子と、この受光素子の電気出力を加
算する加算器とを備えた特許請求の範囲第１項記載の光
ファイバ試験装置。 - （３）加算手段が一方の前記偏光スプリッタの出力の偏
光面を９０°回転させる１／２波長板と、この１／２波
長板の出力と他方の前記偏光スプリッタの出力を合成す
る第３の偏光スプリッタと、この第３の偏光スプリッタ
の出力を受光する受光素子とを備えた特許請求の範囲第
１項記載の光ファイバ試験装置。 - （４）レーザ光源からの直線偏波光を前記２つの偏光ス
プリッタの偏波面に対応させて入射する特許請求の範囲
第１項記載の光ファイバ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60223270A JPS6282338A (ja) | 1985-10-07 | 1985-10-07 | 光フアイバ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60223270A JPS6282338A (ja) | 1985-10-07 | 1985-10-07 | 光フアイバ試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6282338A true JPS6282338A (ja) | 1987-04-15 |
| JPH058979B2 JPH058979B2 (ja) | 1993-02-03 |
Family
ID=16795485
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60223270A Granted JPS6282338A (ja) | 1985-10-07 | 1985-10-07 | 光フアイバ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6282338A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4899045A (en) * | 1988-05-24 | 1990-02-06 | Hi-Shear Corporation | Multiple channel fiber optic continuity test system |
| JPH0529789U (ja) * | 1991-09-30 | 1993-04-20 | セーラー万年筆株式会社 | 筆記具用キヤツプ |
| JPH0532746Y2 (ja) * | 1987-10-29 | 1993-08-20 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5712088A (en) * | 1980-06-27 | 1982-01-21 | Toa Gurauto Kogyo Kk | Stabilizing agent for excavation surface |
| JPS6236529A (ja) * | 1985-08-12 | 1987-02-17 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光パルス試験器 |
-
1985
- 1985-10-07 JP JP60223270A patent/JPS6282338A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5712088A (en) * | 1980-06-27 | 1982-01-21 | Toa Gurauto Kogyo Kk | Stabilizing agent for excavation surface |
| JPS6236529A (ja) * | 1985-08-12 | 1987-02-17 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光パルス試験器 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0532746Y2 (ja) * | 1987-10-29 | 1993-08-20 | ||
| US4899045A (en) * | 1988-05-24 | 1990-02-06 | Hi-Shear Corporation | Multiple channel fiber optic continuity test system |
| JPH0529789U (ja) * | 1991-09-30 | 1993-04-20 | セーラー万年筆株式会社 | 筆記具用キヤツプ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH058979B2 (ja) | 1993-02-03 |
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