JPS62123327A - コヒ−レントｏｔｄｒ装置 - Google Patents
コヒ−レントｏｔｄｒ装置Info
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- JPS62123327A JPS62123327A JP26318285A JP26318285A JPS62123327A JP S62123327 A JPS62123327 A JP S62123327A JP 26318285 A JP26318285 A JP 26318285A JP 26318285 A JP26318285 A JP 26318285A JP S62123327 A JPS62123327 A JP S62123327A
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- optical
- coherent
- optical switch
- optical fiber
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ） 発明の技術分野
この発明はバースト状のコヒーレント光、つまりコヒー
レント光・ぐルスを被測定光ファイバに入射し、該被測
定光ファイバからの戻り光を光へテロダイン検波、ある
いは光ホモダイン検波で検出し、該被測定光ファイバの
損失及び破断点の位置等を測定するコヒーレントＯＴＤ
Ｒ（Ｑｐｔｉｃａｌ Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ ＲｅＮ
ｅｃｔｏｍｅｔｒｙ）装置に関するもの、である。
レント光・ぐルスを被測定光ファイバに入射し、該被測
定光ファイバからの戻り光を光へテロダイン検波、ある
いは光ホモダイン検波で検出し、該被測定光ファイバの
損失及び破断点の位置等を測定するコヒーレントＯＴＤ
Ｒ（Ｑｐｔｉｃａｌ Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ ＲｅＮ
ｅｃｔｏｍｅｔｒｙ）装置に関するもの、である。
（＋）） 従来技術と問題点
光パルスを被測定光ファイバに入射し、該被測定光ファ
イバからのフレネル反射光及び後方散乱光等の戻り光を
検出する０ＴＤＲ装置には、該戻り光を直接検波する直
接検波方式０ＴＤＲ装置と、局発元金用いてヘテロダイ
ン検波あるいはホモダイン検波するコヒーレント０ＴＤ
Ｒ装置とがある。これらの０ＴＤＲ装置では、該被測定
光ファイバ近端で発生するフレネル反射光は後方散乱光
に比べ３０ｄＢ〜５０ｄＢ程度レベルが高く、そのよう
なフレネル反射光が受光素子に入射すると、該受光素子
及びそれを含む受光系が飽和し、正確な測定ができなく
なるという問題点があった。直接検波方式０ＴＤＲ装置
では、この受光系の飽和を解決するために、光源と被測
定光ファイバと受光系をターンオーバ式光スイッチで結
び、該被測定光ファイバの所望の観測位置から戻る戻り
光のみ全受光系に導く構成の０ＴＤＲ装置等が提案され
ているが、直接検波方式であるために、ヘテロダイン及
び、ホモダイン検波方式に比べ、受光系の信号対雑音比
（ＳＮＩｌ、）は低く、また、前記入射光・ぐルスを直
に渫偏波としても、前記戻り光の偏波面の方向は一定で
はな（なるため、前記光スイッチは、偏波面非依存型で
なくてはならないという制約があった。
イバからのフレネル反射光及び後方散乱光等の戻り光を
検出する０ＴＤＲ装置には、該戻り光を直接検波する直
接検波方式０ＴＤＲ装置と、局発元金用いてヘテロダイ
ン検波あるいはホモダイン検波するコヒーレント０ＴＤ
Ｒ装置とがある。これらの０ＴＤＲ装置では、該被測定
光ファイバ近端で発生するフレネル反射光は後方散乱光
に比べ３０ｄＢ〜５０ｄＢ程度レベルが高く、そのよう
なフレネル反射光が受光素子に入射すると、該受光素子
及びそれを含む受光系が飽和し、正確な測定ができなく
なるという問題点があった。直接検波方式０ＴＤＲ装置
では、この受光系の飽和を解決するために、光源と被測
定光ファイバと受光系をターンオーバ式光スイッチで結
び、該被測定光ファイバの所望の観測位置から戻る戻り
光のみ全受光系に導く構成の０ＴＤＲ装置等が提案され
ているが、直接検波方式であるために、ヘテロダイン及
び、ホモダイン検波方式に比べ、受光系の信号対雑音比
（ＳＮＩｌ、）は低く、また、前記入射光・ぐルスを直
に渫偏波としても、前記戻り光の偏波面の方向は一定で
はな（なるため、前記光スイッチは、偏波面非依存型で
なくてはならないという制約があった。
（Ｃ） 発明の目的
本発明の目的は上記の問題に鑑み、偏波面依存型の光ス
イッチも使用でき、直接検波方式０ＴＤＲ装置に比べて
すぐれた、コヒーレント０ＴＤＲの受光系の信号対雑音
比（５ＮＲ）をまりた（低下させることなく受光系の飽
和を防ぐことができるコヒーレント０ＴＤＲ装置を提供
するものである。
イッチも使用でき、直接検波方式０ＴＤＲ装置に比べて
すぐれた、コヒーレント０ＴＤＲの受光系の信号対雑音
比（５ＮＲ）をまりた（低下させることなく受光系の飽
和を防ぐことができるコヒーレント０ＴＤＲ装置を提供
するものである。
（ｄ） 問題点を解決するための手段光ヘテロゲイン
検波あるいは光ホモダイン検波方式〇ＴＤ几装置は、バ
ースト状の第１のコヒーレント光を被測定光ファイバに
入射し、該被測定光ファイバからの戻シ光（信号光）を
、十分な強さの第２のコヒーレント光閂赤合＊祷ゐＴ、
すなわち局発光と光方向性結合器等の結合手段によって
結合させる。ここで、前記第１のコヒーレント光の周波
数をｆｓとすると、該局発光の周波数はへテロダイン検
波方式ではｆｓ−）−ｆ、ホモダイン検波方式ではｆｓ
という関係がある。そして、前記結合した信号光と局発
光は、光検出器に入射されるが、本発明は光検出器に入
射する局発光のみを通過、遮断する光スイッチと、被測
定ファイバの所望の観測位置で戻る戻り光のみと該局発
光とが結合するように該光スイッチを制御する制御手段
を備えたことを特徴としている。すなわち信号光電力を
Ｐｓ、局発光電力をＰＬとすると受光素子から出力され
る電流ｌは、 で表される。ここでｅは電子電荷、ηは受光素子の量子
効率、ｈはブランク定数、νは局発光の周波数（ただし
、局発光の周波数４信号光の周波数とした）、ωは局発
光と信号光の差の角周波数（（θ＝２πｆ）である。近
端で発生する過大なフレネル反射においてもＰＩ、 ）
Ｐｓであるので、過大なフレネル反射光等の不要な信
号光が入射したときに、前記局発光を遮断すれば（つま
りＩＦＬ ＝０とする）、受光素子及びそれを含む受光
系は飽和しない。
検波あるいは光ホモダイン検波方式〇ＴＤ几装置は、バ
ースト状の第１のコヒーレント光を被測定光ファイバに
入射し、該被測定光ファイバからの戻シ光（信号光）を
、十分な強さの第２のコヒーレント光閂赤合＊祷ゐＴ、
すなわち局発光と光方向性結合器等の結合手段によって
結合させる。ここで、前記第１のコヒーレント光の周波
数をｆｓとすると、該局発光の周波数はへテロダイン検
波方式ではｆｓ−）−ｆ、ホモダイン検波方式ではｆｓ
という関係がある。そして、前記結合した信号光と局発
光は、光検出器に入射されるが、本発明は光検出器に入
射する局発光のみを通過、遮断する光スイッチと、被測
定ファイバの所望の観測位置で戻る戻り光のみと該局発
光とが結合するように該光スイッチを制御する制御手段
を備えたことを特徴としている。すなわち信号光電力を
Ｐｓ、局発光電力をＰＬとすると受光素子から出力され
る電流ｌは、 で表される。ここでｅは電子電荷、ηは受光素子の量子
効率、ｈはブランク定数、νは局発光の周波数（ただし
、局発光の周波数４信号光の周波数とした）、ωは局発
光と信号光の差の角周波数（（θ＝２πｆ）である。近
端で発生する過大なフレネル反射においてもＰＩ、 ）
Ｐｓであるので、過大なフレネル反射光等の不要な信
号光が入射したときに、前記局発光を遮断すれば（つま
りＩＦＬ ＝０とする）、受光素子及びそれを含む受光
系は飽和しない。
また、検波後の雑音電流の２乗平均値ゴＮ
は、局発光電力Ｐｔ、が十分大きい場合、局発光による
シ嘗ット雑音が支配的でちり、 となる。ここでＢは受光系の周波数帯域幅である。
シ嘗ット雑音が支配的でちり、 となる。ここでＢは受光系の周波数帯域幅である。
一方、検波信号電流の２乗平均値ｉ。２は（１）式から
導き出されるが、（１）式右辺の第１項と第２項はフィ
ルタによって除去され、 となる。
導き出されるが、（１）式右辺の第１項と第２項はフィ
ルタによって除去され、 となる。
したがりて信号対雑音比（ＳＮ几）は、で表される。
上式かられかるように、検波後の雑音電流の２乗平均値
ｉＮ２が、局発光によるシｍｙ）雑音の支配的な領域で
は、ＳＮ几は信号光電力Ｐｓのみに依存するため、たと
え局発光を通過及び遮断する光スイッチに挿入損があっ
たとしても、その挿入損によるＳＮ几の低下はおきない
。
ｉＮ２が、局発光によるシｍｙ）雑音の支配的な領域で
は、ＳＮ几は信号光電力Ｐｓのみに依存するため、たと
え局発光を通過及び遮断する光スイッチに挿入損があっ
たとしても、その挿入損によるＳＮ几の低下はおきない
。
また、局発光の偏波面の方向は一定にできるので、偏波
面依存型の光スイッチでも使用可能である。
面依存型の光スイッチでも使用可能である。
（ｅ）発明の実施例
以下、本発明の実施例につき、図に従って説明する。
第１図は、本発明による第１の実施例の構成図である。
同図において、１はコヒーレント光源、２は光分岐器、
６，８は断続式光スイッチ、４は光結合器、５は被測定
光ファイバ、６は／４’ルス発生器、７，１０は光スイ
ツチ駆動器、９はパルス遅延制御器、１１は光検出器、
１２は信号処理装置、１３は表示装置を示す。コヒーレ
ント光源１からの連続波は、光分岐器２によって分岐さ
れ、一方の連続波は断続式光スイッチ５により、光パル
スとなり、光結合器４を通って、被測定光ファイバ５に
入射する。該断続式光スイッチ５は、パルス発生器６に
同期して発する光スイツチ駆動器７の光スイツチ駆動信
号によって動作する。
６，８は断続式光スイッチ、４は光結合器、５は被測定
光ファイバ、６は／４’ルス発生器、７，１０は光スイ
ツチ駆動器、９はパルス遅延制御器、１１は光検出器、
１２は信号処理装置、１３は表示装置を示す。コヒーレ
ント光源１からの連続波は、光分岐器２によって分岐さ
れ、一方の連続波は断続式光スイッチ５により、光パル
スとなり、光結合器４を通って、被測定光ファイバ５に
入射する。該断続式光スイッチ５は、パルス発生器６に
同期して発する光スイツチ駆動器７の光スイツチ駆動信
号によって動作する。
前記光分岐器２によって分岐されたもう一方の連続波は
、局発光となり、断続式光スイッチ８を通りて、前記光
結合器４に入射し、前記被測定ファイバ５からの戻り光
と結合される。
、局発光となり、断続式光スイッチ８を通りて、前記光
結合器４に入射し、前記被測定ファイバ５からの戻り光
と結合される。
またこのとき、該局発光を所望の観測位置かびパルス幅
制御され、スイッチ駆動器１０でスイッチ駆動信号に変
換されて前記断続式光スイッチ８を断続させる。
制御され、スイッチ駆動器１０でスイッチ駆動信号に変
換されて前記断続式光スイッチ８を断続させる。
そして、結合した光波は光検出器１１で電気信号になり
、信号処理装置１２で、増幅、ろ波、対数演算、Ａ−Ｄ
変換等の信号処理を受け、表示装＠１３でＣＲＴ等に表
示される。
、信号処理装置１２で、増幅、ろ波、対数演算、Ａ−Ｄ
変換等の信号処理を受け、表示装＠１３でＣＲＴ等に表
示される。
断続式光スイッチ６０，８としては、ＬｉＮｂＯ３゜Ｌ
ｉＴａＯ３，Ｉ■Ｐ、 ＡＤＰ、 Ｉ’ＬＺＴのような
電気光学効果を有する材料あるいはＬｉＮｂ［１３，Ｌ
ｉＴａ［＋３． ＴｅＯ２゜ＰｂＭｎＱ４． Ｇｅ、
ＧａＡｓ＋ Ｇａｐ、テルライトガラス、カルコケ゛ナ
イドガラスのような音響光学効果を有する材料に、適当
な強さの電界や超音波を光スイツチ駆動信号として印加
することで実現できる。
ｉＴａＯ３，Ｉ■Ｐ、 ＡＤＰ、 Ｉ’ＬＺＴのような
電気光学効果を有する材料あるいはＬｉＮｂ［１３，Ｌ
ｉＴａ［＋３． ＴｅＯ２゜ＰｂＭｎＱ４． Ｇｅ、
ＧａＡｓ＋ Ｇａｐ、テルライトガラス、カルコケ゛ナ
イドガラスのような音響光学効果を有する材料に、適当
な強さの電界や超音波を光スイツチ駆動信号として印加
することで実現できる。
第２図は、第１の実施例の動作を説明するための波形図
である。波形（ａ）はコヒーレント光源から出力される
連続波、波形（ｂ） 、 （Ｃ）は光分岐器２によって
分岐された連続波、波形（ｄ）は、光スイツチ駆動器７
から出力される光スイツチ駆動信号を示す、そして、該
駆動信号が出力されている間、 断続式光スイッチ６は
通過状態となる光・ぐルス、波形（ｒ）は表示装置１３
に表示される観測波形を示す。波形（ｇ）は、光スイツ
チ駆動器１０から出力される光スイツチ駆動信号で、該
駆動信号が出力されている間、 断続式光スイッチ８は
通過状態となる。波形（ｈ）は、前記被測定光ファイバ
５からの戻り光と結合する局発光の波形を示す。同図よ
り、波形（ｄ）のスイッチ駆動信号で断続式光スイッチ
６を動作させると、波形（ｅ）の光・ぐルスが被測直ア
イバ５に入射され、表示装置１３に波形（ｆ）が出力さ
れるが、もし断続式光スイッチ８がないと、波形（千）
の破線で示した被測定光ファイバ５の入射端及び終端か
らのレベルの高いフレネル反射光が現れ、波形のすそひ
き等をおこして正確な測定が困難になりてしまう。そこ
で、波形（ｇ）のスイッチ駆動信号で断続式光スイッチ
８を動作させ、波形（１１）のように局発光を通過及び
遮断すると、前記レベルの高いフレネル反射の検波が行
われないので受光系は飽和せず、また、波形（ｆ）の破
線の部分は観測されず、正確な測定が行える。
である。波形（ａ）はコヒーレント光源から出力される
連続波、波形（ｂ） 、 （Ｃ）は光分岐器２によって
分岐された連続波、波形（ｄ）は、光スイツチ駆動器７
から出力される光スイツチ駆動信号を示す、そして、該
駆動信号が出力されている間、 断続式光スイッチ６は
通過状態となる光・ぐルス、波形（ｒ）は表示装置１３
に表示される観測波形を示す。波形（ｇ）は、光スイツ
チ駆動器１０から出力される光スイツチ駆動信号で、該
駆動信号が出力されている間、 断続式光スイッチ８は
通過状態となる。波形（ｈ）は、前記被測定光ファイバ
５からの戻り光と結合する局発光の波形を示す。同図よ
り、波形（ｄ）のスイッチ駆動信号で断続式光スイッチ
６を動作させると、波形（ｅ）の光・ぐルスが被測直ア
イバ５に入射され、表示装置１３に波形（ｆ）が出力さ
れるが、もし断続式光スイッチ８がないと、波形（千）
の破線で示した被測定光ファイバ５の入射端及び終端か
らのレベルの高いフレネル反射光が現れ、波形のすそひ
き等をおこして正確な測定が困難になりてしまう。そこ
で、波形（ｇ）のスイッチ駆動信号で断続式光スイッチ
８を動作させ、波形（１１）のように局発光を通過及び
遮断すると、前記レベルの高いフレネル反射の検波が行
われないので受光系は飽和せず、また、波形（ｆ）の破
線の部分は観測されず、正確な測定が行える。
第６図は、本発明による第２の実施例の構成図である。
第１図と同一構成のものは同一符号をもって示してあり
、また１４はターンオーバ式光スイッチ、１５．１６．
１７はホ０−トを示す。本構成では第１図の光分岐器２
と断続式光スイッチ６の代わりにターンオーバ式光スイ
ッチ１４を用いている。該ターンオーバ式光スイッチ１
４は、光スイツチ駆動器７から駆動信号が出力されてい
る間、ポート１５とポート１６が導通し、駆動信号が出
力されていない時は、該ポート１５はポート１７と導通
している。これによる第１の実施例との相違点は、被測
定光ファイバ５に光Ｊ？ルスを出射する間は局発光が出
力されないということと、光分岐器２による分岐損がな
いということである。ターンオーバ式光スイッチ１４と
しては、断続式光スイッチ３，８と同様な、電気光学効
果あるいは音響光学効果を有する材料に、適当な強さの
電界や超音波を光スイッチ駆動信号として印加すること
で実現できる。
、また１４はターンオーバ式光スイッチ、１５．１６．
１７はホ０−トを示す。本構成では第１図の光分岐器２
と断続式光スイッチ６の代わりにターンオーバ式光スイ
ッチ１４を用いている。該ターンオーバ式光スイッチ１
４は、光スイツチ駆動器７から駆動信号が出力されてい
る間、ポート１５とポート１６が導通し、駆動信号が出
力されていない時は、該ポート１５はポート１７と導通
している。これによる第１の実施例との相違点は、被測
定光ファイバ５に光Ｊ？ルスを出射する間は局発光が出
力されないということと、光分岐器２による分岐損がな
いということである。ターンオーバ式光スイッチ１４と
しては、断続式光スイッチ３，８と同様な、電気光学効
果あるいは音響光学効果を有する材料に、適当な強さの
電界や超音波を光スイッチ駆動信号として印加すること
で実現できる。
第４図は第２の実施例の動作を説明するだめの波形図で
ある。波形（（１）の光スイツチ駆動信号による、ター
ンオーバ式光スイッチ１４のポート１５とポート１６の
断続で、波形（ｅ）の光ノξルスが被測定光ファイバに
入射される。また、それにともない、ポート１７からは
波形（ｉ）の光波が出力される。
ある。波形（（１）の光スイツチ駆動信号による、ター
ンオーバ式光スイッチ１４のポート１５とポート１６の
断続で、波形（ｅ）の光ノξルスが被測定光ファイバに
入射される。また、それにともない、ポート１７からは
波形（ｉ）の光波が出力される。
そして、波形（ｇ）の光スイツチ駆動信号で断続式光ス
イッチ８を動作させ、波形（ｈ）の局発光を出力させる
と、第１の実施例と同じ効果かえられる。
イッチ８を動作させ、波形（ｈ）の局発光を出力させる
と、第１の実施例と同じ効果かえられる。
第５図は、本発明による第５の実施例の構成図である。
第１図、第３図と同一構成のものは同一符号をもって示
してあり、まだ、１８は１×３光スイツチ、ｉ９．２０
．２１＋ ２２＋はポートを示す。
してあり、まだ、１８は１×３光スイツチ、ｉ９．２０
．２１＋ ２２＋はポートを示す。
本構成では、第５図のターンオーバ式光スイッチ１４と
、断続式光スイッチ８の代わりに、１×５光スイツチ１
８を用いている。該１×５光スイツチ１８は、光スイツ
チ駆動器７から光スイツチ駆動信号が出力されている間
、ｔ？−）１９とホード２０が導通し、光スイツチ駆動
器１０から光スイツチ駆動信号が出力されている間は、
ポート１９はポート２２と導通する。また、両光スイッ
チ駆動器の光スイッチ駆動信号が両方とも出力されてい
ない時は、ポート１９は＝ｙ−）２１と導通している。
、断続式光スイッチ８の代わりに、１×５光スイツチ１
８を用いている。該１×５光スイツチ１８は、光スイツ
チ駆動器７から光スイツチ駆動信号が出力されている間
、ｔ？−）１９とホード２０が導通し、光スイツチ駆動
器１０から光スイツチ駆動信号が出力されている間は、
ポート１９はポート２２と導通する。また、両光スイッ
チ駆動器の光スイッチ駆動信号が両方とも出力されてい
ない時は、ポート１９は＝ｙ−）２１と導通している。
また、本実施例による第２の実施例との相違は、部品点
数が減り、装置がコン・セクトになるということである
。
数が減り、装置がコン・セクトになるということである
。
１×５光スイツチ１８としては、断続式光スイッチ６．
８．ターンオー７９式光スイツチ１４と同様な、電気光
学効果あるいは音響光学効果を有する材料に、適当な強
さの電界や超音波を光スイッチ駆動信号として印加する
ことで実現できる。
８．ターンオー７９式光スイツチ１４と同様な、電気光
学効果あるいは音響光学効果を有する材料に、適当な強
さの電界や超音波を光スイッチ駆動信号として印加する
ことで実現できる。
本実施例の動作を、第２図を援用して説明すると、波形
（ｄ）の光スイツチ駆動信号による１×６光スイツチ１
８の、Ｎ−１−１９とポート２０の断続で、波形（Ｃ）
のような光ノｅ ）レスが被測定光ファイバに入射され
る。そして、波形（ｇ）の光スイツチ駆動信号で１×５
光スイツチ１Ｂのポート１９とポート２２を断続させる
と、第１、第２の実施例と同様の効果が得られる。
（ｄ）の光スイツチ駆動信号による１×６光スイツチ１
８の、Ｎ−１−１９とポート２０の断続で、波形（Ｃ）
のような光ノｅ ）レスが被測定光ファイバに入射され
る。そして、波形（ｇ）の光スイツチ駆動信号で１×５
光スイツチ１Ｂのポート１９とポート２２を断続させる
と、第１、第２の実施例と同様の効果が得られる。
第６図は、従来技術によるコヒーレントＯＴＤ几装置の
構成図である。第１図、第６図、第５図と同一構成のも
のは同一符号をもって示しであるが、局発光を通過及び
遮断する断続式光スイッチ８がないため、被測定光ファ
イバ７からの戻り光は、受光系を飽和させるような戻り
光を含めすべて検波されてしまうという問題がある。
構成図である。第１図、第６図、第５図と同一構成のも
のは同一符号をもって示しであるが、局発光を通過及び
遮断する断続式光スイッチ８がないため、被測定光ファ
イバ７からの戻り光は、受光系を飽和させるような戻り
光を含めすべて検波されてしまうという問題がある。
第７図は、従来技術による直接検波方式０ＴＤＲ装置の
構成図である。第１図、第６図、第５図、第６図と同一
構成のものは同一符号をもって示しである。また、２５
はパルス光源、２４は光スイツチ駆動器である。パルス
発生器６の発する電気パルスに同期して、パルス光源２
３は 。
構成図である。第１図、第６図、第５図、第６図と同一
構成のものは同一符号をもって示しである。また、２５
はパルス光源、２４は光スイツチ駆動器である。パルス
発生器６の発する電気パルスに同期して、パルス光源２
３は 。
光パルスを発する。そのとき、光スイツチ駆動器２４の
光スイツチ駆動信号でクーンオーバ式光スイッチ１４の
ポート１５とポート１７を導通させ、前記光・ぐルスを
被測定光ファイバ５に入射させるそして、所望の観測位
置からの戻り光が入射する時間、ポート１５とポート１
６が導通し、該戻り光を光検出器１１に導くように、前
記電気パルスを・ぐルス遅延制御器９で遅延及び・ンル
ス幅制御させ、光スイツチ駆動器１ｏで該ターンオーバ
式光スイッチ１４を駆動させる。
光スイツチ駆動信号でクーンオーバ式光スイッチ１４の
ポート１５とポート１７を導通させ、前記光・ぐルスを
被測定光ファイバ５に入射させるそして、所望の観測位
置からの戻り光が入射する時間、ポート１５とポート１
６が導通し、該戻り光を光検出器１１に導くように、前
記電気パルスを・ぐルス遅延制御器９で遅延及び・ンル
ス幅制御させ、光スイツチ駆動器１ｏで該ターンオーバ
式光スイッチ１４を駆動させる。
該戻り光は光検出器１１で電気信号になり、信号処理装
置１２で信号処理され、表示装置１３でＣＲＴ等に表示
される。
置１２で信号処理され、表示装置１３でＣＲＴ等に表示
される。
受光系の飽和は、本構成により防ぐことができるが、前
記ターンオーバ式光スイッチ１４は偏波面非依存型でな
くてはならないという制約があシ、また、直接検波方式
のためコヒーレント検波方式に比べ信号対雑音比（ＳＮ
Ｒ）が低いという欠点もある。
記ターンオーバ式光スイッチ１４は偏波面非依存型でな
くてはならないという制約があシ、また、直接検波方式
のためコヒーレント検波方式に比べ信号対雑音比（ＳＮ
Ｒ）が低いという欠点もある。
（ｒ） 発明の効果
以上詳細に説明した様に、本発明のコヒーレントＯＴ
Ｄ Ｒ，装置においては、 （１） 被測定光ファイバの所望の観測位置で戻る戻
り光の・みを検出できるので、正確な測定が行える。
Ｄ Ｒ，装置においては、 （１） 被測定光ファイバの所望の観測位置で戻る戻
り光の・みを検出できるので、正確な測定が行える。
（１１） 戻り光を制御せず、局発光を光スイッチで
通過及び遮断しているため、コヒーレント検波のすぐれ
た信号対雑音比（Ｓ Ｎ Ｉｔ、 ）をまつたの低下さ
せることがない。
通過及び遮断しているため、コヒーレント検波のすぐれ
た信号対雑音比（Ｓ Ｎ Ｉｔ、 ）をまつたの低下さ
せることがない。
（山） 局発光の偏波面の方向は一定にできるので、
前記光スイッチは偏波面依存型のものも使用できるとい
う効果がある。
前記光スイッチは偏波面依存型のものも使用できるとい
う効果がある。
第１図は、本発明による第１の実施例の構成図、第２図
は、本発明による第１の実施例を説明するだめの波形図
、第３図は、本発明による第２の実施例の構成図、第４
図は本発明による第２の実施例を説明するための波形図
、第５図は、本発明による第５の実施例の構成図、第６
図は、従来技術によるコヒーレントＯＴＤＲ装置の構成
図、第７図は、従来技術による直接検波方式０ＴＤＲ装
置の構成図である。 図中、１はコヒーレント光源、２は光分波器、３，８は
断続式光スイッチ、４は光結合器、５は被測定光ファイ
バ、６ば／４’ルス発生器、７．１０ は光スイツチ
駆動器、９はパルス遅延制御器、１１は光検出器を示す
。
は、本発明による第１の実施例を説明するだめの波形図
、第３図は、本発明による第２の実施例の構成図、第４
図は本発明による第２の実施例を説明するための波形図
、第５図は、本発明による第５の実施例の構成図、第６
図は、従来技術によるコヒーレントＯＴＤＲ装置の構成
図、第７図は、従来技術による直接検波方式０ＴＤＲ装
置の構成図である。 図中、１はコヒーレント光源、２は光分波器、３，８は
断続式光スイッチ、４は光結合器、５は被測定光ファイ
バ、６ば／４’ルス発生器、７．１０ は光スイツチ
駆動器、９はパルス遅延制御器、１１は光検出器を示す
。
Claims (2)
- （１）バースト状のコヒーレント光を被測定光ファイバ
に入射し、該被測定光ファイバからの戻り光を光ヘテロ
ダイン検波、あるいは光ホモダイン検波で検出し、該被
測定光ファイバの損失及び破断点の位置等を測定するコ
ヒーレントＯＴＤＲ装置において；バースト状にコヒー
レントな第１の光を発する第１の手段と；該第１の光と
一定周波数関係にあるコヒーレントな第２の光を発する
第２の手段と；該第１の光を被測定光ファイバに出射し
、かつ、該被測定光ファイバからの戻り光と、該第２の
光とを結合する光学手段と；該結合された光を受ける光
検出器と；該光検出器に入射する該第２の光のみを通過
及び遮断する光スイッチと；前記被測定光ファイバの所
望の観測位置で戻る戻り光のみを該第２の光と結合させ
るように該光スイッチを制御する制御手段とを備えたこ
とを特徴とするコヒーレントＯＴＤＲ装置。 - （２）前記第１の手段は光源からのコヒーレント光を通
過及び遮断するスイッチを有しかつ、第２の手段とは同
一の連続波コヒーレント光源から光を受けて成ることを
特徴とする特許請求の範囲第（１）項記載のコヒーレン
トＯＴＤＲ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26318285A JPS62123327A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | コヒ−レントｏｔｄｒ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26318285A JPS62123327A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | コヒ−レントｏｔｄｒ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62123327A true JPS62123327A (ja) | 1987-06-04 |
| JPH0543050B2 JPH0543050B2 (ja) | 1993-06-30 |
Family
ID=17385905
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26318285A Granted JPS62123327A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | コヒ−レントｏｔｄｒ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62123327A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| BE1005214A3 (nl) * | 1990-09-27 | 1993-05-25 | Ando Electric | Apparaat voor het testen van optische vezel door pulslichtbundel en optische heterodyne detectie te gebruiken. |
| CN107990970A (zh) * | 2017-11-03 | 2018-05-04 | 上海交通大学 | 消除分布式光纤声波系统中衰落噪声的方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5768938A (en) * | 1980-10-16 | 1982-04-27 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | Optical pulse and echo detector |
| JPS59206738A (ja) * | 1983-04-14 | 1984-11-22 | エステイ−シ− ピ−エルシ− | 光反射率計 |
-
1985
- 1985-11-22 JP JP26318285A patent/JPS62123327A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5768938A (en) * | 1980-10-16 | 1982-04-27 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | Optical pulse and echo detector |
| JPS59206738A (ja) * | 1983-04-14 | 1984-11-22 | エステイ−シ− ピ−エルシ− | 光反射率計 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| BE1005214A3 (nl) * | 1990-09-27 | 1993-05-25 | Ando Electric | Apparaat voor het testen van optische vezel door pulslichtbundel en optische heterodyne detectie te gebruiken. |
| CN107990970A (zh) * | 2017-11-03 | 2018-05-04 | 上海交通大学 | 消除分布式光纤声波系统中衰落噪声的方法 |
| CN107990970B (zh) * | 2017-11-03 | 2019-10-15 | 上海交通大学 | 消除分布式光纤声波系统中衰落噪声的方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0543050B2 (ja) | 1993-06-30 |
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