JPS6236529A - 光パルス試験器 - Google Patents
光パルス試験器Info
- Publication number
- JPS6236529A JPS6236529A JP17706885A JP17706885A JPS6236529A JP S6236529 A JPS6236529 A JP S6236529A JP 17706885 A JP17706885 A JP 17706885A JP 17706885 A JP17706885 A JP 17706885A JP S6236529 A JPS6236529 A JP S6236529A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- input
- output port
- light
- axis
- optical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3181—Reflectometers dealing with polarisation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は高精度の元パルス試験器に閃するものである。
従来、この楓の装置は、基本的に第９図の構成となって
いる。パルス発振光源５かも出射し走光６はレンズ４で
平行光にされ方向性光結合器３を通り、集光レンズ２に
よって被測定光ファイバｌに入射される。光ファイバ１
からもどってくる後方散乱光７は方向性光結合器３によ
って光路を８のように偏向されて、光検出器に導ひかれ
、元パルスが元ファイバ１に入射されてからの時間に対
する後方散乱光の強度が、第５図に示すような光フアイ
バ長りに対する後方散乱光の強度ｒとして測定さｎる。
いる。パルス発振光源５かも出射し走光６はレンズ４で
平行光にされ方向性光結合器３を通り、集光レンズ２に
よって被測定光ファイバｌに入射される。光ファイバ１
からもどってくる後方散乱光７は方向性光結合器３によ
って光路を８のように偏向されて、光検出器に導ひかれ
、元パルスが元ファイバ１に入射されてからの時間に対
する後方散乱光の強度が、第５図に示すような光フアイ
バ長りに対する後方散乱光の強度ｒとして測定さｎる。
このような測定糸において、被測定光ファイバｌが琳−
モードファイバである場合、第５図に示すような、後方
散乱光の強直ゆらぎが生じる。この原因は、パルス発振
光源として高出力のレーザ光源を便用するため、出力光
の干渉性が強いこと、さらに方向性光結合器３が偏波方
向に対する依存性を有するため、被測定光ファイバ中を
元が伝搬するときに一波軸の回転が起こると、後方散乱
光もそれに応じて一波軸の回転を起こ丁からである。
モードファイバである場合、第５図に示すような、後方
散乱光の強直ゆらぎが生じる。この原因は、パルス発振
光源として高出力のレーザ光源を便用するため、出力光
の干渉性が強いこと、さらに方向性光結合器３が偏波方
向に対する依存性を有するため、被測定光ファイバ中を
元が伝搬するときに一波軸の回転が起こると、後方散乱
光もそれに応じて一波軸の回転を起こ丁からである。
こσンよう７２：＠波のゆらぎによる影響を軽減するた
めに、従来装置では、例えば第６図に示すような方法を
用いている。まず変調回路９を用いて。
めに、従来装置では、例えば第６図に示すような方法を
用いている。まず変調回路９を用いて。
パルス発振光源に高周波成分の高い変調なＩｌｌえる。
これによって、第７図に示すように、変調前はｆａ）の
ように狭いスペクトラムであつ念ものが、変調によって
ｔｂ）のように広がり、干渉性が低減される。
ように狭いスペクトラムであつ念ものが、変調によって
ｔｂ）のように広がり、干渉性が低減される。
さらに、光源から発し次元は方向性光結合器３の前に置
かれたデポボラライザ１０によって無偏光にされる。第
ｇ図はこのよう丁を示すもので、デボラライザを通る口
σのパルス光６はある一定方向に強く諸元しているが、
通Ｓ伐１１で示すように無偏光となる。その結果、後方
散乱光も無偏光となるため第９図のような偏成ゆらぎの
小さい測定が呵能となる。
かれたデポボラライザ１０によって無偏光にされる。第
ｇ図はこのよう丁を示すもので、デボラライザを通る口
σのパルス光６はある一定方向に強く諸元しているが、
通Ｓ伐１１で示すように無偏光となる。その結果、後方
散乱光も無偏光となるため第９図のような偏成ゆらぎの
小さい測定が呵能となる。
しかしながら、この従来方法には以下のような欠点があ
つｔ。まず、長距離の測定を行う場合、どうしても高出
力のレーザ光源が必要であり、ＹＡＧレーザ等を使用す
ることになる。このような光源は発振スペクトラムがき
わめて、狭い次めに変調を加えてもほとんど広がること
がな（、効果的なデボラライザを構成することはきわめ
て難しい。そのため、方向性光結合器として、偏波依存
性の小さい音響光学素子等を使用することになるが、そ
れでも、偏波ゆらぎの影響を完全に除去するのは離しい
。まな、牛導体レーザも高出力化、長寿命化、高信頼化
が図られるとともに、発振スペクトラムがきわめて狭く
なる方向にある。−万、無偏光とするために用いるデボ
ラライザは光源のスペクトラムの幅の逆数に比例した長
さの偏波保持ファイバを複数本接続し工作製されるため
、長尺のものが必要となりコストが扁くなるという欠点
がある。
つｔ。まず、長距離の測定を行う場合、どうしても高出
力のレーザ光源が必要であり、ＹＡＧレーザ等を使用す
ることになる。このような光源は発振スペクトラムがき
わめて、狭い次めに変調を加えてもほとんど広がること
がな（、効果的なデボラライザを構成することはきわめ
て難しい。そのため、方向性光結合器として、偏波依存
性の小さい音響光学素子等を使用することになるが、そ
れでも、偏波ゆらぎの影響を完全に除去するのは離しい
。まな、牛導体レーザも高出力化、長寿命化、高信頼化
が図られるとともに、発振スペクトラムがきわめて狭く
なる方向にある。−万、無偏光とするために用いるデボ
ラライザは光源のスペクトラムの幅の逆数に比例した長
さの偏波保持ファイバを複数本接続し工作製されるため
、長尺のものが必要となりコストが扁くなるという欠点
がある。
本発明は、上記の事情に鑑みてなされたもので、その目
的とするところは干渉性の強い光源を使用した時に生じ
る後方散乱光の偏波ゆらぎに対して、偏波ゆらぎの影響
を完全に除去できる元パルス試験器を提供することにあ
る。
的とするところは干渉性の強い光源を使用した時に生じ
る後方散乱光の偏波ゆらぎに対して、偏波ゆらぎの影響
を完全に除去できる元パルス試験器を提供することにあ
る。
かかる目的を達成するなめに、本発明では、パルス発振
光源と元ファイバとを結ぶ光路上に、パルス発振光源側
から順に次の光学素子（イ）、（ロ）、（ハ）を配置し
たものである。
光源と元ファイバとを結ぶ光路上に、パルス発振光源側
から順に次の光学素子（イ）、（ロ）、（ハ）を配置し
たものである。
光学素子（イ）は、パルス発振光源に接続される入出力
ポートＡと、光学素子（ロ）に接続される入出力ポート
Ｂと１．・光２．検８出゛Ｉ器１に接続される出力ポー
トＣとを有し、入出力ポートＡから入力される偏波軸α
に沿う偏波光を入出力ポートＨから出力するとともに、
入出力ポートＢから入力される後方散乱光の偏波軸αと
直交する偏波軸βに沿う偏波成分を出力ポートＣから出
力する光学素子である。
ポートＡと、光学素子（ロ）に接続される入出力ポート
Ｂと１．・光２．検８出゛Ｉ器１に接続される出力ポー
トＣとを有し、入出力ポートＡから入力される偏波軸α
に沿う偏波光を入出力ポートＨから出力するとともに、
入出力ポートＢから入力される後方散乱光の偏波軸αと
直交する偏波軸βに沿う偏波成分を出力ポートＣから出
力する光学素子である。
光学素子（ロ）は１入出力ポー１−Ｂ１７Ｃ接続される
入出力ポートＤと、光学素子ｉ／慢に接続される入出力
ポートＥとを有し、入出力ポートＤから入力される偏波
光の偏波軸をファラデー回転によりに／４回転させて偏
波軸γに沿う偏波光とし入出力ポートＥから出力すると
ともに、入出力ポートＥから入力される後方散乱光の偏
波成分の偏波軸を７アラデ一回転によりπ／４回転させ
て入出力ポートＤから出力する光学素子である。
入出力ポートＤと、光学素子ｉ／慢に接続される入出力
ポートＥとを有し、入出力ポートＤから入力される偏波
光の偏波軸をファラデー回転によりに／４回転させて偏
波軸γに沿う偏波光とし入出力ポートＥから出力すると
ともに、入出力ポートＥから入力される後方散乱光の偏
波成分の偏波軸を７アラデ一回転によりπ／４回転させ
て入出力ポートＤから出力する光学素子である。
また、光学素子（ハ）は、前記入出力ポートＢＩＣ接続
される入出力ポートＦと、元ファイバに接続される入出
力ポートＧと、光検出器に接続される出力ポートＨとを
有し、入出力ポートＦから入力される偏波軸γに沿う偏
波光を入出力ポートＧかも出力するとともに、入出力ポ
ートＧから入力される後方散乱光の偏波軸γに沿う偏波
成分を入出力ポートＦから出力しかつ偏波軸γと直交す
る偏波軸Ｊに沿う偏波成分を出力ポートＨから出力する
光学素子である。
される入出力ポートＦと、元ファイバに接続される入出
力ポートＧと、光検出器に接続される出力ポートＨとを
有し、入出力ポートＦから入力される偏波軸γに沿う偏
波光を入出力ポートＧかも出力するとともに、入出力ポ
ートＧから入力される後方散乱光の偏波軸γに沿う偏波
成分を入出力ポートＦから出力しかつ偏波軸γと直交す
る偏波軸Ｊに沿う偏波成分を出力ポートＨから出力する
光学素子である。
本発明では、パルス発振光源から偏波軸αの方向に偏波
しな（偏波軸αに沿う）光を出力することにより、この
出力光が光学素子（イ）、ρ）、（ハ）を介して偏波軸
γに沿う元となって光ファイバの一端に入射される。こ
のとぎ、元ファイバの一端に戻つてくる後方散乱光は、
入出力ポートＧから光学、素子（ハ）に入力され、ここ
で、偏波軸ｒＶｃ沿う偏波成分（γ軸部波成分）と、偏
波軸ａに沿う偏波成分（ａｆｉＩｌｌ偏波成分）とに分
離されて、γ軸部波成分は光学素子（ロ）に、またａｍ
ｍ波成分は光検出器に入力される。光学素子（ロ）では
、後方散乱光のｒ軸部波成分が、その端波軸を１ｃ／４
回転させられて端波軸βに沿う偏波成分（β軸偏波成分
）となり、このβ軸−波成分は、光学素子（イ）を介し
て光検出器に入力される。つまり、光学素子（ハ）から
出力されるＪ軸部波成分と、光学素子（イ）から出力さ
れるβ軸偏波成分のパワーを同時に測定して合成するこ
とＫよつ、元ファイバの一端に任意の柚円偏光として良
って（る後方散乱光を正確に測定することができる。
しな（偏波軸αに沿う）光を出力することにより、この
出力光が光学素子（イ）、ρ）、（ハ）を介して偏波軸
γに沿う元となって光ファイバの一端に入射される。こ
のとぎ、元ファイバの一端に戻つてくる後方散乱光は、
入出力ポートＧから光学、素子（ハ）に入力され、ここ
で、偏波軸ｒＶｃ沿う偏波成分（γ軸部波成分）と、偏
波軸ａに沿う偏波成分（ａｆｉＩｌｌ偏波成分）とに分
離されて、γ軸部波成分は光学素子（ロ）に、またａｍ
ｍ波成分は光検出器に入力される。光学素子（ロ）では
、後方散乱光のｒ軸部波成分が、その端波軸を１ｃ／４
回転させられて端波軸βに沿う偏波成分（β軸偏波成分
）となり、このβ軸−波成分は、光学素子（イ）を介し
て光検出器に入力される。つまり、光学素子（ハ）から
出力されるＪ軸部波成分と、光学素子（イ）から出力さ
れるβ軸偏波成分のパワーを同時に測定して合成するこ
とＫよつ、元ファイバの一端に任意の柚円偏光として良
って（る後方散乱光を正確に測定することができる。
ちなみに、従来技術のように、後方散乱光に対して、１
つの軸方向に依存した測定を行った場合は、任意の楕円
偏光となってもどって来る後方散乱光のパワーを常に正
確に測定することはできない。
つの軸方向に依存した測定を行った場合は、任意の楕円
偏光となってもどって来る後方散乱光のパワーを常に正
確に測定することはできない。
以下、本発明の一実施例を第１図〜第３図に基づいて説
明する・ 第１図は、本発明に係わる元パルス試験器を概略的に示
すもので、図中符号ｌは元ファイバ、符号５はパルス発
振光源である。これらパルス発振光源５と光ファイバｌ
との間には、パルス発振光源５の側から順に、平行レン
ズ４、方向性光結合素子（光学素子（イ））１４．７ア
ラデ一回転素子（光学素子（ロ））１３．方向性光結合
素子（光学素子（ハ））１２、集束レンズ（後方散乱光
に対しては平行レンズ）２が配置されている。方向性光
結合素子１２の第１図におげろ下端（出力ポートＨ）に
は、第１の光検出器２０が接続され、方向性光結合素子
１４の下端（出カポ−）Ｃ）には、その近端での反射光
を除去する元シャッター１９を介して第２の光検出器２
１が接続されている。そして、これら第１．第２の光検
出器２０．２１は検出光合成用の［気的合成回路２２に
接続されている。
明する・ 第１図は、本発明に係わる元パルス試験器を概略的に示
すもので、図中符号ｌは元ファイバ、符号５はパルス発
振光源である。これらパルス発振光源５と光ファイバｌ
との間には、パルス発振光源５の側から順に、平行レン
ズ４、方向性光結合素子（光学素子（イ））１４．７ア
ラデ一回転素子（光学素子（ロ））１３．方向性光結合
素子（光学素子（ハ））１２、集束レンズ（後方散乱光
に対しては平行レンズ）２が配置されている。方向性光
結合素子１２の第１図におげろ下端（出力ポートＨ）に
は、第１の光検出器２０が接続され、方向性光結合素子
１４の下端（出カポ−）Ｃ）には、その近端での反射光
を除去する元シャッター１９を介して第２の光検出器２
１が接続されている。そして、これら第１．第２の光検
出器２０．２１は検出光合成用の［気的合成回路２２に
接続されている。
次いで、このように構成された光パルス試験器の動作を
第２図および第３図を用いて説明する。
第２図および第３図を用いて説明する。
ただし、パルス発振光源５から発するパルス光６は第３
図（ａ）の如（Ｙ軸（＠波軸α）方向に偏光しているも
のとする。
図（ａ）の如（Ｙ軸（＠波軸α）方向に偏光しているも
のとする。
パルス発振光源５から出力されたパルス光（＠波光）６
は、平行レンズ４を介して方向性光結合素子１４にその
右側（入出力ポートＡ）から入力される。方向性光結合
素子１４の１つの軸をＹ軸と丁れば、パルス光６は低損
失で方向性光結合素子１４を通過してその左端（入出力
ポートＢ）から出力される。方向性光結合素子１４０例
としては、ロツションプリズム等があげられる。方向性
光結合素子１４から出力された光はファラデー回転素子
１３にその右端（入出力ポートＤ）から入力され、これ
を通過する時に第３図（ｂ）に示すように、その偏波軸
がｔＩ５°回転させられ、さらＫ。
は、平行レンズ４を介して方向性光結合素子１４にその
右側（入出力ポートＡ）から入力される。方向性光結合
素子１４の１つの軸をＹ軸と丁れば、パルス光６は低損
失で方向性光結合素子１４を通過してその左端（入出力
ポートＢ）から出力される。方向性光結合素子１４０例
としては、ロツションプリズム等があげられる。方向性
光結合素子１４から出力された光はファラデー回転素子
１３にその右端（入出力ポートＤ）から入力され、これ
を通過する時に第３図（ｂ）に示すように、その偏波軸
がｔＩ５°回転させられ、さらＫ。
その左端（入出力ポートｇ）から出力されて被測定光ブ
アイ・バｌへの入射光１５となる。入射光１５は集光レ
ンズ２に導びかれる前に、方向性元結合素子１２を通過
する。方向性光結合素子１２は１４と同じ素子であり、
その偏光軸は方向性光結合素子１４に対して≠５°傾い
ており、入射光１５の偏波軸（γ）と一致するように固
定されている。
アイ・バｌへの入射光１５となる。入射光１５は集光レ
ンズ２に導びかれる前に、方向性元結合素子１２を通過
する。方向性光結合素子１２は１４と同じ素子であり、
その偏光軸は方向性光結合素子１４に対して≠５°傾い
ており、入射光１５の偏波軸（γ）と一致するように固
定されている。
従って、入射光１５は方向性光結合素子１４の右端（入
出力ポートＦ）から入力され、低損失で方向性光結合素
子１２を通過して左端（入出力ポートＧ）から出力され
る。
出力ポートＦ）から入力され、低損失で方向性光結合素
子１２を通過して左端（入出力ポートＧ）から出力され
る。
一方、被測定ファイバ１からもどって来る後方散乱光７
は集束レンズ２によって平行光にされ、方向性光結合素
子１２にその左端から入力される。
は集束レンズ２によって平行光にされ、方向性光結合素
子１２にその左端から入力される。
後方散乱光は第２図及び第３図（ｂ）に破線で示されて
いる。後方散乱光７の偏光状態を任意のベクトルとして
第３図（ｂ）のように仮定すると、方向性光結合素子１
２によって、直交する２つの偏波軸（Ｏｉ！波軸γと偏
波軸Ｊ）に沿う偏波成分１６と１７に分離される。この
うち、偏波成分１６（δ軸偏波成分）は光路を偏向され
て方向性光結合素子１２の下端から第１の光検出器２０
に入力される。一方間波成分１７（γ軸部波成分）は、
入射光１５と同じｌＡ１１ｅ４ＩｌＩｌｌトナルタメ、
入射光１５とは逆向きに伝搬し、ファラデー回転素子１
３を通過する。ファラデー回転子１３を通過する時、第
３図（ｂ）に示すように、後方散乱光１７の偏光軸は≠
５０だけ回転させられ、Ｘ軸（偏波軸β〕と平行な後方
散乱光１８となる。後方散乱光１８が次に、方向性光結
合素子１４に導びかれた時、第を図からもわかるように
、光源５から発したパルス光６の偏波軸（（４）と垂直
な偏光状態となるため、方向性光結合素子１４によって
光路を偏向され、方向性結合素子１２の下端から第２の
光検出器２１に入力される。従って、光検出器２０．２
１に導びかれる偏波成分１６．１８の合成パワーは、後
方散乱光の偏光状態にかかわらず、常に後方散乱光全体
のパワーになる。
いる。後方散乱光７の偏光状態を任意のベクトルとして
第３図（ｂ）のように仮定すると、方向性光結合素子１
２によって、直交する２つの偏波軸（Ｏｉ！波軸γと偏
波軸Ｊ）に沿う偏波成分１６と１７に分離される。この
うち、偏波成分１６（δ軸偏波成分）は光路を偏向され
て方向性光結合素子１２の下端から第１の光検出器２０
に入力される。一方間波成分１７（γ軸部波成分）は、
入射光１５と同じｌＡ１１ｅ４ＩｌＩｌｌトナルタメ、
入射光１５とは逆向きに伝搬し、ファラデー回転素子１
３を通過する。ファラデー回転子１３を通過する時、第
３図（ｂ）に示すように、後方散乱光１７の偏光軸は≠
５０だけ回転させられ、Ｘ軸（偏波軸β〕と平行な後方
散乱光１８となる。後方散乱光１８が次に、方向性光結
合素子１４に導びかれた時、第を図からもわかるように
、光源５から発したパルス光６の偏波軸（（４）と垂直
な偏光状態となるため、方向性光結合素子１４によって
光路を偏向され、方向性結合素子１２の下端から第２の
光検出器２１に入力される。従って、光検出器２０．２
１に導びかれる偏波成分１６．１８の合成パワーは、後
方散乱光の偏光状態にかかわらず、常に後方散乱光全体
のパワーになる。
つまり、パルス発振光源からの元を低損失で被測定ファ
イバに送り込めるとともに、該ファイバからの後方散乱
光の全パワーを−ｙＣ状頭にかかわらず常に測定できる
ため、従来の元パルス試験器のよう７２偏波ゆらぎのな
い測定かり能となる。
イバに送り込めるとともに、該ファイバからの後方散乱
光の全パワーを−ｙＣ状頭にかかわらず常に測定できる
ため、従来の元パルス試験器のよう７２偏波ゆらぎのな
い測定かり能となる。
なお、図中のベクトル番号はそれぞれ伝搬光の番号に対
応する。
応する。
以上説明しなように本発明によれば、偏波軸αの方向Ｖ
Ｃ＠光しｔ元をパルス発振源から出力することにより、
光学素子（イ）と光学素子（ハ）から後方散乱光の二軸
方向の偏波成分を検出することができるので、これら雨
間波成分を合成することにより、後方散乱光のパワーを
その偏光状態（偏波ゆらぎ）に無関係に正確に測定する
ことかでざる。従って従来、パルス試験器の光源として
、使用が難しかった、扁出力のガスレーザや固体レーザ
な便用することかでき、きわめて長距離の測定が可能と
なる利点がある。
Ｃ＠光しｔ元をパルス発振源から出力することにより、
光学素子（イ）と光学素子（ハ）から後方散乱光の二軸
方向の偏波成分を検出することができるので、これら雨
間波成分を合成することにより、後方散乱光のパワーを
その偏光状態（偏波ゆらぎ）に無関係に正確に測定する
ことかでざる。従って従来、パルス試験器の光源として
、使用が難しかった、扁出力のガスレーザや固体レーザ
な便用することかでき、きわめて長距離の測定が可能と
なる利点がある。
第１図〜第３図は本発明の一実施例を示し、第１図は概
略構ｒＬ図、第２図は動作を説明するための概略図、第
３図（ａ） （ｂ）は第２図における伝搬光の偏波方向
をベクトルで表わした図、第１図は元パルス試験器の原
理図、第５図は被測定ファイバに単一モードファイバを
用いた時の偏波ゆらぎを表わ丁図、第６図は従来の光パ
ルス試験器の概略構成図、第７図は光源を変調すること
によるスペクトラムの拡大を表わす図、第に図はデボラ
ライザによる無＠党化の略図、第７図は無偏光パルスを
用いな後方散乱光の距離特性を示す図である。 ｌ・・・・・・元ファイバ、２・・・・・・集光又は平
行レンズ、４・・・・・・平行レンズ、５・・・・・・
パルス発振光ｍ、１２・・・・・・方向性光結合素子（
光学素子（ハ））、１３・・・・・・７アラデ一回転素
子（光学素子（ロ））、１４・・・・・・方向性光結合
素子（光学素子（イ））Ｊ、１９・・・・・・元シャッ
ター、２０・・・・・・（第１の）光検出器、２１・・
・・・・（第２の）光検出器、２２・・・・・・電気的
合成回路。 （ｏ） 第３図 ３．。 第４図 第５図 第６図 入 入 第８図 第９図
略構ｒＬ図、第２図は動作を説明するための概略図、第
３図（ａ） （ｂ）は第２図における伝搬光の偏波方向
をベクトルで表わした図、第１図は元パルス試験器の原
理図、第５図は被測定ファイバに単一モードファイバを
用いた時の偏波ゆらぎを表わ丁図、第６図は従来の光パ
ルス試験器の概略構成図、第７図は光源を変調すること
によるスペクトラムの拡大を表わす図、第に図はデボラ
ライザによる無＠党化の略図、第７図は無偏光パルスを
用いな後方散乱光の距離特性を示す図である。 ｌ・・・・・・元ファイバ、２・・・・・・集光又は平
行レンズ、４・・・・・・平行レンズ、５・・・・・・
パルス発振光ｍ、１２・・・・・・方向性光結合素子（
光学素子（ハ））、１３・・・・・・７アラデ一回転素
子（光学素子（ロ））、１４・・・・・・方向性光結合
素子（光学素子（イ））Ｊ、１９・・・・・・元シャッ
ター、２０・・・・・・（第１の）光検出器、２１・・
・・・・（第２の）光検出器、２２・・・・・・電気的
合成回路。 （ｏ） 第３図 ３．。 第４図 第５図 第６図 入 入 第８図 第９図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 パルス発振光源の出力光を光ファイバの一端から入射し
、前記一端に戻ってくる後方散乱光を光検出器により検
出する光パルス試験器において、前記パルス発振光源と
光ファイバとを結ぶ光路上に、パルス発振光源側から順
に下記の光学素子（イ）、（ロ）、（ハ）を配置したこ
とを特徴とする光パルス試験器。 （イ）前記パルス発振光源に接続される入出力ポートＡ
と、光学素子（ロ）に接続される入出力ポートＢと、前
記光検出器に接続される出力ポートＣとを有し、入出力
ポートＡから入力される偏波軸αに沿う偏波光を入出力
ポートＢから出力するとともに、入出力ポートＢから入
力される後方散乱光の偏波軸αと直交する偏波軸βに沿
う偏波成分を出力ポートＣから出力する光学素子。 （ロ）前記入出力ポートＢに接続される入出力ポートＤ
と、光学素子（ハ）に接続される入出力ポートＥとを有
し、入出力ポートＤから入力される偏波光の偏波軸をフ
ァラデー回転によりπ／４回転させて偏波軸γに沿う偏
波光とし入出力ポートＥから出力するとともに、入出力
ポートＥから入力される後方散乱光の偏波成分の偏波軸
をファラデー回転によりπ／４回転させて入出力ポート
Ｄから出力する光学素子。 （ハ）前記入出力ポートＥに接続される入出力ポートＦ
と、光ファイバに接続される入出力ポートＧと、光検出
器に接続される出力ポートＨとを有し、入出力ポートＦ
から入力される偏波軸γに沿う偏波光を入出力ポートＧ
から出力するとともに、入出力ポートＧから入力される
後方散乱光の偏波軸γに沿う偏波成分を入出力ポートＦ
から出力しかつ偏波軸γと直交する偏波軸δに沿う偏波
成分を出力ポートＨから出力する光学素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17706885A JPS6236529A (ja) | 1985-08-12 | 1985-08-12 | 光パルス試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17706885A JPS6236529A (ja) | 1985-08-12 | 1985-08-12 | 光パルス試験器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6236529A true JPS6236529A (ja) | 1987-02-17 |
Family
ID=16024556
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17706885A Pending JPS6236529A (ja) | 1985-08-12 | 1985-08-12 | 光パルス試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6236529A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6282338A (ja) * | 1985-10-07 | 1987-04-15 | Yokogawa Electric Corp | 光フアイバ試験装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5712088A (en) * | 1980-06-27 | 1982-01-21 | Toa Gurauto Kogyo Kk | Stabilizing agent for excavation surface |
-
1985
- 1985-08-12 JP JP17706885A patent/JPS6236529A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5712088A (en) * | 1980-06-27 | 1982-01-21 | Toa Gurauto Kogyo Kk | Stabilizing agent for excavation surface |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6282338A (ja) * | 1985-10-07 | 1987-04-15 | Yokogawa Electric Corp | 光フアイバ試験装置 |
| JPH058979B2 (ja) * | 1985-10-07 | 1993-02-03 | Yokogawa Electric Corp |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4529313A (en) | Ring interferometer | |
| US5834933A (en) | Method for magnetooptic current measurement and magnetooptic current-measuring device | |
| JPH08240792A (ja) | ビーム出力装置およびビーム出力方法 | |
| CA1240174A (en) | Method of and device for real time measurement of the state of polarization of a quasi-monochromatic light beam | |
| KR20110022434A (ko) | 광변류기 및 이의 신호처리방법 | |
| US4832492A (en) | Heterodyne michelson interferometer for polarization measurements | |
| JPS6236529A (ja) | 光パルス試験器 | |
| RU2638582C1 (ru) | Двухканальная интерферометрическая система для исследования ударно-волновых процессов | |
| JPH067071B2 (ja) | 光スペクトル測定装置 | |
| WO1994000768A1 (en) | Optical current sensor | |
| US6495999B1 (en) | Method and device for measuring a magnetic field with the aid of the faraday effect | |
| JPS60173429A (ja) | 偏波分散測定方法および装置 | |
| CN113776567B (zh) | 一种基于光频域反射计的偏振衰落消除装置及方法 | |
| JP3301324B2 (ja) | 光電圧・電界センサ | |
| JPS5940277A (ja) | 偏波面保存光フアイバ形磁界センサ | |
| JP4713769B2 (ja) | 半導体レーザの高周波重畳動作検査装置 | |
| JPS60147627A (ja) | 偏波保持光フアイバの特性測定方法および装置 | |
| JPS5935156A (ja) | 光変流器 | |
| JPS6126875A (ja) | 磁界測定装置 | |
| JPS63243704A (ja) | 変位の光学的測定方法およびその装置 | |
| Weber et al. | Ultra-high-bandwidth polarization interferometry and optimal quadratic phase detection | |
| JPH0352911B2 (ja) | ||
| JPS6195224A (ja) | 光フアイバの試験方法および装置 | |
| JPS607333A (ja) | 偏波保持光フアイバの測定方法および装置 | |
| JPS63157023A (ja) | レ−ザ光のスペクトル線幅測定装置 |