JPH0611415A - 偏光依存性測定方法及び装置 - Google Patents
偏光依存性測定方法及び装置Info
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- JPH0611415A JPH0611415A JP4167885A JP16788592A JPH0611415A JP H0611415 A JPH0611415 A JP H0611415A JP 4167885 A JP4167885 A JP 4167885A JP 16788592 A JP16788592 A JP 16788592A JP H0611415 A JPH0611415 A JP H0611415A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】光増幅伝送システム，光アイソレータ，光ファ
イバカプラ等の光デバイスにおいて、全ての偏光状態に
おける被測定物の高精度な偏光依存性を測定する方法及
び装置を提供する。 【構成】光源手段１から出力された光信号Ｓ１を、偏光
制御手段２により全ての偏光状態を作り出して回転させ
て、被測定物３を通過させ、当該被測定物３が存在する
状態の信号光Ｓ２ａ′パワー変動Ｐ１分と被測定物３が
存在しない状態の信号光Ｓ２ｂパワー変動Ｐ０分とを比
較演算することにより、被測定物３以外の機器の偏光依
存性の光パワー変動分を相殺Ｐ１−Ｐ０して、被測定物
の偏光依存性Ｐ２を測定する方法及び装置である。
イバカプラ等の光デバイスにおいて、全ての偏光状態に
おける被測定物の高精度な偏光依存性を測定する方法及
び装置を提供する。 【構成】光源手段１から出力された光信号Ｓ１を、偏光
制御手段２により全ての偏光状態を作り出して回転させ
て、被測定物３を通過させ、当該被測定物３が存在する
状態の信号光Ｓ２ａ′パワー変動Ｐ１分と被測定物３が
存在しない状態の信号光Ｓ２ｂパワー変動Ｐ０分とを比
較演算することにより、被測定物３以外の機器の偏光依
存性の光パワー変動分を相殺Ｐ１−Ｐ０して、被測定物
の偏光依存性Ｐ２を測定する方法及び装置である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光増幅器を利用して光
信号を中継伝送する光増幅伝送システム，光アイソレー
タ，光ファイバカプラ等の光デバイスの偏光依存性損失
（又は利得）特性を測定する方法及びその実施に直接使
用する装置に関する。
信号を中継伝送する光増幅伝送システム，光アイソレー
タ，光ファイバカプラ等の光デバイスの偏光依存性損失
（又は利得）特性を測定する方法及びその実施に直接使
用する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種従来の技術を図面につき説明す
る。図９は従来の偏光依存性損失（又は利得）を測定す
る装置の第１の構成例を示すブロックダイアグラムであ
る。図中、１は信号光Ｓ１を出力する光源、２αは偏光
子２ａとλ／２波長板等のπ位相素子２ｂとからなる偏
光コントローラ、３は測定対象たる被測定物、４は被測
定物３を通過してきた信号光Ｓ２を受信・測定する光受
信測定機である。
る。図９は従来の偏光依存性損失（又は利得）を測定す
る装置の第１の構成例を示すブロックダイアグラムであ
る。図中、１は信号光Ｓ１を出力する光源、２αは偏光
子２ａとλ／２波長板等のπ位相素子２ｂとからなる偏
光コントローラ、３は測定対象たる被測定物、４は被測
定物３を通過してきた信号光Ｓ２を受信・測定する光受
信測定機である。
【０００３】図１０は従来の偏光依存性損失（又は利
得）を測定する装置の第２の構成例を示すブロックダイ
アグラムである。図中、２βはλ／４波長板等のπ／２
位相素子２ｃとλ／２波長板等のπ位相素子２ｂとから
なる偏光コントローラである。なお、前記第１の従来例
と同一の部材には同一の符号を付した。
得）を測定する装置の第２の構成例を示すブロックダイ
アグラムである。図中、２βはλ／４波長板等のπ／２
位相素子２ｃとλ／２波長板等のπ位相素子２ｂとから
なる偏光コントローラである。なお、前記第１の従来例
と同一の部材には同一の符号を付した。
【０００４】図１１は従来の偏光依存性損失（又は利
得）を測定する装置の第３の構成例を示すブロックダイ
アグラムである。図中、２γは光ファイバ形位相器２ｄ
と光ファイバ形回転器２ｅとからなる偏光コントローラ
である。なお、前記第１の従来例及び第２の従来例と同
一の部材には同一の符号を付した。
得）を測定する装置の第３の構成例を示すブロックダイ
アグラムである。図中、２γは光ファイバ形位相器２ｄ
と光ファイバ形回転器２ｅとからなる偏光コントローラ
である。なお、前記第１の従来例及び第２の従来例と同
一の部材には同一の符号を付した。
【０００５】従来の偏光依存性測定装置を使用した、測
定の概念を図１２を用いて説明する。従来は、光源１の
出力光Ｓ１の偏光状態を、偏光コントローラ２α，２
β，２γを用いて図１２に示す様に偏光面を回転（角度
を変化）させて、被測定物３を通過させ、光受信機４で
受信された被測定物３の光出力パワー変動の最大値Ｈ及
び最小値Ｌより偏光依存性特性を測定するものであっ
た。
定の概念を図１２を用いて説明する。従来は、光源１の
出力光Ｓ１の偏光状態を、偏光コントローラ２α，２
β，２γを用いて図１２に示す様に偏光面を回転（角度
を変化）させて、被測定物３を通過させ、光受信機４で
受信された被測定物３の光出力パワー変動の最大値Ｈ及
び最小値Ｌより偏光依存性特性を測定するものであっ
た。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところが、図９乃至図
１１に示す従来の偏光依存性測定装置にはそれぞれ、以
下のような問題点が存在した。図９における偏光依存性
測定装置では、光源１の出力信号光Ｓ１を偏光子２ａで
直線偏光状態を作り、それをλ／２波長板等のπ位相素
子２ｂで０〜１８０°機械的に回転させることにより被
測定物３の光出力の最大値Ｈ及び最小値Ｌの差より光出
力変動分を測定していたが、偏光子２ａでは直線偏光状
態しか作れないため、直線偏光状態のみの変化分しか評
価しかできず、さらにλ／２波長板等のπ位相素子２ｂ
の機械的回転に伴う誤差による光出力変動分が含まれる
等の問題点が存在する。
１１に示す従来の偏光依存性測定装置にはそれぞれ、以
下のような問題点が存在した。図９における偏光依存性
測定装置では、光源１の出力信号光Ｓ１を偏光子２ａで
直線偏光状態を作り、それをλ／２波長板等のπ位相素
子２ｂで０〜１８０°機械的に回転させることにより被
測定物３の光出力の最大値Ｈ及び最小値Ｌの差より光出
力変動分を測定していたが、偏光子２ａでは直線偏光状
態しか作れないため、直線偏光状態のみの変化分しか評
価しかできず、さらにλ／２波長板等のπ位相素子２ｂ
の機械的回転に伴う誤差による光出力変動分が含まれる
等の問題点が存在する。
【０００７】図１０における偏光依存性測定装置では、
光源１の出力信号光Ｓ１を、λ／４波長板等のπ／２位
相素子２ｃを０〜４５°回転することにより作られた偏
光状態を、λ／２波長板等のπ位相素子２ｂで０〜１８
０°回転することにより、被測定物３の信号光Ｓ２出力
パワーの最大値Ｈと最小値Ｌの差より、偏光依存性損失
（利得）特性を測定する方式を用いる装置である。
光源１の出力信号光Ｓ１を、λ／４波長板等のπ／２位
相素子２ｃを０〜４５°回転することにより作られた偏
光状態を、λ／２波長板等のπ位相素子２ｂで０〜１８
０°回転することにより、被測定物３の信号光Ｓ２出力
パワーの最大値Ｈと最小値Ｌの差より、偏光依存性損失
（利得）特性を測定する方式を用いる装置である。
【０００８】この方式を用いる装置においては、π／２
位相素子２ｂの前に図９に示すような偏光子２ａがない
ため、全ての偏光状態（直線偏光，円偏光、楕円偏光）
を作ることができず、また、前記第１の従来装置と同様
にπ位相素子２ｂの機械的な回転に伴う誤差による光出
力変動分が含まれる問題点が存在する。
位相素子２ｂの前に図９に示すような偏光子２ａがない
ため、全ての偏光状態（直線偏光，円偏光、楕円偏光）
を作ることができず、また、前記第１の従来装置と同様
にπ位相素子２ｂの機械的な回転に伴う誤差による光出
力変動分が含まれる問題点が存在する。
【０００９】図１１における偏光依存性測定装置では、
図１０におけるπ／２位相素子２ｃ及びπ位相素子２ｂ
の代わりとして、光ファイバ形位相器２ｄ及び光ファイ
バ形回転器２ｅを用いている。
図１０におけるπ／２位相素子２ｃ及びπ位相素子２ｂ
の代わりとして、光ファイバ形位相器２ｄ及び光ファイ
バ形回転器２ｅを用いている。
【００１０】それ故、光学デバイスに比べて位相特性が
あいまいで不確定要素があるという光ファイバ形素子特
有の問題点が存在し、また、全ての偏光状態における偏
光依存性測定が実現できず、さらには光ファイバ形素子
２ｄ，２ｅの捻じりによる回転むらが誤差として測定値
に含まれるという問題点が存在した。本発明は、このよ
うな従来の偏光依存性測定装置の問題点を解決し、全て
の偏光状態における被測定物の高精度な偏光依存性を測
定する方法及び装置を提供せんとするものである。
あいまいで不確定要素があるという光ファイバ形素子特
有の問題点が存在し、また、全ての偏光状態における偏
光依存性測定が実現できず、さらには光ファイバ形素子
２ｄ，２ｅの捻じりによる回転むらが誤差として測定値
に含まれるという問題点が存在した。本発明は、このよ
うな従来の偏光依存性測定装置の問題点を解決し、全て
の偏光状態における被測定物の高精度な偏光依存性を測
定する方法及び装置を提供せんとするものである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】前記従来の課題の解決
は、本発明が次に列挙する新規な特徴的構成手法及び手
段を採用することにより達成される。即ち、本発明方法
の第１の特徴は、光源からの光信号の偏光状態を任意の
偏光状態に変換して回転し、当該回転している任意の偏
光状態の光信号を測定対象に入力する測定用光信号と測
定対象には入力しない参照用光信号とに分岐し、測定対
象から出力された測定用光信号のパワー変動分と測定対
象には入力しなかった参照用光信号のパワー変動分を比
較演算して、測定対象以外の偏光依存性を相殺して測定
対象の偏光依存性を測定してなる偏光依存性測定方法で
ある。
は、本発明が次に列挙する新規な特徴的構成手法及び手
段を採用することにより達成される。即ち、本発明方法
の第１の特徴は、光源からの光信号の偏光状態を任意の
偏光状態に変換して回転し、当該回転している任意の偏
光状態の光信号を測定対象に入力する測定用光信号と測
定対象には入力しない参照用光信号とに分岐し、測定対
象から出力された測定用光信号のパワー変動分と測定対
象には入力しなかった参照用光信号のパワー変動分を比
較演算して、測定対象以外の偏光依存性を相殺して測定
対象の偏光依存性を測定してなる偏光依存性測定方法で
ある。
【００１２】本発明方法の第２の特徴は、前記本発明方
法の第１の特徴において、光源からの光信号を、まず、
偏光子の透過により直線偏光状態とし、次に、当該直線
偏光状態の光信号をπ／２位相素子を透過させながら当
該π／２位相素子を少なくとも０〜４５°回転させるこ
とにより、光信号の偏光状態を任意の偏光状態へと変換
し、その後、当該任意の偏光状態の光信号をπ位相素子
を透過させながら当該π位相素子を少なくとも０〜１８
０°回転させることにより、光信号の偏光状態を任意の
偏光状態に変換して回転させてなる偏光依存性測定方法
である。
法の第１の特徴において、光源からの光信号を、まず、
偏光子の透過により直線偏光状態とし、次に、当該直線
偏光状態の光信号をπ／２位相素子を透過させながら当
該π／２位相素子を少なくとも０〜４５°回転させるこ
とにより、光信号の偏光状態を任意の偏光状態へと変換
し、その後、当該任意の偏光状態の光信号をπ位相素子
を透過させながら当該π位相素子を少なくとも０〜１８
０°回転させることにより、光信号の偏光状態を任意の
偏光状態に変換して回転させてなる偏光依存性測定方法
である。
【００１３】本発明方法の第３の特徴は、光源からの光
信号の偏光状態を任意の偏光状態に変換して回転し、当
該回転している任意の偏光状態の光信号のパワー変動分
をまず測定対象を挿入しない状態で測定記録し、次に測
定対象を挿入して光信号のパワー変動分を測定記録し
て、演算手段にて測定対象が挿入された時のパワー変動
分と測定対象を挿入しない時のパワー変動分を比較演算
して、測定対象以外の偏光依存性を相殺して測定対象の
偏光依存性を測定してなる偏光依存性測定方法である。
信号の偏光状態を任意の偏光状態に変換して回転し、当
該回転している任意の偏光状態の光信号のパワー変動分
をまず測定対象を挿入しない状態で測定記録し、次に測
定対象を挿入して光信号のパワー変動分を測定記録し
て、演算手段にて測定対象が挿入された時のパワー変動
分と測定対象を挿入しない時のパワー変動分を比較演算
して、測定対象以外の偏光依存性を相殺して測定対象の
偏光依存性を測定してなる偏光依存性測定方法である。
【００１４】本発明方法の第４の特徴は、前記本発明方
法の第３の特徴において、光源からの光信号を、まず、
偏光子の透過により直線偏光状態とし、次に、当該直線
偏光状態の光信号をπ／２位相素子を透過させながら当
該π／２位相素子を少なくとも０〜４５°回転させるこ
とにより、光信号の偏光状態を任意の偏光状態へと変換
し、その後、当該任意の偏光状態の光信号をπ位相素子
を透過させながら当該π位相素子を少なくとも０〜１８
０°回転させることにより、光信号の偏光状態を任意の
偏光状態に変換して回転させてなる偏光依存性測定方法
である。
法の第３の特徴において、光源からの光信号を、まず、
偏光子の透過により直線偏光状態とし、次に、当該直線
偏光状態の光信号をπ／２位相素子を透過させながら当
該π／２位相素子を少なくとも０〜４５°回転させるこ
とにより、光信号の偏光状態を任意の偏光状態へと変換
し、その後、当該任意の偏光状態の光信号をπ位相素子
を透過させながら当該π位相素子を少なくとも０〜１８
０°回転させることにより、光信号の偏光状態を任意の
偏光状態に変換して回転させてなる偏光依存性測定方法
である。
【００１５】本発明装置の第１の特徴は、光信号を出力
する光源手段と、当該光源手段から出力された光信号の
偏光状態を任意の状態に変換してその偏光状態を回転す
る偏光制御手段と、当該偏光制御手段から出力される信
号光を分岐する分岐手段と、当該分岐手段から出力され
る信号光をそのまま受信測定する第１の受信測定手段
と、前記分岐手段から出力される信号光を測定対象を通
過させて受信測定する第２の受信測定手段と、前記第１
の受信測定手段と第２の受信測定手段の測定結果を比較
演算し、前記測定対象以外の偏光依存性をキャンセルし
て記録する演算記録手段とを具備してなる偏光依存性測
定装置である。
する光源手段と、当該光源手段から出力された光信号の
偏光状態を任意の状態に変換してその偏光状態を回転す
る偏光制御手段と、当該偏光制御手段から出力される信
号光を分岐する分岐手段と、当該分岐手段から出力され
る信号光をそのまま受信測定する第１の受信測定手段
と、前記分岐手段から出力される信号光を測定対象を通
過させて受信測定する第２の受信測定手段と、前記第１
の受信測定手段と第２の受信測定手段の測定結果を比較
演算し、前記測定対象以外の偏光依存性をキャンセルし
て記録する演算記録手段とを具備してなる偏光依存性測
定装置である。
【００１６】本発明装置の第２の特徴は、光信号を出力
する光源手段と、当該光源手段から出力された光信号の
偏光状態を任意の状態に変換してその偏光状態を回転す
る偏光制御手段と、測定対象を挿入する場合及び挿入し
ない場合それぞれの光パワー変動分を受信測定する受信
測定手段と、当該受信測定手段のデータであるそれぞれ
の光パワー変動分を記録・比較・演算して、前記測定対
象以外の偏光依存性をキャンセルして記録する演算記録
手段とを具備してなる偏光依存性測定装置である。
する光源手段と、当該光源手段から出力された光信号の
偏光状態を任意の状態に変換してその偏光状態を回転す
る偏光制御手段と、測定対象を挿入する場合及び挿入し
ない場合それぞれの光パワー変動分を受信測定する受信
測定手段と、当該受信測定手段のデータであるそれぞれ
の光パワー変動分を記録・比較・演算して、前記測定対
象以外の偏光依存性をキャンセルして記録する演算記録
手段とを具備してなる偏光依存性測定装置である。
【００１７】本発明装置の第３の特徴は、前記本発明装
置の第１又は第２の特徴における偏光制御手段が、偏光
子とπ／２位相素子とπ位相素子とからなる偏光依存性
測定装置である。
置の第１又は第２の特徴における偏光制御手段が、偏光
子とπ／２位相素子とπ位相素子とからなる偏光依存性
測定装置である。
【００１８】
【作用】本発明は、前記のような構成手法及び手段を採
用するから、測定対象を通過した光信号の変動パワー分
とは別に、測定対象の存在しない場合の光信号の変動パ
ワー分を測定して、両者を比較・演算して、測定対象以
外の光信号のパワー変動分をキャンセルするので、高精
度な偏光依存性を測定する方法及び装置を提供すること
ができる。
用するから、測定対象を通過した光信号の変動パワー分
とは別に、測定対象の存在しない場合の光信号の変動パ
ワー分を測定して、両者を比較・演算して、測定対象以
外の光信号のパワー変動分をキャンセルするので、高精
度な偏光依存性を測定する方法及び装置を提供すること
ができる。
【００１９】また、光信号の偏光状態を制御するのに、
まず、偏光子の透過により光信号の偏光状態を直線偏光
状態とし、次にλ／４波長板等のπ／２位相素子を透過
させながら当該π／２位相素子を少なくとも０〜４５°
回転することにより、光信号の偏光状態を任意の偏光状
態（直線偏光，楕円偏光，円偏光）として、さらにその
後、λ／２波長板等のπ位相素子を透過させながら当該
π位相素子を少なくとも０〜１８０°回転することによ
り光信号の偏光状態を任意の偏光状態に変換して回転さ
せることが可能となる結果、測定対象の光出力の最大値
及び最小値の差分により光出力変動分の測定を実現す
る。
まず、偏光子の透過により光信号の偏光状態を直線偏光
状態とし、次にλ／４波長板等のπ／２位相素子を透過
させながら当該π／２位相素子を少なくとも０〜４５°
回転することにより、光信号の偏光状態を任意の偏光状
態（直線偏光，楕円偏光，円偏光）として、さらにその
後、λ／２波長板等のπ位相素子を透過させながら当該
π位相素子を少なくとも０〜１８０°回転することによ
り光信号の偏光状態を任意の偏光状態に変換して回転さ
せることが可能となる結果、測定対象の光出力の最大値
及び最小値の差分により光出力変動分の測定を実現す
る。
【００２０】
（装置例１）本発明の第１の装置例を図面につき説明す
る。図１は本装置例の構成を示すブロックダイアグラム
である。図中、２δは偏光子２ａ，π／２位相素子２
ｃ，π位相素子２ｂよりなる偏光コントローラ、３′は
参照用光ファイバである。
る。図１は本装置例の構成を示すブロックダイアグラム
である。図中、２δは偏光子２ａ，π／２位相素子２
ｃ，π位相素子２ｂよりなる偏光コントローラ、３′は
参照用光ファイバである。
【００２１】４ａは被測定物３を通過してきた信号光Ｓ
２ａ″を受信・測定する同期検波方式の光受信測定機、
４ｂは参照用光ファイバ３′を通過してきた光信号Ｓ２
ｂを受信・測定する同期検波方式の光受信測定機、５，
５′は光アイソレータ、６は外部変調器、７は外部変調
器６に変調信号Ｍを与える変調信号発生器、８は狭帯域
光フィルタ、９は光分岐器、１０は光受信測定機４ａ，
４ｂの測定結果を比較演算して記録するコンピュータ等
の演算記録器である。なお、前記従来例と同一の部材に
は同一の符号を付した。
２ａ″を受信・測定する同期検波方式の光受信測定機、
４ｂは参照用光ファイバ３′を通過してきた光信号Ｓ２
ｂを受信・測定する同期検波方式の光受信測定機、５，
５′は光アイソレータ、６は外部変調器、７は外部変調
器６に変調信号Ｍを与える変調信号発生器、８は狭帯域
光フィルタ、９は光分岐器、１０は光受信測定機４ａ，
４ｂの測定結果を比較演算して記録するコンピュータ等
の演算記録器である。なお、前記従来例と同一の部材に
は同一の符号を付した。
【００２２】（方法例）第１装置例に適用する本発明方
法を、図４（ａ）（ｂ）（ｃ）を参照しながら説明す
る。光源１から出力された信号光Ｓ１は、光アイソレー
タ５を通過し、変調信号発生器７からの信号Ｍにより外
部変調器６で変調され、偏光コントローラ２δに入力さ
れる。
法を、図４（ａ）（ｂ）（ｃ）を参照しながら説明す
る。光源１から出力された信号光Ｓ１は、光アイソレー
タ５を通過し、変調信号発生器７からの信号Ｍにより外
部変調器６で変調され、偏光コントローラ２δに入力さ
れる。
【００２３】当該偏光コントローラ２δに入力された光
信号Ｓ１′は、偏光子２ａで直線偏光状態にされ、π／
２位相素子２ｃを光信号Ｓ１′の入射設定方向に対する
垂直な面内において少なくとも０〜４５°機械的に回転
することにより任意の偏光状態（直線偏光，円偏光，楕
円偏光）にされる。次にπ位相素子２ｂを光信号Ｓ１′
の入射設定方向に対する垂直な面内において少なくとも
０〜１８０°回転することにより、光分岐器９を通り、
例えば、光増幅器３ａと光ファイバ３ｂからなる光増幅
システム等の被測定物３に入射する信号光Ｓ２ａの偏光
面を０〜３６０°回転することが可能となる。
信号Ｓ１′は、偏光子２ａで直線偏光状態にされ、π／
２位相素子２ｃを光信号Ｓ１′の入射設定方向に対する
垂直な面内において少なくとも０〜４５°機械的に回転
することにより任意の偏光状態（直線偏光，円偏光，楕
円偏光）にされる。次にπ位相素子２ｂを光信号Ｓ１′
の入射設定方向に対する垂直な面内において少なくとも
０〜１８０°回転することにより、光分岐器９を通り、
例えば、光増幅器３ａと光ファイバ３ｂからなる光増幅
システム等の被測定物３に入射する信号光Ｓ２ａの偏光
面を０〜３６０°回転することが可能となる。
【００２４】その後、被測定物３の出力光Ｓ２ａ′の光
パワー変動Ｐ１分の光ノイズを抑制するために狭帯域光
フィルタ８を通過した光信号Ｓ２ａ″を、光アイソレー
タ５′を通過させて光同期検波方式の光受信測定機４ａ
で測定する。但し、π／２位相素子２ｃ及びπ位相素子
２ｂのバックラッシュ等による機械的な回転に伴う光パ
ワー変動分が、測定結果の誤差として含まれる可能性が
ある。
パワー変動Ｐ１分の光ノイズを抑制するために狭帯域光
フィルタ８を通過した光信号Ｓ２ａ″を、光アイソレー
タ５′を通過させて光同期検波方式の光受信測定機４ａ
で測定する。但し、π／２位相素子２ｃ及びπ位相素子
２ｂのバックラッシュ等による機械的な回転に伴う光パ
ワー変動分が、測定結果の誤差として含まれる可能性が
ある。
【００２５】そのため、光分岐器９で参照光Ｓ２ｂの光
出力レベルＰ０を別の光受信測定機４ｂでモニターし、
これを演算記録器１０で光受信測定機４ａの結果から差
し引くことにより、図４（ｃ）に示すようにπ／２位相
素子２ｃ及びπ位相素子２ｂの誤差をキャンセルして測
定結果Ｐ２を出すことが可能となり、高精度に測定可能
となる。なお、光増幅システム以外が被測定物３である
場合には、外部変調器６及び変調信号発生器７による変
調のない、無変調光信号でも測定が可能である。
出力レベルＰ０を別の光受信測定機４ｂでモニターし、
これを演算記録器１０で光受信測定機４ａの結果から差
し引くことにより、図４（ｃ）に示すようにπ／２位相
素子２ｃ及びπ位相素子２ｂの誤差をキャンセルして測
定結果Ｐ２を出すことが可能となり、高精度に測定可能
となる。なお、光増幅システム以外が被測定物３である
場合には、外部変調器６及び変調信号発生器７による変
調のない、無変調光信号でも測定が可能である。
【００２６】（装置例２）本発明の第２の装置例を図面
につき説明する。図２は本装置例の構成を示すブロック
ダイアグラムである。図中、９′は測定用信号光Ｓ２ａ
と参照用信号光Ｓ２ｂとに信号光Ｓ１″を分岐するため
の光ファイバカプラである。
につき説明する。図２は本装置例の構成を示すブロック
ダイアグラムである。図中、９′は測定用信号光Ｓ２ａ
と参照用信号光Ｓ２ｂとに信号光Ｓ１″を分岐するため
の光ファイバカプラである。
【００２７】なお、前記従来例及び第１装置例と同一の
部材には同一の符号を付した。本実施例においては、光
ファイバカプラ９′が前記第１装置例の光分岐器９と同
様の作用をするので、その動作は前記第１装置例とほぼ
同様であるから説明を省略する。
部材には同一の符号を付した。本実施例においては、光
ファイバカプラ９′が前記第１装置例の光分岐器９と同
様の作用をするので、その動作は前記第１装置例とほぼ
同様であるから説明を省略する。
【００２８】光増幅システム以外の被測定物３であれば
無変調光信号を使用しても測定可能であることも、前記
第１装置例と同様である。これらの測定装置において
は、前記第１装置例では光分岐器９と光受信測定機４
ａ，４ｂのそれぞれの偏光特性が、本装置例においては
光ファイバカプラ９′と光受信測定機４ａ，４ｂのそれ
ぞれの偏光特性が問題となる。
無変調光信号を使用しても測定可能であることも、前記
第１装置例と同様である。これらの測定装置において
は、前記第１装置例では光分岐器９と光受信測定機４
ａ，４ｂのそれぞれの偏光特性が、本装置例においては
光ファイバカプラ９′と光受信測定機４ａ，４ｂのそれ
ぞれの偏光特性が問題となる。
【００２９】尚、光ファイバカプラ９′の偏光特性に関
しては、[Y. Namihira, T. Kawazawa, and H. Wakabaya
shi : "Incident polarization angle and temperature
dependence of polarization and spectral response
characteristics in opticalfiber couplers" Applied
Optics, Vol.30, No.9, pp.1062-1069, 1991.] に報告
されており、その１例を図に示す。
しては、[Y. Namihira, T. Kawazawa, and H. Wakabaya
shi : "Incident polarization angle and temperature
dependence of polarization and spectral response
characteristics in opticalfiber couplers" Applied
Optics, Vol.30, No.9, pp.1062-1069, 1991.] に報告
されており、その１例を図に示す。
【００３０】図５（ａ）（ｂ）乃至図６（ａ）（ｂ）
は、光ファイバカプラ９′の偏光依存性の測定例で、横
軸はいずれも入射偏光の回転角度で、縦軸は、（ａ）は
光信号の偏光状態の変化［１．０＝直線偏光，０＝円偏
光，その中間は全て楕円偏光］，（ｂ）は偏光面の主軸
角の変化を表す。図５に偏光依存性の大きい光ファイバ
カプラ９′の例を示し、図６に小さい例を示す。図５の
光ファイバカプラ９′は、温度を変化すると入射偏光に
対して偏光状態が大きく変化することにより、偏光依存
性が大きいことが分かる。
は、光ファイバカプラ９′の偏光依存性の測定例で、横
軸はいずれも入射偏光の回転角度で、縦軸は、（ａ）は
光信号の偏光状態の変化［１．０＝直線偏光，０＝円偏
光，その中間は全て楕円偏光］，（ｂ）は偏光面の主軸
角の変化を表す。図５に偏光依存性の大きい光ファイバ
カプラ９′の例を示し、図６に小さい例を示す。図５の
光ファイバカプラ９′は、温度を変化すると入射偏光に
対して偏光状態が大きく変化することにより、偏光依存
性が大きいことが分かる。
【００３１】これに対し、図６の光ファイバカプラ９′
は、偏光依存性が小さい例を示している。偏光依存性の
測定には、図６に示すような光ファイバカプラ９′の方
が適しているが、図５のように偏光依存性が大きい光フ
ァイバカプラ９′を用いる場合でも、測定の前（後）に
コンピュータ等の演算記録器１０にあらかじめ偏光依存
性の初期特性を記録して、被測定物３の結果を差し引く
ことにより高精度な偏光依存性測定が可能である。
は、偏光依存性が小さい例を示している。偏光依存性の
測定には、図６に示すような光ファイバカプラ９′の方
が適しているが、図５のように偏光依存性が大きい光フ
ァイバカプラ９′を用いる場合でも、測定の前（後）に
コンピュータ等の演算記録器１０にあらかじめ偏光依存
性の初期特性を記録して、被測定物３の結果を差し引く
ことにより高精度な偏光依存性測定が可能である。
【００３２】（装置例３）しかしながら、前記第１及び
第２装置例における、光分岐器９又は光ファイバカプラ
９′の偏光特性によるパワー変動という問題点をなくす
ための、本発明の他の装置例を図３に示す。図中、４′
は、同期検波方式の光受信測定機である。なお、前記従
来例及び第１，第２装置例と同一の部材には、同一の符
号を付した。
第２装置例における、光分岐器９又は光ファイバカプラ
９′の偏光特性によるパワー変動という問題点をなくす
ための、本発明の他の装置例を図３に示す。図中、４′
は、同期検波方式の光受信測定機である。なお、前記従
来例及び第１，第２装置例と同一の部材には、同一の符
号を付した。
【００３３】図３においては、参照用光ファイバ３′の
光出力レベルＰ０を事前（後）に測定し、コンピュータ
等の比較演算記録器１０に記憶させ、被測定物３の測定
結果Ｐ１より、参照用光ファイバ３′のデータＰ０を差
し引くことにより、高精度な偏光依存性の測定を実現す
るものである。
光出力レベルＰ０を事前（後）に測定し、コンピュータ
等の比較演算記録器１０に記憶させ、被測定物３の測定
結果Ｐ１より、参照用光ファイバ３′のデータＰ０を差
し引くことにより、高精度な偏光依存性の測定を実現す
るものである。
【００３４】又、本装置例は同一の光受信測定機４を用
いるため、前記第１装置例及び第２装置例における光受
信測定機４ａ，４ｂ内の光ディテクタの偏光特性による
誤差をキャンセルすることができるという利点も有す
る。
いるため、前記第１装置例及び第２装置例における光受
信測定機４ａ，４ｂ内の光ディテクタの偏光特性による
誤差をキャンセルすることができるという利点も有す
る。
【００３５】図７及び図８に、本発明による装置を用い
て偏光依存性測定を実施した測定例を示す。 （測定例１）図７は、被測定物３を偏波面保存光ファイ
バカプラとする偏光依存性測定例である。
て偏光依存性測定を実施した測定例を示す。 （測定例１）図７は、被測定物３を偏波面保存光ファイ
バカプラとする偏光依存性測定例である。
【００３６】図中、Ａの黒丸は偏波面保存光ファイバカ
プラのスルーポートの偏光依存性損失特性、Ｂの白丸は
偏波面保存光ファイバカプラのスプリッティングポート
の偏光依存性損失特性で、それぞれ位相がπ／２ずれた
正弦波状に変化しており、λ／２波長板等のπ位相素子
２ｂのバックラッシュ等による回転に伴う光パワー変動
分の影響が見られないことが分かる。
プラのスルーポートの偏光依存性損失特性、Ｂの白丸は
偏波面保存光ファイバカプラのスプリッティングポート
の偏光依存性損失特性で、それぞれ位相がπ／２ずれた
正弦波状に変化しており、λ／２波長板等のπ位相素子
２ｂのバックラッシュ等による回転に伴う光パワー変動
分の影響が見られないことが分かる。
【００３７】（測定例２）図８は、被測定物３を通常の
３ｄＢ光ファイバカプラとする偏光依存性測定例であ
る。図より、温度を変化した場合の０．１ｄＢ以下の小
さな偏光依存性測定でも可能であることが分かる。以上
の測定結果より、本発明の実施例の偏光依存性損失（利
得）測定方法の有用性が実証される。
３ｄＢ光ファイバカプラとする偏光依存性測定例であ
る。図より、温度を変化した場合の０．１ｄＢ以下の小
さな偏光依存性測定でも可能であることが分かる。以上
の測定結果より、本発明の実施例の偏光依存性損失（利
得）測定方法の有用性が実証される。
【００３８】
【発明の効果】かくして、本発明によれば、偏光子，λ
／４波長板等のπ／２位相素子及びλ／２波長板等のπ
位相素子を用いることにより、光信号の全ての偏光状態
（直線偏光，楕円偏光，円偏光）において、全ての偏光
面の主軸角変化における偏光変動を測定することが可能
となる。
／４波長板等のπ／２位相素子及びλ／２波長板等のπ
位相素子を用いることにより、光信号の全ての偏光状態
（直線偏光，楕円偏光，円偏光）において、全ての偏光
面の主軸角変化における偏光変動を測定することが可能
となる。
【００３９】また、π／２位相素子やπ位相素子を機械
的に回転した場合の光パワー変動分をキャンセルするこ
とにより、高精度な偏光依存性損失（又は利得）測定方
法が実現可能となり、その結果、偏光依存性損失（利
得）の小さな光増幅器，光デバイス及び長距離光増幅中
継伝送システムが達成される等、優れた有用性を発揮す
る。
的に回転した場合の光パワー変動分をキャンセルするこ
とにより、高精度な偏光依存性損失（又は利得）測定方
法が実現可能となり、その結果、偏光依存性損失（利
得）の小さな光増幅器，光デバイス及び長距離光増幅中
継伝送システムが達成される等、優れた有用性を発揮す
る。
【図１】本発明の第１の装置例の構成を示す図である。
【図２】同上、第２の装置例の構成を示す図である。
【図３】同上、第３の装置例の構成を示す図である。
【図４】本発明方法の、偏光依存性損失（又は利得）の
測定概念を説明するグラフである。
測定概念を説明するグラフである。
【図５】本発明の第２の装置例に用いる、光ファイバカ
プラの偏光依存性が大きいものの偏光依存性の測定例を
示すグラフである。
プラの偏光依存性が大きいものの偏光依存性の測定例を
示すグラフである。
【図６】同上、光ファイバカプラの偏光依存性が小さい
ものの偏光依存性の測定例を示すグラフである。
ものの偏光依存性の測定例を示すグラフである。
【図７】被測定物を偏波面保存光ファイバカプラとす
る、本発明による偏光依存性測定例である。
る、本発明による偏光依存性測定例である。
【図８】被測定物を通常の３ｄＢ光ファイバカプラとす
る、本発明による偏光依存性測定例である。
る、本発明による偏光依存性測定例である。
【図９】従来の偏光依存性損失（利得）測定装置の構成
例を示すブロックダイアグラムである。
例を示すブロックダイアグラムである。
【図１０】同上、従来の偏光依存性損失（利得）測定装
置の構成例を示すブロックダイアグラムである。
置の構成例を示すブロックダイアグラムである。
【図１１】同上、従来の偏光依存性損失（利得）測定装
置の構成例を示すブロックダイアグラムである。
置の構成例を示すブロックダイアグラムである。
【図１２】従来の偏光依存性損失の測定概念を説明する
グラフである。
グラフである。
１…光源 ２α，２β，２γ，２δ…偏光コントローラ ２ａ…偏光子 ２ｂ…π位相素子 ２ｃ…π／２位相素子 ２ｄ…光ファイバ形位相器 ２ｅ…光ファイバ形回転器 ３…被測定物 ３′…参照用光ファイバ ４，４′，４ａ，４ｂ…光受信測定機 ５，５′…光アイソレータ ６…外部変調器 ７…変調信号発生器 ８…狭帯域光フィルタ ９…光分岐器 ９′…光ファイバカプラ １０…演算記録器
Claims (7)
- 【請求項１】光源からの光信号の偏光状態を任意の偏光
状態に変換して回転し、 当該回転している任意の偏光状態の光信号を測定対象に
入力する測定用光信号と測定対象には入力しない参照用
光信号とに分岐し、 測定対象から出力された測定用光信号のパワー変動分と
測定対象には入力しなかった参照用光信号のパワー変動
分を比較演算して、 測定対象以外の偏光依存性を相殺して測定対象の偏光依
存性を測定することを特徴とする偏光依存性測定方法。 - 【請求項２】光源からの光信号を、 まず、偏光子の透過により直線偏光状態とし、 次に、当該直線偏光状態の光信号をπ／２位相素子を透
過させながら当該π／２位相素子を少なくとも０〜４５
°回転させることにより、光信号の偏光状態を任意の偏
光状態へと変換し、 その後、当該任意の偏光状態の光信号をπ位相素子を透
過させながら当該π位相素子を少なくとも０〜１８０°
回転させることにより、光信号の偏光状態を任意の偏光
状態に変換して回転させることを特徴とする請求項１記
載の偏光依存性測定方法。 - 【請求項３】光源の偏光状態を任意の偏光状態に変換し
て回転し、 当該回転している任意の偏光状態の光信号のパワー変動
分をまず測定対象を挿入しない状態で測定記録し、 次に測定対象を挿入して光信号のパワー変動分を測定記
録して、 演算手段にて測定対象が挿入された時のパワー変動分と
測定対象を挿入しない時のパワー変動分を比較演算し
て、 測定対象以外の偏光依存性を相殺して測定対象の偏光依
存性を測定することを特徴とする偏光依存性測定方法。 - 【請求項４】光源からの光信号を、 まず、偏光子の透過により直線偏光状態とし、 次に、当該直線偏光状態の光信号をπ／２位相素子を透
過させながら当該π／２位相素子を少なくとも０〜４５
°回転させることにより、光信号の偏光状態を任意の偏
光状態へと変換し、 その後、当該任意の偏光状態の光信号をπ位相素子を透
過させながら当該π位相素子を少なくとも０〜１８０°
回転させることにより、光信号の偏光状態を任意の偏光
状態に変換して回転させることを特徴とする請求項３記
載の偏光依存性測定方法。 - 【請求項５】光信号を出力する光源手段と、 当該光源手段から出力された光信号の偏光状態を任意の
状態に変換してその偏光状態を回転する偏光制御手段
と、 当該偏光制御手段から出力される信号光を分岐する分岐
手段と、 当該分岐手段から出力される信号光をそのまま受信測定
する第１の受信測定手段と、 前記分岐手段から出力される信号光を測定対象を通過さ
せて受信測定する第２の受信測定手段と、 前記第１の受信測定手段と第２の受信測定手段の測定結
果を比較演算し、前記測定対象以外の偏光依存性をキャ
ンセルして記録する演算記録手段とを具備することを特
徴とする偏光依存性測定装置。 - 【請求項６】光信号を出力する光源手段と、 当該光源手段から出力された光信号の偏光状態を任意の
状態に変換してその偏光状態を回転する偏光制御手段
と、 測定対象を挿入する場合及び挿入しない場合それぞれの
光パワー変動分を受信測定する受信測定手段と、 当該受信測定手段のデータであるそれぞれの光パワー変
動分を記録・比較・演算して、前記測定対象以外の偏光
依存性をキャンセルして記録する演算記録手段とを具備
することを特徴とする偏光依存性測定装置。 - 【請求項７】偏光制御手段は、偏光子とπ／２位相素子
とπ位相素子とからなることを特徴とする請求項５又は
６記載の偏光依存性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4167885A JP2730658B2 (ja) | 1992-06-25 | 1992-06-25 | 偏光依存性測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4167885A JP2730658B2 (ja) | 1992-06-25 | 1992-06-25 | 偏光依存性測定方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0611415A true JPH0611415A (ja) | 1994-01-21 |
| JP2730658B2 JP2730658B2 (ja) | 1998-03-25 |
Family
ID=15857881
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4167885A Expired - Fee Related JP2730658B2 (ja) | 1992-06-25 | 1992-06-25 | 偏光依存性測定方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2730658B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011169689A (ja) * | 2010-02-17 | 2011-09-01 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Ｐｄｌ測定器およびｐｄｌ測定方法 |
| JP2012175607A (ja) * | 2011-02-24 | 2012-09-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光ファイバ伝送路設計方法 |
| JP2021048542A (ja) * | 2019-09-20 | 2021-03-25 | 富士通株式会社 | 光ネットワーク装置および伝送路監視方法 |
-
1992
- 1992-06-25 JP JP4167885A patent/JP2730658B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011169689A (ja) * | 2010-02-17 | 2011-09-01 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Ｐｄｌ測定器およびｐｄｌ測定方法 |
| JP2012175607A (ja) * | 2011-02-24 | 2012-09-10 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光ファイバ伝送路設計方法 |
| JP2021048542A (ja) * | 2019-09-20 | 2021-03-25 | 富士通株式会社 | 光ネットワーク装置および伝送路監視方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2730658B2 (ja) | 1998-03-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |